光缆测试报告

1、mlcmlc 项目通信传输系统项目通信传输系统 光缆测试报告光缆测试报告 北京建谊建筑工程有限公司 2010 年 7 月 21 日 一、一、光缆测试说明光缆测试说明 1 1、通信系统说明通信系统说明 mlc 项目配套工程包括通信传输系统，由 mlc 在 tcc 通信机房、小营/西直门 mlc 机 房分别新设一套 2.5g 传输设备，三套传输设备通过光缆组成 4 芯复用段保护环网，通 过 tcc 既有配线架与各线 occ 在 tcc 设置的传输设备业务层互联。mlc 新设的传输设备 通过 tcc 既有 odf 与 mlc 机房新设 odf 通过光缆连接，实现各线 lc 业务接入 mlc。 2 2

2、、光纤使用说明光纤使用说明 1）西直门 8 层 mlc 机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层 mlc 机房（生产中心） ， 占用南环 4 芯光纤； 2）西直门 8 层 mlc 机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层 tcc 机房 mlc 通信设 备，占用北环 4 芯光纤； 3）京投大厦西辅楼一层 mlc 机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层 tcc 机房 mlc 通信设备，新敷设 1 根 24 芯光纤； 4）西直门 8 层 mlc 机房（灾备中心）至西直门 7 层通信机房（南环、北环均在此 处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤； 5）京投大厦西辅楼一层 mlc 机房（生产中心）至京投

3、大厦西辅楼 b1 层通信配线间 （南环在此处上光纤配线架） ，新敷设 1 根 24 芯光纤； 6）京投大厦西辅楼一层 mlc 机房（生产中心）至京投大厦西辅楼 7 层配线间，新 敷设 2 根 4 芯多模光缆。 （此处的 2 根 4 芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务 器与工作站交换机之间的多模光缆） ； 此次测试针对以上 6 部分进行。 3 3、测试仪器测试仪器 采用信维牌 otdr（光时域反射仪） ，具体型号为 s20。 4 4、相关图纸相关图纸 mlc 项目通信系统光纤传输路由图 二、二、光缆测试内容光缆测试内容 光缆测试包括以下内容： 光缆熔接损耗（mlc 项目中的光缆熔接点） ；

4、 3 处 mlc 通信设备之间光纤传输链路的光衰减； 具体说明如下： 光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的 1 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 4 芯多模光缆； 3 处 mlc 通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门 8 层 mlc 通信设备与京投大 厦西辅楼一层 mlc 通信设备之间的链路衰减；西直门 8 层 mlc 通信设备与京投大厦东 辅楼三层 tcc 机房 mlc 通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层 mlc 通信设备 与京投大厦东辅楼三层 tcc 机房 mlc 通信设备之间的链路衰减； 三、三、测试目的测试目的 序号序号

5、测试内容测试内容测试目的测试目的合格标准合格标准备注备注 1 光缆熔接损耗检查光纤熔接质量 每个熔接点损耗 0.08db 光纤熔接规范 2 西直门 8 层 mlc 通信设备与 京投大厦西辅楼一层 mlc 通 信设备之间的链路衰减 检查光纤链路质量25db 通信设备对光衰 减的要求 3 西直门 8 层 mlc 通信设备与 京投大厦东辅楼三层 tcc 机 房 mlc 通信设备之间的链路 衰减 检查光纤链路质量25db 通信设备对光衰 减的要求 4 京投大厦西辅楼一层 mlc 通 信设备与京投大厦东辅楼三 层 tcc 机房 mlc 通信设备之 间的链路衰减 检查光纤链路质量15db 通信设备对光衰

6、减的要求 四、四、光缆测试光缆测试记录记录 1 1、西直门新敷设西直门新敷设 1 1 根根 2424 芯光纤熔接质量测试记录芯光纤熔接质量测试记录 在西直门 8 层 mlc 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在西直门 7 层通信配线间，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反 向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点：8 8 层层 mlcmlc 机房机房 测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗

7、损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08db是 否 2. 每个熔接点损耗0.08db是 否 3. 每个熔接点损耗0.08db是 否 4. 每个熔接点损耗0.08db是 否 5. 每个熔接点损耗0.08db是 否 6. 每个熔接点损耗0.08db是 否 7. 每个熔接点损耗0.08db是 否 8. 每个熔接点损耗0.08db是 否 9. 每个熔接点损耗0.08db是 否 10. 每个熔接点损耗0.08db是 否 11. 每个熔接点损耗0.08

8、db是 否 12. 每个熔接点损耗0.08db是 否 13. 每个熔接点损耗0.08db是 否 14. 每个熔接点损耗0.08db是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：8 8 层层 mlcmlc 机房机房 测试地点：测试地点：7 7 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 8 8 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 15

9、. 每个熔接点损耗0.08db是 否 16. 每个熔接点损耗0.08db是 否 17. 每个熔接点损耗0.08db是 否 18. 每个熔接点损耗0.08db是 否 19. 每个熔接点损耗0.08db是 否 20. 每个熔接点损耗0.08db是 否 21. 每个熔接点损耗0.08db是 否 22. 每个熔接点损耗0.08db是 否 23. 每个熔接点损耗0.08db是 否 24. 每个熔接点损耗0.08db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 2 2、京投大厦新敷设京投大厦新敷设 2 2 根根 2424 芯光纤熔接质量测试记录芯光

10、纤熔接质量测试记录 在京投大厦西辅楼一层 mlc 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 b1 层通信配线间，对本项目敷设 的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房 测试地点：测试地点：b1b1 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 b1b1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 b1b1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点

