无损检测超声波检测二级试题库(UT)带答案

无损检测超声波试题(UT)一、是非题1.1受迫振动的频率等于策动力的频率。√1.2波只能在弹性介质中产生和传播。×（应该是机械波）1.3由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。√1.4由于机械波是由机械振动产生的，所以波长等于振幅。×1.5传声介质的弹性模量越大，密度越小，声速就越高。√1.6材料组织不均匀会影响声速，所以对铸铁材料超声波探伤和测厚必须注意这一问题。√1.7一般固体介质中的声速随温度升高而增大。×1.8由端角反射率试验结果推断，使用K≥l.5的探头探测单面焊焊缝根部未焊透缺陷，灵敏度较低，可能造成漏检。√1.9超声波扩散衰减的大小与介质无关。√1.10超声波的频率越高，传播速度越快。×1.11介质能传播横波和表面波的必要条件是介质具有切变弹性模量。√1.12频率相同的纵波，在水中的波长大于在钢中的波长。×1.13既然水波能在水面传播，那么超声表面波也能沿液体表面传播。×1.14因为超声波是由机械振动产生的，所以超声波在介质中的传播速度即为质点的振动速度。×1.15如材质相同，细钢棒(直径<λ=与钢锻件中的声速相同。×（C细钢棒＝（E/ρ）½）1.16在同种固体材料中，纵、横渡声速之比为常数。√1.17水的温度升高时，超声波在水中的传播速度亦随着增加。×1.18几乎所有的液体（水除外），其声速都随温度的升高而减小。√1.19波的叠加原理说明，几列波在同一介质中传播并相遇时，都可以合成一个波继续传播。×1.20介质中形成驻波时，相邻两波节或波腹之间的距离是一个波长。×（应是λ/4；相邻两节点或波腹间的距离为λ/2）1.21具有一定能量的声束，在铝中要比在钢中传播的更远。√1.22材料中应力会影响超声波传播速度，在拉应力时声速减小，在压应力时声速增大，根据这一特性，可用超声波测量材料的内应力。√1.23材料的声阻抗越大，超声波传播时衰减越大。×（成反比）1.24平面波垂直入射到界面上，入射声压等于透射声压和反射声压之和。×1.25平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量与反射能量之和。√1.26超声波的扩散衰减与波型，声程和传声介质、晶粒度有关。×1.27对同一材料而言，横波的衰减系数比纵波大得多。√1.28界面上入射声束的折射角等于反射角。×1.29当声束以一定角度入射到不同介质的界面上，会发生波形转换。√1.30在同一固体材料中，传播纵、横波时声阻抗不一样。√（Z＝ρ·C）1.31声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。×1.32超声波垂直入射到平界面时，声强反射率与声强透射率之和等于1。√1.33超声波垂直入射到异质界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压。√1.34超声波垂直入射到Z2>Zl的界面时，声压透过率大于1，说明界面有增强声压的作用。×1.35超声波垂直入射到异质界时，声压往复透射率与声强透射率在数值上相等。√1.36超声波垂直入射时，界面两侧介质声阻抗差愈小，声压往复透射率愈低。×1.37当钢中的气隙（如裂纹）厚度一定时，超声波频率增加，反射波高也随着增加。√（声压反射率也随频率增加而增加）1.38超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于折射角。×1.39超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的折射角总大于入射角。1.40超声波以10º角入射至水／钢界面时，反射角等于10º。√1.41超声波入射至钢／水界面时，第一临界角约为14.5º。×（水/钢界面时，aⅠ＝14.5º；钢/水界面不存在第一临界角一说，因为横波不在水中传播）1.42第二介质中折射的横波平行于界面时的纵波入射角为第一临界角。×1.43如果有机玻璃／铝界面的第一临界角大于有机玻璃／钢界面第一临界角，则前者的第二临界角也一定大于后者。×（铝的纵波速度>钢的纵波速度，铝的横波速度<钢的横波速度）1.44只有当第一介质为固体介质时，才会有第三临界角。√1.45横波斜入射至钢，空气界面时，入射角在30º左右时，横波声压反射率最低。√1.46超声波入射到C1<C2的凹曲面时，其透过波发散。×（聚焦）1.47超声波入射到C1>C2的凸曲面时，其透过波集聚。√1.48以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃／水界面为凹曲面。×（水浸聚焦探头就是利用平面波入射到C1>C2的凸曲面上）1.49介质的声阻抗愈大，引起的超声波的衰减愈严重。×（成反比）1.50聚焦探头辐射的声波，在材质中的衰减小。×（衰减大，因为聚焦探头有涉及发散波）1.51超声波探伤中所指的衰减仅为材料对声波的吸收作用。×1.52超声平面波不存在材质衰减。×（不存在扩散衰减）2.1超声波频率越高，近场区的长度也就越大。√（个人感觉答案有错，没有前提无法对比）2.2对同一个直探头来说，在钢中的近场长度比在水中的近场长度大。×2.3聚焦探头的焦距应小于近场长度。√2.4探头频率越高，声束扩散角越小。√2.5超声波探伤的实际声场中的声束轴线上不存在声压为零的点。√2.6声束指向性不仅与频率有关，而且与波型有关。√2.7超声波的波长越长，声束扩散角就越大，发现小缺陷的能力也就越强。×2.8因为超声波会扩散衰减，所以检测应尽可能在其近场区进行。×2.9因为近场区内有多个声压变为零的点，所以探伤时近场区缺陷往往会漏检。×2.10如超声波频率不变，晶片面积越大，超声波的近场长度越短。×2.11面积相同，频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场长度一样长。√2.12面积相同，频率相同的到晶片和方晶片，其声束指向角亦相同。×2.13超声场的近场长度愈短，声束指向性愈好。×2.14声波辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。√2.15声波辐射的超声波，总是在声束中心轴线上的声压为最高。×（近场区内轴线上的声压不一定最高）2.16探伤采用低频是为了改善声束指向性，提高探伤灵敏度。×（应是提高频率）2.17超声场中不同横截面上的声压分布规律是一致的。×（近场区与远场区各横截面上声压分布不同）2.18在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波看成平面波，平均声压不随距离增加而改变。√2.19斜角探伤横波声场中假想声源的面积大于实际声源面积。×2.20频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。√2.21圆晶片斜探头的上指向角小于下指向角。×2.22如斜探头入射点到晶片的距离不变，入射点到假想声源的距离随入射角的增加而减小。√2.23200mm处Φ4长横孔的回波声压比100mm处Φ2长横孔的回波声压低。√2.24球孔的回波声压随距离的变化规律与平底孔相同。√2.25同声程理想大平面与平底孔回波声压的比值随频率的提高而减小。√2.26轴类工件外圆径向探伤时，曲底面回波声压与同声程理想大平面相同。√2.27对空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面回波声压比同声程大平面低。×3.l超声波探伤中，发射超声波是利用正压电效应，接收超声波是利用逆压电效应。×3.2增益l00dB就是信号强度放大100倍。×（调节增益作用是改变接收放大器的放大倍数）3.3与锆钛酸铅相比，石英作为压电材料性能稳定、机电耦合系数高、压电转换能量损失小等优点。×3.4与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。√3.5使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。√3.6点聚焦探头比线聚焦探头灵敏度高。√3.7双晶探头只能用于纵波检测。×3.8B型显示能够展现工件内缺陷的埋藏深度。√3.9C型显示能展现工件中缺陷的长度和宽度，但不能展现深度。√3.10通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离，适用于不同规格的探头。