第1章晶体管开关课件_第1页
第1章晶体管开关课件_第2页
第1章晶体管开关课件_第3页
第1章晶体管开关课件_第4页
第1章晶体管开关课件_第5页
已阅读5页,还剩44页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1第一章晶体管开关1第一章晶体管开关21.1半导体二极管1.1.1半导体基本知识一、什么是半导体?导体(金属原子的外层电子受原子核的束缚力很小,自由电子成为导电的“载流子”)绝缘体可运动的带电粒子21.1半导体二极管1.1.1半导体基本知3半导体:导电性能介于导体和绝缘体之间的物质,如硅(Si),锗(Ge)。硅和锗的原子结构模型(a)硅原子(b)锗原子简化模型硅和锗都是四价元素,原子的最外层轨道上有四个价电子。3半导体:导电性能介于导体和绝缘体之间的物质,如硅(Si),41.本征半导体(纯净的半导体晶体)硅和锗的晶体结构(a)点阵结构(b)共价键结构点阵结构:每个原子周围有四个相邻的原子,原子之间通过共价键紧密结合在一起。原子最外层的价电子不仅围绕…两个相邻原子共用一对电子41.本征半导体(纯净的半导体晶体)硅和锗的晶体结构(a)点5热激发产生自由电子和空穴室温下,由于热运动少数价电子挣脱共价键的束缚成为自由电子,同时在共价键中留下一个空位这个空位称为“空穴”。失去价电子的原子成为正离子,就好象空穴带正电荷一样。在电子技术中,将空穴看成带正电荷的载流子。5热激发产生自由电子和空穴室温下,由于热运动少数价电子挣脱共6空穴运动有了空穴,邻近共价键中的价电子很容易过来填补这个空穴,这样空穴便转移到邻近共价键中。新的空穴又会被邻近的价电子填补。带负电荷的价电子依次填补空穴的运动,从效果上看,相当于带正电荷的空穴作相反方向的运动。(与自由电子的运动不同)6空穴运动有了空穴,邻近共价键中的价电子很容易过来填补这个空7结论:本征半导体中有两种载流子:①带负电荷的自由电子②带正电荷的空穴热激发产生的自由电子和空穴是成对出现的,电子和空穴又可能重新结合而成对消失,称为“复合”。在一定温度下自由电子和空穴维持一定的浓度。7结论:本征半导体中有两种载流子:①带负电荷的自由电子②带正8N型和P型半导体(1)N型半导体

在硅晶体中掺入五价元素磷,磷原子的五个价电子有四个…多出的一个电子不受共价键的束缚,室温下很容易成为自由电子。磷原子失去一个电子成为正离子(在晶体中不能移动)每个磷原子都提供一个自由电子,自由电子数目大大增加,远远超过空穴数。这种半导体主要依靠电子导电,称为电子型或N型半导体。8N型和P型半导体在硅晶体中掺入五价元素磷,磷原子的五9N型半导体的特点:自由电子空穴多数载流子(简称多子)少数载流子(简称少子)

只要掺入极少量的杂质元素(1/106),多子的浓度将比本征半导体载流子浓度增加近106倍。

掺入的杂质元素的浓度越高,多数载流子的数量越多。9N型半导体的特点:自由电子多数载流子(简称多子)只10(2)P型半导体

在硅晶体中掺入三价元素硼,硼原子与相邻的四个硅原子…由于缺少一个价电子而产生一个空位,这个空位很容易被邻近共价键中的价电子填补。硼原子得到一个电子成为负离子(在晶体中不能移动),失去价电子的共价键中出现一个空穴,每个硼原子都产生一个空穴,空穴数目大大增加,远远超过自由电子数。这种半导体主要依靠空穴导电,称为空穴型或P型半导体10(2)P型半导体在硅晶体中掺入三价元素硼,硼原子与11P型半导体的特点:空穴自由电子多数载流子(简称多子)少数载流子(简称少子)

