2023年材料测试方法选择判断填空题库

第一章一、选择题1.用来进行晶体构造分析X射线学分支是（

）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其他2.M层电子回迁到K层后，多出能量放出特性X射线称（）Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。3.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.当电子把所有能量所有转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸取限；D.特性X射线5.当X射线将某物质原子K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多出能量将另一种L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）二、正误题1.随X射线管电压升高，λ0和λk所有随之减小。（）2.激发限和吸取限是一回事，只是从不一样样角度看问题。（）3.经滤波后X射线是相对旳单色光。（）4.产生特性X射线前提是原子内层电子被打出核外，原子处在激发状态。（）5.选择滤波片只要根据吸取曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（）三、填空题1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。2.X射线和物质互相作用可以产生、、、、、、、。3.通过厚度为H物质后，X射线强度为。4.X射线本质既是也是，具有性。5.短波长X射线称，常见于；长波长X射线称，常见于。第二章选择题1.有一倒易矢量为，和它对应正空间晶面是（）。A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一体心立方晶体晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（）。A．与否满足布拉格条件；B．与否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族多重性原因是（）。A．4；B．8；C．6；D．12。正误题1.倒易矢量能唯一地代表对应正空间晶面。（）2.X射线衍射和光反射同样，只要满足入射角等于反射角就行。（）3.干涉晶面和实际晶面辨别在于：干涉晶面是虚拟，指数间存在公约数n。（）4.布拉格方程只包括X射线衍射方向，不能反应衍射强度。（）5.构造因子F和形状因子G所有是晶体构造对衍射强度影响原因。（）填空题倒易矢量方向是对应正空间晶面；倒易矢量长度等于对应。只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表达该满足条件，能产生。影响衍射强度原因除构造原因、晶体形状外尚有，，，。考虑所有原因后衍射强度公式为，对于粉末多晶相对强度为。构造振幅用表达，构造原因用表达，构造原因=0时没有衍射我们称或。对于有序固溶体，原本消光地方会出现。名词解释倒易点阵——系统消光——衍射矢量——形状因子——相对强度——第三章选择题1.最常见X射线衍射措施是（）。A.劳厄法；B.粉末多法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.德拜法中有助于提高测量精度底片安装措施是（）。A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。3.德拜法中对试样规定除了无应力外，粉末粒度应为（）。A.<325目；B.>250目；C.在250-325目之间；D.任意大小。4.测角仪中，探测器转速和试样转速关系是（）。A.保持同步1﹕1；B.2﹕1；C.1﹕2；D.1﹕0。5.衍射仪法中试样形状是（）。A.丝状粉末多晶；B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。正误题1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受辨别率，缩短暴光时间。（）2.在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一种是测角仪圆，另一种是辐射源、探测器和试样三者还必需在同一聚焦圆。（）3.选择小接受光栏狭缝宽度，可以提高接受辨别率，但会减少接受强度。（）4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度改对旳。（）5.