有机发光显示OLED视觉质量测试方法

Lxx中华人民共和OB家标准GB/T20871.6.2—XXXX有机发光二极管显示器件

第6-2部分：测试方法-视觉质量ORGANICLIGHTEMITTINGDIODE(OLED)DISPLAYS—Part6-2: MeasuringmethodsofvisualqualityIEC62341-6-2:ORGANICLIGHTEMITTINGDIODE(OLED)DISPLAYS—Part

6-2:Measuringmethodsofvisualquality,NEQ(征求意见稿)(本稿完成日期：2011年2月24日)XXXX-XX-XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施发布目次TOC\o"1-5"\h\z前言 III\o"CurrentDocument"范围 2\o"CurrentDocument"规范性引用文件 2\o"CurrentDocument"术语和定义 2视觉检查 2子像素缺陷 2亮点缺陷 2暗点缺陷 2部分子像素缺陷 2子像素串缺陷 3不稳定子像素 3像素收缩 3面板边界收缩 3线缺陷 3亮线缺陷 3暗线缺陷 3云纹(Mura) 3线云纹 3彩色云纹 3点云纹 3机械缺陷 3刮擦缺陷 3凹痕缺陷 3异物 4气泡 4\o"CurrentDocument"测试设备结构 4标准测试条件 4\o"CurrentDocument"标准测试环境条件 4标准照明条件 4暗室条件 4亮室条件 4\o"CurrentDocument"5.3标准设置条件 7OLED显示模组的调节 7\o"CurrentDocument"开始测试条件 7\o"CurrentDocument"测试设备条件 7\o"CurrentDocument"静态图像的视觉检查 8\o"CurrentDocument"可视缺陷的分类 8子像素缺陷的样本 9\o"CurrentDocument"线缺陷的参考样本 10\o"CurrentDocument"云纹缺陷的参考样本 10\o"CurrentDocument"视觉检查方法和标准 11\o"CurrentDocument"标准检查条件 11\o"CurrentDocument"视觉检查方法 12标准检测条件 13\o"CurrentDocument"亮室环境下的光电测试方法 14\o"CurrentDocument"反射特性测量 14目的 14\o"CurrentDocument"测试条件 14测试半球漫反射系数 15直射光下的反射系数测量 16亮室对比度 17目的 17测量条件 18测量方法 18亮室颜色 18目的 18测量条件 18测量方法 18\o"CurrentDocument"图1积分球和采样球照明测试的几何关系 5\o"CurrentDocument"图2光源直射照明测试的几何关系 7\o"CurrentDocument"图3使用环形光源的方向源测量几何条件 7图4测量安装分层图 8\o"CurrentDocument"图5视觉缺陷的分类 9\o"CurrentDocument"图6亮点子像素缺陷 9\o"CurrentDocument"图7明亮和暗子像素缺陷的分类标准 10\o"CurrentDocument"图8亮线和暗线缺陷 10\o"CurrentDocument"图9与TFT非均匀性相关的线性非均匀缺陷的样品影像 10图10灰色背景下点云纹缺陷的实例 11\o"CurrentDocument"图11电光视觉缺陷的视觉检测的安装条件 12\o"CurrentDocument"图12刮痕和凹痕缺陷的形状 14表1刮痕、凹痕缺陷类型的界定 14GB/T20871《有机发光二极管显示器件》的预计结构如下：第1-1部分：总规范；第1-2部分：术语与文字符号（已发布GB/T20871.2-2007）第2部分：基本额定值和特性第3部分：显示屏分规范第3-1部分：无源单色屏空白详细规范第3-2部分：无源彩色屏空白详细规范第3-3部分：有源彩色屏空白详细规范第4部分：显示模块分规范第4-1部分：无源单色模块空白详细规范第4-2部分：无源彩色模块空白详细规范第4-3部分：有源彩色模块空白详细规范第5部分：试验方法；第5-1部分：环境试验方法第5-2部分：机械试验方法第5-3部分：耐久性试验方法第6部分：测试方法；第6-1部分：测试方法-光学和光电参数；第6-2部分：测试方法-视觉质量；第6-3部分：测试方法-图像质量。本部分是GB/T20871的第6—2部分。本部分包括了有机发光二极管显示器件视觉质量测试方法.本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所（CESI）归口。本部分主要起草单位：杭州浙大三色仪器有限公司、北京维信诺科技有限公司、信利半导体有限公司、昆山维信诺显示技术有限公司、四川虹视显示技术有限公司。本部分主要起草人：牟同升李俊凯xxxxxxxxxxxx有机发光二极管显示器件

