JIS_Z_3060-2002钢焊缝超声波探伤试验方法

1、Z 3060：2002修改1994编制1975钢焊缝的超声波探伤试验方法Method for ultrasonic examination for welds of ferritic steel1. 适用范围 本标准规定了厚度为6mm以上的铁素体系钢的完全焊透焊缝，采用根本表示是脉冲反射法的超声波探伤仪以下，称为探伤仪。实施手动超声波探伤试验以下，称为探伤。时的检出方法、位置、及尺寸的测量方法。但是，本标准不适用于钢管制造工序中的接头焊接区。2. 引用标准 以下所示的标准是本标准的引用标准，是本标准规定的一局部。这些引用标准适用其最新版含追补。 JIS Z 2300 无损试验用语 JIS Z

2、2345 超声波探伤试验用标准试块 JIS Z 2350 超声波探头的性能测定方法 JIS Z 2352 超声波探伤装置的性能测定方法3. 定义 本标准使用的主要用语定义除了JIS Z 2300规定的以外，如下所示。a胶 胶状的接触媒质。b甘油胶 在甘油中参加少量的界面活性剂及增粘剂的接触媒质。c探头与缺陷距离 指斜角探伤上把从得到最大回波高度位置上的入射点到缺陷的波束路程投影在探伤面上的距离。d L方向 L方向是轧制钢材的主轧制方向。e C方向 C方向是垂直主轧制方向的方向。f Q方向 Q方向是距主轧制方向45的方向。g STB音速比 使横波的振动方向与试验体的探伤方向一致，测出的横波音速V

3、和用A1形STB或是A3形系STB测出的横波音速VSTB的比V/VSTB。h STB折射角度差 探伤折射角和用A1形STB或是A3形系STB的标准试块测出的STB折射角STB的差。i 最大透射脉冲 指用V透射法扫查试验体，振幅变成最大时的透射脉冲。j 缺陷的指示长度 根据探头的移动距离推定的缺陷的表观长度。4. 技术人员 从事焊缝探伤的技术人员是具备探伤的原理及铁素体系钢焊缝的相关知识并且是具有丰富的探伤知识及经验的人员。5. 标准试块及比照试块5.1 标准试块 在本标准中使用的标准试块STB是JIS Z 2345中规定的A1形标准试块、A2形系标准试块及A3形系标准试块。5.2 比照试块 比

4、照试块RB用于调整灵敏度。a RB-411） RB-41用于探伤平板接缝焊接区及曲率半径是250mm以上的接缝焊接区，形状如图1所示，尺寸表1所示。2） RB-41是下面的任意一种。2.1)在均质的衰减材料没有带探伤面加工后的曲率的。2.2和试验体同样的钢种在探伤面的状态下满足以下条件的没有带曲率的。 条件：厚度是试验体的10%以内并且和试验体的音速差在2%以内。b RB-42 RB-42用于探伤和探伤方向垂直的方向上有曲率，曲率半径为50mm以上的环焊焊缝，形状见附件3图2所示，尺寸见表1所示。c RB-43 RB-43用于探伤和探伤方向平行的方向上有曲率，曲率半径为50mm以上的纵焊缝，形

5、状见附件4图3所示，尺寸见表1所示。d 其他的比照试块 RBA6用于探伤和探伤方向垂直方向上有曲率，曲率半径为50mm以上的环焊焊缝，在使用最大的波束路程150mm以下的场合下使用RB-A6，参照附件3图3。表1 RB-41、RB-42、RB-43的尺寸 单位mm试块的编号试块的厚度t比照试块的厚度T标准孔的直径d20以下191或是t1超过20 40以下381或是t1超过40 80以下751或是t1超过80 140以下1251或是t1超过140 200以下1751或是t16.超过200 250以下2251或是t1超过250t1注1 的22.1的试块及的22.2的试块6. 接触媒质 接触媒质是使

6、用甘油胶、浓度为75%以上的甘油水溶液、水、油或是声阻抗透明的液体。接触媒质的种类及垂直探头的延迟材或是斜角探头的斜楔的材质在使用以下组合时探伤面的最大外表粗糙程度在未满100的场合不需要补偿传递损失。a 接触媒质的种类 甘油胶、浓度为75%以上的甘油水溶液b 延迟材及斜楔的材质 聚苯乙烯7. 探伤试验的准备7.1 探伤方法的选定 焊缝的探伤在没有特殊指定时，使用将超声波波束垂直焊缝方向的单探头斜角方法，用直接接触法进行。斜角方法的斜平行扫查、焊缝上扫查、交叉扫查或垂直法适用于有特殊指定的地方。当探伤面上带有垂直的坡口面或钝边、板厚为20mm以上完全焊透焊缝时，串列探伤法适用于特殊指定位置。

7、比照试块或是标准试块的选定 斜角探伤时试块的选定 调整探伤灵敏度时预先选定RB-41、RB-42、RB-43、附件3图3所示RB-A6或A2形系标准试块中的任意一个。但是，变成探伤面的试验体板厚是75mm以上的场合或根据STB音速比的测定结果选定的折射角为表4的探伤折射角的场合，选定RB-41、RB-42、RB-43中的任意一个。而且，当使用的最大波束路程为150mm以下时，可以选定A2形系标准试块。 垂直探伤时试块的选定 使用RB-41调整探伤灵敏度。根据使用的最大波束路程选定探伤面的标准孔位置。7.3 频率的选定 使用公称频率为2MHz以上5MHz以下。作为标准使用的频率，斜角探伤的场合参

