ICPOES基础理论5300DV课件

ICP-OES基本理论

PerkinElmer华西区技术支持杨日怀Page2

一、ICP发射光谱概述及分析原理Page3

原子发射光谱的历史Page5

原子发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。原子发射光谱法包括了三个主要的过程，即：由光源提供能量使样品蒸发、形成气态原子、并进一步使气态原子激发而产生光辐射；将光源发出的复合光经单色器分解成按波长顺序排列的谱线，形成光谱；用检测器检测光谱中谱线的波长和强度。由于待测元素原子的能级结构不同，因此发射谱线的特征不同，据此可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度不同，可实现元素的定量测定。Page6

1913年Bohr提出了原子结构学说，其要点如下：电子绕核作圆周运行，可以有若干个分立的圆形轨道，在不同轨道上运行的电子处于不同的能量状态。在这些轨道上运行的电子不辐射能量，即处于定态。在多个可能的定态中，能量最低的态叫基态，其它称为激发态原子可以由某一定态跃迁至另一定态。在此过程中发射或吸收能量，两态之间的能量差等于发射或吸收一个光子所具有的能量，即:h=E2-E1上式称为Bohr频率条件。式中，E2E1。如E2为起始态能量，则发射辐射；如E2为终止态能量，则吸收辐射。h为planck常数（6.6262×10-34J·S）。原子可能存在的定态只能取一些不连续的状态，即电子只能沿着特定的轨道绕核旋转。在这些轨道上，电子的轨道运动角动量P必须等于h/2的正整数倍。即:P=n·h/2（n=1，2，3）此式称为Bohr量子化规则，n称为主量子数据。Page7

不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能量最低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞，如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得一定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程叫做激发。+

激发Page9

多种能量传输发射光取决于能级间能量差返回基态发出光+激发态DE=hn=hc/l

h=Planck’s常数,n=频率,

c=光速,l=波长原子光谱的产生Page10

激发发射能量离子激发态离子基态abcda,b激发c电离d离子激发efghe

离子发射f,g,h原子发射}激发态{~l4~l3~l2~l1能级图QuantitationinAtomicEmission

樣品濃度光強度原子发射光谱仪的发展

历程就是寻找高温稳定光源的历程

火花交流电弧电感耦合等离子体（ICP）微波诱导等离子体（MIP）火焰温度：2000－3000K，稳定性：很好温度：4000－7000K，稳定性：好温度：4000－7000K，稳定性：差温度：6000－8000K稳定性：很好直流电弧激光温度：10000K，稳定性：好温度：10000K稳定性：很好Page14

电感耦合等离子体ICP

温度高达6000-10000K工作气体氩气溶液进样检出限低稳定性好线性范围宽ICP-OES

多元素测定Page15

ICP光源主要优点是：检出限低：许多元素可达到1ug/L的检出限测量的动态范围宽：5-6个数量级准确度好基体效应小：ICP是一种具有6000-7000K的高温激发光源，样品又经过化学处理，分析用的标准系列很易于配制成与样品溶液在酸度、基体成分、总盐度等各种性质十分相似的溶液。同时，光源能量密度高，特殊的激发环境——通道效应和激发机理，使ICP光源具有基体效应小的突出优点。精密度高：RSD~0.5%曝光时间短：一般只需10-30秒原子发射光谱分析所具有的多元素同时分析的特点与其他分析方法逐个元素单独测定相比，无论从效率的经济，技术等方面都具有很大的特点。这也是ICP原子发射光谱分析取得很大进展的原因之一。Page17

