特种设备无损检测技术培训与考核题库

0一年三说 明《特种设备无损检测技术培训考核习题集》是在《锅炉压力容器无损检测新编教材配套习题集》基础上改写而成的。改写过程中纠正了书中的一些错误外，还增加了材料、焊接、热处理等基础知识的题目。编写本习题集的主要依据是《射线检测》、《超声波检测》、《磁粉检测》、《渗透检测》、《特种设备无损检测相关知识》五本教材，编写时还参考了全国考委会《锅炉压力容器无损检测人员考试习题集》、江苏省《无损检测习题集》以及部分美国ASNT习题。本书主要编写人：强天鹏、施健。无损检测知识部分的习题集的排列编号与教材的章节对应。RT和UT部分的计*解**题人员应**以题，理了***题人员应*******“”的75%左右“”“”25%左右其它型则未分，学可大纲“”“”“了”的要求来确定对有关习题的熟练程度。材料、焊接、热处理知识部分的习题选用了是非和选择题两种题型，主要是考虑这两种题型有利于学员对基础概念的。20123·南目 录说明第一部分 射线检测一、是非题二、选择题三、问答题问答题答案一、 是非

第一部分 射线检测共： 803题其： 是非题 301题选择题 284题问答题 118题计算题 100题Z质子数量。（√）为了使原子呈性，原子核质子数必须等于核外电子数。（√）Χ）个增加个质仍可保持类不）序相同而量不同我们称同位）不稳定同位在衰过程始终要辐射γ射线。）不同类同位放射性活度大总是比放射性活度小具有更高辐射剂量。（）放射性同位半衰期是指放射性能量来半所需要间（）（）α和β虽然有很强穿透力，但由于对人体伤害太大，所以一般不用于工业探伤。（）111 将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放性同位素，这一过程称为“激活”。）Cs137）Ir192Se75）Χ）Χ或强就大。Χ）Χ或以光微质粒Χ）当χ2价层后仅仅剩最初1/4。）果母材密缺陷密大倍而母材序缺陷序时缺陷底片上所成象白斑。）标识Χ具有那由于电靶核碰撞结果。）连续Χ电靶轨道电碰撞结果。）Χ波长管电压有关。）Χ射线机产生Χ射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为Χ射线的能量。（）一种同位素相当与多少千伏或兆伏能力的Χ射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。（ ）同能量的γ射线和Χ射线具有完全相同的性质。（ ）Χ射线的强度不仅取决于Χ射线机的管电流而且还取决于Χ（）C60C137γ射线能量较低，半衰期较短。长0 S（Χ）。（）300KeV与原相互作用使一轨道50KeV道，50KeV则新200KeV。（）的发生几率随原序数的增大增加。（）（Χ）随着入射能量的增大，吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。（）1.32 10MeV对效应。）连续Χ射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。）9/101/10）1/8。）Χ有效能量是指透物质未物质能量所以透越大有效能量越小。）C60Ir192源是稳定同位素在核反应堆中俘获中子而得到源O经几衰期将放在核反应堆中激活可重复使用。）Χ和γ都是电磁辐而中子不是电磁辐）放性同位素量能总是高于起平均能。）Χ与可见光本质上区别是振动频率不同。）高速电子与靶原子轨道电子相撞发出Χ这一程韧致辐）Χ能量与管电压有关与管电流无关。）Χ与管电流有关与管电压无关。）标识Χ能量与管电压管电流均无关取决于靶。 ）Χ射线与γ射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。（ ）采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束线。（ ）对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。（ ）原子核的稳定性与核内中子数有关核内中子数越小核就越稳定。 （ 经过一次β-衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次α衰变，元数的原子序数Z2。（ ）放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。（ ）在管电压、管电流不变的前提下，将Χ射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。（ ）1.52 在工业射线探伤中使胶片感光的主要是连续谱Χ射线标识谱Χ射线不起什么作用。（ ）Ir192射线与物质相互作用，肯定不会发生电子对效应。（ ）高能Χ射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。（ ）））×）原子由个原子核若干个核外子）原子核核外子带正荷在原子核周围高速运动×原子序数Z子数=子数=核荷数）原子量=子数+中子数）中子数=相原子量(原子量)-子数=相原子Z。）稳定同位素放性同位素Z≥83许多元素及其化合具有放性。）目前所同位素放性同位素谱中化部谱）康普顿效应发生几率致与子量正与原子序数×）相干）有子量发生子效应）效应子效应有高相康普顿效应生相）相化管×）Χ光管的有效焦点总是小于实际焦点。（√）Χ射线机中的焦点尺寸,应尽可能大,这样发射的Χ射线能量大,同时也可防止靶过分受热。(Χ)Χ射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。（√）由于Χ射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以Χ射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。（ ）全波整流Χ射线机所产生射线的平均能比半波整流Χ射线机所产生的平均高。（ ）移动式Χ射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。（ ）移动式Χ射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。（ ）相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和尺寸小于后者。（ ）“变频”是减小Χ射线机重量的有效措施之一。（ ）放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。（ ）100mmγ源的是Co60，20mm下的γIr192。（ ）黑定义为阻光率的常用对数值。（ ）底片黑D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。（ ）ISO感光100的胶片，达到净黑所需的曝光量为100戈瑞。 （ 能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。（ ）用来说明管电压、管电流和穿透关系曲线称为胶片特性曲线。（ ）胶片达到一定黑所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。（ ）同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光。（ ）比活做得更小。（ ）胶片灰雾包括片基年固有密和化学灰雾密两部分。（ ）100KV-400KVΧ射线能量范围内铅箔屏其厚）对Χ射线射线能量高但对γ射线来说则不是这样例如，60192。对Χ射线机进行“训练”目是为了排出绝缘油中气泡。Χ和γ射线本质是相同但γ射线来自同位素Χ射线来自于一个以速电子装置。任何情况下同位素都优于Χ射线设备这是由于使它能得到更高对比和清晰）对于某一同位素放射源其活越则所发出射线强也越将一张含有针孔铅板放于Χ射线管和之间中间位置上可以来测量中心射线强相同标称千伏值和毫安值Χ射线机所产生射线强和能量必定相同。Χ射线灯丝的。（ ）放射源的比活度越大，其半衰期月短。（ ）胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片对比度越小。（ ）胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。（ ）从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。（ ）宽容度大的胶片其对比度必然低。（ ）显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在坐标上的位置向左移。（ ）胶片特性曲线在坐标上的位置向左移，意味着胶片感光速度越小。（ ）与一般胶片不同，Χ射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的为了增加感光速度和黑度。（√）潜象指在没有强光灯的条件下不能看到的影象。（ ）嵌增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。（ ）透照不锈钢焊缝，可以使用碳金属丝象质计。（ ）透照钛焊缝，必须使用钛金属丝象质计。（ ）透照镍基合金焊缝时使用碳素钢象质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。（ ）因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。（ ）胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。（ ）梯噪比高的胶片成像质量好。（ ）胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。（ ）直通道型射线比S通道型射线的，。（ ）射线时应径不得，则。（ ×）像质剂一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。（ ）））×）阳由阳靶阳体阳罩三构成般阳体采用导热率大无氧铜制成）携带式散热形式多采用辐散热式）阳特性就与关系）采用阳接地方式自整路对高变绝缘性要求较高。）灯丝变个降变）γ屏蔽容般用贫化铀材料制成其体积重量比铅屏蔽体要小许多。）换γ源操作过程中必须使用γ计量仪表及音仪。）由成）特性曝曲定量表示×）底定黑度所用曝量倒数定义为度）未经曝经暗室处理定黑度称为本底灰雾度）对曝量底显示黑度差固有称为梯度）有效黑度范围相对应曝范围称为宽容度）特性指标只与有关与增屏和冲洗无关×）×）使用金属增感屏所得到底片像质最佳，其增感系数也最小√）Q指用增感屏曝Eo曝E比值，即：Q=Eo/E金属增感屏具有增感效应吸收效应个基本效应√）由于增感系数高，荧增感屏多用于承压设备焊缝射线照相×）像质剂用来检查定评价射线底片影像质工具√）像质剂通常用与被检工件材质相或对射线吸收性能相似材料制作√影象颗粒完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸大小。）象质灵敏%，就意味着尺寸大于透照厚%缺陷均可被检出）使用较低能射线可得到较高主因对比）射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比降低。）一般对厚差较大工件，应使用较高能射线透照，其目降低对比增大宽容）增大曝可提高主因对比）当射线有效250KV产生明显影响。（）Dmin（）（）（）（）（）（）γ以消除（）加以但同时会（）成象性会随着量提高而变差。（）、、决定灵敏三个要数。（）和均厚变化黑差（）（）（）（）（）（））（）（）（）（）透照有余高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部位和母材部位得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。（ ）由于最小可见对比度△Dmin随黑度的增大而增大，所以底片黑度过大会对缺陷识别产生不利的影响。（ ）底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。（ ）试验证明，平板试件照相，底片最佳黑度值大约在左右。 （ 固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。（ ）底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。（ ）对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。（ ）σ与截面形状关例如裂纹截面形状与金属丝不同，两者的σ值也不同。（ ）由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大，所以增加曝光量有利于缺陷影象识别。（ ）射线照相的信噪比与胶片梯噪比具有不同含义。（ √）×）焦点至工件表面的距离是影响几何的原因之一√）胶片对比显影条件√）一般情况下，胶片光速越高，影像的颗粒性就越明显×焦点尺寸的大小几何没系×）胶片未贴紧会大√）衰减系数μ只能量，试件材质×）几何焦点尺寸和工件厚成正比，焦点至工件表面的距离成反比。√）可采用铂-钨双丝像质剂测定√）颗粒性是指均匀曝光的底片上影像黑分布均匀的视觉印象√）按“高灵敏法”的要求，300KVX可透钢的最大厚40mm。）γ的优点是源尺寸小，且对厚工作曝光。）小的dr，大焦距F，可Ug减小。）高表面的小，采用源的透比源的透）的透中，源中心透周向曝光法为最佳。）UgUi）