掺入的杂质元素的浓度越高,多数载流子的数量越多。

少数载流子是热激发而产生的,其数量的多少决定于温度。11P型半导体的特点:空穴多数载流子(简称123.PN结的形成预备知识:半导体中载流子有扩散运动和漂移运动两种运动方式。载流子在电场作用下的定向运动称为漂移运动.在半导体中,如果载流子浓度分布不均匀,因为浓度差,载流子将会从浓度高的区域向浓度低的区域运动,这种运动称为扩散运动。将一块半导体的一侧掺杂成P型半导体,另一侧掺杂成N型半导体,在两种半导体的交界面处将形成一个特殊的薄层PN结123.PN结的形成预备知识:半导体中载流子有扩散运动13①多子扩散运动形成空间电荷区由于浓度差,电子和空穴都要从浓度高的区域向…扩散的结果,交界面P区一侧因失去空穴而留下不能移动的负离子,N区一侧因失去电子而留下不能移动的正离子,这样在交界面处出现由数量相等的正负离子组成的空间电荷区,并产生由N区指向P区的内电场EIN。PN结13①多子扩散运动形成空间电荷区由于浓度差,电子和空穴都14②内电场EIN阻止多子扩散,促使少子漂移

多子扩散

空间电荷区加宽内电场EIN增强

少子漂移促使阻止EINEIN

空间电荷区变窄内电场EIN削弱扩散与漂移达到动态平衡形成一定宽度的PN结14②内电场EIN阻止多子扩散,促使少子漂移15小结:PN结中同时存在多子的扩散运动和

少子的漂移运动,达到动态平衡时,扩散运动产生的扩散电流和漂移运动产生的漂移互相抵消,PN结中总的电流为零。15小结:少子的漂移运动,达到动态平衡时,扩散运动产生164.PN结的单向导电性①外加正向电压(也叫正向偏置)外加电场与内电场方向相反,内电场削弱,扩散运动大大超过漂移运动,N区电子不断扩散到P区,P区空穴不断扩散到N区,形成较大的正向电流,这时称PN结处于“导通”状态。164.PN结的单向导电性①外加正向电压(也叫正向偏置174.PN结的单向导电性②外加反向电压(也叫反向偏置)外加电场与内电场方向相同,增强了内电场,多子扩散难以进行,少子在电场作用下形成反向电流IR,因为是少子漂移运动产生的,IR很小,这时称PN结处于“截止”状态。174.PN结的单向导电性②外加反向电压(也叫反向偏置18③PN结伏安特性a.外加正向电压较小时,外电场不足以克服内电场对多子扩散的阻力,PN结仍处于截止状态b.正向电压大于“开启电压UON”后,i随着u增大迅速上升。Uon≈0.5V(硅)Uon≈0.1V(锗)18③PN结伏安特性a.外加正向电压较小时,外19c.外加反向电压时,PN结处于截止状态,反向电流IR很小。d.反向电压大于“击穿电压U(BR)”时,反向电流IR急剧增加。19c.外加反向电压时,PN结处于截止状态,反201.1.2二极管符号及主要参数A阳极K阴极

二极管主要参数:1.最大正向电流IF2.反向击穿电压U(BR)3.反向电流IR4.最高工作频率201.1.2二极管符号及主要参数A阳极211.1.3二极管应用举例

二极管的伏安特性是一个非线性的曲线,在实际分析电路中,导通时管压降视为一个固定值:UD≈0.7V(硅)UD≈0.3V(锗)p42

或视为一个理想开关,即导通时视为“短路”,截止时视为“开路”。这就是电子线路中经常采用的近似估算法。p44211.1.3二极管应用举例二极管的伏安特性是22Ui周期性矩形脉冲22Ui周期性矩形脉冲231.2半导体三极管

三极管的结构及工作原理(a)管芯结构图(b)结构示意图(c)电路符号三极管内部结构的特点:基区很薄,掺杂浓度最低.发射区掺杂浓度很高,远大于基区和集电区的掺杂浓度.发射区和基区之间的PN结称为发射结,集电区和基区之间的PN结称为集电结NPN型三极管b基极e发射极c集电极231.2半导体三极管三极管的结构及工作原理(a)24PNP型三极管24PNP型三极管25三极管电流的形成及分配1.电流的形成①发射区向基区发射电子,形成发射极电流IE发射结正向偏置。②电子在基区复合形成基极电流IB

