超声检测1级理论复习题

1、1.2.3.4.5.6.7.8.9.超声检测I级理论复习题(含参考答案,仅供参考 ) 超声波是频率超出人耳听觉的弹性机械波,其频率范围约为：( A )A 、高于 2 万赫芝B 、 1 10MHz钢中超声波纵波声速为5900m/s,若频率为0.59mmC、高于 200HzD、0.2515MHz10MHz 则其波长为： ( C )A 、 59rnrn B 、 5.9mm C 、 以下关于波的叙述错误的是： ( D )A、波动是振动的结果C、两个波相遇又可能产生干涉现象 超声波的波长： ( C )A 、与介质的声速和频率成正比； C 、等于声速与周期的乘积； 超声波在弹性介质中传播时有A 、质点振动

2、和质点移动 下面哪种超声波的波长最短。A 、水中传播的 2MHz 纵波C、钢中传播的5MHz纵波 在金属材料的超声波探伤中,使用最多的频率范围是：C、1 5MHz ( B ) 兰姆波B 、 5.9mmD 、 2.36mmB、D、波动传播时有能量的传递机械波和电磁波的传播均依赖于传播介质B 、等于声速与频率的乘积； D 、与声速和频率无关。( D )B、质点振动和振动传递( A )B 、钢中传播的D 、钢中传播的C、质点振动和能量传播2.5MHz 横波2MHz 表面波( C )D、 B 和 CA、 10251MHzB、 11000KHz质点振动方向垂直于波的传播方向的波是：A、纵波 B、横渡C、

3、表面波在流体中可传播： ( A )A、纵波B、横波C、D、10. 在液体中唯一能传播的声波波型是：A 、剪切波B 、瑞利波11. 一般认为表面波作用于物体的深度大约为：A、半个波长B、一个波长纵波、横波及表面波 ( C )C、压缩波( C )C、两个波长D、兰姆波。12. 钢中表面波的能量大约在距表面多深的距离会降低到原来的A、五个波长B、一个波长C、1/10波长13. 若频率一定,下列哪种波型在固体弹性介质中传播的波长最短：A 、剪切波B 、压缩波14. 超声波按其波阵面形状可分为：A、平面波B、柱面波15. 超声波在弹性介质中的速度是：C、横波( D )C、球面波( B )D、D 、大于

4、20000MHzD 、切变波D 、 3.7 个波长1/25。( B )D、 0.5 波长( D )瑞利表面波D、以上全部A、质点振动的速度B、声能的传播速度16. 在同种固体材料中，纵波声速Cl，横波声速A 、 CR> Cs> CLB、 Cs> CL> CR17. 超声波在介质中的传播速度与 ( D )有关。A、介质的弹性B、介质的密度C、C、波长和传播时间的乘积Cs,表面波声速C、Cl > Cs> crD、以上都不是Cr，之间的关系是：(C )D、以上都不对18. 在同一固体材料中,纵、横波声速之比,与材料的超声波波型( C )有关。D 、以上全部A、密度

5、 B、弹性模量C、泊松比D、以上全部超声纵波、横波和表面波速度主要取决于：( C )A、频率B、传声介质的几何尺寸C、传声材料的弹性模量和密度D、以上都不全面，须视具体情况而定不同振动频率，而在钢中有最高声速的波型是： ( A )A、 0.5MHz 的纵波 B、 2.5MHz 的横波 C、 10MHz 的爬波在0°C740C之间，当温度升高时，水的声速将：(B )A、不变B、增大C、变小D、无规律变化检验厚度大于 400mm 的钢锻件时，如降低纵波的频率，其声速将： ( C )A. 提高B. 降低C. 不变D. 不能确定在下列不同类型超声波中，哪种波的传播速度随频率的不同而改变？(

6、B )A、表面波B、板波C、疏密波D、剪切波。材料的声速和密度的乘积称为声阻抗，它将影响超声波 ( B )。A、在传播时的材质衰减C、在传播时的散射 材料声速与密度的乘积称为：A、反射率B、透射率材料的声阻抗将影响超声波：D 、 5MHz 的表面波B、从一个介质到达另一个介质时在界面上的反射和透射D、扩散角大小( D )C、 往复反射率D、声阻抗( D )A、扩散角的大小 B、近场的大小 C、在传播时的散射D、在异质界面上的反射和投射垂直入射于异质界面的超声波束的反射声压和透射声压：( C )A、与界面二边材料的声速有关B、与界面二边材料的密度有关C、与界面二边材料的声阻抗有关D、与入射声波波