√3.11在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。×3.12A型显示探伤仪，利用DGS3.13电磁超声波探头的优点之一是换能效率高，灵敏度高。×3.14多通道探伤仪是由多个或多对探头同时工作的探伤仪。×（应是交替工作）3.15探伤仪中的发射电路亦称为触发电路。×（同步电路又称触发电路）3.16探伤仪中的发射电路亦可产生几百伏到上千伏的电脉冲去激励探头晶片振动。√3.17探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查的电路。×（扫描电路又称时基电路，用来产生锯齿波电压施加到示波管水平偏转板上，产生一条水平扫描时基线）3.18探伤仪发射电路中的阻尼电阻的阻值愈大，发射强度愈弱。×（改变阻尼是调节发射脉冲的电压幅度和脉冲宽度，阻值越大，发射强度越强，发射声能越多，分辨力越小。）3.19调节探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续改变扫描线扫描速度。√（从而使荧光屏上回波间距大幅度地压缩或扩展）3.20调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。×3.21调节探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。×3.22不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。√3.23不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制作的探头其标称频率才能相同。×3.24压电晶片的压电应变常数(d33)大，则说明该晶片接收性能好。×（压电应变常数d33大，发射性能好，发射灵敏度高）3.25压电晶片的压电电压常数（g33）大，刚说明该晶片接收性能好。√（则接收灵敏度就高）3.26探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素Qm，减少机械能损耗。×（加吸收块是为了减小机械品质因素，Qm小就表示损耗大，脉冲宽度小，分辨率高）3.27工件表面比较租糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。×3.28斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。×（目的是为了减少杂波）3.29由于水中只能传插纵波，所以水浸探头只能进行纵波探伤。×3.30双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远复盖区愈大。×3.31有机玻璃声透镜水浸聚焦探头，透镜曲率半径愈大，焦距愈大。√3.32利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。√3.33当斜探头对准IIW2试块上R5曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。×3.34中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。√3.35与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。√3.36调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。×（调节水平旋钮只是使扫描线连扫描线上的回波一起左右移动一段距离，但不改变回波间距，故也不会改变水平线性）3.37测定仪器的“动态范圈”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。√3.38盲区与始波宽度是同一概念。×（盲区是指从检测面到能够发现缺陷的最小距离，盲区的大小与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度有关）3.39测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平≤l0%，再进行测试。×3.40测定“始波宽度”对，应将仪器的灵敏度调至最大。×（灵敏度应调到标准“0”点）3.41为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。√3.42在数字化智能超声波探伤仪中，脉冲重复频率又称为采样频率。×3.43双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。√3.44温度对斜探头折射角有影响，当温度升高对，折射角将变大。√3.45日前使用最广泛的测厚仪是共振式测厚仪。×（应是脉冲反射式测厚仪）3.46在钢中折射角为60。的斜探头，用于探测铝时，其折射角将变大。×（斜探头在钢中折射角为横波折射角，铝的横波折射角比钢的小）3.47“发射脉冲宽度”就是指发射脉冲的持续时间。√3.48软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。√3.49脉冲反射式和穿透式探伤，使用的探头是同一类型的。×（穿透式探伤的探头发射的是连续波）3.50声束指向角较小且声柬截面较窄的探头称作窄脉冲探头。×4.1在液浸式检测中，返回探头的声能还不到最初值的1%。√4.2垂直探伤时探伤面的粗糙度对反射波高的影响比斜角探伤严重。√4.3超声脉冲通过材料后，其中心频率将变低。√4.4串列法探伤适用于检查垂直于探测面的平面缺陷。√4.5“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好。×（灵敏度太高杂波多）4.6所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。×（原因是重复频率过高）4.7当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。×（当量法适用于面积小于截面的缺陷尺寸评定）4.8半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。×4.9串列式双探头法探伤即为穿透法．×4.10厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，则不存在死区。×（上下表面都存在盲区）4.11曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好。√4.12实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低。×（可以采用更换探头方法来鉴别探头杂波）4.13采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。√4.14只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。×（测长法适用于面积大于声束截面或长度大于声束截面直径的缺陷的评定）4.15绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大。√4.16当工件内存在较大的内应力时，将使超声被的传播速度及方向发生变化。√4.17超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高。×5.1钢板探伤时，通常只根据缺陷波情况判定缺陷。×（还可根据底波衰减情况来判定缺陷）5.2当钢板中缺陷大于声束截面时，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出现“叠加效应”。×（超声波脉冲相对于薄层较窄时，薄层两侧的各次反射波、透射波互不干涉，当钢板中缺陷大于声束截面时同理）5.3厚钢板探伤中，若出现缺陷的多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大。√5.4较薄钢板采用底波多次法探伤时，如出现“叠加效应”，说明钢板中缺陷尺寸一定很大。×5.5复合钢扳探伤时，可从母材一侧探伤，也可从复合材料一侧探伤。√5.6用板波法探测厚度5mm以下薄钢板时，不仅能检出内部缺陷，同时能检出表面缺陷。