JB承压设备无损检测射线检测演示文稿

JB承压设备无损检测射线检测演示文稿目前一页\总数九十四页\编于十四点JB承压设备无损检测射线检测目前二页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）适用对象包括承压设备的制造、安装、在用（2）检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金（3）A级AB级B级系指检测技术分级，不是底片质量分级。2、应用：（1）对不同的金属材料透照的厚度不同例如碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金透照厚度2－400mm（5.1.1）铝及铝合金透照厚度2－80mm（5.2.1）钛合金2－50mm（5.3.1）（2）不适用范围；锻件、管材、棒材。T型焊缝、角焊缝、堆焊层一般也不宜采用。（使用原则4.2.2）3、注意：如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时应在检测报告中注明《参照》同时应有委托方的确认。目前三页\总数九十四页\编于十四点2规范性引用文件

下列文件中的条款，通过JB/T4730的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。目前四页\总数九十四页\编于十四点GB11533—1989标准对数视力表GB16357—1996工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准GB18465—2001工业γ射线探伤放射卫生防护要求GB18871—2002电离辐射防护及辐射源安全基本标准GB/T19384.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线胶片系统的分类GB/T19384.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理目前五页\总数九十四页\编于十四点HB7684—2000射线照相用线型像质计JB4730.1—2005承压设备无损检测第1部分：通用要求JB/T7902—1999线型像质计JB/T7903—1999工业射线照相底片观片灯（共计10个)目前六页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些条款（2）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如3.3.1观片灯的主要性能应符合JB/T7903—1999的有关规定。2、应用：（1）除JB/T4730外，以上10个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。（2）如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。3、注意：（1）凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件（2）当某些条款与JB/T4730不相符时，以JB/T4730规定的内容为准。（GB标准除外）例如附录F专用像质计的标识。目前七页\总数九十四页\编于十四点一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，还应符合下列规定。目前八页\总数九十四页\编于十四点3.1射线检测人员3.1.1从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。3.1.2射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）,测试方法应符合GB11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。目前九页\总数九十四页\编于十四点1、理解：取《放射工作人员证》的对象2、应用：（1）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有《放射工作人员证》（2）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有《放射工作人员证》3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。目前十页\总数九十四页\编于十四点3.2射线胶片3.2.1胶片系统按照GB/T19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为最高类别，T4为最低类别。胶片系统的特性指标见附录A（资料性附录）。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T19384.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。3.2.2A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度应不大于0.3。3.2.3采用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。目前十一页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。（2）检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原则（1）A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类（2）采用γ射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行γ射线照相时应采用高类别的胶片。（2）对可焊性差的材料或Rm≥540MPa高强钢，γ射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。目前十二页\总数九十四页\编于十四点3.3观片灯3.3.1观片灯的主要性能应符合JB/T7903的有关规定。3.3.2观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。目前十三页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等（2）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m22、应用：当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000cd/m23、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。目前十四页\总数九十四页\编于十四点3.4黑度计（光学密度计）3.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。3.4.2黑度计至少每6个月校验一次。校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。目前十五页\总数九十四页\编于十四点1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4

（4.11.2）2、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定(2年）新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。目前十六页\总数九十四页\编于十四点3.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定

目前十七页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度与技术级别有关。（3）如采用Co60或高能X射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。2、应用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）如采用Se-75和Ir-192射线照相，AB级或B级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。（仅限于γ射线）目前十八页\总数九十四页\编于十四点3.6像质计3.6.1底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB7684的有关规定。3.6.2像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定。目前十九页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）取消了象质指数“Z”的概念，用线径或线号表示底片的灵敏度。（2）原JB4730标准选用的是R10等比系列像质計最细线的编后为16号，线径为0.100mm,这一线径已不能满足JB/T4730厚度的下线（2mm）AB级和B级的要求，因此JB/T4730标准引出HB7684－2000增加了小于0.100mm的线，即17号，0.080mm、18号，0.063mm,19号，0.050mm.组成了4组像质计：1－7、6－12、10－16、13－19。2、应用：（1）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）透照厚度（W）确定像质计灵敏度（2）以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（Fe）像质计可以用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（AI）材料的照相。目前二十页\总数九十四页\编于十四点3.7表面要求和射线检测时机