7、型有关在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它的声阻抗将是：( C )A、一样B、传播横波时大C、传播纵波时大D、无法确定超声波垂直入射到异质界面时，可能发生： ( C )A. 反射 B. 折射、波型转换 C. 反射、透射D. 反射、折射、波型转换。超声波垂直入射到异质界面时，A、界面两侧介质的声速 C、界面两侧介质的声阻抗 在同一界面上，声强透过率22A、T = r B、T = 1 r 在同一界面上，声强反射率A、 R+ T= 1 B、 T= 1 R反射波与透过波声能的分配比例取决于： B、界面两侧介质的衰减系数 D 、以上全部T 与声压反射率C、T=1 + rR 与声强透过率C、R=1

8、T( D )D、以上都是r 之间的关系是：D、 T= 1 rT 之间的关系是：D、以上全对超声波入射到异质界面时，可能发生：A、反射 B、折射 C、波型转换 超声波倾斜入射至异质界面时，其传播方向的改变主要取决于：A、界面两侧介质的声阻抗B、界面两侧介质的声速C、界面两侧介质衰减系数D、以上全部倾斜人射到异质界面的超声波束的反射声压与透射声压与哪一因素有关？( D )A、反射波波型B、入射角度C、界面两侧的声阻抗D、以上都是超声波在水 /钢界面上的反射角： ( B )A. 等于入射角的 1/4 B. 等于入射角在水 /钢界面上，水中入射角为A、表面波B、横波当超声纵波由有机玻璃以入射角C. 纵

9、波反射角大于横波反射角 D. 以上 B 和 C。11°，在钢中传播的主要振动波型为： ( D )C、纵波 D、B和C15°射向钢界面时，可能存在：( D )19.20.21.22.23.24.25.26.27.28.29.30.31.32.33.34.35.36.37.38.ome239.40.41.42.43.44.45.46.47.48.49.50.51.52.53.54.55.56.D、以上都有A、反射纵波B、反射横波C、折射纵波和折射横波超声波横波倾斜入射至钢/水界面，则：（D）A、纵波折射角大于入射角B、纵、横波折射角均小于入射角C、横波折射角小于入射角D、以上全

10、不对如果将用于钢的K2探头去探测铝（CFe= 3230m/s, Cai = 3100m则K值会：（B ）A、大于2B、小于2C、仍等于2D、还需其它参数才能确定在超声波探伤时，采用K1斜探头（Ci有机 = 2700m/s, Cs钢=3200rn/s），检测某合金焊缝（Cs合金=3800m/s）, 此时合金中的实际K值为：（B ）A、K B、K = 1.54C、K= 2D、以上全不是使横波折射角等于90°的纵波入射角叫做：（B ）A、第一临界角B、第二临界角第一临界角是：（C ）A、折射纵波等于90°时的横波入射角C、折射纵波等于90。时的纵波入射角 第二临界角是：（B ）A

11、、折射纵波等于90°时的横波入射角C、折射纵波等于90。时的纵波入射角 要在工件中得到纯横波，探头人射角C、第三临界角D、反射角。B、折射横波等于90°时的纵波入射角D、入射纵波接近90°时的折射角B、折射横波等于90°时的纵波入射角D、入射纵波接近90°时的折射角必须：（C ）A、大于第二临界角B、大于第一临界角C、在第一、第二临界角之间D、小于第二临界角斜探头直接接触法探测钢板焊缝时，其横波：（D ）A、在有机玻璃斜楔块中产生B、从晶片上直接产生C、在有机玻璃与耦合层界面上产生D、在耦合层与钢板界面上产生C、 ： 2 = arcsin270

12、0此时探头声束轴线相对于探测面的倾角范第一介质为有机玻璃（Cl = 2700m/s）,第二介质为铜（5= 4700m/s; Cs= 3300m/s）,则第H临界角为（B ） .2700. 2700. 2300A、 :- 2 =arcs inB、：2 = arcs in47003300用直探头以水为透声楔块使钢板对接焊缝中得到横波检测，围为：（B ）A、14.7° 27.7B、62.375.3C、27.2。56.7D、不受限制使用粘贴于平面晶片前的凹球面声透镜（其纵波速度为C1、声阻抗为Z1）制作聚焦探头，为了使声束在介质（其纵波速度为C2、声阻抗为Z2）中聚焦，条件是：（B ）A、C