√5.7钢管水浸聚焦法探伤时，不宜采用线聚焦探头探测较短缺陷。√5.8采用水浸聚焦探头检验钢管时，声透镜的中心部分厚度应为k／2的整数倍。√5.9钢管作手工接触法周向探伤时，应从顺、逆时针两个方向各探伤一次。√5.10钢管水浸探伤时，水中加入适量活性剂是为了调节水的声阻抗，改善透声性。×（为了增强水对钢管表面的润湿作用）5.11钢管水浸探伤时，如钢管中无缺陷，荧光屏上只有始波和界面波。√5.12用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时，其跨距比同厚度平板大。√6.1对轴类锻件探伤，一般来说以纵波直探头从径向探测效果最佳。√6.2使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应采用正反两个方向扫查。√6.3对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。×6.4调节锻件探伤灵敏度的底波法，其含义是锻件扫查过程中依据底波变化情况评定锻件质量等级。×（应是根据缺陷回波情况评定质量等级）6.5锻件探伤中，如缺陷引起底波明显下降或消失时，说明锻件中存在较严重的缺陷。√6.6锻件探伤时，如缺陷被探伤人员判定为白点．则应按密集缺陷评定锻件等级。×A、纵波B、横波C、表面波D、切变波1.29超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生（B）A、只绕射，无反射B、既反射又绕射C、只反射无绕射D、以上都可能1.30在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它的声阻抗将是（C）A、一样B、传播横波时大C、传播纵波时大D、无法确定1.31超声波垂直入射到异质界面时，反射波与透过波声能的分配比例取决于（C）A、界面两侧介质的声速B、界面两侧介质的衰减系数C、界面两侧介质的声阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，声强透过率T与声压反射率r之间的关系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、1.33在同一界面上声强反射率R与声强透过率T之间的关系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全对1.34超声波倾斜入射至异质界面时，其传播方向的改变主要取决于（B）A、界面两侧介质的声阻抗B、界面两侧介质的声速C、界面两侧介质衰减系数D、以上全部1.35倾斜入射到异质界面的超声波束的反射声压与透射声压与哪一因素有关（D）A、反射波波型B、入射角度C、界面两侧的声阻抗D、以上都是1.36纵波垂直入射水浸法超声波探伤，若工件底面全反射，计算底面回波声压公式：（）T=4Z1Z2/(Z1+Z2)²1.37一般地说，如果频率相同，则在粗晶材料中穿透能力最强的振动波型为（B）A、表面波B、纵波C、横波D、三种波型的穿透力相同1.38不同振动频率，而在钢中有最高声速的波型是：（A）（在同一介质中，波速与频率无关）A、0.5MHz的纵波B、2.5MHz的横波C、10MHz的爬波D、5MHz的表面波1.39在水／钢界面上，水中入射角为17º，在钢中传播的主要振动波型为（C答案为什么不是B呢）A、表面波B、横波C、纵波D、B和C1.40当超声纵波由有机玻璃以入射角15º射向钢界面时，可能存在（D）A、反射纵波B、反射横波C、折射纵波和折射横渡D、以上都有1.41如果将用于钢的K2探头去探测铝（CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s)则K值会（B）。A、大于2B、小于2C、仍等于2D、还需其它参数才能确定1.42如果超声纵波由水以20º入射到钢界面，则在钢中横波折射角为（A）。A、约48ºB、约24ºC、39ºD以上都不对1.43第一临界角是：（C）A、折射纵波等于90º时的横波入射角B、折射横渡等于90º时的纵波入射角C、折射纵波等于90º时的纵波入射角D、入射纵波接近口0º时的折射角1.44第二临界角是：（B）A、折射纵波等于90º时的横波入射角B、折射横波等于90º时的纵波入射角C、折射纵波等于90º时的纵波入射角D、入射纵波接近90º对的折射角1.45要在工件中得到纯横波，探头入射角α必须：（C）A、大于第二临界角B、大于第一临界角C、在第一、第二临界角之间D、小于第二临界角1.46一般均要求斜探头楔块材料的纵波速度小于被检材料的纵波声速，因为只有这样才有可能：（A）A、在工件中得到纯横波B、得到良好的声束指C、实现声束聚焦D、减少近场区的影响1.47纵波以20。入射角自水入射至钢中，下图中哪一个声束路径是正确的？（D）横波不能在水中传播1.48用入射角为52。的斜探头探测方钢，下图中哪一个声束路径是正确的？（D）1.49直探头纵波探测具有倾斜底面的锻钢件，下图中哪一个声束路径是正确的？（B）1.50第一介质为有机玻璃(CL=2700m/s)，第二介质为铜(CL=4700m/s;Cs=2300m/s),则第Ⅱ临界角为（B）1.5l用4MHz钢质保护膜直探头经甘油耦合后，对钢试件进行探测，若要得到最佳透声效果，其耦台层厚度为（甘油CL=1920m／s）（D）A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探头以水为透声楔块使钢板对接焊缝中得到横检测，此时探头声束轴线相对于探测面的倾角范围为：（B）A、14.7º～27.7ºB、62.3º～75.3ºC、27.2º～56.7ºD、不受限制1.53有一不锈钢复合钢板，不锈钢复合层声阻抗Z1，基体钢板声阻抗Z2，今从钢板一侧以2.5MHz直探头直接接触法探测，则界面上声压透射率公式为：（C）1.54由材质衰减引起的超声波减弱db数等于：（A）A、衰减系数与声程的乘积B、衰减系数与深度的乘积C、e-μs（μ为衰减系数，s为声程）D以上都不对1.55超声波（活塞波）在非均匀介质中传播，引起声能衰减的原因是：（D）A、介质对超声波的吸收B、介质对超声波的散射C、声束扩散D、以上全部1.56斜探头直接接触法探测钢板焊缝时，其横波：（D）A、在有机玻璃斜楔块中产生B、从晶片上直接产生C、在有机玻璃与耦合层界面上产生D、在耦合层与钢板界面上产生1.57制作凹曲面的聚焦透镜时，若透镜材料声速为C1，第二透声介质声速为C2，则两者材料应满足如下关系：（A）A、C1>C2B、C1<C2C、1.58当聚焦探头声透镜的曲率半径增大时，透镜焦距将：（A）A、增大B、不变C、减小D以上都不对1.59平面波在曲界面上透过情况，正确的图是：（B）1.60以下关于板波性质的叙述，哪条是错误的（D）A、按振动方向分，板波可分为SH波和兰姆波，探伤常用的是兰姆波B、板渡声速不仅与介质特性有关，而且与板厚、频率有关C、板波声速包括相速度和群速度两个参数D、实际探伤应用时，只考虑相速度．无须考虑群速度1.61由材料晶粒粗大而引起的衰减属于（B）A、扩散衰减B、散射衰减C、吸收衰减D、以上都是1.62与超声频率无关的衰减方式是(A)（扩散衰减只与波振面的形状有关）A、扩散衰减B、散射衰减C、吸收衰减D、以上都是1.63下面有关材料衰减的叙述，哪句话是错误的；（D）A、横渡衰减比纵波严重B、衰减系数一般随材料的温度上升而增大C、当晶粒度大于波长1/10时对探伤有显著影响D、提高增益可完全克服衰减对探伤的影响2.1波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随（B）A、频率增加，晶片直径减小而减小B、频率或晶片直径减小而增大C、频率或晶片直径减小而减小D、频率增加，晶片直径减小而增大2.2晶片直径D=20mm的直探头，在钢中测得其零幅射角为10º，该探头探测频率约为：（D）A、2.5MHzB、5MHzC、4MHzD、2MHz2.3直径中12mm晶片5MHz直探头在钢中的指向角是：（C）A、5.6°B、3.5°C、6.8°D、24.6°2.4Φ14mm，2.5MHz直探头在钢中近场区为：（B）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不对2.5上题探头的非扩散区长度约为：（A）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不对2.6在非扩散区内大平底距声源距离增大l倍，