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文档简介

1、OD-10无接触及连续的金属涂层薄片光密度测量系统一. 概况本系统通过测量薄片光学密度来测量绝缘材料（如塑料薄膜、纸张、玻璃等）上金属涂层的厚度和涂层均匀性。测量功能通过光学方式实现，所测得结果不是直接显示纳米厚度，而是显示为材料的光学密度。测量区域为直径约为5mm的圆形。可以并排安装多个测量传感器，每个之间的间距约为70mm。每对探测头之间的距离是27mm。测量范围为0-4.00 OD，可扩展至5.00 OD。二. 技术特点1. 功能发射器发射的红外线束穿过材料。材料上的金属涂层根据不同的光学密度吸收了相应的辐射能量。接收器能够监测穿过材料的红外强度。通过接口，信号可以从传感器处传出。材料的

2、光学密度由红外强度计算得出。整个测量系统可包含多达99对发射器-接收器，接口适配器和电源模块。发射器和接收器安装在铝制框架上，它们之间的距离是27mm。接口单元包含了微处理器控制，接口电源以及对串口的电绝缘功能。探测传感器可以安装在真空环境中，而接口单元则安装在真空室外。2. 机械构造发射器和接收器安装在铝制框架上。系统在发货前已经完成安装、连接和校准的工作。在框架的末端有一根线缆用于连接接口。框架的长度根据实际应用情况专门设计定制。该构造使得更换传感器对非常简单，连接外部接口的线缆也包含在内。3. 安装我方需要知道框架长度和所需要的探测头数量。我方负责产品的制造和组装工作。客户只需要将系统固

3、定到设备上面。4. 维护系统的构架使得拆卸某些部件如传感器、接口单元等非常简单，不需要拆开整个系统。而且整个系统的性能不会因为其中某个传感器失效而受到很大影响。5. 可选复合工作方式本光学探测系统可以和我司另一高频（涡流）测量系统配合使用。两个系统可以独立或者配合工作。高频（涡流）探测头和光学探测头可安装在同一个铝制框架上，信号将会传送到同一个接口进行处理。这样的符合工作方式可以很好的平衡空间、成本和性能等方面的需求。6. 软件配套提供一个具有基本的校准和数据采集功能的软件。如果客户需要，可以提供包含更多功能的软件。7. 校准系统在交货时已经校准。如果需要重新校准，可通过软件轻易实现。8. 可选件和升级为提供更好服务，我方可以提供工业计算机、监视器、打印机、控制箱等配件。三. 技术参数l 测量原理：LEDl 波长：约0.875nml 测量范围：0-4.00 OD 可选5.00 ODl 测量速度：约10 信道/秒l 精度：+/- 0.1%量程l 接口：RS-232，可选RS-485或Profibus l 操作温度：5-50度l 信道数量：0-99l 间距：相邻探测头：最小70mm

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