炬管的组成：三层石英同心管组成（如上图）。冷却（等离子）氩气以外管内壁相切的方向进入ICP炬管内，有效地解决了石英管壁的冷却问题。防止其被高温的ICP烧熔。炬管置于高频线圈的正中，线圈的下端距中管的上端2-4mm，水冷的线圈连接到高频发生器的输出端。高频电能通过线圈耦合到炬管内电离的氩气中。当线圈上有高频电流通过时，则在线圈的轴线方向上产生一个强烈振荡的环形磁场如图所示。开始时，炬管中的原子氩并不导电，因而也不会形成放电。当点火器的高频火花放电在炬管内使小量氩气电离时，一旦在炬管内出现了导电的粒子，由于磁场的作用，其运动方向随磁场的频率而振荡，并形成与炬管同轴的环形电流。原子、离子、电子在强烈的振荡运动中互相碰撞产生更多的电子与离子。终于形成明亮的白色Ar-ICP放电，其外形尤如一滴刚形成的水滴。在高度电离的ICP内部所形成的环形涡流可看作只有一匝的变压器次级线圈，而水冷的工作线圈则相当于变压器的初级线圈，它们之间的耦合，使磁场的强度和方向随时间而变化，受磁场加速的电子和离子不断改变其运动方向，导致焦耳发热效应并附带产生电离作用。这种气体在极短时间内在石英的炬管内形成一个新型的稳定的“电火焰”光源。样品经雾化器被气动力吹散击碎成粒径为1-10um之间的细粒截氩气由中心管注入ICP中，雾滴在进入ICP之前，经雾化室除去大雾滴使到达ICP的气溶胶微滴快速地去溶、蒸发和原子化。ICP光源的装置及其形成Page18

ICP光源的气流ICP光源自问世以来主要是在氩气氛中工作的，三股气流所起的作用各不相同，它们分别是：冷却气：沿切线方向引入外管，它主要起冷却作用，保护石英炬管免被高温所熔化，使等离子体的外表面冷却并与管壁保持一定的距离。其流量约为0-20L/min，视功率的大小以及炬管的大小、质量与冷却效果而定，冷却气也称等离子气。辅助气：通入中心管与中层管之间，其流量在0-2L/mim，其作用是“点燃”等离子体，并使高温的ICP底部与中心管，中层管保持一定的距离，保护中心管和中层管的顶端，尤其是中心管口不被烧熔或过热，减少气溶胶所带的盐分过多地沉积在中心管口上。另外它又起到抬升ICP，改变等离子体观察度的作用。雾化气：也称载气或样品气，作用之一是作为动力在雾化器将样品的溶液转化为粒径只有1-10um的气溶胶，作用之二是作为载气将样品的气溶胶引入ICP，作用之三是对雾化器、雾化室、中心管起清洗作用。雾化气的流量一般在0-2L/min。Page19

等离子体（Plasma）一词首先由Langmuir在1929年提出，目前一般指电离度超过0.1%被电离了的气体，这种气体不仅含有中性原子和分子，而且含有大量的电子和离子，且电子和正离子的浓度处于平衡状态，从整体来看是处于中性的。从广义上讲像火焰和电弧的高温部分、火花放电、太阳和恒星表面的电离层等都是等离子体。等离子体可以按温度分为高温等离子体和低温等离子体两大类。当温度高达106-108K时，所有气体的原子和分子完全离解和电离，称为高温等离子体；当温度低于105K时，气体部分电离，称为低温等离子体。

Page21

当有高频电流通过线圈时，产生轴向磁场，这时若用高频点火装置产生火花，形成的载流子（离子与电子）在电磁场作用下，与原子碰撞并使之电离，形成更多的载流子，当载流子多到足以使气体有足够的导电率时，在垂直于磁场方向的截面上就会感生出流经闭合圆形路径的涡流，强大的电流产生高热又将气体加热，瞬间使气体形成最高温度可达10000K的稳定的等离子炬。感应线圈将能量耦合给等离子体，并维持等离子炬。当载气载带试样气溶胶通过等离子体时，被后者加热至6000-10000K，并被原子化和激发产生发射光谱。Page22

ICP各区域的温度Page23

ICP各区域的分布

ICP发射过程等離子体(電漿)的分布（2）内焰区在感应圈上10-20mm左右处，淡蓝色半透明的炬焰，温度约为6000-8000K。试样在此原子化、激发，然后发射很强的原子线和离子线。这是光谱分析所利用的区域，称为测光区。测光时在感应线圈上的高度称为观测高度。（3）尾焰区在内焰区上方，无色透明，温度低于6000K，只能发射激发电位较的谱线。Page26