其回波减弱（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、0db2.7利用球面波声压公式（P=PoπD2／4λ）得到的规则反射体反射声压公式应用条件是：（D）A、S≥2N近似正确B、S≥3N基本正确C、S≥6N正确D、以上都对2.8在超声探头远场区中：（B）A、声束边缘声压较大B、声束中心声压最大C、声束边缘与中心强度一样D、声压与声束宽度成正比2.9活塞波声场，声束轴线上最后一个声压极大值到声源的距离称为（A）A、近场长度B、未扩散区C、主声束D、超声场2.10下列直探头，在钢中指向性最好的是（C）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11下面有关扩散角的叙述-哪一条是错误的（B）A、用第一零辐射角表示B、为指向角的一半C、与指向角相同D、是主声束辐射锥角之半2.12超声场的未扩散区长度（C）A、约等于近场长度B、约等于近场长度0.6倍C、约为近场长度1.6倍D、约等于近场长度3倍2.13远场范围的超声波可视为（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不对2.14在探测条件相同的情况下面积比为2的两个平底孔，其反射波高相差（A）A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB2.15在探测条件相同的情况下，孔径比为4两个球形人工缺陷，其反射波高相差（B）A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB2.16在探测条件相同的情况下，直径比为2的两个实心圆柱体，其曲底面同波相差（C）A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB；2.17外径为D，内径为d的实心圆柱体，以相同的灵敏度在内壁和外圆探测，如忽略耦合差异，则底波高度比为（D）2.18同直径的平底孔在球面波声场中距声源距离增大1倍则回波减弱：（B）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直径的长横孔在球面波声场中距离声源距离增大1倍回波减弱（答案是A，但是觉得应该是D）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波声场中B平底距声源距离增大1倍回波减弱：（A）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.21对于柱面波，距声源距离增大1倍，声压变化是：（D）A、增大6dbB、减小6dbC、增大3dbD、减小3db2.22对于球面波，距声源距离增大1倍，声压变化是：（B）A、增大6dbB、减小6dbC、增大3dbD、减小3db2.23比Φ3mm平底孔回波小7db的同声程平底孔直径是：（B）A、Φ1mmB、Φ2mmC、Φ4mmD、Φ0.5mm2.24比Φ3mm长横孔反射小7db的同声程长横孔直径是（A）A、Φ0.6mmB、Φ1mmC、Φ2mmD、Φ0.3mm2.25以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（C）A、灵敏度高B、横向分辨率高C、纵向分辨高D、探测粗晶材料时信噪比高2.26以下叙述中，哪一条不是聚焦探头的缺点（C）A、声束细，每次扫查探测区域小，效率低B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷，通用性差C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差，声束不能完全汇聚一点D、以上都是3.1A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（C）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时问D、以上都是3.2A型扫描显示，“盲区”是指：（C）A、近场区B、声束扩散角以外区域C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、以上均是3.3A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（A）A、超声回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超声传播时间3.4A型扫描显示中，水平基线代表：（C）A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小3.5脉冲反射式超声波探伤仪中，产生触发脉冲的电路单元叫做（C）A、发射电路B、扫描电路C、同步电路D、显示电路3.6脉冲反射超声波探伤仪中，产生时基线的电路单元叫做（A）A、扫描电路B、触发电路C、同步电路D、发射电路3.7发射电路输出的电脉冲，其电压通常可达（A）A、几百伏到上千伏B、几十伏C、几伏D、1伏3.8发射脉冲的持续时间叫：（A）A、始脉冲宽度B、脉冲周期C、脉冲振幅D、以上都不是3.9探头上标的2.5MHz是指：（B）A、重复频率B、工作频率C、触发脉冲频率D、以上都不对3.10影响仪器灵敏度的旋纽有：（D）A、发射强度和增益旋纽B、衰减器和抑制C、深度补偿D、以上都是3.11仪器水平线性的好坏直接影响：（C）A、缺陷性质判断B、缺陷大小判断C、缺陷的精确定位D、以上都对3.12仪器的垂直线性好坏会影响：（A）A、缺陷的当量比较B、AVG曲线面板的使用C、缺陷的定位D、以上都对3.13接收电路中，放大器输入端接收的同波电压约有（D）A、几百伏B、100V左右C、10V左右D、0.001～1V3.14同步电路每秒钟产生的触发脉冲数为（B）A、l—2个B、数十个到数千个C、与工作频率相同D、以上都不对3.15调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（D）A、垂直线性B、动态范围C、灵敏度D、以上全部3.16放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放放大器的（B）A、灵敏度范围B、线性范围C、分辨力范围D、选择性范围3.17单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（C）A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射3.18同步电路的同步脉冲控制是指：（D）A、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数B、扫描电站每秒钟内重复扫描次数C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数D、以上全部都是3.19表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（B）A、水平线性、垂直线性、衰减器精度B、灵敏度余量、盲区、远场分辨力C、动态范围、频带宽度、探测宽度D、垂直极限、水平极限、重复频率3.20使仪器得到满幅显示时Y轴偏转板工作电压为80V，现晶片接收到的缺陷信号电压为40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度显示，仪器放大器应有多大增益量？（C）A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB3.21脉冲反射式超声波探伤仪同步脉冲的重复频率决定着：（C）A、扫描长度B、扫描速度C、单位时间内重复扫描次数D、锯齿波电压幅度3.22压电晶片的基频是：（A）A、晶片厚度的函数B、施加的脉冲宽度的函数C、放大器放大特性的函数D、以上都不对3.23探头的分辨力：（B）（频带宽度大，则脉冲越窄，分辨力越好）A、与探头晶片直径成正比B、与频带宽度成正比C、与脉冲重复频率成正比D、以上都不对3.24当激励探头的脉冲幅度增大时：（B）A、仪器分辨力提高B、仪器分辨力降低，但超声强度增大C、声波穿透力降低D对试验无影响3.25探头晶片背面加上阻尼块会导致：（D）（Qm值降低，盲区减小）A、Qm值降低．