标准解读

GB/T 12085.5-1989 是一项中国国家标准，全称为《光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压》。这项标准规定了对光学和光学仪器进行综合低温及低气压环境试验的方法、程序以及相关的试验条件，旨在评估这些设备在极端环境下的性能与可靠性。

标准适用范围

该标准适用于各种光学和光学仪器，包括但不限于相机、望远镜、显微镜、激光器及其组件等，目的是确保这些设备在遇到低温和低气压环境时仍能保持其设计功能和性能稳定。

试验条件

  1. 低温条件：标准中详细说明了模拟低温环境的具体要求，包括温度范围、降温速率、稳定时间和试验持续时间等参数。这些条件模拟了高海拔、极地或太空等自然环境中的极端低温状况。

  2. 低气压条件：除了低温外，标准还规定了如何在实验室条件下创建低气压或真空环境，用以模拟高空环境对光学设备的影响。具体包括气压的调节范围、降压速率及维持时间等。

试验方法

标准提供了详细的试验步骤，包括：

  • 试验前的样品准备，如预处理、校准和初始检测。
  • 设定并控制试验箱内的温度和气压至规定的条件。
  • 在综合低温低气压环境下持续运行或存储样品，并监测关键性能指标。
  • 试验结束后，恢复到常温常压状态，进行最终性能检测与评估，比较试验前后数据以分析设备的适应性和稳定性。

评价指标

依据标准要求，通过对比试验前后的性能变化，如光学性能衰退程度、机械结构稳定性、电气特性是否符合标准等，来评判光学和光学仪器在极端环境下的适应能力。

结论制定依据

试验结果可作为产品设计、制造过程改进及质量控制的依据，确保光学仪器在特定应用环境中能够正常工作，满足用户需求和安全要求。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 12085.5-2010
  • 1989-12-29 颁布
  • 1990-08-01 实施
©正版授权
GB/T 12085.5-1989光学和光学仪器环境试验方法综合低温、低气压_第1页
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文档简介

UDC681.7.08N30中华人民共和国国家标准GB12085.5—89光学和光学仪器环境试验方法综合低温、低气压Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure1989-12-29发布1990-08-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准光学和光学仪器环境试验方法GB12085.5-89综合低温低气压Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure主题内容与适用范围本标准规定了综合低温与低气压试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。2试验目的研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，，其次是测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响。3引用标准GB12085.1光学和光学仪器环境试验方法术语、试验范围试验条件4.1试验箱（室）必须是空气流通的低气压箱（室）或是高空模拟试验箱（室)，它可以是低温、低气压的综合试验箱（室），也可将低气压箱放在低温室中。试验和（室)的大小及试样安放的位置，应能保证所有试样都处于均匀的环境条件下。4.2在试验箱（室）内，试样需先达到规定的试验温度，然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。4.3按条件试验方法51（见5.2条）进行试验时,在升压期间，可用高纯氮气或对试样辐射加热方法，避免试样上产生结霜和凝露。4.4试验箱（室）内的温度和气压的变化应缓慢进行，以免引起试样的损坏。4.5试样的各个部分都达到试验箱（室）温度±3℃之内和气压达到规定值时暴露周期开始。散热试样应冷却到试验温度，在温度稳定的试验箱（室）中试样的温度变化在1h内不大于±1℃时，开始降低气压。在降压过程中，允许试样自身发热，直到试验压力达到规定值时作为暴露时间开始。暴露结束后压力和温度的升高同时开始，箱（室）内空气和试样的温度都应测量。温度传感器在试样上的位置应在有关标准中规定，用来测量箱（室）内空气温度的温度传感器的位置应在试验报告中说明。4.6按条件试验方法50进行试验后，试样在压力升高过程中产生结霜和凝露的方法应在有关标准中规定，可在下述方法中选用：a.在低气压条件下凝露的形成在温度为－20～-10℃范围内和气压为4×10"Pa以上的低气压范围内，在加热过程中将水蒸气注人试验箱（室）内；b.在标准环境压力条件下凝露的形成在加热期间，试验室内的压力调到标

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