8、照表2，垂直探伤的场合参照表3. 还有，在探伤超声波衰减显著的试验体时，可以使用比表2及表3规定的频率低的。 试验频率在公称频率的90110%范围内。频率特性是宽带的探头根据JIS Z 2350的5.试验频率的测定测定试验频率，根据JIS Z 2350的8.时间应答特性的测定测定最大值。表2 斜角探伤用公称频率使用的最大波束路程mm公称频率MHz100以下5超过100 150以下2或5超过1502表3 垂直探伤用公称频率使用的最大波束路程mm公称频率MHz40以下5超过4027.4 检出标准的选定 检出标准是按照探伤目的根据绘制的以超过M线为对象的M检出标准或是以超过L线为对象的L检出标准中的

9、任何一个。7.5 探伤时期 在施工图纸上有焊接后热处理等指定场合的探伤时间为最终热处理后。7.6 探伤面的修整 除去探伤面上的飞溅物及水锈。当探伤面的粗糙度，锈及涂料的影响传递损失超过12dB的场合，要加工到不超过12dB的范围。7.7 母材的探伤 在斜角探伤时通过超声波局部的母材，根据需要预先进行垂直探伤。使用的探头在板厚为60mm以下的场合，公称频率为5MHz、20mm，板厚超过60mm的场合，公称频率为2MHz、30mm。探伤灵敏度为健全部的第1次底面回波高度的80%。缺陷范围是回波高度超过20%的。检出缺陷的场合要进行记录。缺陷的范围在100mm2以上时阻碍探伤。 检出阻碍探伤的缺陷时

10、，在探伤上变成问题时，根据需要波束中心轴要通过整个焊缝改变探伤面或是折射角实施探伤，或是改用垂直探伤或其他探伤方法进行探伤。7.8 和STB音速比的测定 STB音速比的测定条件 STB音速比的测定条件如下所示。a 测定对象部位为探伤部位。b 测定时间在焊接后并且要在和探伤时的温度同样程度的状态下进行。c 每个探伤部位的测定部位为1处，但是可以根据试验体的状况追加。 和STB的音速比的测定装置 和STB音速比的测定装置如下所示。a STB音速比V/VSTB的测定使用能测定板厚或是波束路程的有效数字为3位以上精度的超声波装置可以使用横波垂直探头的超声波测厚仪或超声波探伤仪及在试验体中使横波垂直传播

11、的横波垂直探头。b 板厚的测定使用能测定有效数字为3位以上精度的纵波探头纵波垂直探头或双振子形纵波垂直探头的超声波测厚仪或是尺寸测量仪。c 在横波垂直探头上表示振动方向。d 根据横波垂直探头的测定使用横波用的接触媒质。 使用试块及试验体 使用以下试块测定STB音速比a 使用A1形标准试块、A2形系标准试块或是A3形系标准试块中的任意一个。b 试验体为变成探伤面的试验体。 试验体的探伤方向确实认 在测定STB音速比，用横波垂直探头和超声波测厚仪或是超声波探伤仪的组合确认探伤方向和L、C及Q方向的关系。探伤方向是L或是C方向的场合及没有方向引起的横波音速差异的场合参照7.8.5、7.9及7.10.

12、1的方法，但是Q方向的场合参照7.10.2的方法。 STB音速比的测定方法 STB音速比的测定根据以下任意一个方法测定。a用超声波测厚仪的场合 通过使用纵波探头的超声波测厚仪或尺寸测量仪测定的试验体及STB的板厚分别为tM(mm),tSM(mm)。而且，在超声波测厚仪上使用横波垂直探头的振动方向和试验体的探伤方向要一致，得到的板厚及STB得到的板厚分别为tS(mm),tSTB(mm)。将这些比用下面的公式求出保存到小数点以下三位，将其作为STB音速比。V/VSTB =tMtSTB/tSM tSb 用超声波探伤仪的场合 根据使用纵波探头的超声波测厚仪或尺寸测量仪测定的试验体及STB的板厚分别为t

13、M(mm),tSM(mm)。而且，在超声波探伤仪上使用横波垂直探头的振动方向和试验体的探伤方向要一致，得到的第1次底面回波的波束路程及STB得到的第1次面回波的波束路程分别为WS(mm),WSTB(mm)。将这些用下面的公式求出保存到小数点以下三位，将其作为STB音速比。V/VSTB =tMWSTB/tSM WS7.9 音速比折射角的选定 由和SIB的音速比的测定结果根据表4选定探伤用的折射角。但是，在用公称折射角45度的探头探伤时不管STB音速比STB折射角为43以上47以下。 还有，根据探伤用探头的折射角和STB的音速比，是STB折射角的场合可以替换为探伤折射角。而且，在试验体的板厚超过7

