可靠度试验测试规范

修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE1發行日期RELEASEDATE041112可靠度測試項目目錄NOEVALUATIONTESTITEMS評價項目1TEMPERATUREDISTRIBUTION溫度分布2COMPONENTTEMPERATURERISE元件溫度上昇3PARTSDERATING元件餘裕度4THERMALRUNAWAY熱暴走5HIGHTEMPERATURESHORTCIRCUIT高溫短路6LIFEOFELECTROLYTICCAPACITOR電解電容算出壽命7NOISEIMMUNITY雜訊免疫能力8ELECTROSTATICDISCHARGE靜電氣9LIGHTNINGSURGE雷擊10INPUTON/OFFATHIGHTEMPERATURE高溫輸入ON/OFF11LOWTEMPERATUREOPERATION低溫動作確認12DYNAMICSOURCEEFFECT動態輸入變動13FANABNORMALOPERATIONFANFAN異常動作14VIBRATION振動15SHOCK衝擊16ABNORMALRIPPLE異常漣波確認17HIGHTEMPERATURETEST高溫測試18LOWTEMPERATURETEST低溫測試19TEMPERATURE/HUMIDITYTEST溫溼度循環測試20STRIFETEST壓力測試21PLDTEST輸入瞬斷測試常溫、常濕定義濕溫度，相對溼度修訂日期AMENDMENTDATE可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION編號NOWI7308版本V01VERSION頁次PAGE2發行日期RELEASEDATE0411121TEMPERATUREDISTRIBUTION溫度分布11目的確保待測物之可靠度；確認各元件均在溫度規格範圍內使用及有無元件異常溫度上升。12適用所有機種適用。13測試條件A輸入電壓規格範圍之最小、最大值。AC115V/230VAC90V/265VB負載100最小0、最大,100。C輸出電壓額定。D周圍溫度常溫。E接線圖14測試方法A輸入電壓加入後，穩定狀況下，測元件表面及銲接點之溫度分佈。B參考溫度DERATING率。C量測之溫度與溫度DERATING率比較，確認有無異常發熱元件，參考溫度DERATING率。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE3發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器15溫度DERATING率NO元件名稱溫度判定標準備註電阻電阻最高耐溫之電容電容最高耐溫減半導體1SCHOTTYDIODE取TJ之2其它半導體（電晶體MOSFET取TJ之）熱暴走高溫短路測試TA55LOAD100TA65LOAD70INPUT85V/265V時（TJ80）5為判定基礎基板1FR41152CEM31103CEM11004XPCFR1005判定PCB最大耐溫減與基板板厚無關變壓器（含電感）絕緣區分A種種種標準溫度105120130熱偶式90105110ABNORMAL150165175修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發行日期RELEASEDATE0411122COMPONENTTEMPERATURERISE元件溫度上升21目的確保待測物之可靠度，確認各元件均在溫度規格內使用。22適用所有機種適用。23測試條件A輸入電壓規格範圍之最小、額定、最大。B負載規格範圍之最大。C輸出電壓額定。D周圍溫度常溫。E接線圖24測試方法A依測試條件設定，當溫度達到熱平衡後，以熱電偶測定元件溫度，基板上之元件銲點需測量溫度。B參考溫度DERATING計算出最大溫升規格值TIEDERATINGCURVE在100LOAD100下最高至50，則以附表DERATING率之溫度減去50得100之LOAD下之T；60時，DERATING率為70，則減去60得到70之T實際負載在100時依減50之T為規格值。C元件之選擇以R1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定。D元件實際溫升不能超過計算得出之T。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載3PARTSDERATING元件餘裕度31目的確保待測物之可靠度，確認元件實際使用時能在絕對最大額定下之DERATING率範圍內。32適用所有機種適用。