由于基区很薄且空穴浓度很低,发射区电子进入基区后少数电子和基区空穴复合,绝大多数电子继续扩散到集电结附近。③

集电结反向偏置,基区中扩散到集电结附近的电子,在电场作用下漂移到集电区,形成集电极电流IC。25三极管电流的形成及分配1.电流的形成26三极管电流的形成及分配1.电流的分配关系发射区电子在基区每复合一个,就要向集电区供给β个电子,这是三极管内固定不变的电流分配原则。β称为电流放大系数,β值通常在20~200之间26三极管电流的形成及分配1.电流的分配关系271.2.1三极管的特性曲线输入特性曲线输出特性曲线271.2.1三极管的特性曲线输入特性曲线28uBE<Uon(0.5V)IB=0IC≈0截止区截止条件:

uBE<Uon(0.5V)特点:IB=0,IC≈0c~e之间相当于断开的开关。28uBE<Uon(0.5V)IB=0IC≈0截止区截止29uBE

>Uon放大区uCE

>uBE

++放大条件:uBE

>UonuCE

>uBE

特点:IC=

IB,

c~e之间相当于受控电流源。P48电流放大倍数29uBE>Uon放大区uCE>uBE++放大条件:30uBE

>Uon饱和区uCE

<uBE

+

饱和条件:uBE

>UonuCE

<uBE

特点:IC<

βIB

uCE=UCES≤0.3V,

c~e之间相当于闭合的开关。30uBE>Uon饱和区uCE<uBE+饱和31饱和条件:uBE

>UonuCE

<uBE

特点:IC<

β

IB

,uCE=UCES≤0.3V,

c~e之间相当于闭合的开关。截止条件:

uBE<Uon(0.5V)特点:IB=0,IC≈0c~e之间相当于断开的开关。截止和饱和两个状态通称为开关状态。31饱和条件:321.2.2三极管的主要参数及应用IbIc1共发射极电流放大系数

=20-200321.2.2三极管的主要参数及应用IbIc1共发33三极管的主要参数2击穿电压Ucbo,Uceo,Uebo例如:Uebo=6VUebo33三极管的主要参数2击穿电压Ucbo,Uceo,Ueb34三极管的主要参数IbIc3最大电流ICM,最大功率PCMIcm=600mA;PcM=625mW设工作电流Ic=200mA

Uce<625/200=3V34三极管的主要参数IbIc3最大电流ICM,最大功率P35uI周期性矩形脉冲(1)uI=0时,三极管截止,iB=0,iC=0uO=UC-iCRC=UC=12V(2)uI=5V时,35uI周期性矩形脉冲(1)uI=0时,三极36uI周期性矩形脉冲条件成立假设三极管处于饱和状态36uI周期性矩形脉冲条件成立假设三极管处于饱和状态373738PN结正向导通时,P区扩散到N区的空穴,边扩散,边复合逐渐减少,在N区内产生一定数量的空穴积累,形成梯度分布;同理,N区的电子扩散到P区后,也将在P区内产生一定数量的电子积累。这些扩散到对方区域并积累的电子及空穴称为存储电荷。

PN结正向导通时,PN结两侧出现的电子空穴积累的现象叫做电荷存储效应。预备知识:38PN结正向导通时,P区扩散到N区的空穴,边扩散,边复合逐391.2.3三极管的开关时间和极间电容由于三极管内部电荷建立和消失均需一定的时间,截止和饱和两种状态的转换不可能瞬间完成。延迟时间td

上升时间tr

开启时间ton(几十到几百纳秒)存储时间ts下降时间tf关闭时间toff(几十到几百纳秒)391.2.3三极管的开关时间和极间电容由于三极管内401.3MOS场效应管P型硅片作衬底,表面制作两个N型区,引出源极(s)和漏极(d),覆盖一层SiO2,在漏源之间绝缘层上再制作一层金属铝,引出栅极(g),衬底也引出一个电极B。MOS场效应管是利用半导体表面的电场效应来控制输出电流的,输入端不需要供给电流

金属-氧化物-半导体场效应管(Metal-Oxide-Semiconductor)401.3MOS场效应管P型硅片作衬底,表面制作41uGS=0时,漏源之间相当于两个背靠背的PN结,无论漏源之间加何种极性的电压,都不能导电。uGS

为正时,产生一个电场,把P型衬底少子电子吸引到衬底表面,当uGS

增大到一定值UT时,电子在衬底表面形成一个N型层即N型导电沟道。41uGS=0时,漏源之间相当于两个背靠背的PN结42IG=0ΔID=gm×ΔUGS

小结:MOS管是一个受栅源电压uGS控制的器件①uGS<UT时,D-S间无导电沟道,MOS管截止②uGS>UT时,D-S间才会形成导电沟道,故称为N沟道增强型MOS管。uGS增大,导电沟道变宽。即改变uGS可以控制iD的大小。

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论