则同样厚钢和后者管电压应为前者的铜倍）对余高焊缝进行热影响区部位散射比要比焊缝中心部位得多。源在内搭接标记必须放在射源侧。背散射线存在会影响底片对比通常可在工件和胶片之间放置B否存在。布置为防止漏检搭接标记应放在射线源侧。会。工件厚会散射发。 在源和工件之间放置滤板来减少散射线措施对γ射线并适可放在工件和胶片之间Χ机环焊缝透心法曝光时利检出横纹但利检出纵裂纹。外单壁透方式K变则越大一次透L3

越大。双壁单法透时K变则越大一次透L3越小单壁法透环焊缝时所搭接标记均应侧表面免端部缺陷漏检某一曝光曲应同一类型胶片但更换同Χ机。γ曝光曲时首先应知道给定时活度。如果已知等效系数Χ曝光曲来代替γ曝光曲也光参数小径管垂直透法倾斜透法更利检出根部未熔合。增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。（ ）对尺寸很小的缺陷，其影象的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。（ ）材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。（ ）在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。（ ）环缝双壁单影照相，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。（ ）纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记之间的长。（ ）小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量，其目的是减小底片反差，扩大检出区域。（ ）射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。（ ）双片叠加观察是双胶片技中的双片法常采用的种底片观察法。（ ×）选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。（ √）×）在满足几何不清晰度前下为高工效和影像质量环形焊缝应尽量选圆锥靶周向X机作内透中心法周向√）从照相灵敏度角度考虑：在保证穿透力前下应尽量选择能力较低√）选择能量较低X获得较高对比度和宽容度×）高管电压是高工效和灵敏度有效方法之一×）底片黑度改变量控制√）平方反比定律表示辐强度与距离平方反比√）对√）对度较工比能量×对几不作×）度效×）在管透照中影像处几何不清晰度都是一致×）显影十胶片上AgBr被还原金属银从胶片变黑。）对不足底片影高影度方法底片黑度从获得符合要求底片。）AgBr“通透间”就是指从放入到乳剂层变为透明这段间。减少底水迹法是温快速干燥。表面起网状皱纹可能是处理温度变化急剧而引起冲洗只要使安全灯就出现灰雾。过量增加碳酸钠底产生反差降低良后使增底出现。纹产生是过。底产生迹可能是前使弯曲。AgBrPH。 “超和性和。）））金属对剂氧催）色））×）和苯二酚都剂能力大大低苯二酚×）溴化钾过会大大抑制苯二酚作用）保护剂作用阻止剂被氧化延长使用寿命）促进剂作用增强剂能力和速）氢氧化促进剂强碱在使用注意安全）抑制剂作用抑制灰雾）在定过程定剂与卤化银和金属银都发生化学反应×）由射线照相存在象放大现象所以评定时缺陷定应考虑放大响×）各种热裂纹只发生在焊缝上会发生在热响。×）缺陷属进和射线照相应缺陷评。射线照相时会使上在上相置改变）熔化焊焊接过程二次结晶仅仅发生在焊缝与热响关×）作在过程会上生射线照射白血球会降低。,）Χ或γ，不能中子当Χ或γ源移去以后件不再受，但件本身仍残留极低即相同，不同种类对人体伤害不同小，低率不会发生随机性损害要严格遵守防护标准关当限值规定，就可以保不发生损伤Χ机γ防护，可以1=1。/当，/（）当关1=100Χγ人体吸收，所以Χ对人体伤害γ大。Χ线比低Χ线对人体的伤害力更大一些。（ ）辐损伤的确定性效应不存在剂阀值它的发生几率随着剂的增加而增加( X )适用于描述不带电粒子与物质的互作用比释动适用于描述带电粒子与物质的互作用。( X )在辐防护中人体任一器官或组织被Χ和γ线后的吸收剂和剂量在数值上是等的。( √ )吸收剂的大小取决于电离辐的与被物体本身的性质无关( X )辐源一定距离增加一倍其剂或剂率减少到原来的一半( X )与电子回旋加速器比直线加速器更束流更大焦点更小。（ ）宽容度大是Χ线的优点之一。（ ）加速器一般选择较大的焦距其目的是减小几何不清晰度提灵敏度。（ ）中子几乎不具有使胶片溴化银感光的力。（ ）中子照相的应用之一是用来检查航空材料蜂窝结构的粘接质量。（ ）中子对钢铁材料的穿透力很强，因此常用它来检测厚度超过 100mm的对接焊缝的焊接缺陷。（ ）高能Χ射线照相的不清晰度主要是固有不清晰度，几何不清晰度的影响几乎可以忽略。（ ）射线实时成像检验系统的图像容易得到较高的对比度，但不容易得到较好的清晰度。（ ）象素的多少决定了射线实时成像系统图像识别细节的能力。（ ）在高能射线照相中，增感屏的增感作用主要靠前屏。（ ）按ASME规范要求，透照双面焊缝的使用孔型象质计，应在象质计下放垫板，垫板厚度应为上下焊缝余高之和。（ ）在ASME100%（ ）是○ ○ × × ○× × × × ×○○××××××××○×○○○×○○○××××○○××○○○×○×○××○×○○×○○×○○ × ○ × ○○ × ○ ○ ××○○×○××○×○×○○×○×○×××××○○○○×○××○○×××○×××××○××○×○×○ ○ × × ×○○×××××○○○○○○○○○○○○×○○○○×○×○○×○×××××○○○×○○○○○××○×○○○×○○×○○○×○×○○×○×○○×○○○○××××○×××××○×××○○××○○○ × ○× ○ × ○ ○× ○ ○ ○ ○○ ○子 B.C.线 D.fcc =f·λC.=·c D.=f/c核数等于A.数 B.序数C.数 D.量区别没有A.荷 B.量C.自旋 D.半衰期当几种粒通过空气时其离效应最高A.α粒子 B.β粒子C子 D.γ在探伤应最多三种Aγ线 B.αβγCγβ线 C.γα核外能级量最高A.B.C.D.A.B.C.D.A.射 B.C.射 D.100KeVo-10MeVB.=h/vD.=/hc=hv=hv2IΔX材料后弱ΔI其关系IμIΔX此示下列哪种现象A.应 B.C.吸收 D.半价200KVXAΧB.平均连续C.连续D.有效连续单是A.标识Χ线 B.工业探伤γ源产生C.用来产生高对比度窄束线 D.由单一波长电磁波组成的在一般工业探伤中与物质相互作用时主要产生二个效应。A.光电效应和电子对效应 B.光电效应和康普顿散射C.康普顿散和电子对效应 D.康普顿散和电离当光子与物质相互作用时，光子将部分用于逐出轨道电子，且剩余变电子动，这就是A.康普顿散射 B.光电效应C.电子对效应 D.电离当光子与物质相互作用时，光子波长增加，方向改变，这是由于结果。A.光电效应 B.康普顿散射汤姆逊散射 D.电子对产康普顿散特征是）A.产生光电子 B.产生俄歇电子C.D.B.Χ线C.二次D.以上都是已知某单能线在钢中半价层为3mm线通过物质时衰减取决与物质原序数、密度和厚度 B.物质杨氏模C.物质泊松比 D.物质晶粒度窄束和宽束区别窄束指散和未散线均达到检测器，而宽束指只有未散线到达检测器。窄束指只有未散线到达检测器，而宽束指散和未散线均到达检测器。窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。D.窄束和宽束区别在于照场大小不同。散线主要成份低能磁辐，它由在哪一过程中减弱而过程 B.康普顿过程过程 D.离过程从Χ线管中出线包括A.Χ射线 B.标识Χ射线C.β射线 和BΧ射线穿透厚工件时，有何特点（ ）。A.第二半价层小于第一半价层； B.第二半价层等于第一半价层C.第二半价层大于第一半价层； D.第二半价层与第一半价层关系不确定当射线波长一定时，下列哪种物质的μ最大（ ）产生Χ射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设置一个障碍物，使高速电子在这个障碍物上突然减速，这个障碍物被叫（ ）。A.阳极 B.阴极 C.靶 D.灯Χ射线的穿透能力取决与（ ）。A.毫安 B.千伏 C.曝光时间 D.焦点尺γ射线的穿透能力取决于（ ）。A.源的尺寸 B.源的种类 C.曝光时间 D.焦点尺当施加于Χ射线管两端的管电压不变，管电流增加时，则（ ）。产生的Χ射线波长不变，强度不变；ΧC.ΧD.ΧΧ射线机管电流不变，管电压减小时，则Χ射线将会发（）A.强度不变，波长减小 B.强度不变，波长增波长减小，强度减小 D.波长增大，强度减Χ射线管所连续Χ射线强度与管电压关系是（ ）。A.强度与管电压成正比 B.强度与管电压成反比C.波长减小，强度减小 D.强度与管电压平方成反活度为80Ci、平均能量为同位素源，经过3个半衰期后，其平均能量为（ ）。放射性同位素衰变时，原子核衰变方式通常是（ ）A.粒子发射 俘获C.裂变 和B韧致辐射是指高速运动电子同靶相碰撞时，与靶什么相互作用而放也电子的能量，连续Χ射线（ ）。A.自由电子 B.原子核质子或中子C.壳层电子 D.院子核外库仑场放射性元素Co60转变为Ni60过程是一次（ ）。A.α衰变 B.β衰变 C.γ衰变 俘A.B.C.D.A.B.C.α越越D.某放性同位素衰变常天则其半衰期天 天 天 天列种线衰系较）A.铜 B.铝 C.铁 D.瑞利A.瑞利相干种；B.瑞利不改变只改变运动方向C.瑞利D.瑞利急剧线照相难检缺陷）A.未焊透和裂纹B.气孔和未熔合C.夹渣和咬边D.分层和折叠A.焊 B.C.焊 D.）A.钢 B.C.金 D.A.B.C.D.C比。γ谱称为 A ）A.状谱 B.连续谱 C.标识谱 D.衰变常λ映了放固属Bλ值越说明该越稳衰变的越快B ）A.射 B.收 C.射 D.以上都是、康普顿、子各自占优势的区域是(D)低子序数高的占优势。中等子序数低的康普顿C.高子序数高的子占优势。D.各种照产生的影响C）康普顿有利提高照比。子康普顿有利提高照比。子有利提高照比。Χ射线阳极由铜换成钨产生Χ射线线质如何化（）A.边硬 B.软 C.变 D.一Χ射线的阳极靶最常用的材料是（ ）。A.铜 B.钨 C.铍 D.银软射线Χ射线的窗口材料一般是（ ）。A.铜 B.钨 C.铍 D.银Χ射线机技术性能指标中焦点尺寸是一项重要指标焦点尺寸是（ A.靶的几何尺寸 B.束的直径C.实际焦点尺寸 D.有焦点尺寸在条件允许的情况下焦点尺寸尽可能的小其目的是（ ）A.减小设备体积 B.提高清晰度C.增加能量密度 D.节省合金材料Χ射线中轰击靶产生Χ射线的高速的数量取决于（ ）A.阳极靶材料的原序数； B.阴极靶材料的原序数；C.； D.Χ射线管靶所要求（ ）。高数 B.高熔点高传导率 D.高质量吸收系数当两台相同型号Χ射线机千伏值和毫安值均相同时则（ ）A.产生Χ射线强和波长定相同；B.产生Χ射线波长相同强同；C.产生Χ射线强相同波长同；D.产生Χ射线强和波长定相同。高压变压器直接与Χ射线管相连接Χ射线机叫做（ ）。A.全波整流Χ射线机 B.自整流Χ射线C.交流Χ射线机 D.恒电压Χ射线Χ射线管对真空要求较高其因（ ）防止电极氧化；使阴极与阳极之间绝缘；使电束电离气体而容易通过D.以上三者均是决定Χ射线机工作时间长短主要因素（ ）A.工作电太KV大小； B.工作电流mA大小；C.工件厚大小； D.阳极冷却速大小Χ射线机中循环油作用（ ）A.线 B.射线C.热 D.Χ机与小Χ机相比，其特是（ ）A.能量低穿透力小； B.不集，度小C.照相黑度不易控制； D.照相清晰度差般Χ机调节管电压方法通常是（ ）A.调节灯丝加电压； B.调节阴极和阳极之间电压C.调节阴极和阳极之间距离； D.调节灯丝与阴极之间距离Χ管阴极最常见是（ ）A.冷阴极 B.阴极C.旋转阴极 D.固定阴极提高灯丝温度目是使（ ）A.发电子能量； B.发电子数量多；C.发出Χ短； D.发出Χ功率Χ管阳极冷却常用方法是（ ）A.辐冷却 B.对流冷却C.传导冷却 D.液体迫循环冷却γ探伤机与Χ探伤机相比其优是（ ）A.设备简单 B.不需外部电源C.源体积小 D.以上三者都是）A.素 B.C.素 D.）A.大 B.C.小 D.γ线若要加线可采A.加焦距 B.焦距曝光间 D.均下列四种元中半价层最厚）下列四种元中,半衰期最长为( )Tm170Tm170γ源发出线能量为( 和180mm厚钢试件线照相,可能使γ线源( )A.钴60 B.铥170 C.铱192 D.铯137可使铱192照相钢试件厚范围( )决材料X线吸收量最重要因( )A.材料厚度 B.材料密度C.材料原子序数 D.材料晶粒度X,( A.,,,D.,。放性同位素源比活取决( A.核反应堆中中子材料在反应堆中停留时间；材料特性(原子量,活化截D.以上全。列四种放性同位素中,可用来透厚为3-12mm薄壁,辐特性类似100-250KVX( )般放性比活高源其自吸收()A.较高B.较低C.两者无关D.无自吸收决X靶材适用性两个因素()A.拉伸强和倔强强度 B.硬和磁导度C.阻和抗氧化性能 D.原子序数和熔以便携式X机操作使用,( )3前应预灯丝C.SF6