13、1> C2的凸透镜B. G >C2的凹透镜当超声波入射到凸界面时，其透射波：(D )A、不发散、不聚焦B、发散C、聚焦当超声波入射到凹界面时，其反射波：(C )A、不发散、不聚焦B、发散C、聚焦A、C1< C2B、C1> C2C、Z1V Z 2D、Z 1> Z 20平面波入射到声透镜上，使透射波聚焦的条件是：（A ）水浸聚焦探头声透镜的曲率半径增大时，透镜焦距将：A、增大 B、不变 C、减小 D、以上都不对C、C1v C2的凸透镜D、条件不够，不能确定D、条件不够，不能确定D、条件不够，不能确定。（A ）用水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时，声束进入工件后将：（B

14、）D、以上都可能。A、因折射而发散B、进一步集聚C、保持原聚焦状况超声波（活塞振源）在非均匀介质中传播，引起声能衰减的原因是：（D ）A、介质对超声波的吸收B、介质对超声波的散射C、声束扩散D、以上全部引起超声波衰减的原因是：（D ）A、声束扩散B、晶粒散射C、介质吸收D、以上全都。超声波的扩散衰减主要取决于： ( A )A、波阵面的几何形状B、材料的晶粒度C、材料的粘滞性D、以上全部在通常的细晶金属材料 ,超声检测时所引起的超声波衰减的主要因素是：( C )A、吸收 B、散射C、声束扩散D、绕射由材料晶粒粗大而引起的衰减属于： ( B )A、扩散衰减B、散射衰减C、吸收衰减D、以上都是在A型

15、脉冲反射式单探头检测中，探头从不同声程的相同反射体收到的信号有差别的原因是：(D )A、材料衰减B、声束扩散C、近场效应D、以上均有可能在相同的探测条件下 ,横波的衰减将： ( B )A、小于纵波B、大于纵波C、等于纵波D、不一定小于纵波一般地说，如果频率相同。则在粗晶材料中穿透能力最强的振动波型为：( B )A、表面波B、纵波C、横波D、三种波型的穿透力相同超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将发生：( B )A、只绕射，无反射B、既反射又绕射C、只反射无绕射D、以上都可能活塞振源声场，声束轴线上最后一个声压极大值到声源的距离称为：( A )A、近场长度B、未扩散区C、主声束D、

16、超声场活塞振源声场，声束轴线上最后一个声压极小值到声源的距离为：( B )A、 NB 、 N/2C、 N/3(N 为近场区长度 )14mm , 2.5MHz直探头在钢中近场区为:D 、 N/4( B )A 、 27mm B 、 21mm 超声场的未扩散区长度为：A、约等于近场长度C、约为近场长度1.6倍C、38mmD、以上都不对( C )B、约等于近场长度 0.6倍D 、约等于近场长度 3 倍在超声探头远场区中： ( B )A 、声束边缘声压较大B 、声束中心声压最大57.58.59.60.61.62.63.64.65.66.67.68.69.70.71.72.73.74.75.76.C、声束

17、边缘与中心强度一样C、声压与声束宽度成正比面有半扩散角的叙述，哪一条是错误的？ ( B )A、用第一零辐射角表示B、为指向角的一半C、与指向角相同D、是主声束辐射锥角之半波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随 ( B )。A、频率增加，晶片直径减小而减小B、频率或晶片直径减小而增大C、频率或晶片直径减小而减小D、频率增加，晶片直径减小而增大直径12mm晶片5MHz直探头在钢中的指向角是：(C )A、 5.6°B、 3.5°C、6.8°D、 24.6°列直探头，在钢中指向性最好的是：( A )。A、 2.5P20ZB、 3P14Z在探测条件相

18、同的情况下，面积比为C、4P20ZD、 5P14Z2 的两个平底孔，其反射波高相差A 、 6dBB、12dBC、 9dBD 、 3dB在探测条件相同的情况下、孔径比为A 、 6dBB、 12dB4 的两个球形人工缺陷，其反射波高相差C、 24dBD、 18dB( B )。在探测条件相同的情况下，直径比为2 的两个实心圆柱体，其曲底面回波相差( C )。A、 12dBB、 9dBC、 6dB同直径的平底孔在球面波声场中距声源距离增大D、3dB1 倍则回波减弱： ( B )超声检测1级理论复习题A、 6db B、 12dbC、 3dbD、 9db77.同直径的长横孔在球面波声场中距离声源距离增大1