3.7.1在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。3.7.2除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。目前二十一页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）焊缝的外观检查一般由焊工检查员进行。（2）除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。（3）有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。2、应用：（1）射线检测工艺卡中应明确检测时机（2）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。3、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。目前二十二页\总数九十四页\编于十四点3.8射线检测技术等级选择3.8.1射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。3.8.2由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定,则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。3.8.3承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。目前二十三页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级（2）承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术（3）检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导（4）有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。2、应用：（1）技术负责人要确认是否确实存在“结构、环境、射线设备等方面的限制”（2）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。3、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进行检测。返修焊缝应采用AB级或达到AB级灵敏度目前二十四页\总数九十四页\编于十四点3.9辐射防护3.9.1放射卫生防护应符合GB18871、GB16357和GB18465的有关规定。3.9.2现场进行Ｘ射线检测时，应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。3.9.3现场进行γ射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。目前二十五页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）现场进行Ｘ射线检测或进行γ射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。（2）在两个标准都提出了辐射照射量的新名词《比释动能》和《空气比释动能率》，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。2、应用：（1）空气比释动能率用仪器可以测出（2）控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比释动能率量值进行划分的。3、注意：尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。目前二十六页\总数九十四页\编于十四点4具体要求4.1透照布置4.1.1透照方式应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录C（资料性附录）。4.1.2透照方向透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。4.1.3一次透照长度一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D（资料性附录）的曲线图确定。目前二十七页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（2）对《在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式》要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照长度与检测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。（在用设备）3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。目前二十八页\总数九十四页\编于十四点

4.1.4小径管环向对接焊接接头的透照布置

小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：T（壁厚）≤8mm；

g（焊缝宽度）≤Do/4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。目前二十九页\总数九十四页\编于十四点4.1.5小径管环向对接接头的透照次数小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当T/Do≤0.12时,相隔90°透照2次。当T/Do＞0.12时,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。目前三十页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）双壁双影椭圆成像的实施原则，即T（壁厚）≤8mm、g（焊缝宽度）≤Do/4（Ø60×5mm）（2）椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。（3）小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关（4）规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比（5）结构：一般系指排管或盘管2、应用：（1）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法（2）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板3、注意：当Do≤20mm、T≥8mm、g＞Do/4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照目前三十一页\总数九十四页\编于十四点4.2射线能量

4.2.1X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。图1规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压。对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图1规定的Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV。目前三十二页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压与检测技术级别无关（2）控制Ｘ射线管电压的目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检出率。（3）截面厚度变化大（以AB级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于4.0）2、应用：（1）在能穿透工件的前提下，应尽量选择较低的KV值（2）对截面厚度变化大的承压设备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术3、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。目前三十三页\总数九十四页\编于十四点42.2γ射线源和高能Ｘ射线适用的透照厚度范围应符合表4的规定。采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许γ射线最小透照厚度取表4下限值的二分之一。采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方同意，A级,AB级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。目前三十四页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出（2）其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法F＞R、F＜R（3）经合同各方同意的主要目的是对‘放宽最小透照厚度’要慎重（4）其他透照方式‘放宽最小透照厚度’与技术级别有关（仅限于A级AB级）2、应用：（1）采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小20mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。目前三十五页\总数九十四页\编于十四点（2）采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小10mm时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm时，即使合同各方同意也不能实施。（3）有效补偿措施包括：高类别的胶片、适当提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射线的屏蔽。3、注意：（1）最小透照厚度以公称厚度计算。（2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工艺文件上有甲方签字认可，并存档。目前三十六页\总数九十四页\编于十四点4.3射线源至工件表面的最小距离

4.3.1所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下式的要求：－A级射线检测技术：f≥7.5d·b2/3

－AB级射线检测技术：f≥10d·b2/3

－B级射线检测技术：f≥15d·b2/3图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图，图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。有效焦点尺寸d按附录E（规范性附录）的规定计算。目前三十七页\总数九十四页\编于十四点4.3.2采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。4.3.3采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。目前三十八页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）确定射线源至工件表面的最小距离与检测技术级别有关。（2）鼓励和提倡采用内透法特别是中心内透法。体现了采用单壁透照的原则。减少透照厚度，有利与检验缺陷；减少照射角，有利裂纹检出。2、应用：（1）由诺模图中可直接得出射线源至工件表面最小距离（2）工件表面至胶片的距离应根据透照方式确定，同时应考虑焊缝余高和垫板（双壁单影、单壁单影）的厚度3、注意：由诺模图中给出的数据是射线源至工件表面的最小距离。目前三十九页\总数九十四页\编于十四点4.4曝光量

