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文档简介

ICT

目的:建立

ICT

程式优化、机器故障排除规范,作为

PEB

技工使用操作之依据。

范围:本公司测试技工

职责:PE

部:技工负责程式优化、ICT

在线维护

ICT

简介:、ICT:In

,

.

,、ICT

测试内容:

PCB

PCBA

IC

ICT

的特点:

、公司

ICT

型号:

ICT

JET

1.

电阻量测+

(1)

单个

R

利用(欧姆定律),则

Rx

信号源

取恒流

量回Vx.

即可算出

Rx

值.

小电阻(50

欧姆以内)四线量测:小电阻两端各下两支探针,1-4

号探针的接触阻抗分别

R1-R4,

Ra,Rb,Rc,Rd分别为四次测试之量测值

信号源

RxC

Ix

取恒压(),量回

Ix,算出

Rx

值.

信号源取交流电压源,用相位法辅助.

,Rx L2.

电容及电感量测

|Y’|Cosθ,

故并|Y’|=I’x/Vs:,

故CxLxCxRLxR

(1)

单个

C,L(

取恒定交流压源

л求得:ллfLx

,

求得:лfIx()

(Mode

):用相

位法辅助,|Y’|Sinθ即ωCx’Sinθ=ω求得:Cx=Cx’Sinθ,(Cx’=Ix’/2л|Y’|Sinθ即

θ/ωCx’=1/ω求得:Lx=Lx’/Sinθ,(Lx’=Vs/2лfIx’),

.

,

.

,

.

.3.跳线测试:

FUSE,

WIRE,

4.

量测

PN

(1)信号源

可程式电压源,

导通电压;

差异是在测试电压源不同,其电压源为

程式电压源.

脚是使用二极体的测试方法,(3)E-C

错误.5.量测

Open/Short:即以阻抗判定,先对待测板上所有

Pin

点进行学习,R<25Ω即归为

Short

Group,然后

Test

时进行比较,R<5Ω判定为

Short,R>55Ω判为

Open.

隔离的实现:VA

VA

V B

V A

相接元件一相接元件二

VB

I

相接件一相接元件二

VB

V

.

.

测试点7.2

试程式測試原理為從

,然後從

讀回量測值,由於缺件或反插,其量測值很低接近

,所以只比較下限,上限Don’t

care。

,建議值為

,依實際

後決定

:固定為

:建議值為

,可依實際

後決定Mode

:

固定為

適用於防爆電容

:固定為

PX

:電容負端

:電容正端

:依實際

後決定

7.3

除错规则將

/

相同的電容放在一起,例如

都是

,所以測試程式如下:

時可交換

若交換

量測值差異不大可調整

若交換

量測值皆很低,可能是第三端接觸問題,可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜,可用換針或扶正待測電容方式解決

治具製作時第三端選用測試針,需考慮相同位置待用料的高度差異,以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題

三端電容量測是用來檢測缺件及反向,無法檢測錯件

可利用量測分析工具

決定較佳标准值,

调试(Debug)流程:将

ICT

蜂窝板上,锁紧治具固定螺丝,使其不会松动,将压床点动调整

顺序将治具与开关板连接起来;

将治具的测试程序

COPY

入计算机,并调出;将测试程序检查一遍,未经过排序的,要先排序。要按JP-电阻电容电感二极管-IC

学习之前,将状态参数里面的测试时基改为

, DELAY更改为

;置良品板于治具上,将压床压下即可开始学习;学习完毕后要存盘。七、ICT

技巧与方法:、先将待测板测试一遍,然后可进入“EDIT”DEBUG;、对于JP

DEBUG则比较简单,只要判定其有无点号,有无

OK。一般“JP

ACT-VAL

定为“2JP”上限为“”;、电阻的

DEBUG,则会比较复难,可按以下几步调试:)于小电阻,如零欧姆电阻,ACT-VAL

可用

欧姆,然后上限为“”下限为“”即可,对于几欧姆或零点欧姆小电阻,若客户要求用四线测试,则

需做

线测试,未做要求的就可将线阻及机器内阻加零件值作为标准值,上限可放宽;Ω)电阻

DEBUG

更改延迟时间,高低

PIN

对调,加隔离点等几种方法,可结合实际情况,具体分析处理;)GUARDING

点对于电阻的

DEBUG

外一点作

GUARDING

欧姆以上,电阻的隔离,加

点很有效果;)电阻隔离的目的是将量测到的较少的值隔离成大的,使之更接近于实际值,若该电阻量测的结果很大,超出实际值,则要提出疑问,起的,等待。)对于并联的电阻,若两电阻阻抗相差不是很大,则用并联值作标点的注明“”)电阻并联大电容的情况,用定电流的方法测试会不稳定且测试时)对于单项测试稳定,整页测试不稳定的组件可移到程序的最前面测试,电阻的上下限一般设为