33測試條件A測試待測物在下列條件下一次測和二次測主迴路波形（電流波形和電壓波形）定額輸入和輸出低壓起動短路開機開機後短路滿載關機（不做記錄）B各迴路波形和元件耐壓請參考元件DERATINGC接線圖修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物SCOPE負載34元件DERATINGNO元件名稱溫度判定標準備註電阻80電阻最高耐壓之90SURGE取耐壓之95電容電容最高耐壓之85（AC輸入電容取耐壓之95）RIPPLE電流取100鉭質電容取耐壓之80二極體（DIODE）VRMVRSMISFMSURGESCR80959090TRIAC80959090BRIDGEDIODE80959090DIODE80959090SCOTTYDIODE90959090ZENERDIODE9090LED80959090電晶體MOSFETVDSS/VCE取規格之95VGSS/VBE取規格之95ID/IC取規格之95IB取規格之95FUSE取額定電流之70SURGE65修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE7發行日期RELEASEDATE041112SURGEI2T4THERMALRUNAWAY熱暴走41目的確認過負載、出力短路下，保護之餘裕度。42適用所有機種適用。43測試條件A輸入電壓規格之輸入電壓範圍最小、最大值，（例85V/265V）。B負載100及70例55為100，65為70。C周圍溫度最高動作溫度5，輸出DERATINGCURVE100下溫度上限5。D輸出電壓額定。E接線圖4144測試方法A參照部品溫度上昇結果確定待測部品，以熱電偶量測。B電源輸入後，連續觀測繪出溫度上昇值，確認飽和點。C若有FAN裝置於待測物，需實際模擬安裝於系統之情形進行測試。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE8發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載電流電壓恒溫槽5HIGHTEMPERATURESHOTYCIRCUIT高溫短路51目的確認輸出短路放置後，待測物之可靠度。52適用除未加短路保護機種外所有機種適用。53測試條件A輸入電壓規格範圍之最大輸入電壓。實測取最大，例265VB輸出電壓額定值。C周圍溫度動作溫度上限5例65。D接線圖4154測試方法A待測物在設定測試條件下，輸出短路2小時以上。B記錄溫度上昇之情形，參照溫度DERATING，不能超過規定溫度。C解除短路狀態後確認輸出仍正常，部品不能有損壞。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE9發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器負載6LIFEOFELECTROLYTICCAPACITOR電解電容算出壽命61目的推定待測物之壽命，並確認其可靠度。62適用所有機種適用。63測試條件A輸入電壓額定值。B輸出電壓額定值。C負載額定。D周圍溫度40。E接線圖64測試方法A額定之輸出、輸入時，在規定之周圍溫度下，依下式計算L1LS2L1實際之有效壽命LS部品使用溫度範圍上限下之有效壽命T1部品之使用溫度範圍上限T2實際使用溫度。B算出之壽命時間應規格所示。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE10發行日期RELEASEDATE041112T1T210INPUTSOURCE待測物示波器實效值負載7NOISEIMMUUITY雜訊免疫力71目的確保待測產品之可靠度，確認輸入對加入脈衝之耐受程度。72適用所有機種。73測試條件A規格上有規定者，依規格實施。B周圍溫度常溫、常濕。C輸入電壓115VD輸出電壓額定。E負載電流100。F脈衝規格規格書所列值11050TERMINATION如規格為22KV則脈衝以22KV11022KV施加脈波寬為。100NS,500NS,1000NS，時間五分鐘。G接線圖74測試方法A依條件施加脈衝於輸入輸入間，輸入GROUND間，應無動作異常含突入電流限制回路、異常振盪等保護回路誤動作及元件損壞發生，測試時，輸出電壓之安定度應在總和變動規格範圍內。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE11發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器電阻負載8ELECTROSTATICDISCHARGE靜電破壞81目的確保待測產品之可靠度，確認產品對靜電氣之耐受程度。82適用規格書上規定之機種。83測試條件A周圍環境常溫、常濕。B輸入電壓額定實測AC115VC輸出電壓額定D負載額定100E施加電壓規格書之數值X110CHARGECAPACITOR500PFSERIESRESISTOR100，時間10SECF接線圖4184測試方法A待測物GROUND部位，依條件施加脈衝電壓分接觸外殼及隔離放電實施；不能有保護回路誤動作，元件破損之異常發生。