,D.1:1()A.B.C.D.,X,( )A.XB.XC.XD.热Χ流大小取决于()A.材料B.灯丝流C.阳极到阴极距离D.上都是Χ运动速度取决于( )A.材原序数 B.压C..流 D.灯丝流在压,流相同情况,列种路质较硬,照剂较大( )A.半整流 B.整流C.稳恒直流 D.路种类与质剂量无关在压,流相同情况,焦尺寸越小,其焦温度( )A.越低B.越高 C.变 D.一各种胶片成像粒度( )A.随千伏值提高而增大 B.随千伏值提高而减小C.与千伏值无关 D.变化服从勃朗宁定律表示胶片受到一定量 X射线照射,显后的底片黑度是多少的曲线叫做( A.曝光曲线 B.灵敏度曲线C.特性曲线 D.吸收曲线X胶片的片基常用的材料是（ ）A.聚氯乙烯薄膜 B.聚氨脂薄膜C.涤纶薄膜 D.聚乙烯薄膜保存射线胶片的环境相对湿度应为( )% %% D.胶片特性曲线上,两个特定黑度点的直线的斜率叫做( A.胶片宽谷度 B.梯度C.平均梯度 D.感光度由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是( )A.胶片的反差系数 B.胶片的本底灰雾度C.正常的曝光范围 D.三者均是哪一因素变化,会使胶片特性曲线形状明显改变( )A.改变管电压 B.改变管电流C.改变距 D.改变显使胶片化感光的因素是( )关量子 B.C.子 D.,一正确是( A.颗粒度大,感光速度就快,底图像清晰;B.颗粒度小,感光速度就快,底图像模糊;C.颗粒度大,感光速度快,底图像模糊;D.颗粒度小,感光速度快,底图像清晰.底黑度范围限制在特性曲线直线区域内,这是因为在此区域透照出底( )A.黑度大 B.感光度高C.本底灰雾度小 D.对比度高已曝过光X,不能在高湿环境内保持时间过长,否则会引起( A.药膜自动脱落 B.产生白色斑点C.产生静感光 D.潜象衰退和黑度分类依据主要是( )A.梯度和颗粒度 B.感光度和颗粒度C.感光度和梯度 D.灰雾度和宽容X乳剂与射线作用产生光化学作用成分是( )用含锑6%铅合金作增感屏其原因是这增感屏( )A.清晰度号 B.斑点效果好C.比较耐用 D.增感系数高与非增感屏型混合使用增感屏是( )A.屏 B.C.屏 D.,( A.B.C.D.()A.B.C.D.,,Xγ( )A.发出从而；B.发出见从而；C.发出红外从而；D.发出电子从而。中,象质计目()A.测量缺陷大小 B.评价C.测定度 D.什么象质计局限性( )A.不供检验B.不较两种不透技术质量低；C.D.。平板孔型象计象等级2-IT是：（ ）A.象计厚度为2%，孔径为象1计厚度为1%，孔径为象2计厚度为2%，孔径为象11%D.以上都对对母材厚度为12毫米双面焊接焊缝进行射线探伤时，在底片上发现直径为毫米钢丝象计，其象计灵敏度为（ ）平板焊缝相时，下面四种关于象计摆放叙述，唯一正确摆放位置是（ ）近胶片一侧作表面，并应靠近胶片端头；近射源一侧作表面，金术士垂直焊缝，并位于件中部；近胶片一侧相范围一端近射源一侧有效相范围一端焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外吸收系数小于钢，在钛试件时采了钢丝象计，如果底片上显示象数刚好达到标准要求，则该底片灵敏度（ A.刚好符合标准要求 B.达到标准要求C.远远超过标准要求 D.无法判断一直入射光强200cd/m2，则底片黑度为区域过光强为：（ ）cd/22cd/2 cd/m2）A.器 C.器 X）A.XB.300KVXC.D.XA.高 B.C.低 D.Ir192γ能量为以金属陶瓷X优点A.体积小 B.重量轻C.故障小 D.需训机以因素对对产生响A.能量 B.底黑C.类型 D.件“真空暗盒”优点（）A.度 B.C.度 D.A.盒 B.C.件 D.5-30mmD ）D）A.B.C.D.Sγ机与直γ机相其优C）A.重轻 B.体积C.输管弯曲半径可更D.金属陶瓷X管特D）抗震强一般易破碎 B.管管易口 D.特曲C）A.B.C.D.反转区铅铂铅铂表面沾油污后后造成C）A.BC影A.C.D.A.差 B.度 D.A.长 B.C.差 D.（）A.B.CD30cd/m2100cd/m2。轮廓鲜明程A.度 B.C.度 D.集合也称为A.固有度 B.几何放大C.失真 D.半影A.B.C.D.。决定细节在底片上可记录最小是A.对度 B.C.颗粒度 D.以上都是相底片颗粒性是由什么因素造A.影像颗粒或颗粒团块均匀分布B.底片单位面积上颗粒数统计变化C.颗粒团块重重叠叠；D.以上都是。下列四种因素中能减小因素是A.源到胶片离； B.胶片到件离；C.源强； D.源。减小几何方法是A.选用较大源； B.使用感光速较快胶片C.增大源到胶片离； D.增大件到胶片离。固有下列哪一因素有关A.源； B.胶片感光C.胶片粒； D.能量。A.C.D.A.寸 B.量 D.A.KV值 B.C.mA值 D.A.寸 B.C.离 D.σ叙述条错误A.当小才需引入σ比进行B.σ越小条比越大；C.σ而布常用法大D.比尽采用σ>1布当象质计金属丝宽小某特定其小可见比△D

min

A.随宽减小而减小； B.随宽减小而大；C.； D.ABC.； D.A.L B.WC.d D.θ板厚定且散比效提A.增大 B.减小 D.定用单壁外法筒体如考虑焦点投尺寸纵Ug