,大电阻可适当放大一些。八、具体元件程式

方法:

Fail

%限),

电阻在

E[编辑下,ALT-X查串联元件,ALT-P查并联元件。据此选好“信号”()和串联最少元件的

,并

ALT-F7

选择

。R//C:Mode2

Dly

R//D(or

R//R:Std-V

取并联阻值.R//L:Mode3、4、5,根据

Zl=2πfL,故

L

一定时,若

f

越高,则

Zl

越大,则对

R

影响越小.2.

电容在[编缉]下一般根据电容值大小,选择相应的Mode。如小电

nF

级)可选低频

ALT-F7

选择隔离。3uF

以上大电容,可以

Mode4、8

直流测试。C//C:Std-V

取并联容值C//R:Mode5、6、7,由

Zc=1/2лfC,故

C

一定f

越高,Zc

越小,则

R

的影响越小。C//L:Mode5、6、7,并且

f

越高效果越好。3.

电感F8

测试,选择

Mode0、1、2

中测试值最接近L//R:Mode

5、6、7。

PN

结F7

自动调整,一般

PN

正向

以上)。D//C:Mode1

及加

Delay。

以上)以免

反插时误判。:

选不低于

崩溃电压,若仍无法测出崩溃电

(),另

HV

模式测试。

电晶体、

结电压两步测试可判断

),

),

),并可

饱和电压以下,注意

偏置电压,越大

越易进入饱和,但须做

反向判断须为截止

以上,否则应调小

。ICT

ICT

IC

IC

VCC

IC

PCB

PCB

PCB

PCB

容、IC

9、ICT

硬体问题:

开关板:B若有

B*

C*表示

,请记录并通知

TRI。C*有可能为治具针点有

造成。

系统自我检测:有

R、

可能为

板故障.有

、L

可能

AC

可能

,也请记录并通知供应商。

70%有效

九、注意事项:、小电容的测试通常用“”或“”模式,若量测结果过大,则需加

GUARDING

点使

OFFSET

值不要太大,否则量测没有意义另外电容隔离

VCC

效果明显。倘若小电容与大电空并联,则小电容可

SKIP

掉,不需测试,即便测试也会不稳定,又找不出问题;、大电容的量测,若用“DC”模式不稳定,可考虑用

RANGE“+1”去试,或加长延迟时间;、电容的上下限一般为,小电容的上限可适当放宽,下限要小一些;方法,实际值送

电压,标准值送电流,则模式会变为

CM,适当加长

DELAY,并调整实际值电压,使正反电流偏差较大;其二,

三端测试法,即在电解电容顶部加多一根针

,高

PIN

为顶部针点,低PIN为负极针点,隔离点为正极针点.实际值送电压,标准值为左右,并适当加长DELAY,使反向时接近于、电感的测试最好用两种方法:其一

,当作跳线测试,其二测其感量

,这样既可测出电感的缺件错件

,也可测到短路

,上下限可放宽;(DT”

,还可用”LV”(0(

RANGE“+1还可将实际值电容提高,直到可测出反插及漏件;二极管并联的情况,可加做电流的测试,即用“

CM”模式,实际值可送左右电压,并适当加长延迟时间,上下限可为

;、三极管除了测两个

结外,要加做饱和电压测试,即三端测试法,要注意是

型的还是

模式和

P

模式;尤其是基点要找正确,否则饱和电压测不出,一般 型实际值电压送

左右,

型送

,若饱和电压测不出,可往下调整电压;、IC

的测试首先要找准该

IC

VCC

,并在IC

编辑里分别注明(可按

键),若IC

HP TESTJET

测试的,还要注明该

IC

PORT

可进入零件编辑,根据需要进行

IC

的学习。注意:) IC

学习后,可能会有些

IC

脚的量测

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