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椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率PB05210465实验目的：了解椭偏仪测量薄膜参数的原理.初步掌握反射型椭偏仪的使用方法.实验原理：椭圆偏振光经薄膜系统反射后，偏振状态的变化量与薄膜的厚度和折射率有关，因此只要测量出偏振状态的变化量，就能利用计算机程序多次近定出膜厚和折射率。参数1.按调分光计的方法调整好主机.2.水平度盘的调整.3.光路调整.4.检偏器读数头位置的调整和固定.5.起偏器读数头位置的调整与固定.6.测量值与理论值之间存在一定的误差误差分析：实验测得的折射率较理论值偏小，厚度 d 的误差相对较大，其可能原因有：1.待测介质薄膜表面杂质较多（有三处较明显的），影响了其折射率。2.在开始的光路调整时，没有使二者严格共轴，造成激光与偏振片、1/4 波片之间不是严格的正入射，导致测量的折射率与理论值存在偏差。3.消光点并非完全消光，所以消光位置只能由人眼估测，所以可能引入误差。4.调整水平度盘时采用的是目测也给实验带来一定的误差。5.仪器的精度也限制了实验的准确性 。思考题：1本次实验的难点在于实验原理的理解，经过仔细的分析，得出实际可测量的物理量来解极为复杂的方程，设计的巧妙构思值得学习；另外，实验过程中，每一步

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