环Ug区别：张底片纵Ug环

各样环Ug各样纵

g纵环Ug

g用区底片定的A.； B.散；C.； D.状修正A.； B.C.； D.底片颗粒性五明显影响A.显影程； B.使用铝增感屏C.穿透力； D.使用荧光增感屏。工靠近源侧缺陷图像，在种情况清晰最差A.焦距增大； B.焦距尺寸减小；C.工厚增大； D.胶片与工距离减小如何提高底片信噪（）A.增加曝光量； B.提高管电压；C.增大焦距； D.胶片与工距离减小。参数是影响小缺陷清晰和共同A.焦点源尺寸； B.黑C.焦距； D.。在什么条尺寸较大源摄得底片量可与尺寸较小源当A.增大源到胶片距离； B.采用较厚铅增感屏；C.使用速快胶片； D.缩短曝光时间。决定缺陷在透方向上可检出最小厚差数是（A.度 B.清晰度C.颗粒度 D.以上都是胶片与增感屏贴合紧，明显影响）A.度 B.C.度 D.d）df

LL1 2

W正W）ΔDσ比D只要1就能够识越识别就越容易按某种透几何件计算出直径质计金属丝系数σ=这意味着）金属丝黑为金属丝为直径金属丝只当厚差阶梯试块响种措施能提高）A.使用速更慢胶片 B.增加曝光提高黑度 D.提高能量）A.U

U Ug i

B.UU2U2U2g iC.U

D.U

U i3U33U3U3g igD）A.B.C.D.。照相几何与下哪一因素有关C）A.增屏 B.底黑C.尺寸 能量照相中，提高底反差有利于缺陷检，但同时会产生D）A.厚宽容减B.曝时延长 C.底有效评定区缩D.下列有关梯叙述，正确B）A.增型比非增型梯大B.选择梯较可提高比度C.梯黑增加而减小 D.状缺陷比取决于C）A.缺陷高度B.缺陷截面积 C.缺陷体积 D.几何与D）A.焦点尺寸成正比 B.工件厚成正比 C.焦点至工件面距离成反D.Ir192A ）Ir192）Fmin）df