衍射仪法和德拜法同样，对试样粉末规定是粒度均匀、大小适中，没有应力。（）填空题在粉末多晶衍射摄影法中包括、和。德拜相机有两种，直径分别是和Φmm。测量θ角时，底片上每毫米对应º和º。衍射仪关键是测角仪圆，它由、和共同构成。可以用作X射线探测器有、和等。影响衍射仪试验成果参数有、和等。第四章选择题1.测定钢中奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常见措施是（）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2.X射线物相定性分析时，若已知材料物相可以查（）进行查对。A.Hanawalt索引；B.Fenk索引；C.Davey索引；D.A或B。3.德拜法中对旳测定点阵常数其系统误差来源于（）。A.相机尺寸误差；B.底片伸缩；C.试样偏心；D.A+B+C。4.材料内应力分为三类，X射线衍射措施可以测定（）。A.第一类应力（宏观应力）；B.第二类应力（微观应力）；C.第三类应力；D.A+B+C。5.Sin2Ψ测量应力，一般取Ψ为（）进行测量。A.确定Ψ角；B.0-45º之间任意四点；C.0º、45º两点；D.0º、15º、30º、45º四点。正误题1.要对旳测量点阵常数。必需首先尽量减少系统误差，另一方面选高角度θ角，最终还要用直线外推法或柯亨法进行数据处理。（）2.X射线衍射之因此可以进行物相定性分析，是由于没有两种物相衍射把戏是完全相似。（）3.理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相含量有多少。（）4.只要材料中有应力就可以用X射线来检测。（）5.衍射仪和应力仪是相似，构造上没有辨别。（）填空题在Δθ一定状况下，θ→º，Δsinθ→；因此对旳测定点阵常数应选择θ。X射线物相分析包括和，而更常见更广泛。第一类应力导致X射线衍射线；第二类应力导致衍射线；第三类应力导致衍射线。X射线测定应力常见仪器有和，常见措施有和。X射线物相定量分析措施有、、等。第五章选择题1.若H-800电镜最高辨别率是0.5nm，那么这台电镜有效放大倍数是（）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除像差是（）。A.球差；B.像散；C.色差；D.A+B。3.可以提高TEM衬度光栏是（）。A.第二聚光镜光栏；B.物镜光栏；C.选区光栏；D.其他光栏。4.电子衍射成像时是将（）。A.中间镜物平面和和物镜背焦面重叠；B.中间镜物平面和和物镜像平面重叠；C.关闭中间镜；D.关闭物镜。5.选区光栏在TEM镜筒中位置是（）。A.物镜物平面；B.物镜像平面C.物镜背焦面；D.物镜前焦面。正误题1.TEM辨别率既受衍射效应影响，也受透镜像差影响。（）2.孔径半角α是影响辨别率关键原因，TEM中α角越小越好。（）3.有效放大倍数和仪器可以到达放大倍数不一样样，前者取决于仪器辨别率和人眼辨别率，后者仅仅是仪器制造水平。（）4.TEM中关键是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，因此不能象光学显微镜那样通过凹凸镜组合设计来减小或消除像差，故TEM中像差所有是不可消除。（）5.TEM景深和焦长随辨别率Δr0数值减小而减小；随孔径半角α减小而增长；随放大倍数提高而减小。（）填空题TEM中透镜有两种，分别是和。TEM中三个可动光栏分别是在，在，在。TEM成像系统由、和构成。TEM关键构成部分是、和观；辅助部分由、和构成。电磁透镜像差包括、和。名词解释景深和焦长——点辨别和晶格辨别率——消像散器——选区衍射——第六章选择题1.单晶体电子衍射把戏是（）。A.规则平行四边形斑点；B.同心圆环；C.晕环；D.不规则斑点。2.薄片状晶体倒易点形状是（）。A.尺寸很小倒易点；B.尺寸很大球；C.有一定长度倒易杆；D.倒易圆盘。3.当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球（）。A.球面外；B.球面上；C.球面内；D.B+C。4.能协助消除180º不唯一性复杂衍射把戏是（）。A.高阶劳厄斑；B.超构造斑点；C.二次衍射斑；D.孪晶斑点。5.菊池线可以协助（）。A.估计样品厚度；B.确定180º不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.对旳测定晶体取向。6.假如单晶体衍射把戏是正六边形，那么晶体构造是（）。A.六方构造；B.立方构造；C.四方构造；D.A或B。鉴定题1.多晶衍射环和粉末德拜衍射把戏同样，伴随环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。（）2.单晶衍射把戏中所有斑点同属于一种晶带。