19、倍回波减弱：(D )A、 6db B、 12db C、 3db D、 9db78.在球面波声场中大平底距声源距离增大1倍回波减弱：(A )B、 12dbC、3dbA、 6dbB、 12db79.对于球面波，距声源距离增大A、增大6db B、减小6dbC、3db1倍，声压变化是：C、增大80. 铸锻件超声检测中，经常使用平底孔试块，0 1 0 1A、10lg 卩B、20lg 頁D、9db(B )3db D、减小 3db同声程不同孔径的平底孔的反射规律是0 10 130lg o D、40lg 0 20 281. 焊缝超声检测中，经常使用长横孔试块，同声程不同孔径的横孔反射规律是0 10 10 10

20、 1A、10lgB、20lgC、30lgD、40lg0 20 20 20 282. 焊缝超声检测中，经常使用长横孔试块，同孔径不同声程的横孔反射规律是S1S1S1S1A、10lgS2B、20lg§C、30lgS2D、40lg£(S是声程)：(C )83. 离锻件检测面下200mm处的一个缺陷回波波幅比距离400mm处0 4平底孔回波波幅高12dB，则此缺陷当量为：(C )A、12mm B、8mmC、4mm84. 通用AVC曲线的通用性表现在可适用于：A、不同的探测频率C、不同示波屏尺寸的 A型探伤仪85. 当使用通用AVG曲线时，下述哪条叙述是错误的？A、不受示波屏尺寸的限

21、制C、不受探头晶片直径的限制86. A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：A、缺陷的性质和大小C、缺陷回波的大小和超声传播的时间87. A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：A、超声回波的幅度大小88. A型扫描显示中，水平基线 (时基线)代表：(C )A、超声回波的幅度大小89. A型显示检测仪，从示波屏上可获得的直接信息是：A、缺陷的指示长度B、缺陷的尺寸大小90. 脉冲反射式超声波探伤仪中，产生触发脉冲的电路单元叫做：A、发射电路B、扫描电路C、同步电路D、显示电路91. 脉冲反射超声波探伤仪中，产生时基线的电路单元叫做：(A )A、扫描电路B、触发电路C、同步电路D、发射电

22、路116.将换能器接收的信号放大，并将信号转换成可在荧光屏上显示的信号的电路是：C、定时器电路D、接收器放大电路B、8mmD、2mm(D )B、不同的晶片尺寸D、以上都是(D )B、不受检测频率的限制D、不受探头晶片直径的限制但受检测频率的限制(C )缺陷的形状和取向以上都是(A )B、缺陷的位置B、探头移动距离A、脉冲发生器电路B、指示器电路92. 发射电路输出的电脉冲，其电压通常可达A、几百伏到上千伏93. 发射脉冲的持续时间叫：A、始脉冲宽度B、几十伏(A )B、脉冲周期94. 探头上标的2.5MHz是指：(B )C、被探材料的厚度D、超声传播时间C、声波传播时间(C )C、缺陷的传播时

23、间(C )D、缺陷尺寸大小D.缺陷的取向(A )。C、几伏D、1伏C、脉冲振幅D、以上都不是13A 、重复频率B、工作频率C、触发脉冲频率D、以上都不对( D )。95. 接收电路中，放大器输入端接收的回波电压约有A 、几百伏B 、 100V 左右C、 10V 左右D 、 0.0011V96. 同步电路每秒钟产生的触发脉冲数为( B )。B 、数十个到数千个C、与工作频率相同D 、以上都不对。97. 同步电路的同步脉冲控制是指：A 、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数B 、扫描电路每秒钟内重复扫描次数C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数D 、以上全部都是98. 脉冲反射式超声波探

24、伤仪同步脉冲的重复频率决定着：99.A 、扫描长度B、扫描速度C、单位时间内重复扫描次数D、锯齿波电压幅度般探伤时不使用深度补偿是因为它会：A 、影响缺陷的精确定位B 、影响 AVG 曲线或当量定量法的使用C、导致小缺陷漏检D、以上都不对100. A 扫描超声探伤仪中，哪些旋钮可以改变探伤仪的水平扫描基线：A、深度粗调、重复频率、延迟B、深度粗调、深度微调、延迟C、重复频率、延迟、抑制D、延迟、深度粗调、抑制101. A 扫描超声探伤仪中，哪些旋钮可以改变探伤仪荧光屏上所显示的信号高1=1度：A 、抑制、发射强度、重复频率B、发射强度、增益、延迟C、增益、抑制、发射强度D、发射强度、抑制、延迟

