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《材料分析测试技术》试卷（答案一 （20X射线管主要 阳 阴 、 窗 构成X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、 德拜照相法中的底片安装方法有：正 反装和偏 三种X射线物相分析方法分：定性 氏体的直接比较法就属于其中的定量 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效 像差两因素影响今天复型技术主要应用 萃取复 来揭取第二相微小颗粒进行分析电子探针包 波谱 和能谱仪成分分析仪器扫描电子显微镜常用的信号 二次电 背散射电子二 （8X射线衍射方法中最常用的方法是（ a．法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ Co；b.Ni；c.FeX射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ca．哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.无机字母索引。能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是 第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.透射电子显微镜中可以消除的像差是（ 球差；b.像散；c.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ 高阶斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的 背散射电子；b.俄歇电子；c.X中心暗场像的成像操作方法是（ 三 （24X个最佳厚度（t=g1×g2就等于位错布氏矢量b四 证明题：20证明衍射分析中的厄球图解与布拉格方程等价以入射X射线的波长λ的倒数为半径作一球（厄球，将试样放OO*O*为倒易原点，若任一倒易点G落在厄球面上则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射=1/λ=作图并证明：Rd=LλA点。O*Gg，O，A=R，OO，=L。∵透射电子显微镜的孔径半角很小（2-g//R有⊿OO*G≌⊿OO，AOO*/L=g/ROO*=1/λ，g1/d代入上式五 （28为使Cukα线的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？（Ni的μm=49.2/cm2g-1,ρ=8.9/gcm-3（10分）解：根据强度衰减I=I0e-μmρX1/2=e-49.2*8.9XX=ln2/49.2*8.9=Lλ=17.00mmÅ（10）有 R62/R12=5.92。N数列为：1：2：3：4：5：6N数列为：2：4根据电子衍射基本Rd=L

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