UiTD.FminGB3323ABUg）A.U

11 L31

B.U

12 L32g 15 2 g 15 2C.U

11 L31

D.U

12 L32g 10 2 g 10 2A.Φ89mm； B.Φ76mmC.Φ20mm； D.Φ10mm若缩短20暴光间可减少少）% Ｂ.36% % %半衰期为75Ir192某间对某个暴光间40;5个该对,为得到样黑底,暴光间应为:()40。1/2,则胶片接受的照射量将减少多少( )A.25%%%。200KV14mm暴光量( )对于厚度差较大的工件进行透照,为了得到黑度和层次比较均匀的底片,一般做法是( )提高管电流； B.提高管电压；C.增加暴光间； D.缩短焦距。在同一个暗盒中装有两张不同感光速度的胶片进行暴光的主要目的是( A.为了防止暗室处理不当而重新拍片；为了防止探伤工艺选择不当而重新拍片；C.为了防止胶片上的伪缺陷而重新拍片；D.用于厚度差较大工件射线探伤，这样在不同厚度部位都能得到黑度适当的底片。用双胶片进行射线照相，要装两张不同感光速度的胶片，其选片原则是：两种胶片的特性曲线：（ ）A.应在黑度轴上一些重合； B.在黑度轴上无需重合；C.应在lgE轴上有些重合； D.在lgE轴上无需重合。铅箔增感屏上的深度划伤会在射线底片上产生黑线，这是因为：（ ）A.铅箔划伤部位厚度减薄，对射线吸收减小，从而使该处透射线增多；B.划伤使铅箔表面增大，因而发射电子面积增大，增感作用加强；C.深度划伤与胶片之间的间隙增大，散射线增加；D.以上都对。透照有余高的，面一件的不会散射增大（ A.射线能从 200KeV到100KeV；照射从Φ300mm增大到Φ500mm；试件厚度从 20mm增加到40mm；余高从 2mm增加到4mm。较大的散射源通常是（ ）A.铅箔增感屏； B.暗盒背面铅板； C.地板和墙壁； D.被检工件。C ）AB.C.D.。探伤中屏蔽）A.铅箔增感屏和铅罩； B.滤板和光阑；C.暗盒底铅板； D.以上。探伤时，在胶片暗盒和底铅板之间放一个一定规格B底片上出现B亮图像，则认为）A.这一张底片对比度高，象质好；B.这一张底片清晰度高，灵敏度高；C.这一张底片受影响严重，象质不符合要求；D.这一张底片受影响严重，象质不符合要求。在机窗口加滤板，在上加补偿块减小厚度差，以及采用多胶片法，都是为了）A.校不清晰度； B.校低密度；C.校对比度； D.校低宽容度.。置于作和源之间滤板可以减少从边缘进入,其原因滤板()A.吸收一次束中波长较长成分B.吸收一次束中波长较短成分C.吸收D.降低一次束强度。滤板作用相当于A.B.C.；D.。已知C060后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相，为得到同样的底片，暴光时间（ ）A.不变； B.约延长10%；C.约延长30； D.约延长60%。用铅箔感，焦距1200MM暴光时间8分钟，得底片黑，现焦距为600MM，底片黑不变，暴光时间应为（ ）暴光因子中的管电流，暴光时间和焦距三者的关系是（ A.管电流不变，时间与焦距的平方成正比；B.管电流不变，时间与焦距的平方成正比；C.焦距不变，管电流与暴光时间成正比；D.暴光时间不变，管电流与焦距成正比。控制透照厚K（）A.提高横向裂纹检出率；B.减小几何不清晰C.大厚宽容D.提高底片对比度对能量为100KV的射线，铝的透照等效系数为，则对于厚25MM的铝试件，应择多少厚钢的暴光量（ ）。采用双片暴光和双片观察技术，可以（）A.大对比B.减小不清晰C.大宽容D.减小颗粒。A.； B.C.； D.椭圆有效范围度A.与焦距平方成反比； B.与焦距平方成正比C.与焦距成正比； D.与焦距无关。对钢工件大致在哪一厚度值上C060IR192；（）因子表达了哪几个相互关系A.流间 B.量焦距C.流焦距 D.底片黑度量焦距穿过试件薄截面射线会在相邻厚截面下产生散射从而对厚截面象产生影响这种响称为）A.康普顿散射 B.瑞利散射C.边蚀散射 D.固有不清晰度以下关于直法叙述哪一条错误（）A.直法一般只用与直20MM子相；B.直法比斜法更易于探伤操作；C.直法比斜法更有利于检出根部未熔和未D.直法比斜法更有利于判断缺陷在中150MM钢对接可选用射线源（）X机 Xγ源 γ源对厚度为15MM，直径1000MM的筒体的对接环缝照相，较理想的选择是（ γ源，中心透照法 B.锥靶周向X，中心透照法C.单向X机 D.平靶周向X，中心透照法在哪一种情况下，底片的有效评定范围会超出搭接标记以外（ A.环缝双壁单影透照，搭接标记放在胶片侧；B.C.纵缝单壁外透法，搭接标记放在D.环缝中心透照法搭接标记放在胶片侧。小径管环焊缝照相的参数经验有效厚度比Ke的用途是（）A.为焦距选择提供参考依据； B.为偏距离选择提供参考依据；C.为管电压选择提供参考依据； D.为暴光量选择提供参考依据锻件法兰对接焊缝照相，提高照相质量最重要的措施是（ ）A.提高管电压增大宽容度 B.使用梯噪比高的胶片C.使用屏蔽板减少“边蚀” D.增大焦距提高小裂纹检出下列不需要计算一次透照长度的透照方是（B）A.环焊单臂外透法； B.小径管双壁双影法； C.纵缝双臂单影法； 环峰内透偏心法。球罐γ全景曝光时，安全距离的计算不需要考虑下列哪个因素（A）AB.C.D.D）A.； B.C.；D.C）XD.D）A.、标准、设计文和理求；B.考虑缺陷检出率、灵敏和底片质C.考虑检测速、效率和检测成本D.专D）B.C.和；D.质求A.灵敏考虑片部缺陷产生混淆；C.大利部面状缺陷检出；D.。显影的目的（ B ）A.使暴光的金属银转变为溴化银； B.使暴光的溴化银转变为金属银；C.去除未暴光的溴化银； D.去除已暴光的溴化银显影液的主要成分（ ）A.还原剂和促进剂； B.保护剂；C.抑制剂； D.全。还原集通常采用（ ）A.亚硫酸钠； B.溴化钾；C.米吐尔和对苯二酚； D.碳酸钠显影液中的促进剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠； B.溴化钾；C.菲尼铜； D.碳酸钠。显影液中的保护剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠； B.溴化钾；菲尼铜； D.碳酸钠。显影液中的抑制剂通常采用（ ）亚硫酸钠； B.溴化钾；C.菲尼铜； D.氢氧化钠。显影操作时，不断搅动底片的目的（ A.使未暴光的溴化银粒子脱落；C.。程中应翻动胶或搅动液其目（ A.保护胶时其免受大压力；胶液更新；胶未粒子散开D.防止产生网状皱纹。时哪一条件变会导致象颗粒粗大（ ）A.液活力降低； B.液搅动度；C.时间短； D.温度高。下关于剂性质叙述哪一条正确（ A.对苯二酚反差小；菲尼酮可取代对笨二酚与米吐组成剂；当温度降低时对苯二酚能力着降低米吐尔则不明D.当碱度增大时米吐尔能力着提高对苯二酚则不明定液中定剂通常采用( )A.硫代硫酸钠；B.冰醋酸；C.明矾；D.亚硫酸钠。定液用一定时间后失效,其原因()A.主要起作用成分已挥发；成分已沉淀；C.D.在操时,时间一般为( )钟 B.底片通透即可C.通透时间2倍 钟是一种( )A.酸； B.碱中； D.二者均不是。在中能抑制硫酸钠被解析出硫化学药品是( )以下关于配制叙述中，哪一条是错误（ A.亚硫酸钠应在加酸之前解；硫代硫酸钠应在加酸之后解；C.硫酸铝钾应在加酸之后解；D.酸剂除加入醋酸外还应加入硼酸。以下哪一种材料不适宜盛放洗片容器（ A.塑料 B.不锈钢 C.搪瓷 D.显速慢，反差减小，灰雾增大，引上述现象原因能是（ A.显温过高 B.显时间过短显时搅动不足 D.显老硼砂在显中是（ ）A.剂 B.剂 C.剂 D.剂）A.B.D.A.化 B.原 C.制 D.A.化 B.C.发 D.一项改导致象雾增大颗粒粗A.米吐尔改菲尼酮 B.增大亚钠量C.钠改氢钠 D.增大溴以下关于停叙述一条错误B.使停可两色雾鬻产生 C.使停可污染D.损伤可停无亚钠 A.停溶液自动洗片机正式洗片先输一张清洗片其目D）A.检查有无异常情况 B.清除桶上沾染空气C.清除桶上沾染空气液D.以上都是B）C.D.D）2±2℃间4-6min预先浸过程中适当动；16-24℃间5-15min过程中充分动；干燥≤4℃去表面滴后干燥；上都下列关剂说法错误C）A.米吐尔易易亚B.菲尼酮常下但易碱性C.菲尼酮苯二酚合使能力但性能D.苯二酚使。剂D）A.雾 B.匀C.用 D.上都是程）A.好 B.70C.过亮致相同 D.上都A.10MM。下黑A.黑均在标准定黑范围内B.测量最大黑测量点般选在中心标记附近C.测量最黑测量点般选在搭接标记附近D.每张黑至少测量四点取四次测量平均值作黑下观灯亮观光时灯越亮越好；透过光强最好30cd/m2；C.透过光强最好100cd/m2；D.光源颜色最好绿色白色也。般情况下常人眼睛大约A.直径点线B.直径点C.直径点D.直径点一般不会产生延迟裂纹（ ）A.优质碳素钢B.低合金钢C.奥氏体不锈钢D.钛合金再热裂纹发生位置一般在（）A.母材B.热影响区C.缝区D.上都是上哪一般不会产生再热裂纹（ ）A.低碳钢 B.低合金高强钢C.珠光体耐热钢 D.沉淀强化奥氏体结晶裂纹是热裂纹一种，发生位置一般是（ ）A.缝区 B.热影响区C.母材 D.上都是含碳量超过%钢,时容易产生缺陷是( )A.热影响区裂纹 B.气孔C.夹渣 D.未熔合坡口面加热不足或存在氧化皮可能引起( )A.未透 B.未熔合凹陷 D.咬边电流过小或速度过快可能引起( )A.裂纹 B.未透咬边 D.瘤坡口或表面不清洁,有水或油污,可能引起( )A.B.C.D.()A.B.D.一种方法会产生钨()A.手工弧焊B.