25、102. 发射强度旋钮用于改变发射电路中的阻尼电阻，达到改变发射超声波强度的目的，发射强度增大时，会：( D )A 、提高灵敏度B 、盲区增大C、分辨能力降低D 、以上都对103. 下列有关水平位移旋钮的叙述中，错误的是：A 、调节时基线和整个图形左右移动，进行零位凋节B、调节时基线，使其与超声波在工件的传播时间成比例C、水平位移旋钮属于调节显示器的旋钮D 、水平位移旋钮也称零位调节旋钮104. 影响仪器灵敏度的旋纽有：A、发射强度和增益旋纽B、衰减器和抑制C、深度补偿D 、以上都是105. 衰减器旋钮的作用是：M.A 、调节探伤灵敏度B、调节缺陷回波高度；C、用于确定缺陷当量的大小D、以上都

26、对。A 、垂直线性B、动态范围C 、灵敏度D 、以上全部106. 下列有关增益旋钮的叙述中，正确的是：A、增益旋钮可调节示屏上的波幅升高或降低B 、距离波幅曲线制作完毕后，如需要，还可再调节增益旋钮C、增益旋钮不可连续地调节示屏上的波幅高度D 、以上都不对( D )。107. 调节仪器面版上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的108. 使用抑制旋钮的目的是：A 、提高信噪比B 、改善垂直线性C、容易检出小缺陷D 、提高灵敏度109. 下列有关压电效应的叙述中，错误的是：A、正压电效应是指材料在交变应力作用下产生形变时而产生交变电场的现象B、正压电效应是指材料在交变电场作用下产生形变时而产生交变应力的现

27、象C、正压电效应和逆压电效应统称为压电效应D、正压电效应和逆压电效应能同时存在于同一材料中120. 超声波探头发射超声波时 （C ）。A、由正压电效应将机械能转化为电能B、由逆压电效应将声能转化为电能C、由逆压电效应将电能转化为声能D、由正压电效应将电能转化为声能121. 在探头中，通过振动产生超声波的压电材料叫做：（C ）A、背衬材料；B、透明合成树脂楔块；C、晶片；D、耦合剂。122. 探头中压电材料的作用是：（C ）A、将电能转换为机械能B、将机械能转换为电能C、A和B都是D、A和B都不是123. 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是：（C ）A、石英B、钛酸钡C、锆钛酸铅D、硫酸锂1

28、24. 超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（C ）A、导电材料B、磁致伸缩材料C、压电材料D、磁性材料125. 压电晶片的基频是：（A ）A、晶片厚度的函数C、放大器放大特性的函数126. 探头中压电晶片的基频取决于:A、激励电脉冲的宽度C、晶片材料和厚度B、施加的脉冲宽度的函数D、以上都不对（C ）B、发射电路阻尼电阻的大小D、晶片的机电耦合系数127. 为了从换能器获得最高灵敏度：（C ）A、应减小阻尼块C、应使压电晶片在它的共振基频上激励128. 晶片共振波长是晶片厚度的：（A ）A、2 倍 B、1/2 倍 C、1 倍B、应使用大直径晶片D、换能器频带宽度应尽可能大D、4倍129

29、. 超声波探头中的压电晶片厚度为（B ）时，晶片产生共振，振幅最大。A、"6B、”2C、”9D、入130. 已知PZT 4的频率常数是 2000m/s, 2.5MHz的PZT 4晶片厚度约为：（A ）A、0.8mmB、1.25mmC、1.6mmD、0.4mm131. 下述有关探头的描述中，哪一点是正确的？A、探头的实质是一种换能器C、探头的作用是仅将机械能转换为电能132. 探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是:A、透声性能好B、材质衰减小133. 超声横波斜探头的标称 K值为：A、铝中横波折射角的正弦值C、铝中横波折射角的正切值（A ）B、探头的作用是仅将电能转换为机械能;D、以