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE12發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器電阻負載DMM9LIGHTNINGSURGE雷擊91目的確認輸入端加入LIGHTNINGSURGE之耐受能力。92適用規格有規定之機種。93測試條件A規格書有規定依規格條件。B輸入電壓額定實測AC115VC輸出電壓額定D負載額定E周圍環境常溫、常濕F施加波形JEC212規定，波頭長12S,波尾長50S之電壓，波形3KV110限流電阻100。G接線圖4194測試方法A依規定測試條件，施加SURGE電壓於輸入輸入，輸入GROUND極各3回確認元件無破損，無絕緣破壞，FLASHOVERARC及保護回路誤動作情形發生。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE13發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物電阻負載10INPUTON/OFFATHIGHTEMPERATURE高溫輸入ON/OFF101目的高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加，確認產品之信賴性。102適用所有機種適用。103測試條件A輸入電壓規格之輸入電壓範圍最大值例265V。B負載額定100LOADC輸出電壓額定D周圍溫度動作可能溫度範圍5例65。E接線圖41104測試方法A待測物置於恆溫槽內，依條件之溫度設定，到達設定溫度後放置12小時，同時電源ON/OFF至少500CYCLE於輸入端，結束後確認元件無破損，輸出電壓與機能正常（ON5S，OFF30S）。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE14發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物DVM負載ON/OFF恆溫槽11LOWTEMPERATUREOPERATION低溫動作確認111目的為確保待測產品可靠度，確認周圍溫度下限之動作餘裕度。112適用所有機種適用。113測試條件A輸入電壓規格範圍之最小、最大值實測最小值。B輸出電壓額定。C負載最小、最大值實測最大值。D周圍溫度動作可能溫度下限10。E接線圖114測試方法A待測物在測試溫度條件下設定為關機狀態充份放置至少1小時關機狀態，重新加入電源，確定可啟動。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE15發行日期RELEASEDATE04111212DYNAMICSOURCEEFFECT動的輸入變動121目的確認待測產品在動的輸入變動下能正常動作。122適用交流輸入之所有機種。123測試條件A規格書有規定者，依規格條件。B負荷額定100。C周圍溫度常溫。D輸出電壓額定。E輸入變動條件額定最小，額定最大。最大電壓TT05SECT頻率60HZ124測試方法A在基準動作狀態下額定輸入電壓100LOAD，測定輸出電壓值VS。B計算電壓變動率VHVSX100VLVSX100VSVSC計算之變動率，應在總和變動之規格範圍內。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE16發行日期RELEASEDATE041112最小電壓額定電壓INPUTSOURCE待測物負載釋波器13FANABNORMALOPERATIONFAN異常動作131目的待測產品在自然冷卻使用情形下，確認FAN停止運轉，轉數變慢時，保護機能正常運作。132適用產品因需風扇冷卻而裝設之機種。133測試條件A輸入電壓規格範圍內之最小、最大值。B負載最大100。C周圍溫度感熱元件部份，依動作可能溫度範圍上限5，25及下限5共3點實施測試。其他部份則以動作可能溫度範圍上限5，下限5實施量測。D輸出電壓額定。134測試方法A主要電晶體、變壓器、CHOKE等重要元件，以熱電藕量測記錄其結果。FAN異常動作發生時觀測元件溫度上升應記錄其結果。BOPENFRAME之產品與系統產品搭配測試。C確定在測試條件下，無保護回路之誤動作發生，元件上升溫度不能超過規格值。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE17發行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物負載熱電藕溫度記錄器恆溫槽14VIBRATION振動141目的為確保產品之信賴性，產品在製造時及運送時對振動之耐受程度需加以確認。142適用所有機種適用。143測試條件A周圍溫度常溫。B動作狀態NONOPERATINGC振動頻率510HZ全振幅1010200HZ加速度216M/SEC222GSWEEPTIME10MIN依對數變化。振動方向X,Y,Z軸各1小時。衝擊試驗程序1試驗系統圖41144測試方法A依測試條件或產品規格所列條件進行測試。