埋弧自动焊体保护焊D.一种缺陷属于面积型缺陷()A.B.溶合状D.底片上出现的白点影象,它是( A.钨B.瘤C.飞溅D.上都是静感光的影象一般是( )A.鸟爪型B.树枝型冠状D.上都是底片上的出现宽等,有许多断续分枝的锯齿形黑线,它是( A.纹 B.溶合接 D.显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的( A.静感光; B.铅增感屏C.曝光前胶片受折 D.曝光后胶片受折造成底片上出现黑度小于其它部位的白影的原因是(B)A.显影操作开始前，胶片上沾染了显影液;C.增感屏划伤B.显影操作开始前，胶片上沾染了定影液D.胶片跑光为正确识别底片上的表面几何影像，评片人员应(D)仔细了解试件结构和焊接接头形式; C.掌握试件和焊缝表面质量情况熟悉不同焊接方法和焊接位置的焊缝成形特点 D.以上都是收剂量的SI单位是( )伦琴(R) B.戈瑞(Gy)C.拉德(rad) D.希沃特(Sv)当光子能量超过 200KeV后,对于人体组织的吸收剂量与照射量换算关系大致为( )戈瑞=伦琴 戈瑞=伦琴戈瑞=10伦琴 戈瑞=100伦琴GB4792-84标准规定:放射工作人员受全身均照射的剂量不应超过( )GB4793-84标准规定:人受全身照射剂量当量不应超过( )同吸收剂量的情况,对人体伤大的射是( )A.Χ射线B.γ射C.子射D.β射线以哪一探测器,不是利用射空气电离效应原理( )A.室 B.-管 D.,( )A.; B.;; D..Ir192γ线过水泥墙后,照率衰减到200mR/h,为使照率衰减到10mR/h以下,至少还应覆多少厚铅板(设半价层厚为 ( )200mm照100mR/h,照2mR/h区边界标源距约为( )线物效应,与下列什么因素关( )A.线性质和能量B.线照量C.肌体吸收剂量D.以上都是热释光用于( )A.工作监测B.个剂量监测C.照监测和B下列线物( )A.计B.C.D.体剂量计效应()A.效应率与剂量关B.剂量效应重C.D.BC( A.B.C.D.BCGB4792-84,( A.B.C.100mSvD.( D )A.； B.； D.。列利用半价层算层厚度说法，正确( B A.散线存，其半价层就固定值B.根据半价层算出层厚度确C.半价层厚度层厚度增加而增加D.层厚度很，半价层厚度层厚度增加而增加直线加速器,电子何种方式加速 ( )A.高频电波； B.加速磁铁；C.D.,( )A.B.C.D.()A.B.ΧC.D.α利和压在环形轨道Χ叫做( )A.静器 B.直器 D.三者均是利波导管沿直轨道Χ叫做( )A.静B.直D.三者均是下哪一点不优点()A.穿透力强B.曝光时间短比小D.总不清晰度小下哪一条不影响Χ实时成像图象质参数( A.屏固有不清晰度B.焦点尺寸和投影放大引起几不清晰度C.噪声D.上都不是( A.力 B.率 D.( )A.子 B.子 D.( )A.相 B.C.相 D.15MeV,( )； B.C.； D.Χ束锥角最小( )Χ机()A.软Χ机B.铍窗口Χ机C.微焦Χ机D.运动优( A.透程连续、效场小、辐危害低采连续作为记录介处理、阅读、贮存便一种适宜检测厚度物体的近表面缺陷( A.中子射线照相 B.运动中射线照相C.康普顿散射照相 D.层析照元素中对中子吸收最的是( )A.铅 B.铁 C.铝 D.氢中子射线照相中，直伏曝光法所使用的转换屏是( )A.铅 B.铁 C.钨 D.适于中子照相法检出的缺陷是（ ）A.厚钢铸件中的裂纹 B.厚钢件中的缩C.厚钢铸件中的熔剂夹杂 D.上都是测试射线实时成像系统图像力常用( A.孔型象质计 B.线对测试卡C.双丝象质计 和C测试射线实时成像系统对比度灵敏度常用( A.阶梯试块 B.平底方孔试块C.平底园孔试块 和C射线实时成像系统的最佳倍数主要取决于( A.射源尺寸和固有不清晰度射源尺寸和屏尺寸射源尺寸和空间力对比度灵敏度和总的不清晰度( )A.级 B.C.D.( )A.B.C.D.ASME( )A.“B”标记；B.前面附“B”标记C.10中一必须附“B”标记；D.无任何。ASME质计（ 只选用平板孔质计B.只选用金属丝型质计C.两种质计均可使用D22以上必须使用孔型。以下100%透检环缝照透次ASME（ ）透照次K≤要求通过公式计算求出；K照透次必须保证所得底片满足；32C。ASME）A.ASME）A.43ASME( )DγDγD≤找DγD≤DγD≤ASMEASME()B. C. 一种标准不考虑照厚比K（ ）中国GB3323标准 B.日本JISZ标准C.美国ASME范 D.欧洲EN标准一种标准圆形缺陷标准图样（ ）A.中国GB3323标准 B.日本JISZ标准美国ASME范 D.欧洲EN标选择题答案DBBAAAADDCCCADBBBCABABBDCDCBBBDCDDDBCABACDDDBCBCDBDDDBDDCDBBBDDBCBABAADCDDDBDADDBBCBACCBCDDCCDDAACBCADBCACDBCCDABDABCDDBDBCDCCDCCDDDDDDBAABACDBCABAABBCCDBC B C CC D B BDCBBDCDDDACCBBABCADDCCDDBBCCBDCDABBBDCADCADBDDBCDACDCDDCACBAAABBDDCCDDACBDADCDDDCDBCADDABBCBDCCCBCCCDCDDCDBACDACACBCCCCXγXγ不同点X需要条件X机发出X连续波长XX各起作用试述光电效应机理特点试述光电效应机理产生条件试述康普顿效应机理特点电子对应效应电子对应效应产生条件是瑞利散瑞利散特点是试叙述与物相互作导致强度减弱四效应各起了作试解释“窄束”“宽束”“单色”“多色”含义。窄束单色在物中衰减规律怎样表示宽束连续在物中规律又怎样表示X又怎样表示XXXγ源要求X比，γX结构和各部分作用X优点X阳极冷却方冷却重要性X机训练目和X机高压发生路们X输出上何区别X胶片特点和结构X机维护、保养注意事项胶片特参数项可特曲上表示出来如何表示感型胶片和非感型胶片特曲何区别两胶片GD何不同像计儿类型，国和美国各采象像剂应如何和置金属感屏作，金属材料可作何活度γ源强度何联系75192X何△X平板底公式计金属丝底公式说明公式中各符号含义并指两个公式异就计金属丝底公式讨论提高途径并说通过这途径提高 可能会带来缺点谓固不清晰度固不清晰大小谓几不清晰其实际中底上各Ug否变化律UgUi以及。述底颗粒及。什么叫最小可见对比度影响最小可见对比度的因素有哪些为什么射线探伤标准要规定底片黑度的上下限写出裂纹的 6个自身特征参数，并说明哪几个是射线照相的关键参数写出裂纹灵敏度通解公式，并说明公式中各符号的意义什么是几何修正系数，写出其计算式并说明其实用意义。采用源在外的透照方式比源在内的透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出，这一说 法是否正确，为什么 为什么说象质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度简述像质剂灵敏度和自然缺陷灵敏度的区别和联系 在底片黑度，象质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检为什么裂纹的检出率与像质剂灵敏度对应关系不好试述射线源的选择原则何为Xγ射线的别什么何因何方比定律何定对射线照相有何影响对X射线照相质有什么影响透照有应意哪些透照的底片灵敏度的试述射线的实际来源和类。射比的影响因素有哪些常用控制射线的方法有哪些。指出小口径管对接焊缝射线照相对缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。4.10 从提高探伤质量的角度比较各种透照方式的优劣4.11 X4.13 D0焊缝透照的基本操作包括哪些内容大厚度比试件透照采取的特殊技术措施有哪些4.14 计算搭接长度时，公式中的工件表面至胶片距离 L2是否要考虑焊缝余高。15 计算小径管透照平移距离时，公式中的工件表面至胶片距离 L2是否要计入焊缝余高。计算几何不清晰度Ug时，公式中的工件表面至胶片距离 L2是否要计入焊缝余高。曝光曲线有哪些固定条件和变化参数。为什么说不同的 X射线机的曝光曲线各不相同射线照相实际透照时，为什么一般并不采用最小焦距值什么是优化焦距 Fopt射线检中选择优化焦距的的是什么GB3323和 JB4730对几何不清晰度是定的的作用。定的作用。定的因素有哪些Xγ防护中吸收怎样换算场所辐监测个人监测场所辐监测仪器几种个人辐监测仪器几种叙防护三大方法原。我国现行辐防护标准放作人员限值规定叫随效叫确效应怎样解电离辐所致随效“无阀”辐防护基本原则现场透照控区监督区怎样划中子照用领域。高照实照限性计算照技术(CR)限性数字图辨率数字化成技术辨率受因素响简述线阵列扫描数字成像系统工作原理X射线层析照相有哪些特点锅炉压力容器无损检测质量管理应包括哪些内容无损检测新工艺和新技术在生产中应用之前，为什么要经过工艺鉴定程序全面质量管理的主要内容是什么无损检测的质量管理一般包含哪些内容γ射线源的保管储存应满足哪些要求无损检测的工艺管理一般包含哪些内容什么是例外检查制定射线检测的例外检测方案和工艺时，应考虑那几个方面的问题申请开展射线装置工作的单位必须具备哪些基本条件申请放射工作人员证必须具备哪些基本条件如发生人员受超剂量照射事故，应如何处置问答题答案答: (1)X射线和 γ射线。是的，相点，也作是量的。X射线是的产生的；γ射是放射位在 γ 过程中原内发的。射线和 射线。是。射线是过的射线是放射位在 过程中原内发的。质射线射线和。α射线。是的，质是普氢原H是位H1

