标准解读

《GB/T 2831-1981 光学零件的面形偏差 检验方法(光圈识别)》是一项国家标准，该标准规定了使用光圈法检测光学零件表面形状偏差的具体步骤和技术要求。标准中定义了术语“光圈”，指的是在特定条件下通过观察或测量干涉条纹来评估光学元件表面质量的一种方法。它适用于平面、球面以及非球面等不同类型的光学表面。

根据这一标准，检验过程主要包括以下几个方面：

  • 准备工作：选择合适的光源和参考面，并确保测试环境满足要求。
  • 安装与调整：将待测光学零件固定于适当位置，并调整至最佳状态以便进行准确测量。
  • 光圈识别：利用干涉现象形成光圈图案，通过肉眼观察或者借助仪器记录下这些图案。
  • 数据记录与处理：对获得的数据进行记录，并按照规定的方法进行分析计算，以确定被测表面的实际偏差值是否符合预设的技术指标。


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  • 1981-12-25 颁布
  • 1982-10-01 实施
©正版授权
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UDC681.4.084:621.753.1中华人民共和国国家标准GB2831－81光学零件的面形偏差检验方法光圈识别)Surfaceformdeyationofopticalelements-Inspectionmethods1981-12-25发布1982-10-01实施家标准·总局国批准

中华人民共和国国家标准UDC：681.4.084光学零件的面形偏差检验方法：621.753.1GB2831一81（光圈识别Surfaceformdeviationofopticalelements-Inspectionmethods本标准适用于以等厚光波干涉原理检验球面（包括平面）光学零部件的面形偏差。名词术语、符号、代号1.1面形偏差被被检光学表面相对于参考光学表面的偏差称面形偏差面形偏差是在圆形检验范围内，通过垂直位置所观察到的干涉条纹（通称光圈）的数目、形状、变化和颜色来确定的。面形偏差包括下列三项：被被检光学表面的曲率半径相对于参考光学表面曲率半径的偏差称半径偏差。此偏差所对应的光圈数用M表示。。被检光学表面与参考光学表面在二个相互垂直方向上产生的光圈数不等所对应的偏差称象散偏差，此偏差所对应的光圈数用I表示。。被检光学表面与参考光学表面在任一方向上产生的干涉条纹的局部不规则程度称局部偏差，此偏差所对应的光圈数用八表示。1.2光圈正负号规定：高光圈（凸）为正（相应于中间接触）；低光圈（凹）为负（相应于边缘接触）。：高低光圈的识别22.1一般情况下高低光圈的识别低光圈：当空气隙缩小时，条纹从边缘向中心移动如图1“。高光圈：：当空气隙缩小时，条纹从中心向边缘移

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