25 可靠性试题(1)

1、可靠性工程基础试题1一、是非判断题（是画，非画）并联系统是冗余系统的一种。（ ）串联系统的可靠性一定小于其中任意一个组成单元的可靠性。（ ）可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。 （ ）产品在规定的条件下，规定的时间内不能完成规定的功能称为故障。（ ）5. FMECA一般是一种对产品失效进行定性分析的手段。（ ）若某一产品的失效事件为M，M由两单元的失效事件C和D组成，则其产品的失效概率P（M）=P（C）+P（D）。（ ）电子元器件在任何情况下原则上都不允许超额使用。（ ）我们称MTBF为产品的平均寿命。（ ）可靠性老炼和筛选试验的目的都是为了提高产品的固有可靠性。（ ）产品可靠性规定的时间

2、只能用小时计算。（ ）二、选择题某产品的可靠度为R(t )，当t 1小于t 2时，可靠度R(t 1)与R(t 2) 的关系为 。 R(t1)一定大于或等于R(t2)； R(t1)一定小于或等于R(t2)； R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为1和2，则该系统的 MTBF为。 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2 + 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2； 1/1 + 1/2 - 1/(1 +2)。3. 电子元器件老炼的目的是。提高产品的固有可靠性； 剔除产品的早期失效；消除产品参数的漂移。产品可靠性筛选试验的目的是。提高

3、产品的固有可靠性； 消除产品参数的漂移；剔除产品的早期失效。对单元产品的可靠性评估一般采用。点估计法；区间估计法； CMSR法； MML法。产品失效分布函数的代号是。 f(t)； R(t)； (t)； F(t)。对单元产品进行可靠性评估应根据。一批产品的使用试验结果；一批产品的随机抽样寿命试验结果；该产品的可靠性分配结果。在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产品可靠性特征量的试验称做。可靠性验证试验； 可靠性验收试验；可靠性测定试验。故障树分析的代号是 。 ETA； FMEA； FT； FTA 。三、填空题若产品的性能指标XN(，)=(10,1),则其概率密度函数 f(x) = 。若

4、产品的寿命服从指数分布，则其R(t) = ； F(t) = ；f (t) = ； (t) = ；MTBF=。电子线路的三次设计是指、和。产品在规定的条件下，在规定的内，完成规定功能的称为产品的可靠性。一个系统由n个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为 系统；如果只要有一个单元工作系统就能工作，此时我们称这种系统为 系统；如果n个单元中有k个或k个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为系统，其代号为。一般产品失效率函数曲线的形状象洗澡盆，故称曲线，按其变化规律可分为三个阶段，即 失效期、失效期和 失效期。7. 提高串联系统可靠性的措施是、和。某系统的可靠性

5、框图如下，其系统可靠性 Rs 为：R1R3R2R4Rs= 。9.一个电路由2个电阻串联而成,其中一个电阻为6k,另一个为8k,且均有10%的极限误差，并服从正态分布，则该电路电阻的最大值为，最小值为。可靠性工程基础试题2一、是非判断题（是画，非画）每题1分共9分1. ( ) 某产品的可靠度为R(t)，当 t1小于t2 时，R(t1)一定大于或等于R(t2)。2. ( ) 电子元器件老炼的目的是提高产品的固有可靠性。3. ( ) 产品可靠性筛选试验的目的是提高产品的固有可靠性。4. ( ) 工程中对单元产品的可靠性评估一般采用点估计法。5. ( ) 产品失效分布函数的代号是f (t ) 。6.

6、( ) 对单元产品进行可靠性评估应根据该批产品的寿命试验结果。7. ( ) 在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产可靠性特征量的试验称做可靠性验证试验。8. ( ) 故障树分析的代号是FMEA。9. ( ) 可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。二、选择题 每题1分 共7分1. 一个系统由n个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为系统。a. 并联； b. 串联； c. 表决； d. 储备。2. 并联系统的可靠性一定 其中任意一个组成单元的可靠性。a.大于； b.小于； c.等于； d.大于、等于或小于。3. FMECA一般是一种对产品失效进行的手段。

7、a.定性分析；b.定量分析；c.定性或定量分析；d.精确分析。4. 若某一产品的失效事件为M，M=ABC，则这一个产品的失效概率P(M)为 。a. P(A)+P(B)+P(C)；b. P (A)+P (B)+P (C)-P (ABC)；c. P (A)+P(B)+P(C)-P(AB)-P(AC)-P(BC)+P(ABC)；d. P(A)+P(B)+P(C)+P(AB)+P(AC)+P(BC)-P(ABC)。5. 电子元器件在情况下原则上都不允许超额使用。a. 一般； b. 特殊； c. 大多数； d. 任何6. 我们称为产品的平均寿命。a. .MTBF； b . MTTF ；c . FMECA