第6-2部分：测试方法-视觉质量1范围本部分适用于OLED有机发光二极管显示器件，主要应用于彩色显示模块。本标准规定了OLED有机发光二极管显示器件视觉质量的标准测试条件和测试方法规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T20871.6.1/X-XXXX 有机发光二极管显示器件第6T部分：测试方法-光学和光电参数IEC62341-1-2:Organiclightemittingdiodedisplays-Part1-2:TerminologyandlettersymbolsCIE15:2004:ColorimetryIEC60081:Double-cappedfluorescentlamps-PerformancespecificationsIEC50（845）:Internationalelectrotechnicalvocabulary术语和定义GB/T20871.2-2007确立的术语和定义适用于本标准，以下术语定义除外：视觉检查视觉检查是指利用人眼观察测试样品，并与标准样品比较实现图像质量检查的方法。子像素缺陷子像素缺陷的基本元素由比周围亚像素更亮或更暗的单个子像素的所有或部分及最小色元组成。亚像素缺陷的更深层分类由显示屏一个区域内多个子像素缺陷的数量和配置决定。对于单色显示器件，常常用于“点缺陷”来表示。3.3亮点缺陷当由均匀暗场或灰场信号驱动时，显示器上比周围子像素明显更亮的子像素。3.4暗点缺陷当由均匀亮场信号驱动时（例如＞50%的全亮），显示器上比周围子像素明显更暗的子像素。3.5部分子像素缺陷带部分模糊发射区域的子像素缺陷或点缺陷，如通过观察相邻的子像素可见的亮度差异。3.6子像素串缺陷子像素串缺陷指在特定区域或距离内汇集了很多亮点或暗点子像素缺陷，又称为“近像素缺陷”3.7不稳定子像素亮度无法控制的子像素或点。3.8像素收缩随着时间推移一个或多个子像素有效发射面积的收缩（减小。3.9面板边界收缩（不明白什么意思，不存在这样的现象）随着时间推移显示区域边缘的有效发射面积的收缩。3.10线缺陷（删除，按IEC术语）在相应的暗场或亮场中平行于行或列的水平或竖直的亮线或暗线。（去掉平行）亮线缺陷在均匀的暗场或灰场显示的显示屏出现的明亮的线缺陷。（比周围明亮的线缺陷）暗线缺陷在均匀的亮场显示的显示屏出现的灰暗的线缺陷。云纹（Mura）Mura缺陷由一般比子像素等级的缺陷逐渐改变的亮度或颜色不均匀区域组成。对于分类，最大尺寸不得小于显示屏宽度或高度的四分之一。线云纹由越过整个或部分显示区域的一条或多条水平或竖直延伸线组成的亮度变化（类似于激光诱导液晶导致的TFT阈值电压变化。彩色云纹主要在一个色通道表现，并导致局部色温变化的云纹。点云纹局域区域轻微偏暗或偏亮的亮度变化。机械缺陷在显示屏有效区域内由于保护膜和对比度增强膜，涂料，机械装置或其它单元的缺陷导致的图像缺陷。刮擦缺陷由于玻璃、偏光器或其它可视表面的刮痕引起的缺陷。3.19凹痕缺陷在暗场下总是呈现白色或灰色，并独立于显示状态的局部区域。3.20异物由对比度增强膜和保护膜之间、或显示器有效区域发射面上的线或灰尘等异物导致的缺陷。3.21气泡在可见显示区域由密封材料、黏合剂、对比度增强膜、保护膜或其它薄膜内或中间的空腔导致的缺陷。测试设备结构测试设备的系统框图或操作条件应满足每一子项指定的结构。标准测试条件5.1标准测试环境条件测试应在测试温度为25°C±3°C,相对湿度为25%〜85%,气压在86kPa〜106kPa的标准环境条件下充分预热后进行（去掉预热。若使用不同的环境条件，应在测试报告中注明。5.2标准照明条件5.2.1暗室条件从被测显示屏反射至探头的背景照明光应小于0.01cd/m2或应小于OLED显示屏黑场亮度的1/20以下。如果不满足这些条件,背景光应扣除,同时在报告中注明。注：除非特别注明,标准照明条件应为暗室条件。5.2.2亮室条件以下照明条件专用于显示屏在室内或室外照明环境条件下的光电测量。