30、上都正确。（C ）D、以上全部C、有利消除耦合差异（B ）B、钢中横波折射角的正切值D、钢中纵波折射角的正切值134. 常用的有机玻璃楔斜探头，当温度升高时，其 K值将（B ）。A、减小 B、增大C、不变D、以上都不对135. 探头晶片尺寸不变而频率提高时：（C ）A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大C、近场长度增大D、指向性变差。136. 以下哪一条，不属于双晶探头的优点。（A ）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少137. 联合双直探头的最主要用途是：（A ）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤138. 下列有关双晶探头的特点的叙

31、述中，正确的是：（B ）A、灵敏度低、分辨率好、脉冲窄、盲区小、杂波小超声检测1级理论复习题B、灵敏度高、分辨率好、脉冲窄、盲区小、杂波小C、灵敏度高、分辨率好、脉冲窄、无盲区、杂波小D、灵敏度低、分辨率差、脉冲窄、盲区小、杂波小139. 下列有关双晶探头检测范围的叙述中，正确的是：（B ）A、倾角大，检测范围大B、倾角小，检测范围大C、双晶探头的倾角与检测范围无关D、倾角小，检测范围小140. 应用有人工反射体的对比试块的主要目的是：（A ）A、作为检测时的校准基准，并为评价工作中缺陷严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供

32、保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体141. 下面哪种反射体的反射波幅与入射声束角度无关：（C ）A、平底孔B、平底槽C、平行于探测面且垂直于主声束轴线的横通孔D、V型缺口142. 试块的用途是：（D ）A、测试仪器和探头的组合性能；B、测定材料的声学性质；C、调节探伤仪的扫描速度和灵敏度；D、以上都对。143. 在超声波探伤中，对比试块应用于：（D ）A、探伤系统状态调整B、缺陷评定C、探伤系统状态检查D、以上都是144. 可用于测试探头入射点的常用试块是：（D ）A、IIW 试块 B、CSKI A试块C、半圆试块D、以上都可以145. CSKI A试块将IIW 试块上

33、的 R100mm圆柱面改为 R50mm、R100mm阶梯圆柱面，其目的是： （A ）A、获得两次反射波来调节横波扫描速度，确定探测范围B、测试超声检测系统的分辨力C、测量斜探头的K值D、仅是为了试块外形美观，减少试块重量146. CSK IA试块将IIW试块的50孔改为40, 44, 50台阶孔，其目的是：（C ）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全部147. RB-1试块的用途是：（D ）B、测量斜探头的前沿和K值A、调节扫描速度和探测范围B、绘制距离-波幅曲线D、以上都对。148. 半圆试块的用途是：（D ）A、 调节扫描速度和探测范围B、测量斜探头的前沿

34、B、 测量探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围D、以上都对149. 若将斜探头对准IIW2的R25mm圆弧面，并将反射波调至 25格，如仪器水平线性调节良好，则第二 次反射波应在（D ）格出现。A、50B、65C、75、100150. 若将斜探头对准IIW2的R50mm圆弧面，并将反射波调至 25格，如仪器水平线性调节良好，则第二 次反射波应在（B ）格出现。A、50B、62.5C、100D、125151. 将IIW试块与IIW2试块相比，IIW2试块的优点是：（D ）A、重量轻，体积小B、尺寸小，便于携带，适于现场使用C、形状简单，便于加工D、以上都是30格，如仪器水平线性调152. 若将斜

35、探头对准中心没有刻槽的半圆试块的圆弧面并将第一次反射波调至节良好，则第二次反射波应在（B ）格出现。A、 60 B、 90C、 120 D、 150153. 有的半圆试块在中心侧壁开有 5mm深的切槽，其主要目的是： （C ）A、标记试块中心B、消除边界效应C、获得R曲面等距离反射波D、以上全部154. 对超声探伤试块材质的基本要求是：（D ）A、其声速与被探工件声速基本一致B、材料中没有超过 2mm平底孔当量的缺陷C、材料衰减不太大且均匀D、以上都是155. 超声检测中下面与入射声束角无关的反射体是：（C ）A、平底孔B、平底槽C、横孔 D、V型槽156. 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响

36、探伤仪的（D ）。A、垂直线性B、动态范围C、灵敏度D、以上全部157. 放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放大器的：（B ）A、灵敏度范围B、线性范围C、分辨力范围D、选择性范围158. 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出、这是因为:A、近场干扰B、材质衰减159. 斜探头前沿长度和 K值测定的几种方法中，A、半圆试块和横孔法B、双孔法160. 仪器水平线性的好坏直接影响：（C ）A、缺陷性质判断B、缺陷大小判断161. 仪器的垂直线性好坏会影响： （A ）A、缺陷的定量B、缺陷的定性162. 下列有关探头性能的叙述中，哪点是正确的？A、探头的主

