过程能力分析办法

1、过程能力分析办法文件编号:版本:1.0拟制:日期:审核:日期:批准:日期:xxxxxx有限公司过程能力分析办法编号：页数：9版本：1.01、目的通过统计过程控制来有效的了解过程变差并使之达到统计控制状态，在此状态下可以通过减少普通原因变差和改进过程中的目标来进一步改进，以减少成本并提高生产率；同时，为操作过程的人员之间、生产线和支持活动的人员之间提供了通用的语言，并为解决问题，采取正确有效的措施提供依据。2、适用范围计量型：Ppk、Cpk、Cm焕计分析；计数型：不合格品率的P图。3、术语CMK机器能力指数PPK过程性能指数CPK:过程能力指数4、职责开发部、制造部、质保部负责数据收集。质保部负

2、责进行数据分析、进行相应措施并跟踪。5、规定5.1 控制图的建立与分析在进行统计过程控制时，在本公司内最常用的方法是均值和极差图（X-R图）5.1.1 收集数据5.1.1.1 子组大小选择子组应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小。在本公司目前状态下，子组一般由4到5件连续生产的产品组合；5.1.1.2 子组频率在过程的初期研究中，通常是连续进行分组或很短的时间间隔进行分组，当子组已处于稳定状态时，子组的间隔时间可以增加；5.1.1.3 子组数的大小一般情况下，包含100或更多单值读数的25或更多个子组可以很好地用来检验稳定性。5.1.2 建立控制图X-R图表内还应包括单位名称

3、、机器名称/编号、控制卡名称、量具名称/编号、检验部门、零件名称/零件号、上干扰极限、下干扰极限、上警告极限、下警告极限、控制特性值、控制中心、抽样频次、样本大小等。通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏，数据栏应包括每个读数的空间，同时还应包括记录读数的和、均值、极差、以及日期/时间或其它识别子组的代码的空间。5.1.3 计算每个子组的均值和极差对于每个子组，计算：X1+X2+XnX=nR=X最大值X最小值式中：XI、X2为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。7 选择控制图的刻度对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值

4、应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差的2倍。7 画图将均值和极差分别画在其各自的图上，将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。7 计算控制限首先计算：R1+R+RKR=KX1+X2+-+X<X=K式中：K为子组的数量，R1和X1即为第1个子组的极差和均值，等等。为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围，对极差和均值的上、下控制限进行了计算：UCLr=D4RLCLr=D3RUCLx=X+A2RLCLx=X-A2R式中：D、Q、A2为常数，它们随样本容量的不同而不同，具体内容见附表:n2345678910D43.272.572.282.112

5、.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31计算后将平均极差和过程均值画成水平实线，各控制限画成水平虚线；把线上标上记号。5.3.1 数据点的分析R图和X图的分析应是独立统一的，即分别分析又比较分析。对于控制图上的数据点，存在以下现象时进行调查分析并采取相应措施：5.3.1.1 超出控制限的点一一出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状态的主要证据。5.3.1.2 连续7点位于平均值的一侧、连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降一一表明过程已改变或出现改变趋势。5.3.1.3

6、 明显的非随机图形：一般地，在约2/3的描点落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1/3的点落在其外的三分之二的区域。对于数据中的每一个显示处于失控状态的条件进行一次过程操作分析，以确定特殊原因的产生的理由，纠正该状态，并防止它再现。5.3.2 重新计算控制限当进行首次过程研究或重新评定过程能力时，在排除了已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点后，要重新计算并描画平均极差、过程均值和控制限。确保当与新的控制限相比时，所有的数据点看起来都处于受控状态，如有必要，重复以上程序。5、2过程能力与过程性能的理解及分析定义：过程固有变差：仅由于普通原因产生的那部分过程变差。过程总变差：由于普通和特殊两种

7、原因所造成的变差，本变差可用样本标准差S来估计。即：-2S=n(Xi-X)Ei=1n-1=o-s过程能力：仅用于统计稳定的过程，是过程固有变差的6(T范围，式中(T记为:RR/d2=R/d2过程性能：过程总变差的6b范围，式中b通常通过样本的标准差S计算而得，记为：osCp：能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达为：USL-LSLCp=6RR/d2PP:性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达为:USL-LSLPp=6(Ts般表达为:Cpu：上限能力指数，定义为上容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,USLCpu=3RR/d2Cpl:下限