显示屏的室内环境照明和室外晴天照明接近两种照明几何条件的结合。均匀半球漫射照明将用于模拟室内背景照明,或太阳光受阻隔照射至显示屏。在一个暗室中的直射光源将模拟显示屏在室内被灯照射或太阳光直射的效果。以下照明条件应用于室内和室外的照明场合。室内照明条件半球均匀漫射照明——用一个近似CIE标准照明体A,CIE标准照明体D65，或荧光灯FL1（在CIE15中定义）。推荐用红外隔膜来尽可能减小样品热量。如果使用FL1作为照明光源，光源的色容差应小于5SDCM（SDCM:色匹配标准偏差，参见IEC60081）,同时光源光谱的紫外波段应截断。荧光灯应稳定，如老化100小时并且使用时间未超过2000小时。根据实际的目标应用场合，另外的光源也可使用。如果能证明显示屏在前述的照明光源照明下不会出现严重的荧光，那么平滑光谱的光源（像CIE标准照明体A）可以用于光谱反射测量，后续对比度计算中使用SIEA光源的实际光谱，否则应使用上述三种推荐照明光源中的一种。室内对比度的计算中，对于典型的电视观赏房间，半球漫射照明至显示屏表面的照度

应为60lx，办公环境应为300lx。为了更高的测试精度，实际的半球漫反射照明可能需要更高的照度等级，则测试过程中同比例至所需照度等级即可。直射照明一一使用与在半球漫射照明中同样光谱和荧光防护的光源。如果使用不同光谱的光源，应在报告中注明。室内对比度的计算中，对于典型的电视观赏房间，竖直入射至显示屏表面的照度应为40lx，办公环境为200lx。为了提高测试精度，实际的把反射系数测试可能需要更高的照度等级。直射光源应在显示屏表面法线处的35°处（0s=35°,0d=0°,见图2），同时对弦角不超过8°。注：除了上述用于计算室内对比度的其它照度等级也可使用。但总照度的大约60%应为半球照明，40%为直射照明。日光照明条件半球均匀漫射照明一一使用近似于CIE照明体D753日光光谱的照明光源。推荐用红外隔膜来尽可能减小样品热量。如果能证明7500K色温的光源在全照明等级下不会出现严重的荧光，那么光谱反射率测量中可使用平滑光谱光源（如CIE标准照明体A）,否则应使用近似D75照明体的光源。对比度或颜色可由D75照明体的光谱计算。日光对比度应使用显示屏竖直方向上15000lx的半球漫射照度计算，实际半球漫反射测试可采用更低的照度等级。直射照明一一照明光源应近似于CIE标准日光照明体D50。推荐使用红外隔膜来尽可能减小样品热量。如果能证明近似D50的光源在全照明等级下不会出现严重的荧光，那么光谱反射率测量中可使用平滑光谱光源（如CIE标准照明体A）,在对比度计算中使用D50的实际光谱。否则应使用近似D50照明体的光源。日光对比度的计算应使用在显示屏表面倾角0s=45°（见图2）的65000lx直射光源，实际的反射率测量可采用更低照度等级。直射光源的对弦角应大约为0.5°。色温、照度等级和使用的照明几何条件应在报告中注明。对于日光对比度和色度计算，相对日光光谱应使用CIE15中定义的相应特征函数测得。5.2.2.1半球均匀漫射照明使用积分球，采样球，或半球实施半球均匀漫射照明条件。图1显示测量几何条件的两个实例。如果积分球是显示屏外边对角线7倍，则可将显示屏安装到球中央（图1,配置A）。对于大的显示屏，采样球（配置B）或半球更合适。在所有情况下，配置应符合di/8°到di/10°照度/探测几何条件，其中di是漫射的标准符号。配置A（俯视图）配置A（俯视图）图1积分球和采样球照明测试的几何关系1）将显示屏放置在积分球/半球的中央，或采样球的采样口上。显示屏到球所反射的亮度应远大于显示屏产生光的照度。对于无严重荧光的显示屏，在显示屏关闭后，可估计球所反射的亮度。2） 对于近似7500K色温光源的日光测量，推荐使用红外隔膜来尽可能使样品热量最小化。色温和照度光谱可自接近显示屏测量区域附近的白色标准白板（图1，配置A）或接近采样口的采样球壁（图1,配置B）反射的光测量。应在报告中注明所用光源类型及相关色温。3） 光测量仪器与积分球壁内的测量口与显示屏法线成8°（-0°，+2°）的方向对齐来观看显示屏的中央，所需光测量仪器倾斜角也可倾斜积分球内的显示屏而实现。光测量仪器位于显示屏表面。4） 测试口的直径应比光测量仪器透镜的有效光阑大20%-30%。要注意避免光源的直射光，或表面（除了屏幕本身）反射的光照射光测量仪器透镜以尽可能地使反射亮度测量的眩光污染最小化。光测量仪器应自孔中移出到球壁对光测量仪器不可见的位置。另外，采样口直径通常需要大于25mm以便亮度计或光谱仪的视场被完全包含在采样口内。