B測試完成後，以目視檢查必要時用顯微鏡待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常；確認後，通電並確認輸出電壓及電氣特性有無異常。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE18發行日期RELEASEDATE041112YXX方向ZZ供試電源試驗方向試驗方向試驗方向15SHOCK衝擊151目的為確保待測物之可靠度，在製造時及運送時對衝擊之耐受程度需予以確認。152適用所有機種適用。153測試條件A衝擊加速度588M/SEC260GB衝擊時間115MSEC半波正弦波。C振動方向XX,YY,Z,5方向，各3回。D周圍溫度常溫。ENONOPERATING154測試方法A依測試條件進行測試。B測試完成後，以目視檢查必要時用顯微鏡待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常確認後通電並確認輸出電壓及電氣特性有無異常。衝擊測試程序1測試系統圖A待測物需設計治具以固定之。電木板及鋁板B依測試條件施加予待測物。C加速度588M/SEC260G各方向3回。D記錄試驗條件及結果。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE19發行日期RELEASEDATE試驗方向YYXXZZZ供試電源試驗方向試驗方向16ABNORMALRIPPLE異常RIPPLE確認161目的確保待測產品之可靠度由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下，確認其動作之安定性。162適用所有機種適用。163測試條件A負載0100連續。B周圍溫度動作溫度範圍IE206020/25/60。C輸入電壓規格範圍最小最大連續。D輸出電壓額定。E接線圖41164測試方法A待測物在不通電之狀態下，依測試之組合條件，在設定之溫度下放置1小時。B連續調整輸入電壓及負載電流，並觀察有無異常RIPPLE之發生，如振盪、間歇振盪、ACRIPPLE導致之微小異常振盪。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE20發行日期RELEASEDATEINPUTSOURCE待測物負載釋波器負載用治具恆溫槽17HIGHTEMPERATURETEST高溫測試171目的確認產品在高溫置放後，維持正常功能之特性。172適用所有機種適用。173測試條件A溫度TH012747576TH產品規格所列之儲存溫度上限B輸入電壓額定。C輸入頻率50HZ。D負載100LOAD。E接線圖174測試方法A產品置於恆溫槽內，依上述之條件進行測試。B溫度在達到預定之高溫TH前後一小時之前於常溫下，須先進行功能測試，確認產品之功能；測試後產品須無任何損傷。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE21發行日期RELEASEDATE7025FUNCTIONALINSPECTIONTEMPDEGCTIMEHOUR18LOWTEMPERATURETEST低溫測試181目的確認產品在低溫置放後，維持正常功能之特性。182適用所有機種適用。183測試條件A溫度TL012747576B負載100LOAD。C輸入電壓額定。D頻率50HZ。ETL規格所列之儲存溫度下限。F接線圖184測試方法A產品置於恆溫槽內，依上述之溫度設定及接線圖進行測試。B溫度到達預訂之低溫，前後一小時前須進行功能測試，確認產品能正常動作；且無任何損傷。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE22發行日期RELEASEDATEFUNCTIONALINSPECTIONTEMPDEGCTIMEHOUR254019TEMPERATURE/HUMIDITYTEST溫、溼度循環測試191目的確認產品對周圍溫、溼度之適應能力。192適用所有機種適用。193測試條件A條件依下圖設定6540259080501504630345860727478808284108B負載100LOAD。C輸入電壓額定。D頻率E接線圖41194測試方法A依上所列之測試條件及接線方式，執行測試。B測試結束後，待測物需功能正常，零件無損壞情形。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE23發行日期RELEASEDATETIMEHOURPOWERONFUNCTIONTESTHUMIDITYRELATIVETEMP20STRIFETEST極限測試201目的確認待測產品的耐受高溫之極限。202適用依需求規格列出之機種。203測試條件A輸入電壓額定。110V/220VE負載額定100LOAD。F溫度701HR801HR901HR1001HR至產品失效。D接線圖204測試方法A產品置於恆溫槽內，依接線圖及條件設定。