智能卡测试系统技术指标

1、智能卡测试系统技术指标智能卡测试系统包含非接触式智能卡测试模块、接触式智能卡测试模块和接触式智能卡协议分析模块。非接触式智能卡测试模块技术指标要求自动化测试平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO14443协议的测试环境，操作系统为WindowsXPsp3,Vistal,Win7.测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种通信接口，操作系统为Windows,以达到良好的驱动兼容性测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台可以与其他接触式卡及诺卡器测试套件同步运用主要功能要求模拟非接触式卡片测试仪，支持ISO14443的Typ

2、eA,TypeB,T=CL协议以及防碰撞，支持数据速率为106,212,424,828kbps支持Innovatron协议支持ISO/IEC15693协议，可选数据速率有高速和低速，米用的编码模小1-4和1-256产.支持Mifare协议，支持的类型有classic,light,Ultralight,UltralightC支持FeliCa协议，支持的数据速率为212-424kbps支持NFC测试，遵守NFCForum规范，支持的测试传输模式为：tag模式(tag1-tag4)，读写模式，对等模式。支持的数据传输速率为106,212,和424kbps底层数据扑捉和解析即使没有任何协议封装的数据也

3、可以展示其底层交换帧可编程笏物理参数磁场强度可调调幅指数，从0%-100%场强上升时间，0-5ms载波频率，12.56MHz-14.56MHz调制的上升或下降时间，0-10us逻辑参数TypeA的暂停时间范围，0-4.4ms帧等待时间ETU可调TypeB的帧时钟周期可调传输速度为106,212,424,848kbps电气测试可进行共振频率的测试其范围为11-24MHZ可进行芯片阻抗测试，在13.56MHz的条件下实际测量可进行磁场测量其范围为0-8A/m可进行EMD测试逻辑测试自动测试其分为以下几部分：发送TypeA的指令，等待处理判断，发送TypeB的指令并接收应答可进行的测试（对于Type

4、B卡）；发送TypeB的指令，等待处理判断，发送TypeA的指令等待应答（对于TypeA卡）转换磁场，等待判断，发送（A或B的指令），接收应答发送请求，等待，发送请求，接收应答防撕裂PICC重置表征监测最小的FDT逻辑测试通过API控制测试响应时间的测量（FDT,TR0,TR1）发送的标准帧发送畸形的块（错误的比特数）距离的模拟检测分离RX通道允许通信使用射频放大器传统调制比率可测触发器测试仪提供多种触发器，同步的或由外部实验设备进行同步软件开发可用元素,MPSDK.Net库，通信Dll支持的开发语言：C,C+,VB,.NET等任何支持Dll的开发语言。接触式智能卡测试模块技术指标要求自动化测

5、试平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为WindowsXPsp3,Vistal,Win7.测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows,以达到良好的通讯兼容性可一次开发的测试平台，可集成到客户自己的测试平台可以与其他非接触式卡及诺卡器测试设备同步运用主要功能要求支持协议ISO7816-3,T=0和T=1协议MicroSmart技术实现硬件加速传输和接收的字符支持USB2.0,ISO/IEC7816-12大批量存储以及自定义的协议支持SWP协议，满足规范ETSITS10

6、2613和TS102622，支持SWP,HCI层同步芯片存储晶体可用的库包括T2G,Eurochip,SLE4442,SLE4407,AT24CXX可实现自定义协议的开发可实现硬件加速支持底层数据扑捉和解析即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧可编程笏数物理参数：电压VCC支持范围：0-10VVol支持范围：0-5V,其在每一个触点上的值都可独立调整Voh支持范围：1-7V,其在每一个触点上的值都可独立调整Vil支持范围0.2-5VVih支持范围1-6.8V频率ISO7816时钟频率的范围：10KHz-20MHzISO7816时钟占空比为30%-70%信号的上升和下降时间触点VCC范

7、围为20ns-1.8V/ms触点c2,c3,c4,c6,c7,c8范围为10ns-5um所有的pin脚都是相互独立的可以单独处理ISO7816的传输参数ETU宽度范围：1-4096个时钟周期BGT,初始ETU宽度，时钟周期可调BWT,CWT,EGT,RGT,WWT,ETUs可调时钟停在局低电平可倜时钟停止tG和tH计时，时钟周期可调奇偶控制可强行控制在0,1等奇数输入奇偶错误检查可以被禁止45千欧或者20千欧的固定上拉电阻可以模拟1千欧到100千欧之间的任何值SWP传输参数波特率为49kbps到1.9MbpsSWP的占空比为0%-50%SWPS2的检测阈值为1USB-IC传输参数USB-IC特

8、有的附件程序由测试者管理提供的供电电压为1.8V和3.0V可进行的测试电气测试开路/短接测试有效触点为C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,C8强制电流为：-500uA-500uA漏电测试有效触点为C1,C2,C3,C4,C6,C7,C8测量范围+/-5mA或者+/-500UA电压测量有效触点为C1,C2,C3,C4,C6,C7,C8电压范围为+/-10V可用模式：动态模式，提供一模拟视角的电压在你选择电压时供你选择静态模式，提供一个即时电压值爆炸模式，512000电压测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号图像化模拟出来电流测量有效触点：C1,C2,C3,C4,C6,C7,C8有效电

9、流范围：+/-100mA,+/-25mA,+/-5mA,+/-500mA电流模式：动态模式，提供一模拟视角的电流在你选择电流时供你选择静态模式，提供一个即时电流在所选触点上爆炸模式，512000电流测量在40ns之间在C1和C6间进行，使信号图像化模拟出来逻辑测试抗撕裂测试，模拟芯片免疫系统抵抗撕毁诺卡器定时测量，测量芯什个命令的响应并发I/O测试，同时发送的字符ISO/IEC7816和SWP,与一个用户定义的时间偏移量SWP框架测试，发送的帧由点/位组成，使发送的数据没有位填充，或CRC错误接触式智能卡协议分析模块技术指标要求自动化测试平台提供基于可二次开发的测试环境，提供测试过程交互数据和

10、命令的自动解析和图形化显示功能，基于ISO7816协议的测试环境，操作系统为WindowsXPsp3,Vistal,Win7.测试环境支持USB、TCP/IP、RS232三种接口，操作系统为Windows,以达到良好的驱动兼容性可作为第三方监测接触式误卡器和卡之间的ISO7816协议的数据并解析测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台可以与其他卡及误卡器测试套件同步运用丰要功能支持协议ISO7816-3,T=0和T=1协议，支持波特率范围为6要求49kbps-1.9Mbps可实现块级和LCC级的解析支持USB2.0,ISO/IE07816-12大批量存储以及自定义的协议同步芯片存储晶体可用的库包括T2G,Eurochip,SLE4442,SLE4407,AT24CXX可实现自定义协议的开发可实现硬件加速可编程笏数ISO7816-3的协议分析模式：米用I/O方向的检测算法可进行的测试电气测试进行测试的有效触点为C1,06,07,样本数512000可能同时执行电压和电流的测量来表征卡和终端的特性解析特性测试类型的展示：逻辑状态的改变解析特点分析调制的波特率时钟频率的检测信号的模拟表示I/O方向信号显示：信号在01,02,03,04,06,07,C8上的显示触发输入触发