5） 测试口应与透镜成斜角。斜角的小直径面向光测量仪器，且大直径在球内侧。6） 显示屏上的光谱辐照度或照度可使用有漫射半球光谱反射因数R（入）或光加权（或发光）半球漫射反射因数R的白色漫射反射标准白板来测量。白色漫射反射标准白板必须在均匀半球漫射照明下校准。当使用积分球（配置A）或半球时，应将白色漫射反射标准白板放置在显示屏表面。如果是白色漫射反射标准白板的厚度，则应将其放置在距离测量区域5t~7t的表面处。如果在该距离上的球照度是均匀的，则白色反射标准白板也可放置在邻近显示屏和与显示屏相同的平面上。在采样球情况下，光谱辐照度可由邻近采样口的内部球壁的测量确定。内部球壁的半球漫射光谱反射因数，或亮度半球漫射反射因数可由壁的光谱亮度和位于采样口处校准的漫射反射标准白板比较而确定（即R11=Rd*（Lii/L丿）。wallstdwallstd7） 如果使用采样球，显示屏测量区域应至少包含500个显示屏像素。推荐采样球的直径至少是采样口直径的6倍。如果在显示屏发射表面与采样口入口之间存在很大距离，则可能需要增加采样口的尺寸。8） 显示屏测量区域的照度应比平均值偏差小于±5%。5.2.2.2直射照明直射照明由在与显示屏法线成一定倾角的独立光源（图2）或位于法线中央的环形光（图3）模拟。该测量应在所有表面喷涂黑色亚光的暗室内执行。从照明光源在显示屏反射方向上所反射的光可由挡光屏聚集以尽可能地减小杂散光的影响。独立光源是首选光源。如果显示屏显示较严重的不对称分散（矩阵分散），应使用环形光。1） 将光测量仪器垂直于显示屏（9d=0°），对准显示屏表面。照明光源在与显示屏法线和光测量仪器垂直的相同平面（©s=0。），但是与水平面成倾角Os。调整显示屏与照明光源Cs之间的距离，使得对于室内情况，光源具有W8。倾角，或对于室外情况，光源具有距离显示屏测量区域的中央近似0.5。倾角。对于环形光，应使用光纤环形光，带发射角近似0.5°。环形光发射平面须与显示屏表面在一平面上且位于测量区域的中央。光的倾角Gs可调整环形光到显示屏的工作距离进行设定。环形光的中央孔径应至少是光测量仪器透镜的有效孔径的30%。也可使用其它的光源/探测器几何条件，但应在亮室性能的报告中注明。2） 直射光源在显示屏所反射的亮度应比显示屏发出的光亮度大得多（10倍以上）。3） 显示屏测量位置处的光谱辐照度或照度可由具有已知光谱反射系数或光电加权（或亮度）反射系数的漫反射标准白板决定。漫反射标准白板应放置在与显示屏相同的测量位置，该位置可能需要移开显示屏。漫反射标准白板须在与显示屏测量时相同的几何条件下进行校准。对于光度测量，漫反射标准白板的校准应使用与对比度计算时光谱分布相同的光源。所用光源类型，及所校准的色温应在报告中注明。4） 显示屏测量区域的照度应比平均值偏差小于±5%。

光源cs0S光测量仪器ed光源cs0S光测量仪器图2光源直射照明测试的几何关系图3使用环形光源的方向源测量几何条件5.3标准设置条件标准设置条件参照下述，任何与这些条件的差别均应在报告中注明。OLED显示模组的调节开始测试条件测试应在OLED显示器件和测试设备达到稳定后进行。应有足够的预热时间保证被测显示器件在指定显示图像的整个测试过程中达到亮度稳定度达到±5%。测试设备条件1） 图4所示标准测量安装。光测量仪器必须为亮度计，或对于平滑波段光谱，带宽不超过Onm，能测量至少380~780nm波长范围的光谱仪。对于具有陡峭光谱的光源，如LED和荧光灯，最大带宽应不超过5nm。光谱仪的光谱带宽应为采样间隔的整数倍。例如，5nm的采样间隔可用于5nm或10nm带宽。应注意保证测量仪器具有足够的灵敏度和动态范围进行相关测试。2） 除非另有说明，光测量仪器应对准显示屏的成像面且与其表面垂直。3） 所有测量仪器的相对不确定度和重复性应符合设备供应商推荐的定期校准方案。

