3.2.P.5.5杂质谱分析模板的整理

3.2.P.5.5杂质谱分析模板的整理格式模板首先列出产品的杂志谱列表，比如：****产品杂质情况分析表分类名称化学结构式(CHEMDRAW)控制限度杂质来源备注1备注2药物成品目标化合物≥99.5%目标产物有机杂质杂质A≤0.1%原料引入是否基毒杂质B工艺杂质（副产物）杂质C手性异构体杂质D氧化杂质杂质E热降解杂质有机潜在杂质IMP-1起始物料IMP-2中间体IMP-3USP提到的杂质USP不同路线杂质？IMP-4IMP-5溶剂残留溶剂名称溶剂来源限度溶剂种类ICH分类种类限度二氯甲烷步骤1,2600ppm2600ppm三乙胺步骤2甲醇步骤1，3四氢呋喃步骤2,323000ppm乙酸乙酯精制步骤35000ppm无机杂质说明用到的无机原料和试剂，比如干燥用的硫酸镁，路易斯酸催化用的四氯化钛，加氢用的钯碳铂碳等。说明这些无机杂质做或者不做常规检查的依据：物料毒性依据，去除途径。对特殊重金属制定控制策略和检测策略：比如使用氧化汞造成的汞残留。说明采用重金属检查法控制一般常规重金属。其他试剂类别名称去除策略控制策略催化剂二甲基吡啶水洗去除氧化剂DMP淬灭，构型转化后水洗去除脱甲基试剂三氟化硼乙醚精馏脱除反应过程的描述：详细的反应方程式，包括结构式，反应温度，所有试剂，助剂，溶剂，催化剂等。结合CTD资料的其他部分，对物料控制进行说明，包括起始物料、其他原料、溶剂、辅料（活性炭，硅藻土，硅胶等。）。起始物料说明。起始物料符合广泛、易得、质量稳定，适合保存运输等的原则；还应对多个供应商提供的多批次物料进行质量研究，同供应商签署的质量协议以及供应商工艺变更告知义务等协议。比如头孢克洛，要对起始物料7-ACCA的工艺、杂质控制和质量情况进行详细的说明。说明制定起始物料的质量控制策略的依据，比如头孢克洛的起始物料7-ACCA的关键杂质△异构体，结合工艺和实验数据，说明杂质产生来源，分布，控制策略等。第2、3、4内容可以在CTD的其他部分，比如物料说明部分进行。但是本部分内容讨论的展开需要物料控制说明作为基本的理论依据。关于ICH的杂质鉴定、报告和质控限度：主要参考ICHQ3A（R2）到ICHQ3D的相关规定阈值（原料药）最大日剂量报告阈值鉴定阈值界定阈值2克/天0.05%0.10%或每天摄入1.0mg

(取阈值低者)0.15%或每天摄入1.0mg

(取阈值低者)>2克/天0.03%0.05%0.05%第六部分：制剂中的特定杂质：主要分析制剂与原料药储存过程中降解产生的杂质，以及因为辅料和原料药相容性而产生的特定杂质：比如纤维素类的曼德拉反应产生的杂质等。储存降解产生的杂质包括酸碱氧热光降解杂质，空气中水分造成的水解杂质，或者跟空气中二氧化碳反应产生的杂质。说明各杂质的限度：****杂质阈值（举例）每日最大剂量报告限度鉴定限度质控限度2g/天0.05%0.10%0.15%备注每日最大剂量由本品说明书用法用量获得3.2.P.5.5.1潜在杂质的推测由****公司提供**原料药简单工艺路线，分析整理本品的杂质见下表。表3.2.P.**，潜在杂质推测杂质名称杂质结构杂质来源其他信息降解产物降解产物反应副产物潜在杂质特征的鉴定原料合成过程带入的相关杂质特征的鉴定由厂家提供的原料药合成过程中所用的起始原料及各步中间产物的色谱行为和紫外光谱特征进行汇总分析，初步鉴定注射用头孢地嗪钠成品中原料合成过程中带入的杂质。起始原料及各步中间产物鉴定特征如下表：表3.2.P.5-X****原料合成过程相关杂质特征鉴定名称色谱行为特征紫外光谱特征（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收——2.68180————1.000319265——3.31675————1.000264218——4.96362————1.000271223——13.49340————1.000228、246219、2623#2.647100.195——1.0003192654#3.305200.2441.2031.0002642185#4.937650.3642.3751.0002712236#13.563831.0004.3321.000228、262219、246注射用头孢地嗪钠强制降解试验中杂质的特征鉴定试品与对照品强制降解试验表3.2.P.