灵敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲区增大D、Qm值降低，分辨力提高3.26为了从换能器获得最高灵敏度：（C）A、应减小阻尼块B、应使用大直径晶片C、应使压电晶片在它的共振基频上激励D、换能器频带宽度应尽可能大3.27超声试验系统的灵敏度：（A）A、取决于探头高频脉冲发生器和放大器B、取决于同步脉冲发生器C、取决于换能器机械阻尼D、随分辨力提高而提高3.28换能器尺寸不变而频率提高时：（C）A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大C、近场长度增大D、指向性变钝3.29一般探伤时不使用深度补偿是因为它会：（B）A、影响缺陷的精确定位B、影响AVG曲线或当量定量法的使用C、导致小缺陷漏捡D、以上都不对3.30晶片共振波长是晶片厚度的（A）A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍3.31已知PZT-4的频率常数是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为：（A）（N＝t×f0）A、0.8mmB、l.25mmC、1.6mmD、0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（B）A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头C、大尺寸直探头D、高频直探头3.33目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是：（C）A、石英B钛酸钡C、锆钛酸铅D硫酸锂3.34联合双直探头的最主要用途是：（A）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤3.35超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（C）A、导电材料B磁致伸缩材料C、压电材料D磁性材料3.36下面哪种材料最适宜做高温探头：（D）A、石英B、硫酸锂C、锗钛酸铅D、铌酸锂3.37下面哪种压电材料最适宜制作高分辨率探头：（C）A、石英B锆钛酸铅C、偏铌酸铅D、钛酸钡3.38下列压电晶体中哪一种作高频探头较为适宜（B）A、钛酸钡(CL=5470m/s)B、铌酸锂（CL=7400m/s）C、PZT（CL=4400m/s）D、钛酸铅(CL=4200m/S)3.39表示压电晶体发射性能的参数是（C）A、压电电压常数g33B、机电耦合系数KC、压电应变常数d33D、以上全部3.40以下关于爬波探头的叙述，哪一条是错误的（B）A、爬波探头的外形和结构与横渡斜探头类似B、当纵波入射角大于或等于第二临界角时，在第二介质中产生爬波(应是以第一临界角附近的角度)C、爬波用于探测表层缺陷D、爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关。3.41窄脉冲探头和普通探头相比（D）A、Q值较小B、灵敏度较低C、频带较宽D、以上全部3.42采用声透镜方式制作聚焦探头时，设透镜材料为介质1，欲使声束在介质2中聚焦，选用平凹透镜的条件是（C）A、Zl>Z2B、C1<C2C、C1>C23.43探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是（C）A、透声性能好B、材质衰减小C、有利消除耦合差异D、以上全部3.44以下哪一条，不属于数字化智能超声波探伤仪的优点（B）A、检测精度高，定位定量准确B、频带宽，脉冲窄C、可记录存贮信号D、仪器有计算和自检功能3.45以下哪一条，不属于双晶探头的优点（A）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少3.46以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（D）A、工作频率B、晶片尺寸C、探测深度D、近场长度3.47斜探头前沿长度和K值测定的儿种方法中，哪种方法精度最高：（A）A、半圆试块和横孔法B、双孔法C、直角边法D、不一定，须视具体情况而定3.48超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为（D）A、检测灵敏度B、时基线性C、垂直线性D、分辨力3.49用以标定或测试超声探伤系统的，含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫（C）A、晶体准直器B、测角器C、参考试块D、工件3.50对超声探伤试块材质的基本要求是：（D）A、其声速与被探工件声速基本一致B、材料中没有超过Φ2mm平底孔当量的缺陷C、材料衰减不太大且均匀D、以上都是3.51CSK-IIA试块上的Φl×6横孔，在超声远场．其反射波高随声程的变化规律与（D）相同。（平底孔、短横孔、球孔孔径一定时，声压变化随距离变化一致）A、k值孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C4.1采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（D）A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法4.2超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（D）A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都对4.3超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（C）A、曲面探伤时可减少耦合损失B、可减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上全部4.4探伤时采用较高的探测频率，可有利于（D）A、发现较小的缺陷B、区分开相邻的缺陷C、改善声束指向性D、以上全部4.5工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（A）A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部4.6缺陷反射声能的大小，取决于（D）A、缺陷的尺寸B、缺陷的类型C、缺陷的形状和取向D、以上全部4.7声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：（C）A、反射波高随粗糙度的增大而增加B、无影响C、反射波高随粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能4.8如果声波在耦合介质中波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（D）A、λ/4的奇数倍B、λ/2整数倍C、小于λ/4且很薄D、以上B和C4.9表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以4.10探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确？