8、能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达为：X-LSLCpl=3RR/d2Cpk:考虑到过程有无偏移的能力指数，定义为Cpu或Cpl的最小值。它等于过程均值与最近的规范限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即:USL-XXLSL或的最小值。3RR/d23RR/d2Ppk:是说明过程有无偏移的性能指数，定义为：USLXXLSL或的最小值。3（Ts3（Ts5.2.2理解与分析能力反映普通原因引起的变差，并且几乎总是要对系统采取管理措施来提高能力，并且通过连续监视控制图确保系统改进的有效性。一般地，所有能力量度指数必须满足以下四个条件：产生的数据过程处于统计稳定状态；过程数据的单

9、个测量值基本上处于正态分布；规范是以顾客要求为基础的；存在一种将计算的指数（或比值）看成为“真实”的指数（或比值）的意愿。为了符合顾客的要求，本公司对能力指数一般规定如下:Cp值的评定：容等式、Cp评定ACp>1.33过程稳定，可将规格容差缩小或胜任更精密的作业B1.00<Cp<1.33有发生不合格品的危险，须加强监控并迅速采取措施C0.83<Cp<1.00检查规格及作业规范，可能本过程不能胜任此项作业DCp<0.83应采取紧急措施，全面检查所后可能影响的因素，必要时停止生产.CPK®的评定:内容等级Cp评定ACpQ1.33过程能力足够。B1.00

10、<Cpk<1.33过程能力尚可CCpk<1.00过程应加以改善。Pp及PPK值评定:内容等级Pp、Ppk评定APp和Ppk>1.67该过程可能满足顾客要求.批准后，开始生产并按照已批准的控制计划进行.B1.33<Ppkw1.67该过程不能满足顾客要求.生产件批准后，从开始生产就对特性加以重视，直到实际的Cpk>1.33为止.CPpk<1.33该过程没有达到满足顾客要求的标准.必须优先进行过程改进并形成纠正措施文件.对于未满足的能力指数所要求作出的措施如下：a.通过减少普通原因引起的变差或将过程均值调整到接近目标值方法来改进过程性能，这通常意味着要采取管

11、理措施来改进系统；b.对于那些要采取紧急措施来满足短期需要的情况，可以用以下的临时办法:.对输出进行筛选，根据需要进行报废或返工处谿;改变规范使之与过程性能一致.5、3计量型控制图一一P图定义P图用来测量在一批检验项目中不合格品（不符合或所谓的缺陷）项目的百分数。使用前提建立一个用于行动的环境；定义过程。必须根据它与其它操作/使用者的关系，影响过程每个阶段的过程/要素（人、设备、材料、方法和环境）来理解过程；确定要管理的特性。将精力集中在对过程改进最有积极作用的那些特性上；定义测量系统；使不必要的变差变小。收集数据选择子组的容量，频率及数量；a.子组容量一一一般要求较大的子组容量以便检验出性能

12、的一般变化。b.分组频率一一应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。c.子组的数量一一收集数据的时间应足够长，使得能找到所有可能的影响过程的变差源。计算每个子组内的不合格品率P=nP/nn一一被检项目的数量np一一发现不合格项目的数量选择控制图的坐标刻度描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别（小时、天等）作为横坐标。横坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。计算控制限计算过程平均不合格率（P）:P=n1P1+n2P2+nkPk/n1+n2+nk式中：nP1,nP2及m,n2为每个子组内的不合格项目数及检查的项目数。计算上、下控制限

13、（UCLLCL）在实际生产过程中，当各子组容量与其平均值相差不超过正负25%寸（典型的处于相对稳定状态下的实际生产量），可用平均样本容量（n）来计算控制限。UCLp,LCLp=p±3p（1-p）/n当子组容量的变化超过上述值时，则要求单独计算这些特别小或特别大的样本时期内的控制限。数据点的分析对于控制图上的数据点，存在以下现象时进行调查分析并采取相应措施：超出控制限的点一一超出任一控制限就证明在那点不稳定。连续7点位于平均值的一侧、连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降一一表明过程已改变或出现改变趋势。明显的非随机图形：一般地，在约2/3的描点落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1/3的点落在其外的三分之二的区域。对于数据中的每一个显示处于失控状态的条件进行一次过程操作分析，以确定特殊原因的产生的理由，纠正该状态，并防止它再现。重新计算控制限当进行首次过程研究或重新评定过程能力时，在排除了已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点后，应重新计算控制限。计算过程能力计量型控制图的能力指的是将/或不将过程的中心调整到规范的目标值后，（稳定）过程产生的总的（固有的）变差。对于P图，过程能力是通过过程平均不合格品率P来表示，当所有点受控后才计算该值.评价过