**热破坏试验主要降解产物色谱信息名称杂质个数色谱行为特征紫外光谱特征（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收自制31#1.725250.124——1.0002121954#2.557100.1841.5420.8573192676#4.685580.3371.7790.99923221611#13.904451.0001.5871.000228、262219、246对照31#1.724650.124——0.9992111964#2.556970.1841.3850.8773192676#4.684650.3361.7501.00023221611#13.927981.0001.5431.000228、262219、246备注表3.2.P.5-50酸破坏试验主要降解产物色谱信息名称杂质个数色谱行为特征紫外光谱特征（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收自制41#2.540250.189——1.0003192654#4.593870.3421.5050.9882282177#11.059380.8233.9530.9992942798#13.442371.0001.7031.000228、262219、2469#25.252921.8796.8971.000234220对照41#2.52610.189——1.0003192654#4.593950.3441.1430.9882282178#11.064631.0005.0310.9992922779#13.368221.0001.6171.000228、262219、2461025.331231.8956.8240.999234217备注表3.2.P.5-51碱破坏试验主要降解产物色谱信息名称杂质个数色谱行为特征紫外光谱特征（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收自制51#2.178150.158——0.9822228、2882724#2.544670.1851.5761.0003192667#7.347450.5332.5211.000226、289219、2768#13.773451.0001.9411.000228、262219、2469#23.966501.7405.3810.99929627210#31.875322.3143.5980.999229、263217、242对照61#2.638070.184——0.9993192664#4.787530.3342.3501.0002332167#7.695570.5361.7810.999231、287219、2809#11.548980.8052.7880.99929327710#14.352701.0001.8951.000228、262219、24611#25.229381.7585.4290.99929327112#33.595552.3413.6260.999233、263218、244备注表3.2.P.5-52氧化破坏试验主要降解产物色谱信息名称杂质个数色谱行为特征紫外光谱特征（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收自制41#2.167730.159——0.9992252172#2.928120.2152.8571.0002612433#4.929330.3625.6660.999287、261283、2424#5.973830.4382.0710.9872902666#13.635371.0004.3461.000228、262219、246对照61#2.167250.161——0.9992242182#2.918830.2172.8501.0002612433#4.901830.3645.8050.9992612424#5.936050.4412.1900.9952912666#13.448231.0004.3161.000228、262219、246备注表3.2.P.5-53光照破坏试验主要降解产物名称杂质个数杂质色谱行为紫外光谱（nm）峰号保留时间（min）相对保留时间与前峰分离度纯度指数最大吸收最小吸收自制25#2.563370.1811.3120.9993192659#4.70960.3332.5960.98822921615#14.14191.0001.3011.000228、262219、245市售65#2.574130.1811.3100.9993192669#4.729920.3332.6540.98923021613#14.197321.0001.2741.000228、262219、245备注制剂杂质列表杂质分类杂质名称结构式杂质来源是否控制控制限度原料药引入杂质A原料药带入制剂工艺杂质杂质H热降解制剂降解杂质金属杂质溶剂残留说明：以列表的方式列明产品中可能含有的杂质，分析杂质的产生来源，结合相关指导原则要求，对于已知杂质给出化学结构并提供结构确证资料，并提供控制限度。