（A）A、缺陷实际径向深度总是小于显示值B、显示的水平距离总是大于实际弧长C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D、以上都正确4.11采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面哪种说法正确（B）?A、F/B相同，缺陷当量相同B该法不能给出缺陷的当量尺寸C、适于对尺寸较小的缺陷定量D、适于对密集性缺陷的定量4.12在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（C）A、横波质点振动方向对缺陷反射有利B、横渡探伤杂波少C、横波波长短（灵敏度＝λ/2）D、横波指向性好4.13采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（A）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、l0MHz（频率越大，衰减越大，穿透能力就越小）4.14在用5MHzΦl0晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：（C）（N'＝N2－LC1/C2）A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不对4.15使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（B）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度（测长法适用于面积大于声束面或长度大于声束面直径的缺陷）C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸4.16棱边再生波主要被用于测定：（D）A、缺陷的长度B、缺陷的性质C、缺陷的位置D、缺陷的高度4.17从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：（D）A、精确对缺陷定位B、精确测定缺陷形状C、测定缺陷的动态波形D、以上方法须同时使用4.18单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（B）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声4.19确定脉冲在时基线上的位置应根据：（B）A、脉冲波峰B、脉冲前沿C、脉冲后沿D、以上都可以4.20用实测折射角71°的探头探测板厚为25mm的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：（D）A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm4.21用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏上的回波位置（声程调试）应在；（B）4.22能使K2斜探头得到图示深度l：1调节波形的钢半圆试块半径R为（C）（d＝R/(1+K²）½A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm（波图水平刻度少个0，应为30，90）4.23在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（B）A、水平定能法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法4.24在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（A）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次被法4.25对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：（A）（当采用横波斜探头检测圆柱曲面时，若沿轴向检测，缺陷定位A、按平板对接焊缝方法B、作曲面定位修正与平面相同；若沿周向检测，缺陷定位则与平面不同，作曲面修正）C、使用特殊探头D、视具体情况而定采用各种方法4.26在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：（B）A、按平板对接焊缝方法B、作曲面修正C、使用特殊探头D、视具体情况决定是否采用曲面修正4.27在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平扳探伤时所得读数：（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.28在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数（A）A、大B、小C、相同D、以上都可艟4.29在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平扳探伤时所得读数（A）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.30在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.31为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（B）A、小K值探头B、大K值探头C、较保护膜探头D、高频探头4.32在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（A）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是4.33在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性C、提高探头前沿长度和K值测定精度D、以上都对4.34当量大的缺陷实际尺寸：（A）A、一定大B不一定大C、一定不大D等于当量尺寸4.35当量小的缺陷实际尺寸：（B）A、一定小B、不—定小C、一定不小D、等于当量尺寸4.36在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）（缺陷波高与缺陷波的指向性有关，缺陷表面光滑与否，对反射指向性无影响）D、大B、小C不影响D、不一定4.37当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（B）A、大B、小C、无影响D、不一定4.38焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高（D）A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B、裂纹表面不光洁对回波强度影响越大C、杂波太多D、AB都对4.39厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为l65μs若纵波在铝中声速为6300m/S则此回波是（C）A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波4.40直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（A）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波变宽D、底面回波变窄4.41直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01dB／mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：（C）（20lg100/x=5+0.01(400-100)+20lg100/400）A、40%B、20%C、10%D、5%4.42厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400／Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（B）A、两个缺陷当量相同B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小D、以上都不对4.43在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（D）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对4.4在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（D）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是4.45在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（C）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对4.46影响直接接触法耦合损耗的原因有：（D）A、耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B、探头接除面介质声