的原，由1个质和 1个中子α粒子是氮原子核4H由2个质子与2个中子。质子射线与氘2α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，也可通过加速器252XXγ答:X和γ射线都属电磁波范畴，两者最主要的不同点是产生方式不同。X射线是高速电子撞击金属产生的，γ射线是放射性同位素从原子核中发出的其他不同点包括:X射线是连续能谱, γ射线是线状能谱X射线能量取决于加速电子的电压，γ射线能量取决于放射性同位素种类X射线强度随管电压的平方和管电流而变，γ射线强度随时间的推移按指数规律减弱。X个：发射电子。通电加到状，其原子电子原子。在产生的电子，种用电流电子的方电子发射。电子。用中，其与电位通。由子电子带负电，会与它发生相互排斥作用，其结果是电子被一束。加速电子。在与间加高的电压，电子在从过程中获。真空。阴阳极之间必须保持真空，使电子不受气体分子阻挡而降低能量，同时保证灯丝不被氧化烧毁。电子被遏止。采用金属作阳极靶，使电子与靶碰撞急剧减，电子X答：施加于X射线管两端的压是脉动直流电压，由于电压不断变化，到达阳极的电子各不相同，只有少数电子经过最电压的加。而电子与阳极靶的碰撞情况也各X逐渐0XXX答：(1)产不同，连续X电子与靶子的作用产的，X射是电子靶子的电子碰撞出，电子时发出的。(2X有波长，能为连续，最短波长于管电压而X射线波长为，能为线，波长与靶材有而与管电压X子能量，例如钨靶所产的K系能量为，在探伤中基本上不作用。中，，使要X答：当电子与物质原子中的束缚电子相互作用时，光子把全部能量转移给一个束缚电子，使之脱离轨道，发射出去，而光子本身消失，这一过程称为光电效应。光电效应发射出去的电子叫光电子。发生光电效应的必要条件是光子能量大于电子结合能。遵照能量守恒定律，光子部分能量消耗于光电子脱离原子束缚所需的电离能（电子在原子中的结合能），其余能量作为光电子的动能。自由电子不能吸收光子能量成为电子，这是因为在光电过程中，除光子和光电子外，还必须有第三者——原子核参加，才能满足能量守恒，所以光电效应只能发生在原子的内层轨道电子上，电子在原子中束缚越紧，发生光电效应几率越大，大约 80%的光电吸收发生在紧靠核的K层电子上。答：光子与电子发生非弹性碰撞，光子的一部分能量转移给电子，使电子沿与光子入射方向成一定角飞去，称作反冲电子，光子自身能量减，，动方向，这一过程称作效应。效应是发生在自由电子原子束缚的外层电子上，入射光子的能量由反冲电子和射光子者之分，电子反冲角 Ψ在0一90之，光子射角在 0一180之，射角 越大，光子的能量失越大。答：当能光子原子核过时，在核的作用，光子转为一个电和一个负电子，自身消失，这一过程称为电子对效应。根据能量守恒定律，只有当入射光子能量 hv大于 2moC2,即hv>才能发生电子对效应，入射光子的部分能量转为负电子对的静止质量 )，其余作为电子的动能。电子对效应之所以需要原子核参与作用，是为了满足能量守恒。答：四种效应(即光电效应，康普顿效应，电子对效应，瑞利散射)的发生几率与入射光子能量及物质原子序数有关。一般说来，对低能量射线和原子序数高的物质。光效应占优势，对高能量射线和原子序数高的物质，电子对效应占优势，瑞利散射的影响大大低于上述三个效应。在钢铁中，当光子能量在10KeV时，光电效应占优势，随着光子能量的增大，光电效应比率逐渐减小，康普顿效应比率逐渐增大，在稍后过 100KeV后两者相等，此时瑞利散射趋于最大，但其发生率也不到 10%，1MeV附近射线的衰减基本上都是康普顿效应造成的；电子对效应自以后开始发生，并随能量的增大发生几率逐渐增加，在 10MeV附近，电子对效应与康普顿效应作用大致相等；超过10MeV以后，电子对效应对射线强度度衰减起主要作用。强度散射线影响的射线称束射线。X射线的的是光中的和的关来，一的射线称射线，的射线称射线，把的射线称射线”：中：I射线强度；Io

