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文档简介
一种两级扫描测试结构
1测试向量的排列设置扫描测试方法已经把时间顺序电路测试生成问题变成了组合电路的测试生成问题,但也带来了新的问题。(1)测试时间.扫描链采用时序单元首尾相连的结构,测试向量由扫描输入经过时序单元一级一级往下传递,测试响应也经过时序单元一级一级往下传递到扫描输出,这样,对n个时序单元进行控制和观察各需要n个时钟周期.(2)测试功耗.测试功耗主要来自于测试过程中电路中时序单元和组合单元发生逻辑值的翻转(逻辑1→逻辑0,逻辑0→逻辑1).将测试向量置入到由n个时序单元组成的扫描链中需要n个时钟周期,而每个时钟周期中大部分时序单元及其后继组合单元都发生逻辑值的翻转.(3)测试数据量.测试数据量为测试向量长度与测试向量数的乘积.扫描链结构中,时序单元对应的子测试向量使得测试向量长度大大增加.为降低测试时间,可采用并行扫描测试.这些方法主要利用了测试向量中存在大量的非确定值(为检测电路中的某故障,并不是测试向量的所有位都需要置为确定值,比如测试向量“1xx0x”中,第1位为1,第4位为0,其余各位均为非确定值),使用一个扫描输入驱动多条扫描链,或者将外部扫描输入转换为多个内部扫描输入,减小了扫描链的长度从而减小了测试向量置入扫描链所需的时间.为降低测试功耗,可对测试向量和扫描时序单元进行排序,也可以对测试结构进行改进.排序的方法可以减小扫描时序单元的翻转次数,但是该方法的效果有限.对测试结构进行改进的基本思想是通过引入附加逻辑,使得在测试向量置入过程中只有一部分扫描时序单元及其后继组合单元发生翻转,但附加逻辑带来了面积开销,且使得电路性能有所下降.为降低测试数据量,可对测试向量进行编解码.这些策略也主要利用了测试向量中非确定值的存在,采用数学方法来实现数据压缩.2钟信号clk1本文提出的两级扫描测试结构如图1所示:第一级的扫描时序单元首尾连接构成扫描链,时钟输入连接到时钟信号CLK1;第二级为扫描时序单元小组,时钟输入连接到时钟信号CLK2,同一小组的扫描时序单元的逻辑输入共同连接到第一级扫描链中的一个扫描时序单元的逻辑输出,第二级的扫描时序单元的逻辑输出通过由异或门组成的异或网络(XORNetwork)连接到奇偶输出(ParityOut).2.1将f纳入执行步根据时序单元在电路结构上的相互关系,对时序单元进行分组,同组的时序单元满足以下条件:其中任意两个时序单元在电路结构中均没有共同的后继组合单元.分组采用以下算法,设时序单元的集合为F:Procedure_Successor(F)1.若F非空,则执行步2;否则执行步3;2.建立新组Sk,任取F中的一个时序单元g放入Sk;遍历F中剩余的时序单元,若某时序单元f满足∀g∈Sk,g与f没有共同的后继组合单元,则将f放入Sk;更新F和Sk,继续遍历F中剩余的时序单元;遍历结束后转步1;3.分组结束.分组结束以后,构造测试生成电路如图2所示,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入(PPI).对图2所示测试生成电路作测试生成所得到的测试向量中,同组时序单元的逻辑值相同.同组的时序单元没有共同的后继组合单元,在测试生成时不会有冲突的逻辑赋值要求,因此在测试生成时采用图2所示的测试生成电路,不会产生新的难测故障.而同组的时序单元共享一个逻辑值,可以使测试向量长度大大减小,从而同时减小测试时间、测试功耗和测试数据量.2.2两级扫描测试结构时序单元的分组结束以后,从各组中分别选出一个时序单元,加入多路选择器改造为扫描时序单元,首尾连接构成一条扫描链,将这些扫描时序单元的时钟输入连接到CLK1.