检测仪器定期比对校准管理制度

1、检测仪器定期比对校准管理制度1目的 便于检测仪器、计量器具的管理，使公司的检测仪器、计量器具在进 行内部比对校验时有据可循。2 范围 适用于列入仪器、计量器具清单中比对校验的检测仪器、计量器 具。3 职责3.1 本指导书由品管部制定和修改，并组织安排执行比对校验操作。3.2 检测仪器、 计量器具使用部门应妥善使用检测仪器、计量器具， 并根据品管部门通知，送计量器具执行部门对比校验。4 内容4.1 外观4.1.1 检定要求：表面应无锈蚀、碰伤或其它缺陷，表盘刻线应清晰、 无目力可见的断线；指示表的表面应透明。应标有分度值和量值。4.1.2 检定方法：目力观察。4.2 比对校验方法、步骤：4.2.

2、1 比对校验方法：4.2.1.1直接比对法：用需比对校验的同类计量器具的其中一台作为比 对标准计量器具：该台计量器具的精度、性能、调节功能等在同类计 量器具中有代表性、占比例较多 ,送外校验，并且已经得到国家认可 资格的计量所的外部校验，以配发合格证书，并在有效期内。然后用 该台比对标准计量器具去比对其它需比对校验的同类计量器具， 在相 同条件环境中作出其相应读数值的比较， 通过本公司使用部门或品管 部正常有效的调节后， 使需比对校验计量器具的相应读数值符合一致 性要求，同比对标准计量器具相应读数值误差值， 小于或等于需比对 校验的同类计量器具的最大分度刻度值 （精度要求最小 ）要求内。即判

3、定为比对校准 /检定合格。由品管部门签发比对校验合格证。4.2.1.2 间接比对法：适用于间接作用于原料、半成品或成品、符合比 对校验类规定、 又可以间接产生原料、 半成品或成品的质量数据的计 量器具。用需比对校验的同类计量器具的有代表性的其中一台作为比 对标准计量器具，并且已经得到国家认可资格的计量所的外部校验， 已配发合格证书， 且在有效期内。 然后以需比对校验的同类计量器具 去与比对标准计量器具产生的质量数据进行比较， 是否符合质量标准 的要求。即判定为比对校准 /检定合格。由品管部门签发比对校验合 格证。否则，再通过本公司使用部门或品管部正常有效的调节直到合 格为止。4.2.2 比对校

4、验步骤：4.2.2.1 确定需比对校验的计量器具，并列入计量器具清单内。4.2.2.2 确定需比对校验的计量器具的比对标准计量器具。 对作为比对 标准的计量器具按校验周期做好外部校验， 并配发有效合格证书、 合 格证标签。4.2.2.3 确定需比对校验的计量器具比对方法： 直接比对法或间接比对 法。4.2.2.4 由品管部确定比对校验场所， 会同需比对校验的计量器具的使 用部门，进行比对校验。4.2.2.5 对直接比对法的计量器具比对检定 /校准要求：先记录需比对 和比对标准计量器具的计量精度或分度值， 与量限值。 再读取在同样 的环境中相应的测试值。对与比对标准计量器具不符合要求的示值， 再

5、对计量器具比对调校， 直到示值差异值在需比对同类计量器具最大 的计量分度值之内或等于该计量分度值。即判为比对校准 /检定合格。4.2.2.6 对间接比对法的计量器具比对检定 /校准要求：先用比对标准 计量器具， 在同样的环境中间接产生相应的原料、 半成品或成品的质 量技术数据 （符合质量标准的要求内 ）。然后用需比对的计量器具在同 样的环境中间接产生相应的原料、 半成品或成品的质量技术数据， 进 行比较： a 是否所得质量技术数据在已定质量标准的要求内； b 与用 比对标准计量器具所得质量技术数据差异是否太大 （差异标准允许实 际质量差 20%；实际质量好不受限制 ）。然后再对计量器具比对调校， 直到产生相应的质量技术数据同时符合以上两要求， 则判为比对校准 /检定合格。4.2.2.7 质量技术数据所依据的已定质量标准按 原棉检验规范、生 产过程检验规范、成品检验规范。4.2.2.8 做比对检定 /校准前后过程中，填写计量器具比对检定 /校准 记录。4.3 检定结果的处理经检定符合本规程要求的比对计量器具， 判定为合格并签发或粘贴比 对合格证。对参与比对校验类的计量器具，在比对中发现，有较严重 缺陷，无法完成调校正常合格的计量器具， 须送相关