阻抗C、工件被探测面材料声阻抗D、以上都对4.47被检工件晶粒粗大，通常会引起：（D）A、草状回波增多B、信噪比下降C、底波次数减少D、以上全部4.48为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（D）A、使用高声阻抗耦合剂B、使用软保护膜探头C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D、以上都可以4.49在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头，因为这样：（B）A、虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B、脉冲窄，探测灵敏度高C、探头与仪器匹配较好D、以上都对4.50应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（A）A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体4.51下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：（C）A、平底孔B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口4.52测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（D）A、声束扩散损失B、耦合损耗C、工件几何形状影响D、以上都是4.53沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△x的计算公式是：（D）4.54换能器尺寸不变而频率提高时：(D应选C吧)A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大C、近场区增大D、指向性变钝4.55在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（D）A、只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准4.56考虑灵敏度补偿的理由是（D）A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、工件与试块材质，表面光洁度有差异4.57探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：（C）A、声阻抗小且粘度大的耦合剂B、声阻抗小且粘度小的耦合剂C、声阻抗大且粘度大的耦合剂D、以上都不是4.58超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A、波长的一半B、一个波长C、四分之一波长D、若干个波长4.59与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（C）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法4.60探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高。（C）A、与探测面平行的大平底面B、R200的凹圆柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圆柱底面4.61锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（B）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部4.62下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的（C）A、幻象回波通常在锻件探伤中出现B、幻象波会在扫描线上连续移动C、幻想波只可能出现在一次底波前D、降低复重频率，可消除幻象波4.63下面有关61°反射波的说法，哪一点是错误的？（C）A、产生61°反射时，纵波入射角与横渡反射角之和为90°B、产生61°反射时，纵波入射角为61°横波反射角为29°。C、产生6l°反射时，横渡入射角为29。，纵波反射角为61°D、产生61°反射时，其声程是恒定的4.64长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（D）A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波4.65方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（C）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面4.66缺陷反射声压的大小取决于：（D）A、缺陷反射面大小B、缺陷性质C、缺陷取向D、以上全部5.1钢板缺陷的主要分布方向是：（A）A、平行于或基本平行于钢板表面B、垂直于钢板表面C、分布方向无倾向性D、以上都可能5.2钢板超声波探伤主要应采用：（A）A、纵波直探头B、表面波探头C、顺波直探头D、聚焦探头5.3下面关于钢板探伤的叙述，哪一条是正确的：（A）A、若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B、无底波时，说明钢板无缺陷C、钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定（常用测长法测定指示长度和面积）D、钢板探伤应尽量采用低频率5.4钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为l5mm时，则第三次底面回波显示于（B）A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定5.5复合材料探伤，由于两介质声阻抗不同，在界面处有回波出现，为了检查复合层结合质量，下面哪条叙述是正确的：（C）A、两介质声阻抗接近，界面回波小，不易检查B、两介质声阻抗接近，界面回波大，容易检查C、两介质声阻抗差别大，界面回波大，不易检查D、两介质声阻抗差别大，界面回波小，容易检查5.6探测厚度为18mm的钢板，在探伤波形上出现了“叠加效应”，问哪一种说法是正确的：（B）A、同大于20mm的厚钢板一样，按F1评价缺陷B、因为板厚小于20mm，按F2评价缺陷C、按最大缺陷回波评价缺陷D、必须降低灵敏度重新探伤5.7探测T=28mm的钢板，荧光屏上出现“叠加效应”的波形，下面哪种评定缺陷的方法是正确的？（A）A、接缺陷第一次回波(Fl)评定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)评定缺陷C、按缺陷多次回波中最大值评定缺陷D、以上都可以5.8下面有关“叠加效应”的叙述中，哪点是正确的（C）A、叠加效应是波型转换时产生的现象B、叠加效应是幻象波的一种C、叠加效应是钢板底波多次反射时可看到的现象D、叠加效应是探伤频率过高而引起的5.9带堆焊层工件中的缺陷有：（D）A、堆焊金属中的缺陷B、堆焊层与母材间的脱层C、堆焊层下母材热影响区的再热裂纹D、以上三种都有5.10用水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时，声束进入工件后将（B）A、因折射而发散B、进一步集聚C、保持原聚焦状况D、以上都能5.11无缝钢管缺陷分布的方向有；（D）A、平行于钢管轴线的径向分布B、垂直于钢管轴线的径向分布C、平行于钢管表面的层状分布D、以上都可能5.12小口径钢管超探时探头布置方向为：（C）A、使超声沿周向射入工件以探测纵向缺陷B、使超声沿轴向射入工件以探测横向缺陷C、以上二者都有D、以上二者都没有5.13小口径无缝钢管探伤中多用聚焦探头，其主要目的是：（A）A、克服表面曲率引起超声散焦B、提高探伤效率C、提高探伤灵敏度D、以上都对5.14钢管原材料超探试样中的参考反射体是：（C）A、横孔B、平底孔C、槽D、竖孔5.15管材横波接触法探伤时，入射角的允许范围与哪一因素有关（D）A、探头楔块中的纵波声速B、管材中的纵横波声速C、管子的规格D、以上全部5.16管材周向斜角探伤与板材斜角探伤显著不同的地方是（C）A、内表面入射角等于折射角B、内表面入射角小于折射角C、内表面入射角大于折射角D、以上都可能5.17管材水漫法探伤中，偏心距x与入射角α的关系是（sina=X/R）。