4.4.1Ｘ射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级射线检测技术不小于15mA·min；B级射线检测技术不小于20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。4.4.2采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。目前四十页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）曝光量的大小与焦距有关（2）曝光量的选择与检测技术级别有关（3）采用γ射线源透照时，在某一时段焦距是在不断变化，为保证底片质量，从而确定了总的曝光时间2、应用：以AB级为例：当焦距700mm时，曝光量应大于或等于15mA·min、当焦距大于700mm时，曝光量应大于15mA·min、当焦距小于700mm时，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。3、注意：对小口径薄壁管采用γ射线源透照时，强度不宜太大目前四十一页\总数九十四页\编于十四点4.5曝光曲线

4.5.1对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。4.5.2制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。4.5.3对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。目前四十二页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）曝光曲线是针对X射线机（2）每台X射线机必须有曝光曲线且不能混用（3）射线设备重要部件是指X射线管和高压包2、应用：（1）曝光曲线横坐标上的厚度应是穿透厚度（2）当实际拍片的条件与制作曝光曲线的条件不一致时，必须对曝光曲线作相应的修正。3、注意：曝光曲线的校验日期（至少每年一次）目前四十三页\总数九十四页\编于十四点4.6无用射线和散射线屏蔽

4.6.1应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。4.6.2对初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现“B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。目前四十四页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等是屏蔽和控制散射线的主要器件（2）屏蔽和控制散射线与检测技术级别无关（3）背散射检查的前提条件（初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变）2、应用：对不是初次制定的检测工艺或在使用中检测工艺的条件、环境未发生变化时，不用每次都进行背散射检查3、注意：在薄工件或不用增感屏时，有时会出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像目前四十五页\总数九十四页\编于十四点4.7像质计的使用

4.7.1像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置）,金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。目前四十六页\总数九十四页\编于十四点4.7.2像质计放置原则a)单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。b)单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。c)单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。d)当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。目前四十七页\总数九十四页\编于十四点4.7.3原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求:a)环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;b)球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;c)一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。目前四十八页\总数九十四页\编于十四点4.7.4小径管可选用通用线型像质计或附录F（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。4.7.5如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。目前四十九页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）在像质计摆放原则中对1/4处是一个相对概念（2）根据透照方式的不同规定了像质计应的摆放位置（3）规定了允许减少的三种情况（环形焊缝周向曝光：≥3；连续多张一次曝光：≥3；球：≥3×3＋2）（4）小径管即可以选用通用线型像质计也可以选用专用线型像质计（4）像质计的观察一般在母材上而不是在焊缝上。（考虑深槽焊）（5）“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上（像质计的标记是指像质计上的标准号）2、应用：（1）只有在单壁透照，象质计放在胶片测时才进行对比试验，其他方式均不用做对比试验。（2）像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧仅限于小径管双壁双影时使用（3）“F”标记一般应放置在像质计标识的右上角。（4）当焊缝宽度较大时应加长金属丝的长度，或适当移动像质计的位置。（5）当象质计放在胶片测时，应在检验报告像质计灵敏度一栏中注明目前五十页\总数九十四页\编于十四点注意：（1）双壁双影最大透照厚度上限；A级为54mm、AB为54mm、B级为56mm（表6）（2）小径管使用专用像质计时要看到2根目前五十一页\总数九十四页\编于十四点4.8标记

4.8.1透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。4.8.2识别标记一般包括：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。4.8.3定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“↑→”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“↑”或其他能显示搭接情况的方法表示。目前五十二页\总数九十四页\编于十四点4.8.4标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位，搭接标记放置的部位还应符合附录G（规范性附录）的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。目前五十三页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）未对返修标记,扩大检测比例的扩大检测标记作出统一规定。（2）搭接标记可以用“↑”表示也可以用其他符号表示（如1、2、或A、B、C）（3）（3）根据射线源、工件、胶片的相互位置按附录G规定放置搭接标记。2、应用：（1）应在工艺文件中对返修标记、扩大检测标记以及搭接标记的符号作出明确规定。（2）小径管双壁双影或垂直透照不用搭接标记。（3）除中心100％透照或连续多张一次曝光外，否则每张底片上均应有中心标记。（Ø20mm以下小径管除外）3、注意：不是100％透照的焊接接头也要放置搭接标记。（有效区段标记）目前五十四页\总数九十四页\编于十四点4.9胶片处理