电感耦合等离子体光谱仪的发展

（ICP-OES）

单道+多通道多通道全谱直读摄谱仪平面光栅+相板（1970）全谱，但不能直读凹面光栅+光电倍增管直读，但不能同时测量背景，不是全谱平面光栅+光电倍增管直读，但不能同时测量背景，不是全谱中阶梯光栅+固体检测器单道扫描后全谱直读时代全谱直读开机即用光學系統Page30

OptimaSCDOpticalSystemModulesDual-ViewOptics(Optima5300DVshown)TransferOpticsModule

InputOpticsModuleVISOpticsModuleUVOpticsModulePage31

两维色散后的谱线排列Page32

两维色散后可见/紫外光谱分布0.1mmOneSubarray(shownsideways)ImagePatternonUVSCDWavelengthwithintheOrderHighLowOrderNumberWavelengthHighLowLowHigh13012011010090807060Pb220.353Cu221.458P177.433Sc357.635Cross-DisperserGratingDispersionEchelleGratingDispersion167nm403nmICP/OES

測試流程圖離子線躍遷

注釋:氬氣等離子体可提供的激發能為15.75ev(電子伏特）Ar用Ar做工作气体的优点：Ar为单原子惰性气体，不与试样组份形成难离解的稳定化合物，也不象分子那样因离解而消耗能量，有良好的激发性能，本身光谱简单。样品进样系统把样品溶液转变成气溶胶,通入等离子体中样品进样条件通过电脑控制根据不同的样品及应用选择

ToICP雾化器样品solution氩气

Togeneratesampledropletsbynebulizationand

tointroduceonlyfinedropletsintheplasma.样品进样系统雾化系统雾化器Nebulizers十字交叉雾化器Cross–flowNebulizers

同心圓雾化器Gem-coneNebulizers超音波雾化器UltraSonicNebulizers

SampleArnebulizergasConcentricnebulizerSampleArnebulizergasCrossflownebulizerCross-FlowNebulizer

PE

標准配備適用所有的樣品Oils/OrganicsAllacids(HNO3,HCL…)diluteandconc.Upto10%dissolvesolids(<100micron)Usuallyrunat1.5ml/min.pumpratePrecisionontheorderof1%非常容易清洗，維護保養且耐用

MeinhardConcentricNebulizer同心圆气动雾化器BestPrecisionandDetectionLimits0.5%PrecisionD.L.40%lowerthancross-flowPumprateof2ml/min.CanclogeasilyFairlyfragile:DonotultrasonicateCleanwithwarmsolutionof20%HNO3:Donotboil!Gem-ConeHighSolidNebulizer同心圆高盐雾化器CanbeusedformostapplicationsOilsBrinesViscoussamplesPlatingbathsHandlesdissolvedsolidsto25%(<1mm)TotallyinertPumprateof2ml/min.UltraSonicNebulizer超声波雾化器Uses1.4MHZfrequencytoshatterdropletstolessthan5microns.Extremelyhighefficiency10timesstandardsystem.Detectionlimitswillimprove6-20fold.HighcostDoesnothandlehighsolids.

适于分析低含量的样品，但样品的基体含量也必须很低，否则会带来很大的记忆效应。与传统的气动雾化器相比，超声雾化器的检出限可以改善10倍左右。SprayChambersScott-TypeDoublePassChamber

ScottDouble-PassSprayChamberSeparatesthesmalldroplets(<10microns)fromthelargerdropletsSmalldropletstravelthroughcentertube,largedropletdropoutofcentertubeandintothedrain

2-4%efficientDurableandinertCleanedwith10-20%warmnotboilingHNO3Canrunmostanysolvent

Veryefficient.40%higherefficiencythanaScott-TypeExcellentRinse-out

Detectionlimitsimprovebyafactorof2overaScott-Type

Cleanwithhotmineralacids

CyclonicSprayChamber

Cyclonicspraychamber

NebulizerSprayPatternsGoodConcentricPatternPulseevenlywithpumpBadSkewedSputteringMaintenance

