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文档简介

1半加成法流程简介一、MSAP流程减薄铜→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→去膜→快速蚀刻缺点减铜的均匀性要求较高,需控制在90%以上1半加成法流程简介一、MSAP流程2半加成法流程简介减薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um2半加成法流程简介减薄铜皮品质要求3

半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图3半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图4半加成法流程简介二、MSAP流程

超薄铜箔压合→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→去膜→快速蚀刻4半加成法流程简介二、MSAP流程5半加成法流程简介超薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um5半加成法流程简介超薄铜皮品质要求6半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影1.PTH厚度>0.7um以上2.压膜前处理不可用微蚀3.干膜厚度30~35um4.干膜的附着能力是制程的关键因素5.注意显影后干膜与铜的结合力以及干膜feet的大小6半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→7半加成法流程简介电镀制程管制重点:如何避免电镀夹膜1.电镀均匀性2.高低电流对铜厚的影响3.一般多使用VCP7半加成法流程简介电镀8半加成法流程简介去膜如果space<25um,一般无机的去膜液无法去除干净,必须用有机去膜液。8半加成法流程简介去膜9半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素–铜皮厚度–铜牙深度–space宽度9半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素10半加成法流程简介制程关心的要素EtchingRate–线路铜厚咬蚀量–线路减缩量10半加成法流程简介制程关心的要素11

半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图11半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图12半加成法流程简介

三、MESSER流程

超薄铜箔压合→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→电镀镍→去膜→快速蚀刻→剥镍12半加成法流程简介三、MESSER流程13半加成法流程简介超薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um13半加成法流程简介超薄铜皮品质要求14半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影1.PTH厚度>0.7um以上2.压膜前处理不可用微蚀3.干膜厚度30~35um4.干膜的附着能力是制程的关键因素5.注意显影后干膜与铜的结合力以及干膜feet的大小14半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光15半加成法流程简介电镀铜制程管制重点:如何避免电镀夹膜1.电镀均匀性2.高低电流对铜厚的影响3.一般多使用VCP15半加成法流程简介电镀铜16半加成法流程简介电镀镍制程管制重点:电镀镍厚约1um16半加成法流程简介电镀镍17半加成法流程简介去膜如果space<25um,一般无机的去膜液无法去除干净,必须用有机去膜液。17半加成法流程简介去膜18半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素–铜皮厚度–铜牙深度–space宽度18半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素19半加成法流程简介剥镍:–对铜面攻击小–剥镍速度快19半加成法流程简介剥镍:20半加成法流程简介一、MSAP流程减薄铜→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→去膜→快速蚀刻缺点减铜的均匀性要求较高,需控制在90%以上1半加成法流程简介一、MSAP流程21半加成法流程简介减薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um2半加成法流程简介减薄铜皮品质要求22

半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图3半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图23半加成法流程简介二、MSAP流程

超薄铜箔压合→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→去膜→快速蚀刻4半加成法流程简介二、MSAP流程24半加成法流程简介超薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um5半加成法流程简介超薄铜皮品质要求25半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影1.PTH厚度>0.7um以上2.压膜前处理不可用微蚀3.干膜厚度30~35um4.干膜的附着能力是制程的关键因素5.注意显影后干膜与铜的结合力以及干膜feet的大小6半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→26半加成法流程简介电镀制程管制重点:如何避免电镀夹膜1.电镀均匀性2.高低电流对铜厚的影响3.一般多使用VCP7半加成法流程简介电镀27半加成法流程简介去膜如果space<25um,一般无机的去膜液无法去除干净,必须用有机去膜液。8半加成法流程简介去膜28半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素–铜皮厚度–铜牙深度–space宽度9半加成法流程简介Flashetch咬蚀量决定因素29半加成法流程简介制程关心的要素EtchingRate–线路铜厚咬蚀量–线路减缩量10半加成法流程简介制程关心的要素30

半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图11半加成法流程简介MSAP制作后的线路切片图31半加成法流程简介

三、MESSER流程

超薄铜箔压合→钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影→镀铜→电镀镍→去膜→快速蚀刻→剥镍12半加成法流程简介三、MESSER流程32半加成法流程简介超薄铜皮品质要求1.铜牙<1um2.不可以有针孔3.铜厚:1~3um13半加成法流程简介超薄铜皮品质要求33半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光→显影1.PTH厚度>0.7um以上2.压膜前处理不可用微蚀3.干膜厚度30~35um4.干膜的附着能力是制程的关键因素5.注意显影后干膜与铜的结合力以及干膜feet的大小14半加成法流程简介钻孔→Desmear/PTH→压膜→曝光34半加成法流程简介电镀铜制程管制重点:如何避免电镀夹膜1.电镀均匀性2.高低电流对铜厚的影响3.一般多使用VCP15半加成法流程简介电镀铜35半加成法流程简介电镀镍制程管制重点:电镀镍厚约1um16半加成法流程简介电镀镍36半加成法流程简介去膜如果space<25um,一般

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