这样便构成了两级扫描测试结构中的第一级.各组剩余的时序单元也加入多路选择器改造为扫描时序单元,将这些扫描时序单元的时钟输入连接到CLK2,逻辑输入连接到第一级中同组的扫描时序单元的逻辑输出,逻辑输出通过异或网络连接到奇偶输出,这样便构成了两级扫描测试结构中的第二级.CLK1和CLK2可采用图3所示的结构来产生,当C1=1且C2=0时,CLK1有效且CLK2无效;当C1=0且C2=1时,CLK1无效且CLK2有效.测试向量首先由扫描输出置入到第一级扫描链中,此过程中第二级的时序单元及其后继组合单元不发生逻辑值的翻转,且由于第一级扫描链的长度远远小于单链扫描结构中扫描链的长度,因而大大缩短了测试向量置入扫描链所需时间;测试向量完全置入到第一级扫描链以后,再从第一级置入第二级的扫描时序单元小组,此过程中第一级的时序单元及其后继组合单元不发生逻辑值的翻转,且只需要一个时钟周期.这样,时钟域的划分使得测试向量的置入以及测试响应的收集过程中,只有很小一部分扫描时序单元及其后继组合单元发生逻辑值的翻转,从而大大减小了测试功耗.其代价在于:测试向量需要先置入到第一级,然后从第一级置入到第二级,这样每个测试向量的置入过程需要多出一个时钟周期.2.3基于u1u2un的同组无蔽效应的降阶模型异或网络是一种奇偶测试的结构,为消除异或网络中的故障屏蔽效应,需要保证不会有偶数个测试响应同时传播到电路的时序单元,注意到:(1)若两个时序单元U1和U2在电路结构中没有共同的前驱组合单元,则同一个故障效应不可能同时传播到U1和U2中,将U1和U2通过异或门连接到同一个奇偶输出,不会产生故障屏蔽效应.(2)若时序单元U1U2…Un两两之间均没有共同的前驱组合单元,则将U1U2…Un通过异或门连接到同一个奇偶输出,不会产生故障屏蔽效应.因此,同样根据时序单元在电路结构上的相互关系,对时序单元进行新的分组,同组的时序单元满足以下条件:其中任意两个时序单元在电路结构中均没有共同的前驱组合单元.分组采用以下算法,设时序单元的集合为F:Procedure_Predecessor(F)1.若F非空,则执行2;否则执行步3;2.建立新组Pk,任取F中的一个时序单元g放入Pk;遍历F中剩余的时序单元,若某时序单元f满足∀g∈Pk,g与f没有共同的前驱组合单元,则将f放入Pk;更新F和Pk,继续遍历F中剩余的时序单元;遍历结束后转步1;3.分组结束.分组结束以后,将同组的时序单元通过异或门连接到同一个奇偶输出,不会产生故障屏蔽效应.多个组通过异或门连接到多个奇偶输出,由这些异或门所构成的异或网络,不会产生故障屏蔽效应.2.4测试单元逻辑.测试向量的置入以及测试响应的收集过程如下:1.置测试信号TEST=1,多路选择器选通两级扫描测试结构.2.置控制信号C1=1且C2=0,CLK1有效且CLK2无效,通过扫描输入端将时序单元对应的子测试向量置入到第一级的扫描链中,设扫描链长度为d,则将一个测试向量置入到第一级的扫描链中需要d个CLK时钟周期,此过程中第二级的扫描时序单元不发生翻转.3.置控制信号C1=0且C2=1,CLK1无效且CLK2有效,将第一级中各扫描时序单元的逻辑输出值置入到第二级中相应的扫描时序单元小组中,需要一个CLK时钟周期,此过程中第一级的扫描时序单元不发生翻转.4.置控制信号C1=0且C2=0,CLK1和CLK2均无效,将原始输入端对应的子测试向量置入到芯片的原始输入端,此时测试向量的置入完成.5.置测试信号TEST=0,多路选择器选通组合逻辑.6.