标准解读

《GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》作为一项技术标准，规定了模拟锁相环集成电路的测试原则、测试环境、测试信号要求及测试项目等内容，旨在为该类器件的性能评估提供统一的方法和依据。不过，您提供的对比项似乎不完整，没有明确指出要与哪个具体的标准或版本进行比较。因此，直接对比其变更点较为困难。

若假设对比目标是该标准后续的修订版或其他相关标准，一般而言，更新的标准可能会包含以下几类变更内容：

  1. 测试技术的更新：随着技术进步，新的测试方法和设备可能被引入，以提高测试精度、效率或覆盖范围，老标准中的测试技术描述会相应调整。

  2. 参数定义的修订：为了适应技术发展或国际标准化的要求，一些关键参数的定义、测量单位或容差范围可能会有所变化。

  3. 新增测试项目：针对新型锁相环电路特性，可能会增加相应的测试项目，以确保全面评估其性能。

  4. 环境条件和测试条件的调整：考虑到实际应用环境的变化和对测试准确性的新要求，测试环境的温度、湿度等条件标准，以及测试信号的规格可能有所更新。

  5. 标准适用范围的扩展或限定：根据技术演进，标准可能会扩大适用的产品类型，或者对特定类型的锁相环提出更专门的测试要求。

  6. 术语和定义的规范化：为了与国际标准或行业共识保持一致，标准中的专业术语和定义可能会得到修订和完善。

  7. 参考标准的更新：引用的其他国家标准、国际标准或技术文献可能会被更新到最新版本，以确保标准的时效性和准确性。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1992-12-18 颁布
  • 1993-08-01 实施
©正版授权
GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理_第1页
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文档简介

DDg.621.382L55中华人民共和国国家标准GB/T14031－92半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguephase-loopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18发布1993-08-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理CB/r14031-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofanalogucphase-loopforsemiconductorintegraledcircuits本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。模拟锁相环与运算放大器相同的静态和动态参数测试可参照GB3442《半导体集成电路运算(电压）放大器测试方法的基本原理》总要求1.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合详细规范的规定，1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。1.3测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定。14被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。1.6，测试期间.被测器件应按器件详细规范的规定连接外围网络。锁相环处于闭环状态。1.7测试期间，被测器件应避免出现自激现象。1.8若电参数值是由几步测试的结果经计算确定的，这些测试的时间间隔应尽可能短。2参数测试2.1跟踪辅入电压VkTrA2.1.1目的在规定中心频率和规定频偏下,测试锁相环保持跟踪的最小输入电压.2.1.2测试原理锁相环接成闭环，跟踪输入

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