（rR为管材的内外半径）5.18管材自动探伤设备中，探头与管材相对运动的形式是（D）A、探头旋转，管材直线前进B、探头静止，管材螺旋前进C、管材旋转，探头直线移动D、以上均可5.19下面有关钢管水浸探伤的叙述中，哪点是错误的（C）A、使用水浸式纵波探头B、探头偏离管材中心线C、无缺陷时，荧光屏上只显示始波和l～2次底波D、水层距离应大于钢中一次波声程的1／25.20钢管水浸聚焦法探伤中，下面有关点聚焦方法的叙述中，哪条是错误的？（B）A、对短缺陷有较高探测灵敏度B、聚焦方法一般采用圆柱面声透镜C、缺陷长度达到一定尺寸后（即超过焦距长度时），回波幅度不随长度而变化D、探伤速度较慢5.21钢管水浸聚焦法探伤时，下面有关线聚焦方式的叙述中，哪条是正确的？（D）A、探伤速度轻快B、回波幅度随缺陷长度增大而增高C、聚焦方法一般采用圆柱面透镜或瓦片型晶片D、以上全部5.22使用聚焦探头对管材探伤，如聚焦点未调到与声束中心线相垂直的管半径上，且偏差较大距离，则会引起（B）A、盲区增大B、在管中折射发散C、多种波型传播D、同波脉冲变宽6.1锻件的锻造过程包括：（A）A、加热形变，成型和冷却B、加热，形变C、形变，成型D、以上都不全面6.2锻件缺陷包括：（D）A、原材料缺陷B、锻造缺陷C、热处理缺陷D、以上都有6.3锻件中的粗大晶粒可能引起：（D）A、底波降低或消失B、噪声或杂波增大C、超声严重衰减D、以上都有6.4锻件中的白点是在锻造过程中哪个阶段形成：（D）A、加热B、形变C、成型D、冷却6.5轴类锻件最主要探测方向是：（B）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤6.6饼类锻件最主要探测方向是：（A）A、直探头端面探伤B、直探头翻面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤6.7筒形锻件最主要探测方向是：（A）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外四面周向探伤D、以上都是6.8锻件中非金属夹杂物的取向最可能的是：（C）A、与主轴线平行B、与锻造方向一致C、与锻件金属流线一致D、与锻件金属流线垂直6.9超声波经液体进入具有弯曲表面工件时，声束在工件内将会产生：（C）A、与液体中相同的声束传播B、不受零件几何形状的影响C、凹圆弧面声波将收敛，凸圆弧面声波将发散D、与C的情况相反6.10锻钢件探测灵敏度的校正方式是：（D）A、没有特定的方式B、采用底波方式C、采用试块方式D、采用底波方式和试块方式6.11以工件底面作为灵敏度校正基准，可以：（D）A、不考虑探测面的耦合差补偿B、不考虑材质衰减差补偿C、不必使用校正试块D、以上都是6.12在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高多少db探伤？（晶片直径D=14mm）（A）A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db6.13在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋纽保持不变，则200mm底波出现在（C）A、刻度5处B、越出荧光屏外C、仍在刻度10处D、须视具体情况而定6.14化学成份相同，厚度相同，以下哪一类工件超声波衰减最大（D）A、钢板B、钢管C、锻钢件D、铸钢件6.15通用AVG曲线的通用性表现在可适用于：（C）A、不同的探测频率B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探伤仪D、以上都是6.16大型铸件应用超声波探伤检查的主要困难是：（D）A、组织不均匀B、晶粒非常粗C、表面非常粗糙D、以上都对6.17锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（A）A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响6.18利用试块法校正探伤灵敏度的优点是：（B）A、校正方法简单B、对大于3N和小于3N的锻件都适用C、可以克服探伤面形状对灵敏度的影响D、不必考虑材质差异6.19下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力：（B）A、用直径较大的探头进行检验B、在细化晶粒的热处理后检验C、将接触法探伤改为液浸法探伤D、将纵波探伤改为横波探伤6.20以下有关锻件白点缺陷的叙述，哪一条是错误的（A）A、白点是一种非金属夹杂物B、白点通常发生在锻件中心部位C、白点的回波清晰尖锐往往有多个波峰同时出现D、一旦判断是白点缺陷，该锻件即为不合格6.21在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声（C）A、大于非扩散区B、大于近场区C、大于3倍近场区D、无甚要求6.22锻件超声波探伤时机应选样（B）A、热处理前孔槽台阶加工前B、热处理后孔曹台阶加工前C、热处理前孔槽台阶加工后D、热处理孔槽台阶加工后6.23钢锻件探伤中，超声波的衰减主要取决于（B）A、材料的表面状态B、材料晶粒度的影响C、材料的几何形状D、材料对声波的吸收6.24下面有关用试块法调节锻件探伤灵敏度的叙述中，哪点是正确的。（D）A、对厚薄锻件都适用B、对平面和曲面锻件都适用C、应作耦合及衰减差补偿D、以上全部6.25用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（D）A、可不考虑探伤耦合差补偿B、缺陷定量可采用计算法或A.V.C曲线法C、可不使用试块D、缺陷定量可不考虑材质衰减差修正6.26用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（D）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部6.27锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（D）A、底波降低或消失B、有较高的“噪声”显示C、使声波穿透力降低D、以上全部6.28铸钢件超声波探伤频率一般选择（A）A、0.5-2.5MHZB、1-5MHZC、2.5-5MHZDD、5-10MHZ6.29锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（D）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部6.30锻件探伤时．如果用试块比较法对缺陷定量对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（A）A、大于当量尺寸B、等于当量尺寸C、小于当量尺寸D、以上都可能6.31下面有关铸钢件探测条件选择的叙述中，哪点是正确的’（B）A、探测频率5MHzB、透声性好粘度大的耦合剂C、晶片尺寸小的探头D、以上全部7.1通常要求焊缝探伤在焊后48小时进行是因为：（C）A、让工件充分冷却B、焊缝材料组织稳定C冷裂缝有延时产生的特点D、以上都对7.2对接焊缝探伤时，在CSK-IIA试块上测得数据绘制距离-dB曲线，现要计入表面补偿4dB，则应：（D）A、将测长线下移4dBB、将判废线下移4dBC、三条线同时上移4dBD、三条线同时下移4dB7.3焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了：（D）A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定结构反射波和缺陷波D、以上A和C7.4采用半圆试块调节焊缝探伤扫描比例时，如圆弧第一次反射波对准时基刻度2，则以后各次反射波对应的刻度为（C）A、4，6，8，10B、3，5，7，9C、6，10D、以上都不对7.5探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（B）A、提高探铡频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以7.6焊缝斜角探伤时，焊缝中与表面成一定角度的缺陷，其表面状态对回波高度的影响是（A