11、损耗 b1b1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08db是 否 2. 每个熔接点损耗0.08db是 否 3. 每个熔接点损耗0.08db是 否 4. 每个熔接点损耗0.08db是 否 5. 每个熔接点损耗0.08db是 否 6. 每个熔接点损耗0.08db是 否 7. 每个熔接点损耗0.08db是 否 8. 每个熔接点损耗0.08db是 否 9. 每个熔接点损耗0.08db是 否 10. 每个熔接点损耗0.08db是 否 11. 每个熔接点损耗0.08db是 否 12. 每个熔接点损耗0.08db是 否 13. 每个熔接点损耗0.08db是 否 14. 每

12、个熔接点损耗0.08db是 否 15. 每个熔接点损耗0.08db是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房 测试地点：测试地点：b1b1 层通信配线层通信配线 间间 双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 b1b1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 b1b1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 b1b1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 16. 每个熔接点损耗0.08db是 否 17. 每个熔接点

13、损耗0.08db是 否 18. 每个熔接点损耗0.08db是 否 19. 每个熔接点损耗0.08db是 否 20. 每个熔接点损耗0.08db是 否 21. 每个熔接点损耗0.08db是 否 22. 每个熔接点损耗0.08db是 否 23. 每个熔接点损耗0.08db是 否 24. 每个熔接点损耗0.08db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 在京投大厦西辅楼一层 mlc 机房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼 3 层通信配线间，对本项目敷设 的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下： 测试地点：测

14、试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房测试地点：测试地点：3 3 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.08db是 否 2. 每个熔接点损耗0.08db是 否 3. 每个熔接点损耗0.08db是 否 4. 每个熔接点损耗0.08db是 否

15、5. 每个熔接点损耗0.08db是 否 6. 每个熔接点损耗0.08db是 否 7. 每个熔接点损耗0.08db是 否 8. 每个熔接点损耗0.08db是 否 9. 每个熔接点损耗0.08db是 否 10. 每个熔接点损耗0.08db是 否 11. 每个熔接点损耗0.08db是 否 12. 每个熔接点损耗0.08db是 否 13. 每个熔接点损耗0.08db是 否 14. 每个熔接点损耗0.08db是 否 15. 每个熔接点损耗0.08db是 否 16. 每个熔接点损耗0.08db是 否 17. 每个熔接点损耗0.08db是 否 18. 每个熔接点损耗0.08db是 否 19. 每个熔接点损耗

16、0.08db是 否 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房测试地点：测试地点：3 3 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 3 3 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 3 3 层熔接点层熔接点 损耗损耗 20. 每个熔接点损耗0.08db是 否 21. 每个熔接点损耗0.08db是 否 22. 每个熔接点损耗0.08db是 否 2

17、3. 每个熔接点损耗0.08db是 否 24. 每个熔接点损耗0.08db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 3 3、京投大厦新敷设京投大厦新敷设 2 2 根根 4 4 芯多模光纤熔接质量测试记录芯多模光纤熔接质量测试记录 在京投大厦西辅楼一层 mlc 机房，对本项目敷设的 2 根 4 芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 7 层通信配线间，对本项 目敷设的 4 芯多模光纤进行反向测试；多模光缆 1 测试结果如下： 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线间层通信配线间

18、双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 1. 每个熔接点损耗0.3db是 否 2. 每个熔接点损耗0.3db是 否 3. 每个熔接点损耗0.3db是 否 4. 每个熔接点损耗0.3db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 多模光缆

19、 2 测试结果如下： 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 是否合格是否合格 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 测试地点：测试地点：1 1 层层 mlcmlc 机

20、房机房测试地点：测试地点：7 7 层通信配线间层通信配线间双向测试取平均值双向测试取平均值 是否合格是否合格 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1 1 层熔接点层熔接点 损耗损耗 7 7 层熔接点损层熔接点损 耗耗 1 1 层熔接层熔接 点损耗点损耗 7 7 层熔接点层熔接点 损耗损耗 1. 每个熔接点损耗0.3db是 否 2. 每个熔接点损耗0.3db是 否 3. 每个熔接点损耗0.3db是 否 4. 每个熔接点损耗0.3db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 4 4、西直门西直门 8

21、8 层层 mlcmlc 通信设备与京投大厦西辅楼一层通信设备与京投大厦西辅楼一层 mlcmlc 通信设备之间的链路衰减通信设备之间的链路衰减 在西直门 8 层 mlc 机房，对本项目南环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层 mlc 机房，对本项目的南环光纤进行反 向测试；测试结果如下： 测试地点：测试地点： 西直门西直门 8 8 层层 mlcmlc 机房机房 测试地点：测试地点： 京投大厦西辅楼京投大厦西辅楼 1 1 层层 双向测试取平均值双向测试取平均值 光纤光纤 芯数芯数 合格标准合格标准 （双向测试平均值）（双向测试平均值） 链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗

22、是否合格是否合格 1. 链路损耗25db是 否 2. 链路损耗25db是 否 3. 链路损耗25db是 否 4. 链路损耗25db是 否 测试结论：测试结论： 通过 不通过 施工单位（签字）： 监理单位（签字）： 日 期： 日 期： 5 5、西直门西直门 8 8 层层 mlcmlc 通信设备与京投大厦东辅楼三层通信设备与京投大厦东辅楼三层 tcctcc 机房机房 mlcmlc 通信设备之间的链路衰减通信设备之间的链路衰减 在西直门 8 层 mlc 机房，对本项目北环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层 tcc 机房 mlc 通信设备，对本项目的北 环光纤进行反向测试；测试结果如下： 测试地点：测