4） 光测量仪器积分时间是帧频周期的整数倍，与帧频率同步，或积分时间应大于200帧频周期。5） 当测量矩阵显示屏时，光测量器件应设置为至少包含500像素的测量场。如果需要测量较小的区域，应保证等同的500像素。6） 标准测量距离,是2.5%»（V>20cm）或50cm（VV20cm）,其中V是显示屏动态区域的高度，或动态区域的短边尺寸。测量距离应在报告中注明。7） 孔径角应小于或等于5°且测量视场角应小于或等于2。（图4）。如果上述孔径角的设置较难完成，则可通过调整测量距离和孔径角达到大于500像素的测量视场。8） 显示模块应在其设计场频下操作。当使用独立的驱动信号设备时，驱动条件应在报告中注明。6静态图像的视觉检查近几年，已有很多视觉检测设备用于检测图像的视觉缺陷，但是当前基于人眼视觉特性的各种自动测量系统还不能完全满足各种类型缺陷的测量。人眼的视觉检查和根据特定样品的比测方法仍然是视觉缺陷分类和等级评定最通用的手段，因此，下面主要采用视觉检查的方法对0LED显示面板和模块的图像缺陷进行分类和等级评定。6.1可视缺陷的分类为了对图像的视觉缺陷进行评判，需要对视觉缺陷的分类方法做出规定，如图5所示。通常有两种缺陷：一种是根据光电特性进行判断的缺陷，另一种是本身的机械缺陷。光电性能缺陷是根据图像的边界状态来排列的，机械缺陷通常是在生产过程中的损伤和污染引起的。I"-嗑A下二

图图5视觉缺陷的分类6.1.1子像素缺陷的样本图6a分别表示红色、绿色和蓝色子像素亮缺陷，这也适用于其它类型的子像素的排列（例如包括有白色子像素的情况）。图6b表示水平和垂直方向相邻或隔开的两个邻近亮点子像素缺陷。图6c表示水平和垂直方向邻近的三个亮点子像素缺陷。a-单个亮点子像素缺陷b-两个邻近亮点子像素缺陷a-单个亮点子像素缺陷b-两个邻近亮点子像素缺陷EE3IIIHIIIUEIIIII09IIIC-三个邻近亮点子像素缺陷图6亮点子像素缺陷如果多个子像素缺陷是分开规定距离，则将他们分类为单个子像素缺陷。如果他们出现在规定距离内，则将他们归类为近（或串）子像素缺陷。图a和7b分别描绘分类亮和暗点缺陷的标准，位于接近子像素缺陷的最小规定距离d内。注意规定距离d适用于任意方向的子像素之间的分离。a-串缺陷分类的亮点缺陷标准a-串缺陷分类的亮点缺陷标准dd＜最小值串缺陷d工最小值暗点缺陷b-暗点对暗点图7明亮和暗子像素缺陷的分类标准6.1.2线缺陷的参考样本线缺陷是与部分或完全延伸到影像的水平或垂直亮或暗线一样明显。图8描绘几个亮和暗线缺陷的影像。图8亮线和暗线缺陷6.1.3云纹缺陷的参考样本云纹缺陷包括通常改变多于子像素缺陷的亮度和颜色非均匀性的区域。此等缺陷的可见度强烈取决于缺陷的长度，局部峰对峰亮度改变。此等特征对于与1~2%的亮度改变是可见的。通常此等特征的最小宽度或高度是0.5~2mm。如图9所示为LTPS底板驱动的OLED非均匀TFT特征引起的线性云纹缺陷的实例。非均匀线通过显示屏，此时均匀白色背景的影像呈现在显示屏上。图9与TFT非均匀性相关的线性非均匀缺陷的样品影像将宽度和高度有限范围内非均匀性亮度变化归类为点云纹。如图10所示为点云纹的实例。将表示颜色和亮度不均匀的线云纹或点云纹归类为色云纹。6.2视觉检查方法和标准6.2.1标准检查条件6.2.1.1标准环境条件除非另外说明，视觉检测的标准环境条件也适用。6.2.1.2视觉检查的亮室照明除非另外说明，应使用视觉检查的标准亮室照明条件。与这些条件的所有差异应在报告中注明。应意识到规定的亮室照明条件可能取Moled显示面板或模块的检查目的或预期情况,这些条件对于缺陷检查人员的舒适度或敏感度而言可能不是最佳的。与标准亮室照明条件的任何差异应在报告中应注明,同时应包括显示屏表面法线的亮度测量,检测者工作区域的平均照度(如5.2.2.1所描述的),以及任何其他与应用环境相关的详细内容,诸如暗室环境或直接照明光源。在检查过程中和检查人员轮换时,应维持检测照明条件,而且检测者应在开始检测的10分钟前先适应照明条件。6.2.1.3视觉条件6.2.1.3.1观看方向视觉检测应在法线方向观看显示屏而进行,除非另外说明。6.2.1.3.2观看距离OLED显示面板或模块与检测者眼睛之间的距离应在报告中注明。视力1.0相应于检测者解析0.3mrad(larcmin)间距特征的能力。最佳观看距离相应于解析单个子像素的两倍距离，推荐Dopt=2XL/0.3mrad,其中L是子像素之间的水平距离。例如推荐在330mm处观察50ym子像素宽度的2.2''(56mm)对角线QVGA(320X240)显示屏。对于140|im子像素宽度的37''(940mm)对角线HD(1920X1080)显示屏，推荐观看距离950mm。最小观看距离应为300mm。6.2.1.4人眼检查检测者具有眼睛护理专业或合格医师决定的正常色觉和视力(校准至)三1.0十进制，使用国际眼科理事会界定的方法。对于色觉，推荐Ishihara测试，对于视力，推荐Snellen测试或LandoltC测试。6.2.1.5电驱动条件6.2.1.5.1OLED显示面板或模块的驱动条件OLED显示面板或模块的指标上应提供驱动电压值。