8、 ；d . T0.5 。7 . 产品失效分布函数的代号是。a. f (t ) ； b. F (t ) ； c. R (t ) ； d.(t ) 。二、选择题 每题1分 共7分1. 一个系统由 n 个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为 系统。 a. 并联； b. 串联； c. 表决； d. 储备。2. 并联系统的可靠性一定其中任意一个组成单元的可靠性。a. 大于； b. 小于； c. 等于； d. 大于、等于或小于。3. FMECA一般是一种对产品失效进行的手段。a. 定性分析；b. 定量分析；c. 定性或定量分析；d. 精确分析。4. 若某一产品的失效事件为

9、M，M=ABC，则这一个产品的失效概率P(M)为。a. P (A)+P (B)+P (C)；b. P (A)+P (B)+P (C)-P (ABC)；c. P (A)+P (B)+P (C)-P (AB)-P (AC)-P (BC)+P (ABC)；d. P (A)+P (B)+P (C)+P(AB)+P (AC)+P (BC)-P (ABC)。5. 电子元器件在情况下原则上都不允许超额使用。a. 一般； b . 特殊； c. 大多数； d. 任何6. 我们称为产品的平均寿命。a. MTBF；b. MTTF；c. FMECA；d. T0.5 。7. 产品失效分布函数的代号是。a. f (t)；

10、 b. F (t)； c. R (t)； d. (t)。三、填空题 每空2分，共24分1. 寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为1和2，则该系统的MTBF = 。2. 若产品的性能指标XN(，)=N(10,1),则其概率密度函数 f (x) = 。3. 若产品的寿命服从指数分布，则其R (t )、F (t )和f (t )分别为：、 和。(t )和MTBF分别为 （注意本题填写顺序不得有误）4. 电子线路的三次设计是、和。5. 一个系统由n 个单元组成，如果n 个单元中有k 个或k 个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为 系统，其代号为 。6. 一般产品失效

11、率函数曲线称浴盆曲线，按其变化规律可分为三个阶段，即 三个失效期。7. 提高串联系统可靠性的措施是、和。8. 某系统的可靠性框图如下，其系统可靠性Rs为：R3R1R2Rs = 。可靠性工程基础试题3一、是非判断题（是画，非画）每题1分共10分1. ( ) 失效率为常数的分布函数一定是指数分布。2. ( ) 在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产品可靠性特征量的试验称做可靠性验证试验。3. ( ) 工程中对单元产品的可靠性评估最常采用点估计法。4. ( ) 产品失效分布函数的代号是 f ( t )。5. ( ) 对单元产品进行可靠性评估应根据该批产品的随机抽样寿命试验结果。6. ( )

12、 产品可靠性筛选试验的目的是提高产品的固有可靠性。7. ( ) 电子元器件老炼的目的是提高产品的固有可靠性。8. ( )故障树分析的代号是FMEA。9. ( ) 某产品的可靠度为R( t )，当t 1小于t 2时，R(t 1)一定大于或等于R(t 2)。10. ( ) 可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。二、选择题 每题1分 共7分1. 若某一产品的失效事件为T，T=ABC，则这一个产品的失效概率P( T ) 为 。a. P (A)+P (B)+P (C)； b. P (A)+P (B)+P (C)-P (ABC)； c. P (A)+P (B)+P (C)-P (AB)-P (AC)-P

13、 (BC)+P (ABC)；d. P (A)+P (B)+P (C)+ (AB)+P (AC)+P (BC)-P (ABC)。2. 一个系统由n个单元组成。当每个单元都失效时系统才能不正常工作, 此时我们称这种系统为系统。a.并联； b.串联； c.表决； d.储备。3. FMECA一般是一种对产品失效进行的手段。a.定性分析；b.定量分析；c.定性或定量分析；d.精确分析。4. 在组成单元的数量和可靠性相同的情况下，串并联系统的可靠性一般并串联系统的可靠性。a.大于； b.小于； c.等于； d.大于、等于或小于。5. 产品失效分布函数的代号是。a. f ( t )；b. F ( t )；c

14、. R( t )；d.( t )。6. 我们称为产品的平均寿命。a.MTBF；b.MTTF；c.FMECA；d.T0.5。7. 电子元器件在情况下原则上都不允许超额使用。a.一般；b.特殊；c.大多数；d.任何三、填空题 每空2分，共28分1. 寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为1和2，则该系统的MTBF = 。2. 若产品的性能指标XN(，) = N(10,1),则其概率密度函数f (x) = 。3. 若产品的寿命服从指数分布，则其 R(t)、F(t) 和 f(t)分别为 (t )和 MTBF 分别为，和，。，（注意本题填写顺序不得有误）4. 电子线路的三次设计

15、是 、。5.一个系统由n个单元组成，如果n个单元中有k个或k个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为，其代号为。6. 一般产品失效率函数曲线称浴盆曲线，按其变化规律可分为三个阶段，即三个失效期。7. 提高串联系统可靠性措施是、和。8. 某系统的全部路集为：1，2，3；2，3，4；2，3；1，2，3，4；3，4。其MPS为：。9. 某系统的全部MCS为：1，2；2，3；1，3。在下列集合2，4，5；1，2，4，5；1，3，5；1，4，5中是该系统割集的有：。10. 设有一串联系统由4个单元组成，其可靠性分别为：R1=0.92, R2=0.94, R3=0.96, R4=0.98,若要求该系