I=Ie-μTo：入射线强度；：线衰减数； T：穿度，对于X射线，在穿物质过程中的线秩会逐渐硬化，线衰减数 μ是个变量，在此情况下可用平均衰减系数代替。所以，连续射线的强度衰减公式为：（2）

I=Ie-μTo对宽束射线，必须考虑散射的影响，透过物质的射线强度 I包括一次透射线 和散射线Is两个部分，令散射比 n=Is/Ip,宽束射线强度衰减公式推导如下：I=Ip+I（1+n）=Ie-μT（1+n） (3)o综合（2）（3）式，宽束连续射线的强度衰减公式为答：线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较硬，穿透力较弱的射线称其线质较软。对单色射线，线质可用光子能量或波长定量表示，对连续X射线，因其能量和波长是连续分布的.一般可用半价层，吸收系数或有效能从来定量表示。答:如果某一单能射线的吸收系数与连续 X射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续 X射线的平均能量，称作有效能量。连续X射线包含有能量不同的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较容易被物质吸收，因此，从而使透过物质后.不同能量射线所占的强度几率发生变化，低能量射线所占几率减，从而使透过射线的平均能量或有效能量0。答:射同衰变有以下式：a衰变:两个的。β:β—时反微；β+衰变子，同时中微子；俘获外子。