6.2.1.5.2测试图案用于视觉检测的测试式样应包含取决应用要求的0%、10-30%和100%灰色等级的所有屏幕式样。信号颜色通道或单色显示屏的测试式样应包括取决于应用要求的0%、10-30%和100%灰色等级的所有彩色子像素或点（例如红色、绿色、蓝色或白色）用于每一彩色通道。所有屏幕式样的灰色等级应在详细的指标中规定。6.2.2视觉检查方法6.2.2.1安装检查设备和OLED显示面板或模块将被测屏安装至可绕水平和垂直视角旋转的固定物上。打开直流电源和信号源。将驱动电流和式样提供至缺陷检测规定的OLED显示面板或模块。围绕着与观察点成90度角的显示屏区域应由吸光漫射材料组成以控制分散至图11所示的观察者视场的周围光。图11电光视觉缺陷的视觉检测的安装条件6.2.2.2电光缺陷的检测方法全屏黑色测试式样（0%灰色等级，开启状态的显示屏）适用于检测亮点缺陷。在10-30%灰色等级的全屏测试式样适用于检测不均缺陷。应使用10%灰色等级，除非另有说明。亮度等级应在报告中注明。所观察的缺陷应与限制样品进行比较。全屏白色测试式样（100%灰色等级）适用于检测暗子像素缺陷。对于彩色显示屏，如果指标中详细规定，则单个彩色通道的测试式样可应用于检测和分类子像素和不均缺陷的本质。所观察的缺陷应在视觉检测报告中记录。6.2.2.3机械缺陷的检测方法使用显示区域上平均照度＞500lx的侧光（如图11所示），在显示屏区域上垂直显示表面的测量的显示屏的侧照度，是检测机械缺陷的较好条件。机械缺陷的检测应在观看方向的宽范围上进行。应注意阻挡检测者直接观看光源。两种测试式样适用于机械缺陷检测：检测散射入射光的薄膜和涂布中视觉缺陷的全屏黑色信号（0%灰色等级）和检测遮住部分显示区域的机械缺陷的全屏白色信号（100%灰色等级）。检测者应在视觉检测报告中记录机械缺陷的观察和分类。6.2.2.4视觉检测的检测者和样品检测者应由具有视觉检测的特定程序和样品专人进行周期培训。样品应由有专人进行维护以确保有效性。6.2.2.5检查和记录结果检测者应在视觉检测报告中记录测试结果。6.2.3检查标准6.2.3.1亮点缺陷最大数量的亮缺陷应在性能指标中规定。部分子像素（任何颜色）---性能指标中规定。子像素（任何颜色）---性能指标中规定。子像素串 性能指标中规定。亮点子像素总数---性能指标中规定。6.2.3.2暗点子像素缺陷最大亮暗缺陷应在性能指标中规定。部分子像素（任意颜色）---性能指标中规定。子像素（任何颜色）---性能指标中规定。子像素串 性能指标中规定。亮点子像素总数---性能指标中规定。6.2.3.3不稳定子像素不允许各种不稳定子像素缺陷。6.2.3.4亮线缺陷不允许各种亮线缺陷，诸如垂直、水平或穿过。6.2.3.5暗线缺陷不允许各种暗线缺陷，诸如垂直、水平或穿过。6.2.3.6云纹提供云纹缺陷的多种分类的亮度和颜色的改变的样品提供可接受的不均匀缺陷的参考。样品应展示如DUT在±20%内相同的平均亮度。彩色不均匀样品应展示CIE15界定的DUT在Au'v'＜0.006内显示区域上求平均所得的相同色品坐标。超过样品的所有种类不均匀缺陷应在报告中注明。6.2.3.7机械缺陷刮痕、凹痕、外部材料和气泡缺陷标准在表1和图13中界定。“a”和“b”的符号指示缺陷的最大和最小轴。表1刮痕、凹痕缺陷类型的界定缺陷标准刮痕线性（a＞b）最小值＜宽度[mm]＜最大值，最小值＜长度[mm]＜最大值，N（缺陷数量）＜最大值凹痕椭圆（a＜2b）最小值＜平均直径，（a+b）/2[mm]＜最大值，N（缺陷数量）＜最大值异物最小值＜a（主轴）[mm]＜最大值，N（缺陷数量）＜最大值气泡最小值＜a（主轴）[mm]＜最大值，N（缺陷数量）＜最大值注1:清除的外部物质，如指纹，颗粒等等不能称为缺陷。注2：在背面矩阵（动作区域外）上的缺陷不能称为缺陷。图12刮痕和凹痕缺陷的形状7亮室环境下的光电测试方法7.1反射特性测量7.1.1目的本方法的目的是测试0LED显示模块在室内或日光照明条件下的反射特性。如果0LED有明显的荧光，荧光也包含于反射系数中。这种情况下，当测量中所用的照明光源与亮室对比度和颜色计算时采用的照明光源光谱分布相同，则本测试方法仍有效。7.1.2测试条件1） 测试设备驱动电源；驱动信号装置；积分球、采样球或半球；直射光源。对于光谱测试，需要能测试亮度和光谱辐射亮度的光谱辐射计，已知漫反射系数和特定几何条件下标定的定向光谱反射系数的标准漫反射白板。对于光度测量，需要能测试亮度的测试仪和标准漫反射白板，该标准漫反射白板的漫反射系数是是已知的，或者在特定几何条件和光谱下的定向反射系数是已经标定的。2） 照明条件：