Maintenance

GemTipsforCross-FlowNebulizerCleanwithsoapandwater,rinsethoroughly;orusea2%solutionofnitricacid.GemTiporGemConeNebulizer/EndCapAssemblyCleanwithsoapandwater;rinsethoroughly.ConcentricGlass(MEINHARD)NebulizerDonotuseanultrasoniccleaner.Donotusecleaningwire.SeeConcentricGlassNebulizerlaterinthemanual.InjectorsandEndCap

Injectors:AluminaQuartzSapphire

ICPInjectorsSampleinjectorshavedifferentID’sforusewithdifferentsolvents.Themorevolatile

thesolvent,useasmallerIDsampleinjector.

0.8,1.2,1.6&2.0mminternaldiameter完全快速-可调试样品进样系统

注射器样品雾化系统火炬可調整的位置进气口便于拆卸的炬管模块包含石英炬管、刚玉或者石英材料的入射管、雾室、雾化器和端帽，所有这些都集成在一个组件里。这个模块可以快速地从进样系统室中拆卸出来，可调节的基座可以将炬管前后调节达8mm。观测视窗观测方式垂直观测可根据分析元素调整观测位置，干扰比水平观测低，动态线性范围比水平也高1-2个数量级。尤其是对于高盐度或者复杂基体更为合适。

水平观测由于光通量大，灵敏度高，但是相应的干扰也大些，因此尾焰去除技术就相当关键。检出限一般比radial-viewing观测灵敏度高3-10左右。

双向观测轴向观测

(水平观测)DVOpticsICP发射光源水平观测反射镜孔径反射镜入口狹縫(partofInputOptics)MotorizedadjustmentaimsLargeToroidalMirrortowardAxialWindowforAxialView双向观测径向观测球面鏡BaffleICP發射光源平面鏡大環形反射鏡孔徑光蘭小環形反射鏡入口狹縫MotorizedadjustmentaimsLargeToroidalMirrortowardFlatMirrorforRadialView

观测视窗AxialviewingRadialviewingDualView最佳方便性同一个方法可以同时使用两种观测方式简化样品稀释步骤提高线性动态范围最小基质干扰最佳检测极限DetailedViewofPlasmaEmissionZonesPHZ(PreHeatingZone)IRZ(InitialRadiationZone)NAZ(NormalAnalyticalZone) DominantlyIonicEmission PrimaryzoneforexcitedstatesTailPlume

NAZShearGasPositionPHZIRZConcentrationEmissionIntensityCalibrationWithTailPlumeRemovedDecaytoGroundState

EmissionIntensityConcentrationSelfAbsorptionCalibrationViewedThroughTailPlume等离子体剪切气減少自吸帶控制分析光路范圍減少基質效應剪切气位置ShearGasPage66

OPTIMA5X00DV开机程序通风，氩气，空气压缩机，（吹扫用氮气）水循环器接通OPTIMA5X00DV电源，启动WINLAB32软件待仪器初始化结束。（仪器初始化所须时间取决于仪器开机时初始温度和实验室环境温度，不表示仪器好坏。）Page67

吹扫气（PurgeGas）当使用低于190nm波长分析前，必须提前用Purgegas（氮气）吹扫光学室和光学通道。吹扫速度分两种，快速8升/分，常速1.5升/分。初次吹扫可以快速吹扫几小时后转入常速。定期吹扫光学室可以保护光学镜面，避免不良气体或水汽侵蚀。Page68

Diagnostics（诊断）-光谱仪System-Diagnostic-Spectrum进入光谱仪诊断提供光谱仪Firmware版本，光学室温度，检测器温度等光谱仪硬件信息。纪录光谱仪工作流程。Page69

Diagnostics（诊断）-RFGeneratorSystem-Diagnostic-RFGenerator进入射频发生器诊断。提供射频发生器Firmware版本，功率，气体流量，雾化气压力等硬件信息。纪录射频发生器工作流程。Page70