4.9.1可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。4.9.2胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。目前五十五页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）手工冲洗方式处理是指槽洗不是盘洗（2）推荐采用自动冲洗方式处理的目的是尽量防止采用增加或减少显影时间来控制底片的黑度。2、应用：在工艺文件中要明确胶片处理的方式和处理的条件。3、注意：采用自动洗片机时要经常清洗防止产生划伤。目前五十六页\总数九十四页\编于十四点4.10评片要求

4.10.1评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜,光线应暗且柔和。4.10.2评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5min～10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。4.10.3评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：当底片评定范围内的黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；当底片评定范围内的黑度D＞2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。

4.10.4底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。目前五十七页\总数九十四页\编于十四点1、理解：增加评片暗适应过程规定的目的是光强的突然变化会使人的视觉灵敏度下降从而造成评片时的漏检2、应用：（1）评片室不能全黑，一般要等于或略低于透过底片光的亮度。（2）观片灯的亮度必须可以调节（3）观片灯应有足够的照明区一般是300×80mm（4）要用照度计测定透过底片后，可见光的强度是否达到标准的要求。3、注意：对低合金高强钢要特别注意热影响区的观察。目前五十八页\总数九十四页\编于十四点4.11底片质量

4.11.1底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。4.11.2底片评定范围内的黑度D应符合下列规定:A级：1.5≤D≤4.0；

AB级：2.0≤D≤4.0；

B级：2.3≤D≤4.0。用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。采用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。对评定范围内的黑度D＞4.0的底片，如有计量检定报告证明底片评定范围内的亮度能够满足4.10.3的要求，允许进行评定。目前五十九页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）底片评定范围内的黑度与技术级别有关（2）只有当用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，黑度才可降低而且与技术级别有关（AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0）（3）允许黑度降低的前提条件；a.只能是工件不能是设备的焊接接头《4.2.1》b.当较薄部位的黑度为4.0时，较厚部位的黑度尚未达到1.5时。（AB级T3类胶片为基准）（4）双胶片技术一般是指两张感光速度不同的胶片也可以是两张感光速度相同的胶片2、应用：（1）评片时每张底片均应测定其黑度值（2）黑度一般测三点即两搭接标记的焊缝上各测一点，焊缝中心靠近焊缝母材部位测一点。（3）小径管无论是双壁双影或垂直透照黑度均可降至1.5（X射线、AB级）3、注意：（1）AB级、B级不能采用双片观察目前六十页\总数九十四页\编于十四点（2）小径管只有在黑度大于1.5以上的区域是有效评定范围（X射线、AB级）（3）当底片评定范围内的黑度大于4时需有计量检定报告证明底片评定范围内的亮度能够满4.10.3的要求时，才允许进行评定。目前六十一页\总数九十四页\编于十四点4.11.3底片的像质计灵敏度

单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。4.11.4底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。目前六十二页\总数九十四页\编于十四点1、理解：底片的像质计灵敏度不仅与检测技术级别有关，而且还与透照方式、公称厚度、透照厚度有关。2、应用：（1）除单壁透照像质计放在胶片侧外，其他形式的底片像质计灵敏度均可从表中查出（2）底片评定范围以外的伪缺陷不属于底片质量不合格的依据。3、注意：（1）当对接接头两边的公称厚度不等时以较薄为准。（2）底片的像质计灵敏度不能按穿透厚度计算。目前六十三页\总数九十四页\编于十四点5承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.1钢、镍、铜制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级5.1.1范围本条规定适用于厚度为2mm～400mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金制承压设备，以及厚度为2mm～80mm铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。管子和压力管道环向对接焊接接头射线检测质量分级按照第6条的规定执行

目前六十四页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）必须是对接接头（2）适用范围和厚度（碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜和铜合金。厚度2mm～400mm、2mm～80mm。2、应用：凡不在本标准规定的范围之内，均不能按本标准进行质量分级。3、注意：厚度是指母材的公称厚度。目前六十五页\总数九十四页\编于十四点5.1.2缺陷类型对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。5.1.3质量分级依据根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。目前六十六页\总数九十四页\编于十四点5.1.4质量分级一般规定

5.1.4.1Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。5.1.4.2Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。5.1.4.3对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。5.1.4.4当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。目前六十七页\总数九十四页\编于十四点5.1.5圆形缺陷的质量分级

5.1.5.1圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表8。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。5.1.5.2在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按表9的规定换算为点数，按表10的规定评定对接焊接接头的质量级别。

