ICT-入门培训流程规范要点

ICT

目的：建立

ICT

程式优化、机器故障排除规范，作为

PEB

技工使用操作之依据。

范围：本公司测试技工

职责：PE

部：技工负责程式优化、ICT

在线维护

ICT

简介：、ICT：In

,

.

,、ICT

测试内容：

PCB

PCBA

IC

、

ICT

的特点：

、公司

ICT

型号：

ICT

JET

1.

电阻量测+

(1)

单个

R

利用（欧姆定律），则

Rx

信号源

取恒流

—

量回Vx.

即可算出

Rx

值.

小电阻(50

欧姆以内)四线量测：小电阻两端各下两支探针，1-4

号探针的接触阻抗分别

R1-R4,

Ra,Rb,Rc,Rd分别为四次测试之量测值

信号源

RxC

Ix

取恒压（），量回

Ix，算出

Rx

值.

信号源取交流电压源，用相位法辅助.

，Rx L2.

电容及电感量测

|Y’|Cosθ,

故并|Y’|=I’x/Vs：,

故CxLxCxRLxR

(1)

单个

C,L（

取恒定交流压源

л求得：ллfLx

,

求得：лfIx（）

或

（Mode

）：用相

位法辅助，|Y’|Sinθ即ωCx’Sinθ=ω求得：Cx=Cx’Sinθ，(Cx’=Ix’/2л|Y’|Sinθ即

θ/ωCx’=1/ω求得：Lx=Lx’/Sinθ，(Lx’=Vs/2лfIx’),

.

,

.

,

.

.3.跳线测试：

FUSE,

WIRE,

4.

量测

PN

(1)信号源

可程式电压源,

导通电压;

差异是在测试电压源不同,其电压源为

程式电压源.

脚是使用二极体的测试方法,(3)E-C

错误.5.量测

Open/Short：即以阻抗判定,先对待测板上所有

Pin

点进行学习,R<25Ω即归为

Short

Group，然后

Test

时进行比较，R<5Ω判定为

Short，R>55Ω判为

Open.

隔离的实现：VA

VA

元

元

V B

V A

相接元件一相接元件二

VB

I

相接件一相接元件二

VB

～

V

.

.

测试点7.2

试程式測試原理為從

送

，然後從

讀回量測值，由於缺件或反插，其量測值很低接近

，所以只比較下限，上限Don’t

care。

：

，建議值為

：

，依實際

後決定

：固定為

–

：建議值為

，可依實際

後決定Mode

:

固定為

或

適用於防爆電容

：固定為

PX

：電容負端

：電容正端

：依實際

後決定

：

7.3

除错规则將

/

相同的電容放在一起，例如

的

及

都是

及

，所以測試程式如下：

時可交換

及

若交換

及

量測值差異不大可調整

或

若交換

及

量測值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜，可用換針或扶正待測電容方式解決

治具製作時第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差異，以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題

三端電容量測是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯件

可利用量測分析工具

決定較佳标准值,

调试(Debug)流程：将

ICT

蜂窝板上，锁紧治具固定螺丝，使其不会松动，将压床点动调整

顺序将治具与开关板连接起来；

将治具的测试程序

COPY

入计算机，并调出；将测试程序检查一遍，未经过排序的，要先排序。要按JP-电阻电容电感二极管-IC

、

学习之前，将状态参数里面的测试时基改为

， DELAY更改为

；置良品板于治具上，将压床压下即可开始学习；学习完毕后要存盘。七、ICT

技巧与方法：、先将待测板测试一遍，然后可进入“EDIT”DEBUG；、对于JP

的

DEBUG则比较简单，只要判定其有无点号，有无

OK。一般“JP

ACT-VAL

定为“2JP”上限为“”；、电阻的

DEBUG，则会比较复难，可按以下几步调试：）于小电阻，如零欧姆电阻，ACT-VAL

可用

欧姆，然后上限为“”下限为“”即可，对于几欧姆或零点欧姆小电阻，若客户要求用四线测试，则

需做

四

线测试，未做要求的就可将线阻及机器内阻加零件值作为标准值，上限可放宽；Ω）电阻

DEBUG

更改延迟时间，高低

PIN

对调，加隔离点等几种方法，可结合实际情况，具体分析处理；）GUARDING

点对于电阻的

DEBUG

外一点作

GUARDING

欧姆以上，电阻的隔离，加

点很有效果；）电阻隔离的目的是将量测到的较少的值隔离成大的，使之更接近于实际值，若该电阻量测的结果很大，超出实际值，则要提出疑问，起的，等待。）对于并联的电阻，若两电阻阻抗相差不是很大，则用并联值作标点的注明“”）电阻并联大电容的情况，用定电流的方法测试会不稳定且测试时）对于单项测试稳定，整页测试不稳定的组件可移到程序的最前面测试，电阻的上下限一般设为