14、5mm5V/VSTB时可以使用STB折射角6971。 表4 选定和STB的音速比的折射角试验体的板厚mm和STB的音速比探伤用折射角6t250V/VSTBSTB折射角63以上72以下0.990 V/VSTB探伤折射角63以上72以下V/VSTB探伤折射角63以上72以下25t755V/VSTBSTB折射角58以上72以下1.015 V/VSTB探伤折射角58以上72以下V/VSTB探伤折射角58以上72以下75 V/VSTB探伤折射角58以上67以下V/VSTB探伤折射角58以上67以下7.10 探伤折射角的计算方法 探伤折射角的计算按照以下任意一个计算。 根据STB音速比计算 根据使用探头的

15、STB折射角及STB音速比V/VSTB，通过以下公式计算探伤折射角单位以下的按要求保存。=sin-1 根据V透射法计算 使用和探伤用斜角探头同样形式的探头，在试验体的探伤面上用图2所示的V透射法的配置调整探头位置以得到最大透射脉冲强度。根据此时的入射点间距离Y及实测板厚t用以下公式计算探伤折射角单位以下的按要求保存。=tan-1 (Y/2t)8. 超声波探伤装置的调整及检查8.1 斜角探伤 入射点的测定 用A1形标准试块及A3形系标准试块测定入射点。入射点用1mm单位读取。 测定范围的调整 用A1形标准试块或是A3形系标准试块调整测定范围。 STB折射角及探伤折射角的测定a STB折射角的测定

16、 用A1形标准试块或是A3形系标准试块测定STB折射角。STB折射角在探伤作业的环境温度下测定，单位以下按要求读取。STB折射角在公称折射角的2的范围内使用。b 探伤折射角的测定 探伤折射角的测定是测定STB音速比、STB折射角折射角的计算方法实施。但是在附件规定补偿探伤折射角的场合，按照规定进行。 回波高度区分线的绘制a 回波高度区分线是用使用的探伤仪及探头绘制。 还有，使用波束路程范围的测绘点的回波高度和事前绘制的回波高度区分线的差异如果在2dB以内那么可以使用这个。 绘制的回波高度区分线记录在刻度板上或在指示器上表示。b 使用RB-41，绘制回波高度区分线时，使用RB-41的标准孔。使用

17、A2形系标准试块绘制回波高度区分线时，使用44mm的标准孔。c 在绘制回波高度区分线时，在图3及图4表示的位置上扫查探头，将各个最大回波高度测绘在刻度板上，连接各点绘制回波高度区分线。d 绘制回波高度区分线包含刻度板的10%100%的范围。e 到波束路程的最短标绘点的范围是水平线。f 回波高度区分线的条数是复数或1条，复数的场合，绘制3条以上相差6dB的回波高度区分线。 回波高度区分线是1条时，在刻度板的20%100%的范围绘制。绘制1条的例如如图3的c所示。 区域区分的规定a H线、M线及L线的规定 在上绘制的回波高度区分线中，至少选择从下数第3根以上的线作为H线，将此作为调整探伤灵敏度的基

18、准线。 将比H线低6dB的回波高度区分线作为M线，低12dB的回波高度区分线作为L线。 L线在评价缺陷回波的波束路程的范围内，其高度不能是10%以下的线参照图5。 回波高度区分线的条数是1条时，根据用1档6dB升降增益，依次读成H线、M线及L线。b 回波高度的区域区分H线、M线及L线区分的各个区域如表5所示。表5 回波高度的区域区分回波高度的范围回波高度的区域L线以下超过L线M线以下超过M线H线以下超过H线 探伤灵敏度的调整 探伤灵敏度的调整可用RB-41或A2形系标准试块中的任意一个。a 用RB-41的场合 标准孔的回波高度是调整增益与H线相吻合，按照需要增加灵敏度补偿量，将其条件作为探伤灵

19、敏度。 灵敏度补偿量的求法参照附件26。灵敏度补偿量的合计值在2dB以下的场合，也可以不补偿灵敏度。b 用A2形系标准试块的场合 使用公称折射角70时，44mm的标准孔的回波高度是调整增益与H线相吻合，按照需要增加灵敏度补偿量，将其条件作为探伤灵敏度。 使用公称折射角65时，44mm的标准孔的回波高度是调整增益与M线相吻合，按照需要增加灵敏度补偿量，将其条件作为探伤灵敏度。使用公称折射角45时，44mm的标准孔的回波高度是调整增益与H线相吻合后，提高增益6dB，按照需要增加灵敏度补偿量，将其条件作为探伤灵敏度。 灵敏度补偿量的求法如附件26所示。c 斜平行扫查、交叉扫查及焊缝上扫查的探伤灵敏度

20、根据交易双方当事人之间的协定。 探伤装置的测定、调整及检查 开始作业时测定及调整入射点、STB折射角、测定范围及探伤灵敏度。并且，这些在作业开始后每4小时以内检查一次，确认其条件。在不能维持条件时，按表6及表7进行处理。表6 不能维持灵敏度场合的处理变化的范围处理的内容4dB以下再调整继续作业。超过4dB降低再调整，再次进行之前的调整或检查以后实施的试验。超过4dB增加再调整，对之前的调整或检查以后实施的试验发现的缺陷的指示部进行再试验。表7 不能维持测定范围场合的处理变化的范围处理的内容2%以下再调整继续作业。超过2%再调整，再次进行在之前的调整或检查以后实施的试验。8.2 垂直探伤 测定范