置控制信号C1=1且C2=1,CLK1和CLK2均有效,经过一个CLK时钟周期,测试响应便传播到芯片原始输出端,或者收集在第一级和第二级时序单元中,其中收集在第二级时序单元中的测试响应通过异或网络传播到奇偶输出.7.置测试信号TEST=1,重复以上过程,在置入下一个测试向量的同时,收集在第一级时序单元中的测试响应通过扫描链依次传播到扫描输出.3测试时间、测试负荷和测试数据的估计3.1测试结构的tats对单链扫描测试结构有TAsc=v·(nff+1)+nff.上式中v为测试向量数,nff为时序单元的个数也即单链扫描测试结构中扫描链的长度,nff+1表示将测试向量置入扫描链需要nff个周期且收集测试响应需要1个周期,最后一项nff表示将最后的测试响应移出扫描链需要nff个周期.对两级扫描测试结构有TAts=v·(d+2)+d.上式中v为测试向量数,d为第一级扫描链的长度,d+2表示将测试向量置入第一级扫描链需要d个周期,置入第二级需要1个时钟周期且收集测试响应需要1个周期,最后一项d表示将最后的测试响应移出扫描链需要d个周期.由于d≪nff,所以TAts≪TAsc.3.2逻辑单元翻转次数的测量对单链扫描测试结构和两级扫描测试结构,根据文献的功耗估算模型,有TP=0.5·Cload·(V2DDDD2/TCLK)·NG,其中,Cload为逻辑单元的负载电容,VDD为芯片供电电压,TCLK为测试时钟信号的周期,NG为逻辑单元翻转次数.由于VDD和TCLK与芯片设计约束条件有关,本文中采用逻辑单元的总翻转次数(nodetransitioncount)对测试功耗进行估算,有NTC=∑G∑GNG·Cload,上式中对NG的计法如下:组合单元未翻转时计为0,有翻转时计为1;时序单元未翻转时计为2,有翻转时计为6.Cload为该逻辑单元的扇出数.测试峰值功耗PTP(PeakTestPower)为一个测试时钟周期所产生测试功耗的最大值.对电路进行逻辑模拟可以得到在测试过程中各逻辑单元的翻转次数,从而得出测试功耗和测试峰值功耗.3.3tdvts的计算对单链扫描测试结构有TDVsc=v·(nff+nPI),其中,v为测试向量数,nff为时序单元个数,nPI为电路中原始输入的个数,nff+nPI表示测试向量的长度.对两级扫描测试结构有TDVts=v·(d+nPI),其中,v为测试向量数,d为第一级扫描链的长度,nPI为电路中原始输入的个数,d+nPI表示测试向量的长度.由于d≪nff,所以TDVts≪TDVsc.4两级扫描测试结构的测试结果表1中给出了将两级扫描测试结构应用于ISCAS89和ITC99benchmark电路的实验结果,实验环境为SunBlade2000工作站下的Solaris操作系统,实验中采用的测试生成工具为ATALANTA,故障模拟器为HOPE.表中FC表示故障覆盖率,red表示难测故障数,vec表示测试向量数,TA,TP,PTP和TDR分别表示两级扫描测试结构的测试时间、测试平均功耗、测试峰值功耗和测试数据量与单链完全扫描测试结构相比所占的百分比.由表1可看出,采用两级扫描测试结构,可以在保证原有故障覆盖率与测试向量数基本不变且难测故障数没有增加的同时,使得测试时间、测试平均功耗、测试峰值功耗和测试数据量都大大减小.表2和表3为两级扫描测试结构与以往方法的比较,表中的数据为相对于单链扫描结构的百分比.由表2和表3可看出,两级扫描测试结构下的测试时间、测试平均功耗和测试数据量都明显低于以往方法.5两级扫描测试结构集成电路的扫描测试方法中,如何降低测试时间、测试功耗、测试数据量是当前研究的热点问题.降低测试时间可以降低芯片的测试成本,缩短芯片测试周期.降低测试
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