目前六十八页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）特种设备对接接头内的缺陷分为5种即裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷。（2）以对接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度进行质量分级与技术级别无关。2、应用：（1）圆形缺陷评定区的尺寸要根据公称厚度确定。（2）在确定圆形缺陷严重部位的数量时，评定区应与焊缝平行。（3）圆形缺陷的长径大于T/2时应注明其尺寸3、注意：必须与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷才能划入评定区内目前六十九页\总数九十四页\编于十四点5.1.5.3由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的对接焊接接头，各级别的圆形缺陷点数可放宽1点～2点。5.1.5.4对致密性要求高的对接焊接接头，制造方底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。通常将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺陷,当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为Ⅳ级。目前七十页\总数九十四页\编于十四点5.1.5.5当缺陷的尺寸小于表11的规定时，分级评定时不计该缺陷的点数。质量等级为Ⅰ级的对接焊接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。

目前七十一页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）圆形缺陷放宽的原则（2）致密性要求高的对接焊接接头是指一旦泄漏将会发生起火、爆炸或严重污染环境的焊接接头。（3）制造方底片评定人员：（包括检验检测，设备制造或安装单位的评片人员）2、应用：（1）圆形缺陷的放宽不能是普遍现象只能是个别现象，如果对圆形缺陷放宽应在检测报告的附件中说明圆形缺陷的实际点数，以及放宽的理由和依据。（2）只有对薄板焊接接头评定时当圆形缺陷的黑度明显大于母材的黑度时才能定义为深孔（并在报告中注明）3、注意：监检人员以及第三方抽检一般不考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。目前七十二页\总数九十四页\编于十四点5.1.6条形缺陷的质量分级

条形缺陷按表12的规定进行分级评定。目前七十三页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）条形评定区的宽度与母材的公称厚度有关（T≤25mm.4mm、100mm≥T＞25mm.6mm、T＞100mm.8mm（2）对条形缺陷的累计长度规定了最小值（3）T为公称厚度2、应用：（1）当测定条形缺陷的累计长度时，条形评定区应与焊缝平行（２)应用条形评定区的目的是确定当底片上有多处条形缺陷时，根据间距大小确定是否为一组或两组（3）凡在同一直线的条状缺陷应根据间距的情况是否按单个条状缺陷处理.（相邻缺陷的间距大于较短缺陷时除外）图1、23、注意：当母材公称厚度不等时取薄板的厚度值。目前七十四页\总数九十四页\编于十四点5.1.7综合评级

5.1.7.1在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。5.1.7.2综合评级的级别如下确定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。目前七十五页\总数九十四页\编于十四点1、理解：只有在圆形缺陷评定区内存在条状缺陷时才进行综合评级。2、应用：对缺陷进行综合级，应在检测报告备注栏中注明3、注意：综合评级后只要大于Ⅲ级者均为Ⅳ级目前七十六页\总数九十四页\编于十四点

5.2铝制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.2.1范围本条规定适用于厚度为2mm～80mm铝及铝合金承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。5.2.2缺陷类型（略）5.2.3质量分级依据（略）目前七十七页\总数九十四页\编于十四点5.3钛及钛合金制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级

5.3.1范围本条规定适用于厚度为2mm～50mm，材质为钛及钛合金的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。5.3.2缺陷类型（略）5.3.3质量分级依据（略）目前七十八页\总数九十四页\编于十四点

6承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级6.1钢、镍、铜承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级6.1.1范围本条适用于壁厚T≥2mm碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜及铜合金承压设备管子及压力管道的熔化焊环向对接焊接接头射线检测的质量分级。目前七十九页\总数九十四页\编于十四点1、理解：（1）必须是环向对接接头（2）接头的壁厚应大于或等于2mm（3）对管子的外径没设上限2、应用：承压设备管子及压力管道系指无纵向焊缝的管道。对于采用钢板卷管制作压力管道纵向焊缝的评定应按5.1条的规定进行3、注意：螺旋管焊缝的质量评级应由合同各方商定。目前八十页\总数九十四页\编于十四点6.1.2缺陷类型

对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹、根部咬边等七类。目前八十一页\总数九十四页\编于十四点1、理解：把根部内凹、根部咬边外观缺陷也纳入评级范围之列。2、应用：要正确判断根部咬边和外咬边，外咬边缺陷不能作为评级的依据3、注意：根部内凹和根部咬边均按累计长度计算，对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算。（不包括间距长度，也没有间距的概念）目前八十二页\总数九十四页\编于十四点6.1.3质量分级依据

根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。目前八十三页\总数九十四页\编于十四点6.1.4质量分级的一般规定6.1.4.1Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在