杂质的结构和种类的鉴定在其他模块或者附件中体现。按照以前惯例，自制杂质的结构确认是通过工艺描述加氢谱确认即可，特殊的需要提供其他佐证手段。外购杂质的结构确认一般是要提供完整的结构鉴定谱图。说明各杂质在最终质量标准中是否进行控制以及控制的限度，并提供充分的依据。报告阈值是指所有高于此阈值的杂质及其含量均应在每批产品的检验报告中记录,并在申报资料中反映;鉴定阈值是指所有高于此阈值的杂质均应对其结构进行确证;合理限度是指只要质量标准中制订的杂质限度不高于此限度，就不需要提供该限度的制订依据,认为该限度是合理的。提供详细的降解途径与降解产物研究资料与图谱。应在对原料药的降解途径与降解产物有充分了解的基础上，进行系统的降解途径与降解产物研究，明确说明本品的降解途径与降解产物对比自制制剂片和原料药杂质谱以及纯度数据,相对保留时间杂质峰（%）原料制剂1607021605041605081607021607041607060.15////0.01/0.80（杂质A）0.030.030.020.030.020.031.300.010.010.020.040.030.04对比自制制剂片和参比制剂杂质谱以及纯度数据,相对保留时间杂质峰（%）自制参比制剂1607021605041605081607021607041607060.15////0.01/0.80（杂质A）0.030.030.020.030.020.031.300.010.010.020.040.030.04对比自制制剂片和参比制剂强制降解和长期稳定性考察的杂质谱变化、图谱以及纯度数据。类别RRT杂质峰（%）自制参比制剂160702160504160508160702160704160706酸降解0.15////0.01/0.800.030.030.020.030.020.03碱降解1.300.010.010.020.040.030.04氧化降解热降解光降解长期6个月************************************************************************************************************************************************************************附件1：《CTD申报资料中杂质研究的几个问题》这篇需要我们认真研究一下：下面做了简单的抄录。（/dzkw.do?method=largePage&id=312898）杂志谱研究需要以杂质谱分析为主线，安全性为核心，按照风险控制的策略，将杂质研究与CMC各项研究，乃至药理毒理及临床安全性研究等环节关联思考、综合考虑，而不仅仅拘泥于提供准确分析数据的传统思维，不是一项孤立的分析工作。1、杂质控制要做到源头控制、过程控制与终点控制相结合的杂质控制理念：CTD格式中杂质控制的考虑要体现在CMC的各个环节，而不是仅仅局限在“质量控制”模块。比如原辅料首先要满足制剂质量要求；关键工艺步骤及参数的确立、工艺开发过程等要考虑以杂质是否得到有效控制为重点关注。制剂相关特性中要体现与原研产品杂质谱等的对比情况；包材、贮藏条件以及有效期的确立等也要以杂质是否处于安全合理的可控范围内为核心。2、关注杂质分析与控制的系统性与整体性，不能割裂各项内容的必然联系和有机统一：杂质分析与控制的相关内容会分布在分析方法（3.2.S.4.2）、方法学验证（3.2.S.4.3）、杂质对比研究与杂质谱分析（3.2.S.4.5）、杂质情况分析总结（3.2.S.3.2）、样品检测与数据积累（3.2.S.4.4）、控制限度（2.3.S.4.1）等各模块中，但杂质研究又是一项系统工程，具有统一的整体性。因此，不要因为申报资料格式的模块化而人为割裂各项研究内容的相互联系。3、从杂质谱分析入手确立科学的杂质研究基本思路。杂质谱包括药物中所有杂质的种类、来源及特性等信息。有针对性地选择合适的杂质分析方法，以确保杂质的有效检出和确认；通过与原研产品杂质谱的对比研究，根据各相应杂质的一致性求证，或跟踪杂质谱对安全性试验或临床试验结果产生的影响，评估各杂质的安全性风险和可接受水平；结合规模化生产时杂质谱的变化情况，确立安全合理的杂质控制水平。4、分析方法的验证应具备针对性和全面性。5、杂质限度的确定应符合相关技术指导原则的要求。在分析方法相同的情况下，各特定杂质应不超过同品种或同类品种法定标准的相应限度；非特定杂质应采用LC/UV、LC/MS、PDA等