，大电阻可适当放大一些。八、具体元件程式

方法：

Fail

%限），

电阻在

E[编辑下，ALT-X查串联元件，ALT-P查并联元件。据此选好“信号”（）和串联最少元件的

，并

ALT-F7

选择

。R//C：Mode2

及

Dly

R//D（or

R//R：Std-V

取并联阻值.R//L：Mode3、4、5，根据

Zl=2πfL，故

L

一定时，若

f

越高，则

Zl

越大，则对

R

影响越小.2.

电容在[编缉]下一般根据电容值大小，选择相应的Mode。如小电

nF

级）可选低频

ALT-F7

选择隔离。3uF

以上大电容，可以

Mode4、8

直流测试。C//C：Std-V

取并联容值C//R：Mode5、6、7，由

Zc=1/2лfC,故

C

一定f

越高，Zc

越小，则

R

的影响越小。C//L：Mode5、6、7，并且

f

越高效果越好。3.

电感F8

测试，选择

Mode0、1、2

中测试值最接近L//R：Mode

5、6、7。

PN

结F7

自动调整，一般

PN

正向

以上）。D//C：Mode1

及加

Delay。

以上）以免

反插时误判。：

选不低于

崩溃电压，若仍无法测出崩溃电

（），另

HV

模式测试。

电晶体、

之

结电压两步测试可判断

），

），

），并可

饱和电压以下，注意

为

偏置电压,越大

越易进入饱和，但须做

反向判断须为截止

以上，否则应调小

。ICT

ICT

IC

IC

VCC

IC

PCB

PCB

PCB

PCB

容、IC

9、ICT

硬体问题：

开关板：B若有

B*

C*表示

有

，请记录并通知

TRI。C*有可能为治具针点有

造成。

系统自我检测：有

R、

项

可能为

板故障.有

、L

项

可能

AC

板

有

项

可能

，也请记录并通知供应商。

70%有效

九、注意事项：、小电容的测试通常用“”或“”模式，若量测结果过大，则需加

GUARDING

点使

OFFSET

值不要太大，否则量测没有意义另外电容隔离

VCC

效果明显。倘若小电容与大电空并联，则小电容可

SKIP

掉，不需测试，即便测试也会不稳定，又找不出问题；、大电容的量测，若用“DC”模式不稳定，可考虑用

RANGE“+1”去试，或加长延迟时间；、电容的上下限一般为，小电容的上限可适当放宽，下限要小一些；方法，实际值送

电压,标准值送电流,则模式会变为

CM,适当加长

DELAY,并调整实际值电压,使正反电流偏差较大;其二,

三端测试法,即在电解电容顶部加多一根针

,高

PIN

为顶部针点,低PIN为负极针点,隔离点为正极针点.实际值送电压,标准值为左右,并适当加长DELAY,使反向时接近于、电感的测试最好用两种方法：其一

,当作跳线测试,其二测其感量

,这样既可测出电感的缺件错件

,也可测到短路

,上下限可放宽；（DT”

,还可用”LV”(0（

RANGE“+1还可将实际值电容提高，直到可测出反插及漏件；二极管并联的情况，可加做电流的测试，即用“

CM”模式，实际值可送左右电压，并适当加长延迟时间，上下限可为

；、三极管除了测两个

结外，要加做饱和电压测试，即三端测试法，要注意是

型的还是

模式和

P

模式；尤其是基点要找正确，否则饱和电压测不出，一般 型实际值电压送

左右，

型送

，若饱和电压测不出，可往下调整电压；、IC

的测试首先要找准该

IC

的

VCC

及

，并在IC

编辑里分别注明（可按

键），若IC

做

HP TESTJET

测试的，还要注明该

IC

的

PORT

可进入零件编辑，根据需要进行

IC

的学习。注意：） IC

学习后，可能会有些

IC

脚的量测