点等离子矩点炬前先检查蠕动泵进样和排液，气体压力，通风，切割气压力，冷却水循环器。氩气质量会影响点炬，实验室留存一瓶99.999%高纯氩，在不能点炬时使用。点炬过程全部自动进行，操作人员可以通过观测窗观测，意外情况时，按紧急红色按钮停止点炬过程。Page71

点炬失败的后续操作假如点炬失败必须记录当时显示的信息。并根据信息提示检查。点炬失败必须报修前，在Diagnostics（RFGenerator）里SaveLog保存俩个文件（BlackBoxLog/IncidentLog）并传给维修工程师。两个文件的路径：C：/PE/TemporaryfilePage72

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手动设定气体流量功率和进样量气体流量，射频功率和进样量都可以手动设定。设定后按APPLY生效。分析样品时这手动设定气体流量功率和进样量些参数自动转为方法里设定的参数。当需要在分析时采用与方法设定不同的参数，可以使用OverrideMethod。选用OverrideMethod时方法中相应参数值无效，方法原设定参数不变。Page74

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紧急按钮的使用Emergency（紧急按键）在计算机意外锁死或炬焰意外时迅速关断等离子炬电源。按键按过后处在锁定态，呈断续闪光。再按一次键，可以释放回正常态，不再闪光。使用过紧急按钮后，除释放其回到正常态外，还要在软件中复位：

System-Resetemergencyplasmaoff-OK

否则不能点炬。Page76

光谱仪控制(一）System-SpectrometerControl进入光谱仪控制。吹扫气，观测，和光闸都可以手动控制。选用OverrideMethod可以使方法中同类选择作废。观察位置可以手动改变，一般都采用轴向（15，0），经向（15）DetectorCalibration是指检测器暗电流校准，结果会存入计算机。一般情况不需重复做。当重装软件后必须重做此校准。Page77

光谱仪控制（二）AlignView是校准入射光方向，使入射到狭缝的光强最大。在重装炬管后校准用。校准时要使用1ppmMn溶液或其他指定溶液，不能在喷纯水条件下做此项校准。在径向和轴向分别做此项校准，仪器将自动保存校准结果。只有在重新安装炬管后，才需要重新校准。Page78

光谱仪控制（三）。

WavelengthCalibration用于校准波长，分UV和VIS两部分。校准时必须用随机标准溶液。UV使用N0582152，VIS使用N9302946。当再次选此窗口时，显示上次校准的时间和结果。波长校准结果存在计算机里，重装软件后必须重做此校准。Page79

光谱仪控制（四）HgRealign是使用内置汞灯测量253.652nm谱线，测量结果会纠正因温度的变化造成的谱线偏移，在室温变化较大情况下，使用此功能有防止峰漂的明显效果Hg253.652nm的强度可能会变化，只能留作参考Page80

编辑方法(一)编辑方法可采用软件实时帮助：F1或者

Help-ActiveWindowHelpNew-Method可以选择有机/无机/特定条件，它会影响点炬的参数。键入元素和波长的几种方法。分析元素和内标元素。Page81

编辑方法（二）读数参数：自动方式采用预曝光决定积分时间；人工方式采用用户设定的积分时间。介绍ReadDelay和ReplicatesSeverWindow不能改变，AutoWindow是预曝光观测的区间，可以改变。Sampler是指等离子矩的条件，介绍各参数。介绍Peristaltic和AutosamplerPage82

编辑方法（三）SpectralPeakProcessing指光谱信息处理，一般采用峰面积/三点/背景校准点DefineStandards设定标样系列。可以设定样品空白，重校标样点，标准曲线类型，是否扣除空白等功能。Check和OKQC用于使用自动进样器分析时，在线回收率测试和质量控制，请参考在线帮助（Help-ActiveWindowHelp）Page83