21、围的调整 用A1形标准试块等调整测定范围。 回波高度区分线的绘制a 回波高度区分线用使用的探伤仪及探头绘制。 还有，使用波束路程范围的测绘点的回波高度和事前绘制的回波高度区分线的差异如果在2dB以内也可以使用。 绘制的回波高度区分线在刻度板上记录或是在指示器上表示。b 绘制回波高度区分线时，如图6所示，在、的位置上设置探头，在刻度板上曲线绘制各个最大回波高度的峰值位置。c 如图7a及图7b所示，用各自的一定的探伤灵敏度将测绘出的4点在刻度板上用直线连接，作为一个回波高度区分线。d 回波高度区分线的条数为复数或1条，复数的场合，绘制3条以上各相差6dB的回波高度区分线。 区域区分的规定 区域区分

22、和8.1.5规定的一样，如图8那样决定。 探伤灵敏度的调整 RB-41的标准孔的回波高度是调整增益与H线相吻合，按照需要增加灵敏度补偿量，将其条件作为探伤灵敏度。 探伤装置的调整及检查时间 在作业开始时调整测定范围及探伤灵敏度。并且这些在作业开始后每4小时以内检查一次，确认其条件。在不能维持条件时，按表6及表7进行处理。8.3 串列探伤 测定范围的调整 根据单探头法用A1形标准试块或A3形系标准试块，将测定范围调整为相当试验体大约1声程的波束路程后将试验体用V透射法扫查，将得到的最大透射脉冲的波束路程用标识器等刻印在刻度板上。 公称折射角及STB折射角 板厚20mm以上不满40mm的场合公称折

23、射角为70，板厚40mm以上的场合公称折射角为45，发射信号及接收信号的探头各个STB折射角的差异在2以下。 回波高度区分线的绘制 在探伤仪的刻度板上，预先设置图9的回波高度区分线。刻度板40%高度的线为M线，比其低6dB的线为L线，高6dB的线为H线。 区域区分的决定 区域区分和8.1.5规定的一样，如图9那样决定。图9 回波高度区分线和区域区分的例如 探伤灵敏度的调整 探伤灵敏度的调整是在试验体的健全部用V透射法进行扫查，最大透射脉冲调整增益与M线相吻合后，根据板厚附加表8所示的增益值，将其条件作为探伤灵敏度。表8 附加的增益值板厚探伤范围附加的增益值20mm以上不满40mm全体板厚16d

24、B40mm以上不满75mm全体板厚10 dB75mm以上从外表到t/410 dB超过t/4到t/212 dB超过t/2到里面14 dB 探伤装置的测定、调整及检查时间 在作业开始时测定及调整入射点、STB折射角、测定范围及探伤灵敏度。并且这些在作业开始后每4小时以内检查一次，确认其条件。在不能维持条件时，按表6及表7进行处理。9. 探伤试验9.1 斜角探伤a扫查方法 探头的扫查方法是按照不漏掉缺陷的方法进行。而且，在下面的扫查方法中，虽然通常使用Z形扫查，但对于用Z形扫查容易遗漏的横向裂纹等，由交易双方当事人间协议后使用交叉扫查或焊缝上扫查等。1 转角扫查 在超声波斜角探伤中，相对于焊缝改变超

25、声波波束的方向，以探头的入射点为中心旋转探头的扫查方法参照图10。2环绕扫查 在超声波斜角探伤中在以缺陷为中心的圆周上探头向着中心摆动，相对于缺陷改变超声波波束方向的扫查方法参照图10。3Z形扫查 在超声波斜角探伤中，探头在进行带有摆动的前后扫查的同时平行于焊缝移动探头的扫查方法参照图11。4 左右扫查 在超声波斜角探伤中，以一定间隔和焊缝平行移动探头的扫查方法参照图12。串列探伤的场合称为左右串列扫查。5 前后扫查 在超声波斜角探伤中，以一定间隔和焊缝垂直移动探头的扫查方法参照图12。串列探伤的场合称为前后串列扫查。6斜平行扫查 是斜角探伤交叉扫查的一种简便方法，只用1个探头，相对于焊缝成一

26、定角度放置探头并平行于焊缝移动探头的扫查方法参照图13。7 焊缝上扫查平行扫查 在超声波斜角探伤中，为了检出横向裂纹等缺陷，将探头放置在削除堆高的焊接部及热影响部上，将超声波对着焊缝方向并沿焊缝移动探头的扫查方法。参照图14。8 交叉扫查 在斜角探伤中为检出纵向裂纹等缺陷，在焊缝的两侧各放置一个探头并同时移动探头的扫查方法双探头法的一种参照图15。b作为评价对象的缺陷 作为评价对象的缺陷是调整为各附件规定的探伤灵敏度，在M检出标准的场合，是最大回波高度为超过M线的缺陷，在L检出标准的场合，是最大回波高度为超过L线的缺陷。回波高度区分线是1条时，调整增益旋钮使使用的波束路程范围的回波高度区分线成