B當溫度到達預設值後，停留一小時，開始執行功能測試。C產品若功能正常，將溫度每次升高10，進行測試，至產品失效為止，記錄失效之溫度。D產品失效時，不能發生冒煙、起火等狀況。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE24發行日期RELEASEDATE21PLDTEST輸入瞬斷測試AANUNDERVOLTAGEOF25BELOWTHEMINIMUMINPUTVOLTAGE,APPLIEDFORTWOSECONDS,REPEATED10TIMESERRORFREEWITHA10DUTYCYCLEBANUNDERVOLTAGEOF35BELOWTHEMINIMUMNOMINALINPUTVOLTAGE,BUTNOTLESSTHAN68V,APPLIEDFOR30ERRORFREECYCLESOFTHEINPUTFREQUENCY,REPEATED10TIMESWITHA10DUTYCYCLECANUNDERVOLTAGEOF100BELOWTHEMINIMUMNOMINALINPUTVOLTAGE,APPLIEDFOR20MILLISECONDSREPEATED10TIMESERRORFREEWITHA10DUTYCYCLEDANOVERVOLTAGEOF20ABOVETHEMAXIMUMNOMINALINPUTVOLTAGEAPPLIEDFORTWOSECONDS,REPEATED10TIMESWITHERRORFREEA10DUTYCYCLEEWHENEITHEROFTHEFOLLOWINGWAVEFORMSAREAPPLIEDTOEITHERPOLARITYPEAKOFTHEINPUTVOLTAGEWAVEFORMTHEWAVEFORMSSHALLCONSISTOF400HZ50HZOR800HZ100HZEXPONENTIALLYDECAYINGSINUSOIDWITHAPEAKVOLTAGEEQUALTOTHEPEAKNOMINALLINEVOLAGEERRORFREEANDDECAYTIMECONSTANTSUCHTHATTHEFIFTHHALFCYCLEOFTHEDISTURBANCEISBETWEEN15AND25OFTHEFIRSTHALFCYCLETHETOTALDURATIONOFTHEDISTURBANCESHALLNOTEXCEEDONECYCLEOFTHELINEVOLTAGETHISTESTSHALLBEREPEATED320TIMES80POSITIVERINGSAND80NEGATIVERINGSAT400HZ80POSITIVERINGSAND80NEGATIVERINGSAT800HZATHREE3SECONDINTERVALSFDIFFERENTIALMODELINETOLINEANDCOMMONMODELINETOGROUNDVOLTAGESURGESWITHOPENCIRCUITVOLTAGESOF25KVPEAK10AND2KVPEAK10RESPECTIVELYTHESOURCEIMPEDANCEOFTHESURGEGENERATORSHALLBEERRORFREE2OHM20THESURGEWAVESHALLBEDEFINEDINANSI/IEEEC62411980ANDIEC6021973THREEPOSITIVEANDTHREENEGATIVESURGESSHALLBEAPPLIEDAT0,90,180,AND270DEGREES24TOTALTHETIMEINTERVALBETWEENSURGESSHALLBE18SECONDS修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規範RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE25發行日期RELEASEDATE041112GA100NANOSECONDPULSEWITHANAMPLITUDEOF400VOLTSSHALLBESUPERIMPOSEDONTHEPEAKOFTHEERRORFREENOMINALINPUTVOLTAGEANDREPEATEDATTHELINEFREQUENCYFORTEN10MINUTESHTHEPOWERSUPPLYSHALLSUFFERNOPHYSICALDAMAGEUNDERTHEFOLLOWINGDISURBANCESINACLINEVOLTAGEREPEATEACHTESTFIVETIMES,RETURNINGTHEPOWERSUPPLYDAMAGEFREETOITSNORMALRUNNINGCONDITIONSBETWEENTESTSACOMPLETELINEOUTAGEFORANYDURATIONITHEPOWERSUPPLYSHALLSUFFERNOPHYSICALDAMAGEUNDERTHEFOLLOWINGDISTURBANCESINACLINEVOL