a） 使用室内和晴天日光下标准亮室照明条件。根据实际情况，其它照明条件也适用。b） 除了亮室照明，其余均为标准测量条件。7.1.3测试半球漫反射系数1）在暗室条件下，显示屏调整为黑场0%灰度等级，测试显示屏中心的光谱辐射强度SK（入）和亮度LK。测试位于显示屏偏离显示屏法线方向8-10°的相应位置（见图1）。对于光谱测量，黑场亮度LK根据下式计算：(1)L=683『S（九）V（九皿(1)九其中VS）为CIE15中定义的光谱光视效率。2） 在暗室条件下，调整输入信号使显示输出100%白场。对于自然静态图像和视频，在100%白场下的4%窗口用于评价对比度。4%窗口应为显示区域的宽和高的1/5，并位于显示屏中心。当使用突出测量时，测试报告中应注明。测试白场中心的光谱辐射强度SW（X）或亮度。对于光谱测试，白场亮度可由式（1）计算得到。为校正后的值，3） 如图1，将显示屏置于积分球或采样球内，设置显示屏至100%白场状态，打开积分球或采样球内的半球漫射照明至指定的色温，等待其稳定。为校正后的值，4） 测试校正白板的光谱辐射强度SstdwG）或亮度Lstdw。对于采样球，SstdwS）或Lstdw分别从采样口测得。对于光谱测量，白板和显示屏的光谱辐照度Ehemi,W（X）由下式得到：(2)加）兀S（九）(2)P（九） std其中Pstd⑴是已知的同一几何条件下白板光谱反射比，一个利用光度等效值的近似公式可用于计算照度Eh皿」对于光谱测量，显示屏上的照度Ehemi,W可由下式计算得到：3）E=683『E（九）V（九皿3）九注：球内的照明情况变化可由一只装在球上的光度探头监控。5） 使测试仪器与显示屏法线成8-10°角度，打开显示屏和球内照明，测量显示屏中心的光谱辐射强度Shemiw"）或SemiW。对于光谱测量，照明条件下的白场亮度gemiW可由式⑴求得。注：显示亮室环境亮度应远大于显示屏的背景反射（如Lh.W>>LW）hemi,WW6）对于光谱测量，利用下式计算亮场条件下半球漫反射比PW（a）P(九P(九)=兀WS (九)-S(九)hemi:W WE(X)hemiW4)对于光度测量，有以下近似公式：PVWL-PVWL-Lhemi”WEhemiW5)注：式（5）中的半球漫反射比仅用于计算p测试的同一光谱光源的亮室对比度。VW对于光谱测量，下式用于计算显示屏在指定光谱反射比为P/Q的漫射光谱照明下，白场半球漫射反射比P:vWJp(九)E(九)V(九)dXJE(JE(X)V(X)dX 6）X其中E（入）是指定照明条件的相对光谱分布，对于给定色温的日光照明光谱分布，遵照CIE15的关系:E(X)二E(X)+ME(X)+ME(X)01122其中E的特征函数在CIE15中有相应的表格，D50和D75的“〔和M2的特征函数在下表中给出:特征函数相关色温5000K7500KMi-1.040071.43579m20.36666-0.759937） 将显示屏置于黑场，测试亮室黑屏中心的光谱辐射强度Shemi，K（a）或亮度LhemiK。对于光谱测量，亮室黑屏亮度Lh沁K可用式⑴计算得到。黑屏照度Ehemi,K用式⑵和式⑶通过标准白板或采样球壁的光谱辐射测试测得。对于度测量，照度Ehemi，K用式（2）等效光度通过标准白板的亮度LstdK计算得到。8） 对于光谱测量，利用下式计算亮室黑场的半球反射比PK（V）:p(X)p(X)二兀KS (X)-S(X)hemiK KE,(X)hemi,K8）对于光度测量，式（5）的近似关系用于测得暗场的半球漫反射比。注：如果反射比由光度测量得到，贝y亮室对比度只能用与pvi测试时相同光谱的光源计算得到。对于光谱测量，用式（6）和式（7）计算指定光谱分布的光源漫反射照明下黑屏半球漫反射比PvK。9）在测试报告中注明照明条件的色温，测试配置，L,L和测得的照度等级E和E。hemi,Whemi,Khemi,Whemi,K7.1.4直射光下的反射系数测量1） 将光测量仪器垂直对齐显示屏。对于暗室条件下暗场屏幕，测量0%灰色等级显示屏中央的光谱辐亮度Lk（X）或亮度Lk。对于光谱测量，暗场屏幕亮度Lk可使用等式（1）计算。2） 设置到显示屏的测试输入信号以产生白场屏幕（100%灰色等级）。对于自然静态影像和视频应用，也可使用100%灰色等级处的4%区域窗口以表征显著对比度。4%窗口应为有效显示区域的1/5宽度和高度大小，并位于显示屏的中央。当使用其测量时，应在报告中注明。