硬件测试笔试题V1.doc

1、硬件测试工程师笔试题（本试卷满分100 分，请将答案写在答题卡上与试卷一并上交）姓名：日期：分数：一 判断题： 本题共 10 小题，每题 2 分，共 20 分。1. 发现错误多的模块，残留在模块中的错误也多。 ( )2. 测试人员在测试过程中发现一处问题，如果问题影响不大，而自己又可以修改，应立即将此问题正确修改，以加快、提高开发的进程。（）3. 功能测试是系统测试的主要内容，检查系统的功能、性能是否与需求规格说明相同。（ ）4. 编写测试计划的目的是：使测试工作顺利进行，使项目参与人员沟通更舒畅 ，使测试工作更加系统化。（）5. 硬件测试目的是杜绝产品硬件上无任何问题。（）6. 验收测试是由

2、最终用户来实施的。（）7. 钽电容最适合用来滤除高频噪音。（）8.负载测试是验证要检验的系统的能力最高能达到什么程度。（）9. 无线电监测中，常用一些单位有 dBuv、dBm等， dBm是功率单位。（ ）10. 10W功率可由 40dBm表示。（ ）二 选择题（不定向选择） ：本题共 10 小题，每题 4 分，共 40 分。1.常见的信号完整性问题有：（）A, 过冲B,反射C,震荡D,环绕2.下列属于产品可靠性指标的是：（）A, 失效率B,平均寿命C,直通率D,可靠度E,维修度3.SRAM中文名称是：（）A, 动态随机存储器B,动态C,静态D,静态随机存储器4.以下几种可以做为硬件测试标准的输

3、入：（）A, 用户需求B,国标C,产品规格D,硬件测试工程师经验5.稳压管通常工作于（），来稳定直流输出电压A, 截止区B,正向导通区C,反向击穿区6. 已知如图所示放大电路中的 RB=100k， RC=， Vcc=12V , 晶体管的 =80，UBE=。则可以判定，该晶体管处于（）A, 放大状态B,饱和状态C,截止状态7.场效应管是一种（A, 电流B,光）控制型的电子器件C,电压D,功率8. 数字示波器双踪显示时， 触发源选择短周期信号、 或是幅度稍小的信号。（ ）A,对B,错9.半导体三极管的放大条件是（）。A. 发射结正偏，集电结反偏B. 发射结正偏，集电结正偏C. 发射结反偏，集电结正

4、偏D. 发射结反偏，集电结反偏10. 手机适配器选购时主要考虑的因素有（）A. 输入电压B. 输出电压C. 接口外形D. 输出电流E. 外形三 简答题： 本题共 6 小题，每题 5 分，共 30 分。1. 请你描述什么是硬件测试，测试目的，项目开发过程中硬件测试流程？2. 请列举出你使用过的测试仪器，并简单表述各测试设备作用。3. 请描述负反馈种类及其优点。4. 基尔霍夫定理的内容是什么？5. 晶体管基本放大电路有共射、共集、共基三种接法，请简述这三种基本放大电路的特点。6. IC 设计中同步复位与异步复位的区别。四 附加题： 本题 10 分画出 CMOS电路的晶体管级电路图，实现Y=A*B+

5、C(D+E)（提示：首先将表达式全部用与非门和非门表示， 然后将用 CMOS 电路实现的非门和与非门代入即可。）硬件测试工程师笔试题答案五 判断题： 本题共 10 小题，每题 2 分，共 20 分。11. 12. 13. 14. 15. 16. 17. 18. 19. 20. 六 选择题（不定向选择） ：本题共 10 小题，每题 4 分，共 40 分。11. ABCD12. ABDE13. D14. ABC15. C16. B17. C18. B19. A20. ABCD七 简答题： 本题共 6 小题，每题 5 分，共 30 分。7. 略8. 略9. 电压并联反馈，电流串联反馈，电压串联反馈和

6、电流并联反馈降低放大器的增益灵敏度，改变输入电阻和输出电阻，改善放大器的线性和非线性失真，有效地扩展，放大器的通频带，自动调节作用10. 基尔霍夫定律包括电流定律和电压定律。电流定律：在集总电路中，任何时刻，对任一节点，所有流出节点的支路电流代数和恒等于零。电压定律：在集总电路中，任何时刻，沿任一回路，所有支路电压的代数和恒等于零11. 共射：共射放大电路具有放大电流和电压的作用，输入电阻大小居中，输出电阻较大，频带较窄，适用于一般放大。共集：共集放大电路只有电流放大作用，输入电阻高，输出电阻低，具有电压跟随的特点，常做多级放大电路的输入级和输出级。共基：共基电路只有电压放大作用，输入电阻小，输出电阻和电压放大倍数与共射电路相当，高频特性好，适用于宽频带放大电路。12. 同步复位在时钟沿采