37、声束垂直方向不应有双峰C、距离一波幅特性好163. 探头的主要性能是：（D ）A、频率特性B、距离一波幅特性164. 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为：A、检测灵敏度B、时基线性165. 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：A、水平线性、垂直线性、衰减器精度C、动态范围、频带宽度、探测深度167. 超声试验系统的灵敏度：（A ）A、取决于探头、高频脉冲发生器和放大器C、取决于换能器机械阻尼168. A型扫描显示，“盲区”是指：（C ）A、近场区C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间169. 探头的分辨力：（D ）A、与探头晶片直径成正比C、与脉冲重复频率成正比170. 当超声检测探头频率增加时，其

38、分辨力将：A、不变 B、提高C、降低171. 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？A、直探头探伤法B、脉冲反射法172. 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用A、较低频探头B、较粘的耦合剂173. 在超声波探伤时，当探伤面比较粗糙时，宜选用A、较低频率的探头B、高声阻抗的耦合剂174. 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是：C、 盲区D、折射哪种方法精度最高：（A ）C、 直角边法D、不一定，须视具体情况而定C、 缺陷的精确定位D、以上都对C、缺陷的定位D、以上都对（D ）B、探头的主声束轴线水平偏离角要小D、以上都不对C、声束特性D、以上都是（D ）C、 垂直线性D、分辨力（B ）B

39、、灵敏度余量、盲区、远场分辨力D、垂直极限、水平极限、重复频率B、取决于同步脉冲发生器D、随分辨力提高而提高B、声束扩散角以外区域D、以上均是B、与脉冲宽度成正比D、以上都不对（B ）D、以上均不可能（D ）C、斜探头探伤法D、穿透法（D ）。C、 软保护膜探头D、以上都对（D ）。C、 软保护膜探头D、以上均可 （C ）A、曲面探伤时可减少耦合损失B、可减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上全部175. 探伤时采用较高的探测频率，可有利于A、发现较小的缺陷B、区分开相邻的缺陷176. 超声探伤中，耦合剂的作用是：（D ）A、排除探头和工件间的空气，使超声波能较好地传入工件C、保护探

40、头，减少磨损177. 手动超声接触法探伤时，使用耦合剂的最主要目的是：A、提高超声波在探头与被检测部件间的透射率C、浸润探头表面，延长探头使用寿命178. 超声波探伤时，如果声波在耦合介质中的波长为A、"4的奇数倍B、"2的整数倍改善声束指向性B、方便操作D、以上都对D、以上全部（A ）浸润被探伤部件表面，避免被探伤表面磨损 以上都不是入为使透声效果好，耦合层厚度应为C、小于”4且很薄D、以上B和C179. 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1:1调扫描，下面哪种说法正确？（ A ）A、缺陷实际径向深度总是小于显示值B、显示的水平距离总是大于实际孤长C、显

41、示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D、以上都正确180. 采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面哪种说法正确？（ B ）A、F/B相同，缺陷当量相同B、该法不能给出缺陷的当量尺寸C、适于对尺寸较小的缺陷定量D、适于对密集性缺陷的定量181. 在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（C ）A、横波质点振动方向对缺陷反射有利B、横波探伤杂波少C、横波波长短D、横波指向性好182. 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（A ）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、 10MHzA、50mrn B、60mmC、67

42、mrn D 40mm183.单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是:A、来自工件表面的杂波C、工件上近表面缺陷的回波B、来自探头的噪声D、耦合剂噪声183.确疋脉冲在时基线上的位置应根据:(B )A、脉冲波峰B、脉冲前沿C、脉冲后沿D、以上都可以184.能使K2斜探头得到图示深度 1:1调节波形的钢半圆试块半径R为:(C )185. 在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？（ B ）A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法186. 在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线？（ A ）A、水平定位法B、深度定位法

43、C、声程定位法D、二次波法187. 对圆柱形筒体环缝探测时的缺陷定位应：（A ）A、按平板对接焊缝方法B、作曲面定位修正C、使用特殊探头D、视具体情况而定采用各种方法188. 在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性C、提高探头前沿长度和K值测定精度189. 当量大的缺陷实际尺寸：（A ）A、一定大B、不一定大190. 当量小的缺陷实际尺寸：（B ）A、一定小B、不一定小D、以上都对C、一定不大C、一疋不小D、等于当量尺寸、/ 曰. 当量尺寸191. 使用半波高度法超声测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果往往是：（B ）A、小