测量暗室条件下白色图案中央处的光谱辐亮度Lw@）或1於对于光谱测量，使用等式（1）计算白色显示亮度Lw。w w w3） 将直射光源定位在室内或日光照明条件界定的几何位置。通常，应使用直射光源的几何条件，除非显示屏显示强烈的矩阵散射。打开直射光源至期望的相关色温，待光源稳定。调整光源强度使得显示屏反射的光在光测量仪器处产生强烈信号。移除显示屏且将标准漫反射白板放置在光测量仪器相同测量面板处。4） 测量所校准的标准漫反射白板的光谱辐亮度Sw-dir@）或亮度Sw-dir。对于光谱测量，标准漫反射白板和显示屏上的光谱辐照度Ew-dir@）可由等式（8）E@）=Ew-dir@），S@）=Sw-dir@）所决定，其中R@）=Rstd-dlO）是在相同几何条件的标准漫反射白板的已知光谱反射系数。使用等式（9）计算显示屏辐照度Ew-dir。对于光度测量，等式（8）的模拟关系适用于计算辐照度Ew-dir。5） 取代光测量仪器测量面板上的显示屏，且重新建立100%灰色等级的白色图案。测量直射光源照明ON的显示屏中央发射的光谱亮度Lw-dir@）或Lw-dir。对于光谱测量，直射照明光源的显示屏亮度Ew-dir可以使用等式（1）计算。

注：直射光源打开时显示屏周围光谱辐亮度应大于暗室下显示屏光谱辐亮度（即Lw-dir@）>>Lw@））。6）对于测量几何条件，计算直射光源在100%灰色等级的白场显示屏图案的光谱反射系数Rw_dir（X）或亮度反射系数Rw-dlr。对于光谱测量，光谱反射系数Rw-dir@）使用以下等式确定：仏、L/、一L（X）TOC\o"1-5"\h\zR入丿二兀——w/*dir（X） w—10)w-dir E入丿10)w-dir对于具有期望光谱分布的直射光源的白场显示屏图案，应使用以下等式计算亮度反射因数Rwdlr：fR（X）E（X）V（X）dX -w-dir

w-dirf__fE（X>V（X）dX\o"CurrentDocument"X （11）其中E（心是期望照明体光谱的相关光谱分布。对于室内对比度测量，应在该计算中使用与半球漫射反射系数（等式3）相同的光源光谱。当计算室外亮室对比度时，CIE照明体D50应用于以下等式（4）E（九）。对于光度测量，使用等式（10）的近似关系：_L-LTOC\o"1-5"\h\zR —71——w-dir w12)w-dir E12)w-dir注：等式（12）中的亮度反射系数仅适用于计算与在该测量中使用相同光源光谱和几何条件的对比度计算。7） 设置显示屏至0%灰色等级且测量直射光源打开时黑场屏幕的中心光谱辐亮度Lk-dir或亮度Lk-dir@）。对于光谱测量，直射光源打开时的黑场屏幕亮度Lk-dir可使用等式（1）计算。 ' '8） 移去显示屏且将标准漫反射白板放置在光测量仪器的相同测量平面内。测量所校准的标准漫反射白板的光谱辐亮度Sk-dir@）或亮度Sk-dir。黑场屏幕上照度Ek-dir使用等式（8）和（9）确定。对于光度测量，照度Ek-dir使用等式（8）的光度等效量SK测量来确定。9）对于测量几何条件，计算直射光源在0%灰色等级处，白场显示屏图案的光谱反射系数Rk-dir@）或亮度反射系数Rk-dir。对于光谱测量，具有直射照明光源的黑场屏幕的光谱反射因数Rk-dir@）使用以下等式确定:（）L （X）-L（X）RX丿—兀k-dir（） 13)k-dir EX13)k-dir对于具有期望光谱分布E@）的直射照明光源的黑场显示屏的亮度反射系数Rk-diJ•应由等式（11）的方法计算。对于光度测量，等式（12）的模拟关系用于确定黑场屏幕的反射系数Rk-dir。注：通过光度测量确定的亮度反射系数Rk-dir应仅用于与该测量中所用的光源光谱和几何条件相同的对比度计算。10）应在报告中记录显示屏测试照明体的相关色温、测试配置，Rw-dir，Rk-dir和待测照度等级Ek-dir。报告中应记录测试中所用的色温、照度等级、探测器参数（入射角、测量视角、至样品的距离）和照明参数（入射角、孔径角、离样品的距离、光束损耗）。7.2亮室对比度7.2.1目的该方法的目的是确定室内或日光照明条件下0LED显示模块的亮室对比度。

注意：如果OLED有较严重荧光，则室外对比度计算仅对所用的相同照明体光谱和几何条件有效以测量反射系数。7.2.2测量条件1） 仪器：亮度计或可测量亮度的光谱仪；驱动电源；和驱动信号设备。2） 亮度条件应使用用于室内或日光的标准照明条件。根据应用条件也可使用其他照明条件3） 除了标准照明条件外，所有其他条件是标准条件。7.2.3测量方