Minitab使用小结

1、Minitab使用小结(一)-正态分布图  CPK计算与正态图：过程能力数据分析 1、CPK：Complex Process Capability index的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。     制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。制程能力研究在于确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。   当我们的产品通过了Gage R&R的测试之后，我们

2、即可开始Cpk值的测试。   CPK值越大表示品质越佳。   CPK=Min(X-LSL/3s)，(USL-X/3s)(注“X为取样数据的平均值)   Cpk过程能力指数   CPK= Min(USL-Mu)/3s, (Mu-LSL)/3s  2、Cpk应用讲义： 1) Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2) 同Cpk息息相关的两个参数：C

3、a, Cp，其中Ca：制程准确度，Cp：制程精密度。 3) Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp*(1-Ca)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4) 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5) 计算取样数据至少应有2025组数据，方具有一定代表性。 6) 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上、下限(

4、USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7) 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差()，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U)： 规格公差T=规格上限USL规格下限LSL； 规格中心值U=(规格上限USL+规格下限LSL)/2； 8) 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2)，计算出制程准确度：Ca值；(X为所有取样数据的平均值) 9) 依据公式：Cp=T/6，计算出制程精密度：Cp值；(在EXCEL中使用函数STDEV选择取样的数据即可) 10) 依据公式：Cpk=

5、Cp*(1-|Ca|)，计算出制程能力指数：Cpk值          或   Cpk=Min(Cpu,Cpl)，其中Cpu=(USL-Average)/3；Cpl=(Average-LSL)/3 11) Cpk的评级标准：(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)   A+级 Cpk2.0 特优 可考虑成本的降低   A+ 级 2.

6、0  Cpk  1.67 优 应当保持之   A 级 1.67  Cpk  1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A级   B 级 1.33  Cpk  1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级   C 

7、级 1.0  Cpk  0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力   D 级 0.67  Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。  3、计算实例： 规定上限USL=0.253      规定下限LSL=0.247      Max=0.254  

8、60;   Min=0.247      x=0.007      avg=0.251       =0.002(可在EXCEL中使用函数STDEV选择取样的数据得到) 请计算CPU，CPL，CP，CPK四项。  计算公式及结果如下： 计算方法一： Cpu=(USL-Average)/3   

9、60;=(0.253-0.251)/(3*0.002)=0.33 Cpl=(Average-LSL)/3    =(0.251-0.247)/(3*0.002)=0.67 Cp=(USL-LSL)/6   =(0.253-0.247)/(6*0.002)   =0.5 Cpk=Min(Cpu,Cpl)    =Min(0.67,0.33)=0.33  计算方法二： X=avg=0.251 

10、;  T=USL-LSL=0.006    U=(USL+LSL)/2=0.250 Ca=(X-U)/(T/2)=(0.251-0.250)/(0.006/2)=0.33 Cp=T/6=0.006/(6*0.002)=0.5 Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.5*(1-0.33)=0.33  4、正态分布图表制作： 1) 将数据COPY到“工作表”的C1列中；若是横向(列)数据，可以使用数据堆叠列(将多列数据堆叠成一列)； 2) 选择所需需堆叠列C1-C30，堆叠后的数据可以存储在“新的工作表”中或就储存在“当前工作表”的某一列中，如第一列