16、统的可靠性RS=0.8, 则各单元的可靠性R1、R2、R3和R4的分配值应该分别为 、。可靠性工程基础试题4一、是非判断题（是画，非画）并联系统是冗余系统的一种。（ ）串联系统的可靠性一定小于其中任意一个组成单元的可靠性。（ ） 可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。 （ ）产品在规定的条件下，规定的时间内不能完成规定的功能称为故障。（ ） FMECA一般是一种对产品失效进行定性分析的手段。（ ）若某一产品的失效事件为M，M由两单元的失效事件C和D组成，则其产品的失效概率P（M）=P（C）+P（D）。（ ）电子元器件在任何情况下原则上都不允许超额使用。（ ）我们称MTBF为产品的平均寿命。（

17、 ）可靠性老炼和筛选试验的目的都是为了提高产品的固有可靠性。（ ）产品可靠性规定的时间只能用小时计算。（ ）二、选择题某产品的可靠度为R (t)，当 t1小于t2时，可靠度R (t1)与R (t2) 的关系为。 R (t1)一定大于或等于R (t2)； R (t1)一定小于或等于R (t2)； R (t1)可能大于、等于或小于 R (t2)。寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为1和2，则该系统的MTBF为。 1/1 + 1/2； 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2 + 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2 - 1/(1 +2)。电子元器件老炼的目的是。提高产品

18、的固有可靠性；剔除产品的早期失效；消除产品参数的漂移。产品可靠性筛选试验的目的是。提高产品的固有可靠性；消除产品参数的漂移；剔除产品的早期失效。对单元产品的可靠性评估一般采用。点估计法；区间估计法； CMSR法； MML法。产品失效分布函数的代号是。 f (t)； R (t)；(t)； F (t)。对单元产品进行可靠性评估应根据 。一批产品的使用试验结果；一批产品的随机抽样寿命试验结果；该产品的可靠性分配结果。在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产品可靠性特征量的试验称做。可靠性验证试验；可靠性验收试验；可靠性测定试验。故障树分析的代号是。 ETA； FMEA； FT； FTA。三、

19、填空题若产品的性能指标XN(，)=(10,1),则其概率密度函数 f (x) = 。若产品的寿命服从指数分布，则其 R(t)= ；F(t) = ；f (t) = ；(t) = ；MTBF= 。电子线路的三次设计是指、和。产品在规定的条件下,在规定的内，完成规定功能的称为产品的可靠性。一个系统由n个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为 系统；如果只要有一个单元工作系统就能工作，此时我们称这种系统为 系统；如果n个单元中有k个或k个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为系统，其代号为。 一般产品失效率函数曲线的形状象洗澡盆，故称曲线，按其变化规律可分为三个阶

20、段，即 失效期、 失效期和失效期。提高串联系统可靠性的措施是、和。某系统的可靠性框图如下，其系统可靠性Rs为：Rs= 。R3R2R1R49. 一个电路由2个电阻串联而成,其中一个电阻为6k,另一个为8k,且均有10%的极限误差，并服从正态分布，则该电路电阻的最大值为，最小值为。可靠性工程基础试题5一、是非判断题（是画，非画）每题1分共10分并联系统是冗余系统的一种。串联系统的可靠性一定小于其中任意一个组成单元（ ）的可靠性。（ ）可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。产品在规定的条件下，规定的时间内不能完成规定（ ）的功能称为故障。（ ） FMECA一般是一种对产品失效进行定性分析的手段。

21、（ ）若某一产品的失效事件为M，M由两单元的失效事件C和D组成，则其产品的失效概率为P（M）=P（C）+P（D）。（ ）电子元器件在任何情况下原则上都不允许超额使用。 （）我们称MTBF为产品的平均寿命。（可靠性老炼和筛选试验的目的都是为了提高产品的固）有可靠性。（）产品可靠性规定的时间只能用小时计算。（）二、选择题 每题1分 共9分某产品的可靠度为 R(t)，当 t 1小于 t 2时，可靠度R(t1)与R(t2)的关系为。 R (t1)一定大于或等于R (t2)； R (t1)一定小于或等于R (t2)； R (t1)可能大于、等于或小于R (t2)。寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为1和2，则该系统的MTBF为。 1/1 + 1/2； 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2 + 1/(1 +2)； 1/1 + 1/2 - 1/(1 +2)。 电子元器件老炼的目的是。提高产品的固有可靠性； 剔除产品的早期失效；消除产品参数的漂移。产品可靠性筛选试验的目的是。提高产品的固有可靠性； 消除产品参数的漂移；剔除产品的早