（）3.由于孪晶是同样晶体沿孪晶面两则对称分布，因此孪晶衍射把戏也是衍射斑点沿两则对称分布。（）4.偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是由于S=0时是对旳满足布拉格方程，因此衍射强度最大。（）5.对于未知晶体构造，仅凭一张衍射把戏是不能确定其晶体构造。还要从不一样样位向拍摄多幅衍射把戏，并根据材料成分、加工历史等或结合其他措施综合鉴定晶体构造。（）6.电子衍射和X射线衍射同样必需严格符合布拉格方程。（）填空题电子衍射和X射线衍射不一样样之处在于不一样样、不一样样，和不一样样。电子衍射产生复杂衍射把戏是、、、和。偏离矢量S最大值对应倒易杆长度，它反应是θ角布拉格方程程度。单晶体衍射把戏标定中最关键一步是。二次衍射可以使密排六方、金刚石构造把戏中在产生衍射把戏，但体心立方和面心立方构造把戏中。名词解释偏离矢量S180º不唯一性菊池线高阶劳厄斑第七章选择题1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（）。A.明场像；B.暗场像；C.中心暗场像；D.弱束暗场像。2.当t=5s/2时，衍射强度为（）。A.Ig=0；B.Ig<0；C.Ig>0；D.Ig=Imax。3.已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它布氏矢量是（）。A.b=（0-10）；B.b=（1-10）；C.b=（0-11）；D.b=（010）。4.当第二相粒子和基体呈共格关系时，此时成像衬度是（）。A.质厚衬度；B.衍衬衬度；C.应变场衬度；D.相位衬度。5.当第二相粒子和基体呈共格关系时，此时所看到粒子大小（）。A.不不小于真实粒子大小；B.是应变场大小；C.和真实粒子同样大小；D.远远不小于真实粒子。鉴定题1.实际电镜样品厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（）2.厚样品中存在消光距离ξg，薄样品中则不存在消光距离ξg。（）3.明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。（）4.晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观测到这个缺陷。（）5.等厚消光条纹和等倾消光条纹一般是形貌观测中干扰，应当通过愈加好制样来防止它们出现。（）填空题运动学理论两个基础假设是和。对于理想晶体，当或持续变化时衬度像中会出现或。对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起导致衍射波振幅增长了一种，不过若=2π整数倍时，缺陷也不产生衬度。一般状况下，孪晶和层错衬度像所有是平行，但孪晶平行线，而层错平行线是。实际位错线在位错线像，其宽度也大大不不小于位错线像宽度，这是由于位错线像宽度是宽度。名词解释中心暗场像等厚消光条纹和等倾消光条纹不可见性判据应变场衬度第八章选择题1.仅仅反应固体样品表面形貌信息物理信号是（）。A.背散射电子；B.二次电子；C.吸取电子；D.透射电子。2.在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮区域是（）。A.和电子束垂直表面；B.和电子束成30º表面；C.和电子束成45º表面；D.和电子束成60º表面。3.可以探测表面1nm层厚样品成分信息物理信号是（）。A.背散射电子；B.吸取电子；C.特性X射线；D.俄歇电子。4.扫描电子显微镜配置成分分析附件中最常见仪器是（）。A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电子谱仪；D.特性电子能量损失谱。5.波谱仪和能谱仪相比，能谱仪最大长处是（）。A.迅速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格廉价。鉴定题1.扫描电子显微镜中物镜和透射电子显微镜物镜同样。（）2.扫描电子显微镜辨别率关键取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（）3.扫描电子显微镜衬度和透射电镜同样取决于质厚衬度和衍射衬度。（）4.扫描电子显微镜具有大景深，因此它可以用来进行断口形貌分析观测。（）5.波谱仪是逐一接受元素特性波长进行成分分析；能谱仪是同步接受所有元素特性X射线进行成分分析。（）填空题电子束和固体样品互相作用可以产生、、、、、等物理信号。扫描电子显微镜放大倍数是扫描宽度和扫描宽度比值。在衬度像上颗粒、凸起棱角是衬度，而裂纹、凹坑则是衬度。辨别率最高物理信号是为nm，辨别率最低物理信号是为nm