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文档简介

材料测试方法知到章节测试答案智慧树2023年最新江苏大学第一章测试

点阵参数精确测定时,应尽可能选取高角度的衍射线。

参考答案:

材料的内应力分为三类,X射线衍射方法可以测定

参考答案:

第一类应力(宏观应力)

当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生

参考答案:

二次荧光;光电子;俄歇电子

在衍射仪的光学布置中,梭拉狭缝由一组平行的金属薄片组成,其作用是限制射线在竖直方向的发散度

参考答案:

理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。

参考答案:

第二章测试

闪烁体计数器探测信号是基于信号作用于闪烁体产生光、所产生的光作用于光敏阴极而产生电信号来实现探测的。

参考答案:

对于给定原子,其Kα线的波长比Kβ线波长短。

参考答案:

下列哪些信号可通过电子束与固体物质作用产生?

参考答案:

背散射电子;俄歇电子;二次电子;特征X射线

电磁透镜可用于()的聚焦。

参考答案:

电子束

假设电子从灯丝上逸出时的能量为0,请问在加速电压为10000V时电子最终的能量大约是多少?

参考答案:

10000eV

第三章测试

X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相的衍射方位来实现的

参考答案:

非晶物质的衍射图由少数漫散峰组成

参考答案:

脉冲高度分析器可以剔除那些对衍射分析不需要的干扰脉冲,从而达到降低背底和提高峰背比的作用

参考答案:

X射线衍射方法有哪些?

参考答案:

粉末法;周转晶体法;劳埃法

X射线衍射仪常规测量中衍射强度的测量方法有哪些?

参考答案:

连续扫描;步进扫描

德拜相机底片安装方法有哪些?

参考答案:

偏装法;正装法;反装法

第四章测试

电子衍射与X射线衍射均是以满足______作为产生衍射的必要条件。

参考答案:

null

用爱瓦尔德球图解说明电子衍射过程中,以下错误的是(

)。

参考答案:

k是衍射波的波矢量

关于电子衍射与X射线衍射的说法,以下正确的是(

)。

参考答案:

电子衍射的散射能力高;X射线的衍射角相对较大

晶体正空间中的点阵晶面对应倒易空间中的点。

参考答案:

调节中间镜使中间镜的物平面和物镜的像平面重合,实现电子衍射操作。

参考答案:

电子束沿晶带轴[uvw]方向入射,通过倒易原点O*的倒易平面只有1个——(uvw)*0,称为

参考答案:

null

零层倒易面上的各倒易矢量ghkl的方向和正空间中相应晶面的法向之间的关系是

参考答案:

平行

体心立方晶体的衍射条件和消光条件分别是

参考答案:

(H+K+L)奇数;(H+K+L)偶数

零层倒易面的法线和正空间中的晶带轴[uvw]是垂直的关系。

参考答案:

零层倒易面上的各倒易矢量都和晶带轴r=[uvw]垂直(⊥r)

参考答案:

当入射束不严格满足布拉格方程的时候,衍射情况应该是

参考答案:

产生弱衍射束

薄晶体样品应该用

来获得满意的图像反差。

参考答案:

衍射衬度

关于中心暗场成像,以下说法正确的是

参考答案:

入射电子束方向倾斜2θ;利用衍射束得到图像衬度;透射束被挡掉

入射束与试样内各晶面相对位向不同不会造成衍射强度的明显差异。

参考答案:

衬度是显微图像中不同区域的明暗差别

参考答案:

透射电子显微镜的核心是

系统。

参考答案:

null

用以实现透射电镜成像操作和电子衍射操作的转换的是

参考答案:

中间镜

入射电子束穿过样品经物镜聚焦成像,在

上形成衍射花样,在

上形成显微图像。

参考答案:

像平面;物镜背焦面

场发射电子枪比热发射电子枪亮度更高,束斑尺寸更小,电子束相干性更好。

参考答案:

投影镜是用来形成第一幅高分辨电子显微图像或电子衍射花样。

参考答案:

光阑可以限制和选择形成最终衍射花样的样品区域

参考答案:

null

选区光阑应该加在什么位置以实现选取电子衍射操作?

参考答案:

物镜的像平面

关于选区电子衍射操作的说法正确的是

参考答案:

物镜的像平面和中间镜的物平面都必须和选区光阑的位置齐平;可以实现晶体结构分析;可以实现组织形貌观察

在物镜像平面上插入选区光阑可以实现选区电子衍射操作。

参考答案:

选区电子衍射操作需要先把透射电镜切换到电子衍射模式。

参考答案:

()光阑可以用来限制照明孔径角。

参考答案:

null

实现入射电子束平移和倾斜的装置是

参考答案:

电磁偏转器

以下哪些可以用来搭载样品?

参考答案:

载网支持膜;微栅膜;铜网;碳支持膜

消像散器形成的矫正磁场在强度上可调,在方位上不可调。

参考答案:

物镜光阑通常安装在物镜的背焦面上。

参考答案:

从大块材料上制备金属薄膜样品的过程大致可以分为

参考答案:

null

关于化学抛光减薄法,以下说法错误的是()。

参考答案:

属于最终减薄

电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压无关。

参考答案:

透射电子显微操作中,对于样品的要求以下说法正确的是()。

参考答案:

组织结构能够代表大块样品;杜绝腐蚀和氧化;表面效应可忽略

电火花切割法只能用于导电样品。

参考答案:

单晶电子衍射花样的标定依据是

参考答案:

null

计算晶带轴指数的基本原理是(

)。

参考答案:

晶带定理

关于标准电子衍射花样,以下说法正确的是(

)。

参考答案:

可以利用其进行衍射花样标定;可以根据晶带定理和消光规律绘出;各晶体点阵主要晶带的倒易截面

测量衍射斑点间距时,应该测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点的距离。

参考答案:

未知晶体结构衍射花样标定时,应该在几个不同的方位摄取衍射花样,测低指数斑点的R值。

参考答案:

材料在凝固、相变或者变形过程中,晶体中一部分相对于另一部分(基体)按特定的对称关系生长在一起,即形成了

参考答案:

null

孪晶的对称关系可分为

参考答案:

null

关于超点阵斑点,以下说法正确的是(

)。

参考答案:

在一定条件下才能产生;可能会改变原有晶体的衍射花样;可以提供更多的结构信息

当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同原子产生有序排列时,有可能使本来消光的斑点出现,衍射花样中也将出现相应的额外斑点。

参考答案:

超点阵斑点一般出现在无序固溶体禁止反射的位置,强度一般较高。

参考答案:

关于高分辨透射电子显微术,以下说法错误的是(

)。

参考答案:

增大了样品台的倾转角

以下哪个不属于高分辨透射电子显微镜的改进方向?

参考答案:

增加球差

利用高分辨透射电子显微技术可以获得材料的哪些信息?

参考答案:

晶体缺陷;微畴;微观结构;晶体中界面及表面的原子分布

高分辨透射电子显微术(HRTEM)是材料分子级别显微组织结构的相位衬度显微术。

参考答案:

高分辨显微像的衬度由透射波与衍射波的相位差决定。

参考答案:

第五章测试

SEM镜筒中聚光镜及物镜均为()。

参考答案:

电磁透镜

EBSD菊池花样形成,是试样所激发()电子满足布

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