TL9000可靠性测试程序

1、文件首頁製訂修訂廢止核准審核製訂鄭科偉內容修訂記錄：項次修訂日期修訂內容1220064202007-3-15第一次制定發行依据TL9000要求修改文件文件會簽及會審記錄表會簽單位：（代表部級，代表課級）丿意見欄：-*同意者在會簽欄簽名，不同意或有意見時可在上欄內表示意見。*對於有意見者，文管中心先將異議轉知原提案單位。若原提案單位無法說服異議者，則召 開會議由總經理裁示或定奪。*該頁僅文管中心存檔，不予發行。文件頁數修訂記錄表M數 修訂12345678910起草/修訂審核核准00000000000鄭科偉MichealSteve n11100110000JacobMichealSteven234

2、56789頁數修k11121314151617181920起草/修訂審核核准0123456789每一頁之頁次修訂與文件頁數修訂記錄表相同。 本頁之程式版本顯示此程式之最新版本。 二階文件“核准”簽署由總經理核准。三階檔（部門內部作業者）“核准”簽署由部門主管簽署即可 三階文件（相關於數個部門者），有爭議時再呈總經理裁示。一. 目的：為驗証廠內生產的所有產品在 PVT ORT皆段之品質是否符合GR-468 Bell core 及 MIL-STD-883對產品可靠性及環測之規範，产品的性能是否满足设计的要求，是否滿足顧客 對產品之需求。二. 範圍：1. 範圍： 適用於PCL廠內生產的所有產品,例如

3、：TOSA, Transceiver.三. 權責：1. 可靠性測試的實施與結果判定：品質工程部2. 失效分析與改善：品質工程部及工程部四.流程圖：1. Reliability test flow Cha rt:五內容：1. 可靠性实验的时机:1.1所有新产品在PVT阶段需要进行可靠性测试，以验证产品的性能是否达到设计 要求的能力。1.2产品在量产后需进行持续可靠性实验，以监控产品性能及品质是否发生变化。此实验的频率为每二年一次，当产品复杂程度比较高而且在服务中影响比较大时，此频率定义为每年一次。1.3当产品发生设计变更、元器件和材料变更时也应该进行可靠性实验。1.4当顾客有需求时依合同协议执行

4、1.5制程变更和制造变异1.6返修退回的产品经评估如有性能问题时1.7来自于客户或市场反馈的信息或数据经分析产品性能有缺陷时。2. 可靠性实验项目应包括环境应力实验、机械应力实验及特殊实验等。具体实验的的 标准，测试条件，样品数量参考附件一。2.1环境应力实验包括以下项目：2.1 .1 Temperature cycli ng(TC)2.1.2 Cycli ng Temperature Humidity (CTH)2.1.3 High Temperature Operati ng Life (HTOL)2.1.4 Un biased Damp Heat(UDH)或 Biased Damp He

5、at(BDH)2.1.5 Low Temperature Storage LTS)2.1.6 High Temperature Storage (HTS)2.2机械应力实验包括以下项目：2.2.1 Mecha nical Vibrati on2.2.2 Mecha nical Shock2.2.3 Thermal Shock2.3 特殊实验包括以下项目：2.3.1 ESD HBM2.3.2 EMI2.3.3 Immu nity2.3.4 Dust test2.3.5 Mixed flow ing gas test3. 判定及失效分析：3.1QE部門按照 GR-468 Bell core、MIL

6、-STD-883判定標準對 Reliability測試結果做出判定（如果客戶有不同的規格及判定標準,以客戶要求為准），並完成Reliability test report.如有失效現象需立即通知客戶同時進行失效分析，並在五個工作日內完成FAReport。当失效发生在1.1, 1.3, 1.5所要求执行的可靠性项目时，处理方法参考不 合格品管制程序，当失效发生在1.2, 1.4, 1.6 和1.7所要求执行的可靠性项目时，处 理方法参考退货与召回程序。4. 记录：所有的可靠性項目需記錄於“ Reliability test record ”及“可靠性項目設備 使用記錄表”中，以便追溯.六.表單及

7、附件：附件一 .Reliability Test Item List: 附件二.Reliability Test Record 附件三.可靠性項目設備使用記錄表七.參考文件:無八、疋義：1. PVT Production Verification Test2. ORT On-going Reliability Test名稱：可靠性測試程序文號：PC015-SZ 版本：A 修訂：0 Page:7 of 10附件一:Reliability Test Item ListReliability Test Item ListHeadi ngItemRefere neeCon diti onSampleS

8、izeLocati onEnduraneeTemperature Cycli ngMIL-STD-883Method 1010-40 C / 30min , +85C/30min ,Tra nsfer rate 10C /min 500Cycles for release,1000 cycles for info11PCLUn biased/biasedDamp heatMIL-STD-202Method 103Ta=+85C ,RH=85%, 2000hrs,u nbiased/biased11Cycli ng temperature HumidityMIL-STD-883EMethod 1

9、004-10 C / +65 C with 80% 98%RH 10Cycles ; 24hrs / cycles11HighTemperatureStorageBell coreTA-NWT-000983Ta=+85C , 2000hrs11Low Temperature StorageBell coreTA-NWT-000983Ta=-45 C , 2000hrs11High Temperature Operati on LifeGR-468-CORESectio n 5.18Ta=85C ,ACC or APCmode,2000hrs for release,5000hrs for in

10、fo25Mecha ni ealIn tegrityMecha ni calShockMIL-STD-883EMethod 20021500G / 0.5ms ,6axis,5times / axis11Con sig nVibrati onMIL-STD-883E Method 200720 2000Hz、20Gpeak /1.5mm 1mm, X Y Z Axe , 4min / cycle , 4cycle / axe11Thermal ShockMIL-STD-883EMethod 1001 T=100C ,-40C to85 C , dwell time=5min, tra nsfe

11、r time10s,15 Cycles11附件一：Reliability Test Item List(表單編號：PC015- SZ 01 Rev:0) 2-2Reliability Test Item ListHeadi ngItemRefere neeCon diti onSampleSizeLocati onSpecial TestESD HBMMIL-STD-883Method3015.7TOSA +/-500V, Module +/- 1000V6Con sig nESD Immu nityIEC61000-4-28KV 10zaps on electrical faceplate,

12、15KV ,10 discharges at top, bottom, right and left1Electro-mag neticImmu nityIEC61000-4-4 (80-1000MH z, 1.4-2.0G with 10V/M);GR-1089(10k-10GH z,3 V/ M); no measurable effect1EMIEN55022/FCCClass B1030MHz-1GH z, 6dB pass margin recomme nded.3附件二：Reliability Test Record （表單編號：PC015- SZ- 02 Rev:0）Reliability