编辑方法（四）Options选择结果显示的内容，SaveWithResult是把方法连同分析结果一起保存，请采用此方式。编辑完成的方法可以检查：Edit–CheckMethod，可以按波长重新排列次序以节省分析时间：Edit–Sortby–Wavelength编辑完成的方法应被命名后保存，否则此方法产生的结果都不能被保存。Page84

手动分析假如要保存结果须首先选择数据组名称：Open-在Name框内键入名称-OK

样品名称直接键入ID框内，details可以输入制样参数，让仪器计算固体样的含量。

ReadDelayTime是指样品从容器到达等离子矩并且稳定的时间，在方法里已设定。可以OverrideMethod后，在此重新设定。Page85

结果显示框选择Result后会显示结果框。Result显示的项目是方法里OPTION内选定的。结果框会连续无选择显示分析结果，可以选择其中页面打印。清除全部显示：Analysis-ClearResultDisplayPage86

光谱图显示框工具图表的Spectrum可打开光谱图显示框，用来实时显示分析时获得的谱图。由于显示框可以实时反映样品情况，建议在分析时同时打开光谱显示框。要改变显示的颜色和排列：

Option-SpectrumDisplay要清除显示内容：

Analysis-ClearSpectrumDisplayPage87

检查光谱框（一）工具栏内Examine是用于检查已经保存的光谱图和设定MSF文件用。设定MSF文件请使用下列途径获取资料：Help-ContentsandIndex-键入MSF-DisplayData-selectdataset（即显示已经储存的数据组名称）-选择样品名称和元素名称-显示光谱图Page88

检查光谱框（二）需要时重新移动光标线到峰高位置设定峰值：method-setpeakwavelength需要时添加，移动或去除背景校准点。把修改数据存回方法：1：导入原方法fromResultLibrary-选择本数据组名称-OK2：Method-UpdatemethodParameters-UpdateandSavemethodSetpeakWavelength将在以后使用该方法时对此波长进行额外定标，对其他方法或本方法其他元素的峰位不产生影响。Page89

检查光谱框（三）移动光标到峰位后，假如使用AdjustWavelength会对检测器重新标定，即把光标线位置定标为光谱图上方的值，这种定标会对以后所有方法和相邻位置都有影响。执行时需慎重。Page90

自动进样器分析（一）自动进样器分析须提前设置样品信息：

Saminfo-填入各个位置样品信息-保存样品信息文件使用自动分析须对分析中QC样品和回收率试验的结果进行评判和预置，Method的Checks和QC就是为此设置的，详细请参考HelpPage91

自动进样分析（二）工具栏Auto用于自动分析，在SetUp页键入方法名，样品信息名和结果数据组名或不选用样品信息文件，直接在Location框内键入XX-YY（表示分析从XX到YY位样品）在Analysis页内按RebuildList产生新表后即可选择做全部分析/只做标准曲线/只分析样品。Analysis-AutoSampler提供进样针上提，下降，移到清洗位等快速功能。更详细信息参考Help。Page92

数据再处理（Reprocessing）（一)Reprocessing是对已经储存的分析数据在不同的条件下，重新处理以求得更好的结果。未储存的数据不能再处理。Reprocessing不修改原始的数据，原始数据在操作系统里不允许作修改。当光谱峰校准，移动背景校准点，改变标准曲线类型和峰面积点数等，可以对原始数据重新处理而不需要重新分析样品。Page93

数据再处理（Reprocessing）（二）数据再处理步骤：调入原方法：fromresultlibrary-选择数据组-OKReproc-Browse-选择数据组-Reprocess经过再处理可以显示图谱，结果，可以再保存。Page94

Page95

自动关机和开机功能System-Autoshutdown/Startup提供自动分析结束后仪器自动关机和下次自动开机功能。选择Shutdown后根据需要选择时间，是否熄矩等。选择StartUp后根据需要选择时间，是否点炬等。Page96

熄矩和退出软件完成分析后应清洗进样系统，清洗时间和样品有关，一般可以先喷2-5%HNO3大约5分钟，再喷去离子水大约5分钟。样品基体复杂的要延长清洗过程。结束后在Plasma框熄矩，熄矩后仪器将保持Plasma和Aux气体1到2分钟冷却炬管，此时应继续保持提供氩气。排出雾室内余液，停止蠕动泵，松开蠕动泵管。先退出软件，然后关断仪器电源。Page97