44、于实际尺寸B、稍大于实际尺寸C、接近声束宽度D、远大于实际尺寸192. 在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越:A、大B、小C、无影响 D、不一定193. 当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：（B ）A、大 B、小C、无影响D、不一定194. 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：（A ）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波变宽D、底面回波变窄195. 下列关于纵波直探头和横波斜探头超声检测的哪种说法是错误的：（D ）A、纵波直射法时，缺陷波往往出现在底波之前B、斜射法一般没有底波，且探

45、头移动时，缺陷波幅和位置随之改变C、直射法缺陷位置往往不随探头移动而变化D、直射法比斜射法对缺陷的定量更准确196. 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（ D ）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对197. 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（D ）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是198. 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（C ）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对199. 影响直接接触法耦

46、合损耗的原因有：（D ）B、探头接触面介质声阻抗D、以上都对D、以上全部A、耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗C、被探测工件材料声阻抗200. 被检工件晶粒粗大，通常会引起：（D ）A、草状回波增多B、信噪比下降C、底波次数减少201. 应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（A ）A、作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某工规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体202. 下面哪种参考反射体与入射声束角度无关:A、平底孔C、平行于探测面且垂直于声束的

47、横通孔203. 换能器尺寸不变而频率提高时：（C ）（C ）B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大C、近场区增大D、指向性变钝21204. 考虑灵敏度补偿的理由是：（D ）A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、工件与试块材质，表面光洁度有差异205. 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用： ( C )A、声阻抗小且粘度大的耦合剂B、声阻抗小且粘度小的耦合剂C、声阻抗大且粘度大的耦合剂D、以上都不是206. 超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于： ( A )A、波长的一半B、一个波长

48、C、四分之一波长D、若干个波长207. 与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是： ( C )A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法208. 锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于( B ) 。A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部209. 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是： ( D )A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波210. 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是： ( C )A、平行且靠近探测面C、与探测

49、面成较大角度B 、与声束方向平行D、平行且靠近底面211. 缺陷反射声压的大小取决于： ( D )A、缺陷反射面大小B、缺陷性质C、缺陷取向D、以上全部212. 缺陷反射声能的大小，取决于： ( D ) A、缺陷的尺寸B、缺陷的类型C、缺陷的形状和取向D、以上全部A、反射波高随粗糙度的增大而增加B 、无影响C、反射波高随粗糙度的增大而下降D、以上A和C 都可能214. 锻件的锻造过程包括： ( A )A、加热、形变、成型和冷却B、加热、形变C、形变、成型213. 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：( C )D、以上都不全面215. 锻件缺陷包括： ( D )

50、A、原材料缺陷B、锻造缺陷C、热处理缺陷D、以上都有216. 锻件中的粗大晶粒可能引起： ( D )A 、底波降低或消失B 、噪声或杂波增大217. 锻件中的白点是在锻造过程中哪个阶段形成：C、超声严重衰减D、以上都有218. 轴类锻件最主要探测方向是：( B )A、轴向直探头探伤B 、径向直探头检测C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤219. 饼类锻件最主要探测方向是：( A )( D )A、加热 B、形变C、成型 D、冷却A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤220. 筒形锻件最主要探测方向是： ( A )A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外

51、圆面轴向探伤C、斜探头外圆面周向探伤D、以上都是221. 锻件中非金属夹杂物的取向最可能的是： ( C )A 、与主轴线平行B、与锻造方向一致C 、与锻件金属流线一致D、与锻件金属流线垂直222. 锻钢件探测灵敏度的校正方式是： ( D )超声检测1级理论复习题A、没有特定的方式B、米用底波方式221. 利用试块法校正探伤灵敏度的优点是：A、校正方法简单C、可以克报探伤面形状对灵敏度的影响222. 以工件底面作为灵敏度校正基准，可以：A、不考虑探测面的耦合差补偿C、不必使用校正试块C、 米用试块方式D、米用底波方式和试块方式（B ）B、对大于3N和小于3N的锻件都适用D、不必考虑材质差异（D ）B、不考虑材质衰减差补偿D、以上都是223. 在直