27、为检出标准。c)回波高度的区域将探头放在显示最大回波高度的位置上，读取其最大回波高度所在区域。在不同折射角或不同探伤面上检出一个缺陷的场合，回波高度区域是最高区域。d)缺陷指示长度缺陷指示长度是在显示最大回波高度的探头焊接区距离左右扫查，回波高度超过L线的探头的移动距离。该长度用1mm单位测量。该场合，虽然进行前后扫查，但是不进行转角扫查。但是，当使用频率是2MHz的探头时，是超过最大回波高度的1/26dB的探头的移动距离。在不同折射角或不同探伤面上检出一个缺陷的场合，分别求出始端和终端，将这些间隔的最大长度作为缺陷的指示长度。回波高度区分线是1条时，调整增益旋钮使使用波束路程的范围的回波高度

28、区分线为L线，进行测量。e)缺陷位置的表示缺陷位置如图16所示，在截面上的位置是用在显示最大回波高度的探头的位置上获得的缺陷的深度及与焊缝成直角方向的位置表示。在焊缝和平行方向上的位置是用显示最大回波高度的探头的位置和缺陷的指示长度的始端及终端表示。f)缺陷的指示高度测量缺陷的指示高度在特别必要的场合参照附件8。a)扫查方法探头的扫查方法是不能遗漏缺陷地实施扫查。b)作为评价对象的缺陷作为评价对象的缺陷是调整为规定的探伤灵敏度，M检出标准的场合是最大回波高度超过M线的缺陷，L检出标准的场合是最大回波高度超过L线的缺陷。c)回波高度的区域将探头放置在显示最大回波高度的位置上，读取其最大回波高度所

29、在区域。d)缺陷指示长度缺陷的指示长度是以显示最大回波高度的位置为中心，扫查其周围，回波高度超过L线的探头的移动距离长径。但是，接触探头的局部的板厚是75mm以上，使用频率是2MHz的探头时的缺陷指示长度是超过最大回波高度的1/26dB的探头的移动距离。该长度是以1mm为单位测量的。e)缺陷位置的表示缺陷位置如图17所示，在截面上的位置是用在显示最大回波高度的探头的位置上获得的缺陷的深度表示，在焊缝和平行方向上的位置用显示最大回波高度的探头的位置和缺陷的指示长度的始端及终端表示。9.3 串列探伤a) 探伤的方法1划参照线 在实施串列探伤的焊缝上，焊接前在距坡口面一定的距离L划参照线。2双探头基

30、准线的决定 从探伤面到串列基准线的距离L是根据被当作试块的探伤面使用侧的板厚t及收发信号的探头的STB折射角T及R根据以下的式子求出。如图18所示距参照线距离L的位置上决定串列基准线。 3探头的配置 在距串列基准线的等距离上配置收发信号的探头的入射点。4进行探伤的面与方向 进行探伤的面与方向是指在对焊接缝的场合是单面、焊接局部的两侧；在T接缝及角接缝的场合是单面、焊接局部的单侧。5扫查方法 探头的扫查方法是根据图12的左右串列扫查或前后串列扫查。b) 作为评价对象的缺陷 作为评价对象的缺陷是调整为中规定的探伤灵敏度，M检出标准的场合是最大回波高度超过M线的缺陷，L检出标准的场合是最大回波高度超

31、过L线的缺陷。c) 回波高度的区域 在表示最大回波高度的位置放置探头，读取其最大回波的高度所在区域。d缺陷的指示长度 缺陷的指示长度是以表示最大回波高度的位置为中心，进行左右扫查及前后扫查，M检测标准的场合是回波高度超过M线范围的探头的移动距离；L检测标准的场合是回波高度超过L线范围的探头的移动距离。该长度以1mm为单位测量。e) 缺陷位置的表示 缺陷位置如图19所示断面的位置用在表示最大回波高度的探头的位置XP获得的缺陷深度d及在焊缝的直角方向的位置k来表示，与焊缝平行方向的位置用在表示最大回波高度的探头的位置XP及缺陷的指示长度l的始端XS以及终端XE表示。10. 记录 进行了探伤之后记录

32、以下必要的工程。a) 试验年月日b) 施工或制造者姓名c) 工程或制品名称d) 试验编号或符号 图19 串列探伤的缺陷位置的表示e) 试验技术者的署名及资格f) 材质及尺寸g) 焊接方法及坡口形状h) 使用的探伤仪名称、性能及检查日期和时间i) 使用的探头、性能及检查时间j) 使用的比照试样或标准试样k) 比照试样的厚度、曲率、探伤面的状态及STB音速比l试块的探伤面的状态及修理方法m) 探伤范围n) 接触介质o公称频率及试验频率p) 公称折射角及STB折射角q) STB音速比及其测量方法r) 探伤折射角及其算出方法s) 测量范围t) 回波高度区分线u) 探伤灵敏度v) 灵敏度补偿量w) 检验

33、水准x) 表示最大回波高度的焊缝方向的探头位置、探头焊接局部距离、波束路程、最大回波高度领域、缺陷的指示长度、缺陷的深度、垂直焊缝方向的位置及缺陷的指示长度的始端或终端。y) 合格与否及其基准z) 使用了DAC回路时进行如下的记录。 1探伤仪名称及DAC使用时的性能 2) 探头的制造编号及DAC使用时的性能 3DAC的起点调整距离 4DAC的倾斜值 5DAC使用时的回波高度的区分线aa) 应用了串列探伤法时进行以下的记录。1） 无法探伤的区域2） 探伤工装的规格3） 串列基准线的位置4） 缺陷的板厚方向的位置深度ab) 其他的事项指定事项、协议事项、参会、抽样方法等。附件1规定超声波探伤装置的