离线Winlab32Off-line可以进入Winlab脱机操作

Programs-PerkinElmerWinlab32-WinlabOff-Line

也可以进入Winlab脱机操作。

Winlab32Off-line提供除控制仪器硬件以外的全部功能，建立方法和各种文件，检查光谱图，数据再处理打印等。Winlab32Off-line可以在仪器进行分析的同时执行各种任务。Page98

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数据库管理（一）Manage可以进入数据库管理

Programs-PerkinElmerWinlab32-DataManage

也可以进入数据库管理。DataManage用于设计，打印报告，输出数据，检查和删除方法或数据组，整理数据库等数据库必须定期压缩保存数据/删除已保存数据/整理数据库，否则库存量太大，会影响分析速度，甚至联机错误。DataManage提供删除无用方法和数据组的唯一手段，不能在Windows操作系统内删除上述资料。Page100

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数据库管理（二）Archive提供压缩保存数据组功能：

选择数据组-Archive-选择目录和名称-OKRestore提供取回数据组功能：

Restore-选择目录和名称-OKDelete提供删除数据组唯一方法：

选择数据组-Delete-OKCheck提供检查数据库功能，检查数据库只能在Winlab32/Winlab32Off-line都关闭时进行Page102

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Page104

数据库管理（三）Delete提供删除无用方法的唯一途径：

LibraryCategory-Methods-OK-选择被删方法名-DeletePack提供整理数据库功能，删除无用数据组后必须整理数据库，否则总库容量无任何改变。执行Pack前须关闭Winlab32和Winlab32Off-linePage105

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数据库管理（四）Report/Export用来打印或输出选定数据组选定数据组-Report/Export-按照显示做选项 详细请参考HelpPage107

仪器保养（一）仪器保养请参考hardwareGuide（随机资料）第五章Maintenance仪器维护记录手册(随机手册）

ICP-OESInstrumentMaintenanceLog

提供日常维护记录表供参考Page108

等离子发射光谱仪日常的维护保养细节Page109

等离子发射部分的维护

.按下此螺丝来松开雾化器的氩气管路Page110

等离子发射部分的维护拆移进样毛細管路Page111

卸下雾化室的排液管。注:卸下的排液管需要清洗，在必要的时候更換新的管路。Page112

打开样品室边门,紧握进样盘以逆时针方向旋使“小雨珠水滴＂旋至“ｘPage113

紧握整个进样盘緩慢地向外拔移。使整个进样系統放置于垫有白紙桌面。注:当石英炬管向外移時要特別小心，防止石英炬管与感应线圈、保护帽的碰撞造成损坏。假如石英保护帽破损，必须更换。Page114

用右手姆指推下进样管固定卡簧，再使用左手將进样管及雾化室取出，并将进样管及雾化室分开。推下卡黄Page115

緩慢拧开石英炬管螺帽(knurledNut)。KnurledNut:N0776027Page116

將石英炬管拆出。注:1.此时須注意O-ring的位置2.注意O-ring和螺帽放置一边不需要清洗。3.注意石英炬管为易碎品，須放置平穩。N0776028Page117

紧握雾化室和注射管將它們分离，注意O-ring的位置。注:O-ring不需要清洗。Page118

擰開注射管的螺帽，注意其O-ring的位置。注:此O-ring、螺帽、連接注射管部份都不需要清洗。N0776014Page119

拧开雾化器上的两个螺帽，将雾化器分成雾化室和雾化帽两部分Page120

将进样管的螺帽及雾化器的螺帽分别拧开，取出雾化喷嘴及密封圈注：如用户需购买雾化喷嘴必须一套购买，无单个购买号N0690676Page121

將石英炬管上的O-ring和螺帽移开，并將点火铜箔清除，以便清洗。N0775297N0770338Page122