34、机能及性能1. 适用范围 本附件是规定有关本标准中使用的超声波探伤装置的机能及性能。2. 探伤仪 探伤仪的必要机能根据以下。a) 可以使用探伤仪的任意一种的单探头法、双探头法。b) 增值调整器1档是1dB以下，合计的调整量为70dB以上。c) 辅助刻度板画有回波高度区分线等，便于拆装，而且因视差造成的测量误差要小。d) 在连续调整的旋钮中有的与时间轴相关，对使用中可能动的旋钮，应备锁定机构。e) 与宽带域探头组合使用的探伤仪能显示或输出RF波形。 探伤仪的必要性能根据以下。a) 放大线性在JIS Z 2352的放大直线性测量、为3%的范围内。b) 时间轴的线性在JIS Z 2352的时间轴直线

35、性测量、为3%的范围内。c) 灵敏度的充裕值在JIS Z 2352的垂直探伤的灵敏度充裕值测量、为40dB以上。d) 对电源电压变动的稳定度在额定电压范围内灵敏度的变化在1dB的范围内、纵轴、时间轴及DAC的起点的移动量为满刻度的2%的范围内。2.3 DAC机能 附加DAC回路的探伤仪也可以使用DAC机能。 探伤仪的有关所示的a)c)的事项根据JIS Z 2352的5.定期检查，在装置购入时及12个月以内进行检查，确认能维持的规定性能。3. 探头3.1探头的必要机能 探头的必要机能根据以下。a) 探头要适合使用的探伤仪。b) 为了方便地测量入射点，在斜角探头的两侧设置间距1mm的引导刻度。c)

36、 斜角探头的振子的公称尺寸为55mm以上2020mm以下。作为标准使用的公称尺寸根据附件1表1。但是，串列探伤上使用的探头的振子的公称尺寸未特别规定。d) 垂直探头的振子为圆形，其公称直径为10mm以上30mm以下。作为标准使用的公称直径根据附件1表2。附件1表1 斜角探头的公称频率 附件1 表2 垂直探头的公称频率与与标准使用的振子的公称尺寸 标准使用的振子的公称直径公称频率MHz振子的公称尺寸mm 21414，2020 555，1010公称频率MHz振子的公称直径mm220，28510 斜角探头的必要性能根据以下。a) 接近限界长度在附件1表3所示的数值以内。附件1表3 接近限界长度振子的

37、公称尺寸mm接近限界长度mm202025141420101015557但是，串列探伤使用的最小探头的入射点距离为公称频率为5MHz、公称折射角为45的探头的场合为20mm以下，在70的场合时，入射点间的距离为27mm以下，在2MHz、45的场合时入射点间的距离是25mm以下。b) 公称折射角为40、45、60、65或70。c) 和使用的探伤仪匹配测量H线的噪音水平，在使用的波束路程的范围内SN的比为22dB以上。d) 远距离分辨率是组合使用的探伤仪，根据JIS Z 2352的斜角探伤的分辨率测量，在附件1表4所示的数值以下。但是，当公称频率为2MHz及5MHz以外时远距离分辨率为8mm以下。e

38、) 盲区是组合使用的探伤仪时，根据JIS Z 2350的盲区测量，在附件1的表5所示的数值以下。但是，在公称频率为2MHz及5MHz以外的时未作规定。振子的公称尺寸为55mm的场合，用使用的探伤灵敏度测量。对串列探伤使用的探头的盲区未作规定。附件1表4 斜角探头的远距离分辨率 附件1表5 斜角探头的盲区公称频率MHz分辨率mm29以下55以下公称频率MHz振子的公称尺寸mm盲区mm21414202025155551010815f) 波束中心轴的偏心用JIS Z 2350的波束中心轴的偏心与偏心角的测量方法测量，该角度不能超过2。 垂直探头的必要性能根据以下。a) 噪音等的回波高度是组合使用的探

39、伤仪，以使用的探伤灵敏度，是显示器 刻度的10%以下。b) 远距离分辨率是组合使用的探伤仪，是根据JIS Z 2352的垂直探伤的远距离分辨率来测量，在附件1表6所示的数值以下。但是，当公称频率为2MHz及 5MHz以外的情况时远距离分辨率为8mm以下。c) 盲区是由使用的探伤灵敏度从发射脉冲或外表回波的上升点开始，之后边缘的高度在最后到达20%的点的长度，用钢中的距离读出。公称频率为5MHz盲区的值为8mm以下，公称频率为2MHz盲区的值为15mm以下。 斜角探头是在附件1表7规定的时间对所示的事项进行检查，确认能维持规定的性能。附件1表6 垂直探头的远距离分辨率 附件1表7 斜角探头的性能

40、检查时间公称频率mm分辨率mm29以下56以下检查工程检查时间波束中心轴的偏移SN比接近限界长度远距离分辨率盲区购入时及进行补修之后试验频率购入时3.5 垂直探头的性能检查 垂直探头是在购入时及至少每月1次对所示的事项进行检查，确认能维持规定的性能。4. 串列探伤的工装 串列探伤的工装是指能配置发射及接收用的2个探头，并且能左右串列扫查或前后串列扫查。附件2规定 平板接缝焊接部的探伤方法1. 适用范围 本附件是有关平板对焊接缝焊接部、T接缝焊接部、角接缝焊接部、探伤面的曲率半径为1000mm以上的环焊缝焊接部以及1500mm以上的纵向焊缝焊接部的超声波探伤试验方法的规定。2. 使用的比照试样及

41、标准试样 使用的比照试样及标准试样如正文的5.所示的RB-41或STB。但是，探伤横向波音度与STB不同的试块指使用正文的表4的探伤折射角的STB音速比的范围的试块。时，探伤灵敏度的调整使用RB-41。3. 使用的探头 使用的探头根据正文的表4及附件1的3.。另外，试块的板厚超过75mm时，除了选择正文表4的折射角之外，并用公称折射角45。4. 探伤装置的调整 测量范围的调整根据正文的、或。4.2入射点、STB折射角及探伤折射角的测量 入射点的测量根据正文的。STB折射角及探伤折射角的测量根据正文的。4.3回波高度区分线的绘制 回波高度区分线的绘制根据正文的、或。4.4灵敏度补偿量的求法 在斜

42、角探伤上的灵敏度的补偿量用以下所示方法求出。a) 调整为使用的测量范围后，用双探头法使用探伤上使用的探头及与此相同形式的探头。b) 在实际的试块上，如附件2图1的a)所示配置，调节探头间的距离使透射脉冲到达最高。将该最大透射脉冲高度定为50%，读取增益的值VdB。c) 在比照试样或A2形系标准试样上如附件2图1的b)所示配置，根据与上述的b)相同的顺序，将透射脉冲的高度定为50%读取增益的值V1dB及V2dB.d) 两者的波束路程不一致的场合，如附件2图1的c)所示读取试块上的波束路程的前后的波束路程上的V的值。e) 将V-V的值作为灵敏度的补偿量。 探伤灵敏度的调整根据正文的、或。 5. 探

43、伤方法 探伤面根据附件2表1。T接缝及角接缝的场合是适用于单探头斜角探伤法时的探伤面是开坡口侧的构件面。此外，外表与侧面如附件2的图2表示。附件2表1 探伤面接缝的种类使用的最大波束路程mm频率探伤面探伤方法对焊接缝150mm以下2或5MHz单面两侧直射法及1次反射法超过150mm250mm以下2MHz单面两侧直射法及1次反射法超过250mm2MHz两面两侧直射法T接缝150mm以下2或5MHz单面单侧直射法及1次反射法超过150mm250mm以下2MHz单面单侧直射法及1次反射法超过250mm2MHz两面单侧直射法角接缝(闭合断面的场合)150mm以下2或5MHz单面单侧直射法及1次反射法超

44、过150mm250mm以下2MHz单面单侧直射法及1次反射法超过250mm2MHz单面单侧直射法及1次反射法 5.2探伤方向 探伤方向是指为了防止因缺陷的倾斜漏看了缺陷，如附件2图35所示在2个方向以上的超声波波束的方向进行的方法。5.3扫查方法 探头的扫查方法用正文的)的扫查方法中的3的Z形扫查，尽量不要漏看缺陷进行扫查。 附件2图5 闭合断面的角接缝焊接部的探伤方法6. 缺陷位置的推断方法 检验出缺陷时的缺陷位置根据探头焊接部距离、波束路程及与正文的的STB的音速比从选定的折射角中推断。附件3规定环焊缝焊接部的探伤方法1. 适用范围 本附件是有关探伤面的曲率半径为50mm以上不到1000m

45、m的环焊缝焊接部的超声波探伤试验方法的规定。2. 使用的比照试样及标准试样2.1 试样的适用范围 比照试样及标准试样是根据探伤装置的调整作业工程及试块的曲率半径按照附件3图1使用。 另外，代替正文的表1及正文的图1的RB-41，可以使用RB-A6。2.2 比照试样RB-42 比照试样RB-42的形状与尺寸如附件3图2所示。 另外，RB-42为以下任意种。a) 是均质低衰减材料，和加工后的探伤面的探伤方向垂直的方向上带有曲率的。 附件3图2 RB-42的例子这里，L：比照试样的长度 比照试样的长度根据使用的波束路程。 进行灵敏度补偿的V透射的长度或其2倍以上的长度。L1：5/4声程以上的长度，4

46、0mm以上。T： 比照试样的厚度W：试样的宽度 W2S/D S：使用的最大波束路程 D：振子的宽度b) 与试块是同一钢种，在探伤面的状态下满足以下条件、且带有曲率的。条件：厚度及曲率为试块的10%以内并且与试块的音速差为2%以内。2.3 比照试样RB-A6 比照试样RB-A6的形状及尺寸如附件3图3以下，孔的前端角度为118及孔的角不需倒角。另外，RB-A6的厚度及曲率是试块的10%以内及与试块的音速差为2%以内。 这里，L： 比照试样的长度 比照试样的长度根据使用的波束路程。 是进行灵敏度补偿的V透射的长度或其2倍以上的长度。L1T： 比照试样的厚度W：试样的宽度、60mm以上。3. 使用的

47、探头3.1 探头的接触面 不进行探头的接触面的曲面加工。曲率半径为250mm以下的场合，为了使探头的接触稳定最好使用工装。3.2 探头的公称折射角 使用的探头的公称折射角根据正文的表4。 另外，试块的板厚超过75mm时，除了选择正文的表4折射角之外，还并用公称折射角45。4. 探伤装置的调整4.1 测量范围的调整 测量范围的调整采用A1形标准试样或A3形系标准试样进行，根据正文的。4.2 入射点及探伤折射角的测量 根据正文的及正文的测量入射点及探伤折射角。4.3 回波高度区分线的绘制 采用RB-41、RB-42的场合 采用RB-41、RB-42场合的回波高度区分线根据正文的。 采用RB-A6的

48、场合 回波高度区分线是采用使用的探头，根据正文的用以下的顺序绘制。但是，绘制探伤横向波音速与STB不同的试块时的回波高度区分线采用RB-41。a) 在刻度板上测绘出0.5声程与1.0声程或1.0声程与1.5声程的最大回波高度的最高位置，用直线连接这几个两点。b) 从0.5声程的点开始向左水准划线。4.4 根据曲率求出灵敏度补偿量的方法 采用RB-42及RB-A6的场合 采用RB-42及RB-A6时不进行灵敏度的补偿。 采用RB-41的场合a) 从外面探伤试块的场合 曲率半径为250mm以上从外面探伤时的灵敏度的补偿量根据使用的斜角探头的公称频率、振子的公称尺寸及接触媒介，从附件3图4及附件3图

49、5中用1dB的单位求出。b) 从内面凹面探伤试块的场合 1将与使用的斜角探头相同形式的2个斜角探头如附件3图6的b)所示相对排列，用V扫查T-R1的配置及3次反射的V扫查T-R2的配置调整探头间距离使透射脉冲到达最高。测绘求出的两个透射脉冲的峰值，用直线连接参照附件3图6的c。 2 与1相同的灵敏度如附件3图6的a)所示配合探伤方向配置2个探头，进行V扫查，调整探头间的距离使透射脉冲到达最高。之后在其波束路程上用1dB的单位四舍五入读取透射脉冲的高度差，将其作为灵敏度补偿量。 4.5 探伤灵敏度的调整 采用RB-A6的场合 为了使RB-A6的标准孔的回波高度与H线一致调整增益作为探伤灵敏度。但

50、是，横向波音速与STB音速不同的试块场合的灵敏度调整根据RB-41、RB-42进行。 采用RB-41、RB-42的场合 采用RB-41、RB-42场合的探伤灵敏度的调整根据正文的。 5. 探伤方法 5.1 探伤面 探伤面根据附件3表1。 5.2 探伤方向 探伤方向是为了防止因缺陷的倾斜而漏看了缺陷，用2个方向以上的超声波波束的方向进行的方法。 5.3 扫查方法 探头的扫查方法使用的a)扫查方法中的正文)的3Z形扫查，尽量不要漏看缺陷来进行。 6. 缺陷位置的推断方法 检测出缺陷时的缺陷位置是根据探头焊接部距离、波束路程及与正文的的STB的音速比从选择的音速比中推断折射角。附件3表1 探伤面内外

51、面的探伤面使用的最大的波束路程mm频率探伤面探伤方法仅外面可以探伤的场合150mm以下2或5MHz外面凸面两侧直射法及1次反射法超过150mm250mm以下2MHz外面凸面两侧直射法及1次反射法超过250mm2MHz外面凸面两侧直射法及1次反射法内外面都可以探伤的场合150mm以下2或5MHz外面凸面两侧直射法及1次反射法超过150mm250mm以下2MHz外面凸面两侧直射法及1次反射法超过250mm2MHz内外面凹凸面两侧直射法附件4规定纵向接缝焊接部的探伤方法1. 适用范围 本附件是有关探伤面的曲率半径为50mm以上不到1500mm，壁厚对外径比为16%以下的纵向接缝的焊接部的超声波探伤试

52、验方法的规定。2. 定义 本附件使用的主要用语的定义除了根据正文及JIS Z 2300之外还根据以下。a) 半壁厚波束路程 在有曲率的试块的斜角探伤上，连接探头的入射点的O与壁厚中央的点P的距离附件4图1的WG。在纵向接缝的斜角探伤上的半壁厚的波束路程不能是对壁厚的0.5声程的波束路程附件4图1的WL的。b) 半壁厚探头距离 是在有曲率的试块的斜角探伤上，把半壁厚的波束路程WG在试块外面投影的距离附件4图1的YG。在纵向接缝的斜角探伤上的半壁厚探头距离不能是对壁厚的0.5声程的探头距离附件4图1的YL的。c) 是对壁厚t的外径D的比。 3. 使用的标准试样及比照试样3.1 试样的适用范围 使用的标准试样及比照试样的适用范围按照试块的曲率半径根据附件4图2。